专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于数控机床子系统相关可靠分配方法-CN201710633139.3有效
  • 黄贤振;刘洋;张义民;李常有;朱丽莎 - 东北大学
  • 2017-07-28 - 2019-05-28 - G05B19/18
  • 本发明提供一种基于数控机床子系统相关可靠分配方法,包括:根据实验数控机床的故障数据,建立可靠数据库;根据可靠数据库,建立各子系统的可靠模型,获取各子系统的综合影响度、相关参数及考虑每一子系统对数控机床整机的影响度的子系统相关系数;采用阿林斯方法,基于预设的目标机床的故障率、每一子系统相关系数、各子系统的综合影响度,获取每一子系统所分配的可靠度;目标机床的子系统类别分别对应实验数控机床的子系统类别,目标机床类别所属的现有机床的可靠度确定的上述方法在保证安全系数的情况下,可以降低各子系统对故障时间的要求,应用考虑相关的分配方法,可以进行合理的可靠分配。
  • 一种基于数控机床子系统相关性可靠性分配方法
  • [发明专利]介质层可靠评估方法和评估介质层可靠的测试系统-CN202210043050.2在审
  • 胡健;唐伟;石晓;熊阳 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-01-14 - 2023-07-25 - G01N27/92
  • 本公开实施例涉及半导体领域,提供一种介质层可靠评估方法和评估介质层可靠的测试系统,方法包括:提供存储器,存储器包括多个子字线驱动器和多条子字线,每个子字线驱动器包括多个晶体管,每个晶体管包括栅极、源极给至少一个子字线驱动器进行预充电,且所有子字线处于关断状态,至少一个子字线驱动器经历至少一次预充电,实时获取每一预充电所经历的实际时长;进行预充电的子字线驱动器中的介质层为目标介质层,基于实际时长实现对目标介质层的可靠评估本公开实施例至少可以实现对子字线驱动器中目标介质层的可靠评估。
  • 介质可靠性评估方法测试系统
  • [发明专利]结合软件可靠测试与硬件可靠试验的联合试验方法-CN201410155961.X有效
  • 艾骏;王金辉;陆民燕;刘洋;尹琼 - 北京航空航天大学
  • 2014-04-17 - 2016-11-23 - G06F11/00
  • 本发明是一种结合软件可靠测试与硬件可靠试验的联合试验方法,用于软硬件系统可靠测试。本方法分析软硬件系统,构造硬件可靠试验剖面和软件可靠测试剖面;软、硬件场景正交获得系统任务场景,并确定系统任务场景执行概率;建立软件可靠测试剖面和硬件场景剖面是否关联的关系矩阵;对每个系统任务场景,结合硬件环境应力试验剖面和相关联的软件可靠测试剖面生成阶段子剖面;同一系统任务的阶段子剖面组织成为一个周期子剖面,将周期子剖面按照试验循环周期组织生成最终的联合试验剖面;根据联合试验剖面生成试验用例进行试验本发明试验结果能更准确地进行系统可靠鉴定,能发现传统的可靠试验中不能发现的系统失效。
  • 结合软件可靠性测试硬件试验联合方法

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