专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于虚拟参考腔和游标效应的高灵敏大范围干涉测量方法-CN202210448649.4有效
  • 董小鹏;关云卿 - 厦门大学
  • 2022-04-26 - 2023-06-06 - G01B9/02055
  • 基于虚拟参考腔和游标效应的高灵敏大范围干涉测量方法,涉及光学信号处理领域。包括以下步骤:1)确定传感干涉的自由光谱宽度和腔长;2)确定参考干涉的腔长;3)确定测量过程中的灵敏度放大因子;4)大范围测量时,传感干涉的腔长与虚拟参考干涉的腔长的差增大,当灵敏度放大因子下降到预先设定的最小值时,调整虚拟参考干涉的腔长,使恢复到初始值;5)重复步骤4),直至测量结束。基于数值仿真构造虚拟参考干涉,不受环境因素和被测物理量的影响而发生变化,极大地简化系统结构,降低成本、提高稳定性;保证传感干涉在大范围测量时,传感系统始终保持很高的灵敏度,实现方式灵活可靠。
  • 基于虚拟参考游标效应灵敏范围干涉测量方法
  • [发明专利]干涉设备及其运行方法-CN200880117054.9有效
  • W·霍尔扎普费尔 - 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
  • 2008-10-01 - 2010-10-20 - G01B9/02
  • 本发明涉及干涉设备及其运行方法。干涉设备包括具有干涉光源的干涉干涉光源发出的辐射可分配到测量臂和参考臂中,其中测量对象被布置在测量臂中并且干涉提供依赖于测量对象位置的干涉信号。干涉设备还包括检测装置,用于检测测量臂和/或参考臂中的空气的折射率的波动。在此,检测装置包括光谱单元;光谱单元具有至少一个光谱光源以及至少一个光谱探测器单元。由光谱光源发出的射束与干涉光源的射束相叠加,其中光谱光源发出具有如下波长的辐射:该波长处于至少一种确定的空气成分的吸收线范围内。光谱探测器单元用于生成光谱信号,光谱信号表征空气成分在测量臂和/或参考臂中关于光谱光源波长的吸收。
  • 干涉仪设备及其运行方法
  • [发明专利]用于子孔径拼接的参考平晶前置干涉-CN201110106490.X无效
  • 王青;何勇;徐新华;李建欣;陈磊;张国伟 - 南京理工大学
  • 2011-04-27 - 2011-12-14 - G01B9/02
  • 本发明公开了一种用于子孔径拼接的参考平晶前置干涉,包括干涉本体、干涉框架、垂直移动部件、水平移动部件、引导反光镜、参考平晶。干涉固定于框架顶部,出射光通过第一反光镜引导传入第二反光镜再次反射,进入水平移动部件,经第三反光镜引导透过参考平晶打向被测表面。参考平晶由二维精密调整架控制,整个移动部件由二维精密定位装置控制作精确运动。整部干涉可在大型车间内由航车吊装进行现场实时测量。本发明设计原理科学,结构设计合理,各部件加工方便,整个构件稳定、可靠。只要将本干涉整体框架调整好,就可以将干涉方便地移动,获得稳定、清晰的干涉图。
  • 用于孔径拼接参考前置干涉仪
  • [发明专利]绝对重力中光速有限效应的双光路测试装置-CN201510165558.X有效
  • 田蔚;张为民;钟敏;吴晓敏;胡明 - 中国科学院测量与地球物理研究所
  • 2015-04-09 - 2017-04-19 - G01V13/00
  • 本发明公开了一种绝对重力中光速有限效应的双光路测试装置,包括隔振平台、支撑结构、第一激光干涉、第一参考棱镜、落体真空腔、对顶双棱镜形成的落体结构、第二激光干涉、第二参考棱镜;其中第一参考棱镜和第二参考棱镜刚性连接;当对顶双棱镜形成的落体在落体真空腔中自由下落时,会在第一激光干涉和第二激光干涉中分别形成干涉信号,通过探测器分别探测两套激光干涉干涉信号,由于光速有限效应在两套干涉中的作用效果是相反的,而重力加速度、振动噪声和其他噪声等对两套激光干涉的作用效果是相同的,是共模信号,因此通过数据处理实现两套激光干涉信号的差分测量,就可以直接测量绝对重力中光速有限效应的大小。
  • 绝对重力光速有限效应双光路测试装置
  • [发明专利]一种光纤干涉臂长差的测量装置及测量方法-CN201610329545.6有效
  • 杨军;王建国;侯长波;苑勇贵;彭峰 - 哈尔滨工程大学
  • 2016-05-18 - 2018-04-17 - G01M11/02
  • 本发明提供的是一种光纤干涉臂长差的测量装置及测量方法。包括激光光源模块、被测光纤干涉模块、参考干涉模块和采集与控制模块。可调谐激光器发出波长线性变化的光进入被测干涉参考干涉模块、使用计算机控制模拟量输出板卡驱动绕好光纤的压电陶瓷,解调得到的信号后获得两模块精确的位相变化量;改变参考干涉模块两臂光程差同时使用光源模块中的分布式反馈激光器结合PGC算法解调出光程差变化量;改变参考干涉两臂光程差后重复第一步;依据臂长差测量公式计算出被测光纤干涉臂长差。本发明通过引入压电陶瓷、分布式反馈激光器等,运用PGC算法可精确测得被测光纤干涉的臂长差,具有测量精度高、范围广和自动定标等优点。
  • 一种光纤干涉仪臂长差测量装置测量方法
  • [发明专利]集成式形状测量装置-CN201410323081.9在审
  • 尹都永;金兑昱;黄映珉;朴喜载 - SNU精密股份有限公司
  • 2014-07-08 - 2015-03-18 - G01B11/24
  • 其包括:反射干涉单元、透射干涉单元和光探测器。反射干涉单元包括第一光源以及反射干涉。反射干涉将从第一光源发射的光传输到待测物体和参考镜,基于从待测物体反射的光和参考镜的参考光形成干涉条纹。透射干涉单元包括配置为发射单色光的第二光源以及透射干涉。透射干涉将从第二光源发射的光进行分光,使得一部分光能透射通过待测物体而另一部分光不能透射通过待测物体,基于透射通过待测物体的光和未透射通过待测物体的光形成干涉条纹光。探测器被置于待测物体的上方并且探测所述干涉条纹。在该装置中,根据待测物体的透光率而选择性地使用反射干涉单元和透射干涉单元中的一者。
  • 集成形状测量装置

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