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[外观设计]高度加速寿命试验器-CN201730425867.6有效
发明人：松隈修;渡边靖之 -专利权人：爱斯佩克株式会社
申请日： 2017-09-08 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：高度加速寿命试验器。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品是高度加速寿命试验器。3．本外观设计产品的设计要点：形状。
外观设计加速寿命试验图片

[发明专利]一种GaN功率转换器件的开关寿命评估方法-CN202310638623.0在审
发明人：孙戈辉;王勇;郑绪凯;齐子暄;孟津霄 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本发明提供了一种GaN功率转换器件的开关寿命评估方法：采用独立应力源对GaN功率转换器件样本中的GaN功率开关管进行应力‑失效试验，对试验结果进行数据分析，得到电流应力加速寿命模型、电压应力加速寿命模型、温度应力加速寿命模型；将电流应力加速寿命模型、电压应力加速寿命模型、温度应力加速寿命模型组合，得到多因子加速寿命模型；对被测GaN功率转换器件进行加速试验，得到加速试验寿命T加速试验，将任务剖面的实际应力源，代入多因子加速寿命模型，得到加速因子AF，采用加速因子乘以加速试验寿命T加速试验，预测任务剖面的最小使用寿命。本发明可以更加准确、有针对性的评估GaN功率转换器件的开关寿命。
一种 gan 功率转换器件开关寿命评估方法

[发明专利]一种LED寿命的检测方法及系统-CN200910188780.6无效
发明人：宋义;苏遵惠;李英翠;张俊锋 -专利权人：深圳帝光电子有限公司
申请日： 2009-12-11 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明适用于测试技术领域，提供了一种LED寿命检测方法及系统，所述方法包括下述步骤：获取影响LED寿命的加速因素，依据影响LED寿命的各个加速因素，分别进行LED寿命测试，获取得到与LED寿命相关联的加速因子；根据各个加速因素以及加速因子，分别控制进行标准条件下和综合加速因素下的LED寿命测试，获取得到LED的测试寿命。在本发明实施例中，获取影响LED寿命的加速因素，依据各个加速因素，分别进行LED寿命测试，获取得到加速因子；根据各个加速条件以及加速因子，分别控制进行标准条件下和综合加速因素下的LED寿命测试，获取得到LED的测试寿命，解决LED寿命测试时间比较长的问题，实现快速测试。
一种 led 寿命检测方法系统

[实用新型]高加速寿命试验箱-CN202020492529.0有效
发明人：唐新建 -专利权人：天津伟思实验仪器科技有限公司
申请日： 2020-04-07 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了机械缺陷检测领域的一种高加速寿命试验箱，包括箱体，箱体有门板，门板有玻璃窗，箱体有横板和风机，横板有直筒，直筒有电热丝，横板有隔板，隔板有第二进气管，第二进气管有第二单向阀，第二进气管有第一进气管
加速寿命试验

[实用新型]高加速寿命试验箱-CN202123202281.3有效
发明人：龙德中;陈友全;钟宝 -专利权人：重庆哈丁环境试验技术股份有限公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： B01L1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高加速寿命试验箱，包括试验箱本体，所述试验箱本体内部设有上下分布的高温室和低温室，其中高温室配置有加热装置，低温室配置有制冷装置，所述高温室与低温室之间设有通道，所述高温室内设有提篮
加速寿命试验

[外观设计]高加速寿命试验装置-CN202230554515.1有效
发明人：汤本绅一;多田路佳 -专利权人：株式会社平山制作所
申请日： 2022-08-24 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： 24-01 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：高加速寿命试验装置。2.本外观设计产品的用途：用于在短时间内、高加速度下，对电气电子元件进行寿命测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
加速寿命试验装置

[发明专利]MRAM单元的加速寿命试验-CN200480024432.0无效
发明人：布雷德利·J·加尼;托马斯·J·安德烈;约瑟夫·J·纳哈斯 -专利权人：飞思卡尔半导体公司
申请日： 2004-09-14 - 公布日： 2006-10-04 - 主分类号： G11C7/00 文献下载
摘要：在MRAM(10)的加速寿命试验期间，电路(30)将应力电压提供给磁隧道结(MTJ)(34－48)，磁隧道结包括磁阻随机存储器(MRAM) (10)的存储元件。应力电压被选择来提供与正常工作相比的老化的预定加速。在寿命试验期间的指定时间点，应力电压施加于存储单元的子集。结果是精密限定的电压被施加于MTJ(34－48)，所以对于所有存储单元(34－48)来说，加速量得到了很好限定。
mram 单元加速寿命试验

[发明专利]寿命加速模型创建方法、装置和寿命评估方法-CN201711165700.6在审
发明人：吴华伟;叶从进;张远进;聂金泉 -专利权人：湖北文理学院
申请日： 2017-11-21 - 公布日： 2018-04-20 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种寿命加速模型创建方法、装置和寿命评估方法，其中，该寿命加速模型创建方法包括选取预设数量组试验样本集；针对每一组试验样本集，获取该试验样本集中各试验样本在双应力水平下的寿命数据集；根据所述寿命数据集中的各寿命数据和预设退化轨迹建立寿命加速模型本发明通过综合考虑试验样本在温度应力和振动应力构成的双应力下水平下的寿命数据，能够使得建立的寿命加速模型更加接近实际工况，满足实际需求，同时可有效缩短试验时间。
寿命加速模型创建方法装置评估

[发明专利]一种梯形循环应力加速寿命试验方法-CN202211292863.1在审
发明人：汪亚顺;池炳嘉;张书锋;陈循;胡敬文;李兴格 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种梯形循环应力加速寿命试验方法，包括获取产品梯形循环应力加速寿命试验的试验数据；根据产品梯形循环应力加速寿命试验的特点，选择寿命分布模型和加速模型；基于试验数据建立产品梯形循环应力加速寿命试验的极大似然估计模型，估计寿命分布模型参数和加速模型参数；基于寿命分布模型参数和加速模型参数的估计结果，计算产品在使用应力下的可靠度参数。本发明可应用于产品寿命预测领域，利用循环应力作为加速应力开展加速寿命试验，不仅可以模拟产品服役过程中经受的循环应力加载方式，还使得试验数据更为有效、预测结果更准确，相对于传统恒定应力与步进应力加速寿命试验方法
一种梯形循环应力加速寿命试验方法

[发明专利]工业机器人用减速器加速寿命试验方法-CN202111428249.9有效
发明人：韩旭;段书用;高新;陶友瑞;叶楠;王嘉 -专利权人：河北工业大学
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01M13/027 文献下载
摘要：本申请提供有一种工业机器人用减速器加速寿命试验方法，包括如下步骤：设置高于额定负载应力的第一负载应力和低于额定负载应力的第二负载应力；以第一负载应力进行加速寿命试验；计算加速寿命试验的使用寿命；以第二负载应力进行对照试验；计算对照试验的使用寿命;计算加速系数=加速寿命试验的使用寿命/对照试验的使用寿命。相较于现有技术而言，本方法一方面以高于额定负载应力的第一负载应力作为加速应力进行加速寿命试验，能够减少寿命试验时间，另一方面，以低于额定负载应力的第二负载应力进行对照试验，分别计算加速寿命试验的使用寿命和对照试验的使用寿命，以求得加速系数。
工业机器人减速器加速寿命试验方法

[发明专利]一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统-CN201710827962.8有效
发明人：庞世伟;潘腾;宫颖;李丹;杨松;张强;郭倩蕊;张媚;毛一岚 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2017-09-14 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统，该隔振器的主要特征是使用硅橡胶作为主承力部件，之前未有该类隔振器加速寿命试验方法。根据影响隔振器寿命的主要因素确定加速寿命试验包括加速疲劳试验和加速老化试验。在加速寿命试验中主要根据相关公式分别确定加速疲劳试验和加速老化试验的条件。并在相关试验前后及试验中对隔振器进行功能和性能测试，以判断隔振器工作能否满足要求以及能满足多少时间的寿命要求。本发明填补了该类设备寿命试验方法的空白，可确保通过加速寿命试验了解该类设备在轨正常工作的寿命，可有效压缩寿命试验的时间，提高地面寿命试验效率，降低地面寿命试验成本。
一种振动隔振器加速寿命试验方法系统

[发明专利]一种离子推力器加速寿命试验方法-CN202010491912.9有效
发明人：李贺;顾左;郭德洲 -专利权人：兰州空间技术物理研究所
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种离子推力器加速寿命试验方法，包括：每个栅极的相同位置处具有加速件替换区，去除加速件替换区的栅极材料，形成加速孔；在每个加速孔处连接遮蔽加速孔的加速件；在每个加速件上进行打孔以形成与原加速件替换区一一对应的引出孔；将带有加速件的栅极抛光、钝化后组装成带有加速件的离子光学系统；对带有加速件的离子光学系统进行加速寿命试验，对不带有加速件的原离子光学系统进行寿命试验，分别得到相应的溅射刻蚀含时曲线；确定加速因子；根据加速因子及针对待测离子推力器测得的带有加速件的离子光学系统寿命，确定待测离子推力器的离子光学系统寿命。本发明解决了离子推力器地面寿命全周期考核历时久、耗资大的问题。
一种离子推力加速寿命试验方法

[发明专利]一种机电整机产品贮存寿命试验加速因子评估方法-CN201610182418.8有效
发明人：张生鹏;李宏民 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2016-03-28 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种机电整机产品贮存寿命试验加速因子评估方法，包括步骤：建立基于竞争失效的威布尔寿命分布的机电整机产品贮存寿命模型；根据寿命模型，分别计算威布尔寿命分布的机电整机产品在实际使用条件下的特征寿命与加速应力条件下的特征寿命；根据所述实际使用条件下的特征寿命与加速应力条件下的特征寿命，计算得到机电整机产品的加速因子。本发明提出的机电整机产品贮存寿命试验加速因子评估方法能够实现准确地对机电整机产品贮存寿命加速因子的评估。
一种机电整机产品贮存寿命试验加速因子评估方法

[发明专利]轨道交通电子单板加速寿命试验方法-CN201710134463.0在审
发明人：邵志和;刘敏;班立权;张球红;周溢韬;谭军祥;贺寨;王丽华 -专利权人：株洲中车时代电气股份有限公司
申请日： 2017-03-08 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。本发明的轨道交通电子单板加速寿命试验方法具有操作简便、快速可靠等优点。
轨道交通电子单板加速寿命试验方法

[发明专利]基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法-CN201610177492.0有效
发明人：张生鹏;李宏民;张文伟 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2016-03-25 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法，包括步骤建立基于竞争失效的逆高斯寿命分布的电子整机产品贮存寿命模型；分别计算基于逆高斯寿命分布的电子整机产品在实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命；根据所述实际使用条件下的平均贮存寿命与加速应力条件下的平均贮存寿命，计算得到电子整机产品的加速因子。因此，所述的基于逆高斯寿命分布的贮存寿命试验加速因子评估方法能够实现准确地对电子整机产品贮存寿命加速因子的评估。
基于逆高斯寿命分布贮存试验加速因子评估方法

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