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[发明专利]距离图像处理装置、距离图像获取装置及距离图像处理方法-CN201780019927.1在审
发明人：古田善工;河合智行;增田智纪 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2017-03-15 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G01S17/89 文献下载
摘要：本发明的距离图像处理装置具备：第1判别部(52)，将距离图像的多个像素中具有超过一定的距离范围的距离值的像素判别为异常像素；第2判别部(54)，将通过第1判别部(52)判别的异常像素进一步判别为连续的第1异常像素和未连续的第2异常像素；及剪辑处理部(56)，将第1异常像素的距离值变更为恒定值。
距离图像异常像素处理装置获取装置恒定高可见度剪辑处理像素判别近距离像素变更

[发明专利]二维光子计数元件-CN201480067271.7有效
发明人：市河实;藤田一树;森治通 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2014-11-18 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： H04N5/32 文献下载
摘要：相加部(53)将与配置于某像素电极部的周围的像素电极部中的特定的像素电极部连接的信号生成部(51)中生成的输入信号、和与上述某像素电极部连接的信号生成部(51)中生成的输入信号相加。载流子输入图案判别部(56)判别按每个像素电极部表示向上述某像素电极部及配置于该某像素电极部的周围的上述像素电极部的载流子的输入的有无的载流子输入图案是否与多个判别图案的任一个一致。在载流子输入图案判别部(56)中判别为载流子输入图案与多个判别图案的任一个一致且自相加部(53)输出的相加后的输入信号的大小超过规定的阈值的情况下，计数部(57)对光子数进行相加。
二维光子计数元件

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法、图像形成装置和传真机-CN201110182043.2有效
发明人：田中邦彦 -专利权人：京瓷美达株式会社
申请日： 2011-06-27 - 公布日： 2012-01-11 - 主分类号： H04N1/60 文献下载
摘要：图像处理装置包括：原稿输送部；图像读取部，沿主扫描方向反复扫描原稿，以从各像素中分别检测多个颜色成分的像素值；梯度计算部，按照检测出的各像素的多个颜色成分的像素值，以像素为单位分别计算该像素值的梯度；梯度比较部，以像素为单位比较多个颜色成分的梯度之间的差，将差小于规定阈值的像素作为特定像素来抽出；以及原稿判别部，按照图像读取部检测出的各像素的多个颜色成分的像素值，对于特定像素和特定像素以外的像素分别利用不同的像素判别基准，来判别各像素是彩色像素还是黑白像素。由此，即使在黑色文字的边缘部分发生颜色错认，也能进行高精确度的彩色原稿判别。
图像处理装置方法形成传真机

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及记录介质-CN201580078016.7有效
发明人：丸山裕辉;市川学 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2015-03-25 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： H04N5/21 文献下载
摘要：提供能够准确地对产生了RTS噪声那样的值在规定范围内随机地变动的闪烁缺陷噪声的图像数据进行边缘的方向判别的图像处理装置、图像处理方法以及程序。图像处理装置(20)具有：方向判别部(22)，其根据RTS噪声信息记录部(112b)所记录的RTS噪声信息，在与图像数据对应的图像中的关注像素的像素值和该关注像素的周边像素的像素值中判别相关度最高的边缘的方向；以及图像处理部(23)，其根据方向判别部(22)的判别结果而对图像数据进行图像处理。
图像处理装置方法以及记录介质

[发明专利]一种基于生成对抗网络的医学图像分割方法、系统及电子设备-CN201910707712.X有效
发明人：王书强;吴昆;陈卓 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2019-08-01 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：首先，研究生成器如何对不同类别的高质量图像的像素级特征进行提取，并利用胶囊模型进行结构化特征表示，进而实现像素级标注样本的生成；其次构建合适的判别器，用于判别生成像素级标注样本的真伪，并设计合适的误差优化函数，将判别结果分别反馈到生成器和判别器的模型当中，通过不断的对抗训练，分别提高生成器和判别器的样本生成能力和判别能力，最后利用训练好的生成器生成像素级标注样本，实现图像级标注医学图像的像素级分割。本申请有效地降低分割模型对像素级标注数据的依赖，既能提高生成样本与真实样本对抗训练的效率，又可以有效实现高精度的像素级图像分割。
一种基于生成对抗网络医学图像分割方法系统电子设备

[发明专利]自动修复系统的缺陷判别装置及方法-CN201810966298.X有效
发明人：安钟植;尹汝凛;朴世景;金芝珉 -专利权人： HB技术有限公司
申请日： 2018-08-23 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开自动修复系统的缺陷判别装置及方法。根据本发明的一个侧面，提供一种缺陷判别装置，其判别在基板内所检测出的缺陷，其特征在于，上述缺陷判别装置包括：通信部，其接收存在缺陷的像素的图像；目标像素选择部，其在上述存在缺陷的像素的图像内选择用于缺陷分析的目标像素；缺陷类型判断部，其判断上述目标像素内存在的缺陷的类型；缺陷位置判断部，其判断上述目标像素内的缺陷存在于哪一层的哪一位置；以及存储部，其用于存储单位像素的基准图像及利用上述基准图像的遮掩单元。
自动修复系统缺陷判别装置方法

[发明专利]图像属性判别装置及方法、属性判别支援装置及控制方法-CN201110045812.4有效
发明人：相泽知祯;阮翔;山本基夫;田中清明 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2011-02-25 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明的图像属性判别装置及方法、属性判别支援装置及控制方法能够高精度地判别图像数据的属性。本发明的图像属性判别装置(10)的特征在于，包括：异质区域确定单元(11a)，从图像数据确定异质区域，该异质区域中包含有其属性与该图像数据原本所显现出的内容不同的异质物；以及场景判别单元(13)，基于由上述图像数据的各像素中除上述异质区域内的各像素以外的像素组所提取的特征量，判别上述图像数据的属性。
图像属性判别装置方法支援控制

[发明专利]一种残像判别电路及残像判别方法-CN202211678336.4在审
发明人：朱胜迪;杨盛际;杨俊彦;吴斌;丁雁强;朱云;蔡戚斌;付建国 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;云南创视界光电科技有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G09G3/3208 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种残像判别电路及残像判别方法，解决了如何得到直观的残像特性参数的问题。该残像判别电路包括：供电单元，配置为向像素供电，其中，所述供电单元包括多个并联的子供电单元，每个所述子供电单元为一个像素区域供电；多个供电数据采集单元，每个所述供电数据采集单元与一个所述子供电单元的输入端相连，所述供电数据采集单元配置为采集与所述供电数据采集单元所对应的像素区域的供电数据。该残像判别方法，包括：使多个像素区域中的部分像素区域呈黑画面显示，其余部分像素区域呈白画面显示，黑画面和白画面交替排布；预设时间后，使所有像素区域呈白画面显示；获取每个所述像素区域的供电数据，并将各供电数据进行对比，以判别不同灰阶下的残像情况。
一种判别电路方法

[发明专利]图像比较方法和装置-CN202011348972.1在审
发明人：刘岩 -专利权人：泰康保险集团股份有限公司
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：图像比较方法的一具体实施方式包括：获取待比较的两幅图像的差异图像；对于所述差异图像中的每一像素，根据该像素预设邻域内各像素的像素值构建特征向量；将每一像素的特征向量输入预先训练的像素差异判别模型，得到每一像素对应的判别结果；依据每一像素对应的判别结果确定待比较的两幅图像的比较结果。该实施方式能够从像素级别检测两幅图像之间的差异，从而大幅提高图像比较准确性。
图像比较方法装置

[发明专利]一种高光谱图像降维方法-CN201910268594.7在审
发明人：杭仁龙;周峰;刘青山 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2019-04-04 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： G06T3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高光谱图像降维方法，包括以下步骤：首先，使用过分割方法将原始的高光谱图像分成不相重叠的超像素；紧接着，由于一个超像素内的像素点通常属于同一类物体，本发明使用类内图来描述这种空间信息；最后，将基于超像素级的类内图作为正则项引入到LGDE模型中。和原始像素点分类方法(RAW)、主成分分析(PCA)、线性判别分析(LDA)方法、谱空线性判别分析(SSLDA)方法、局部保留投影(LPP)方法、基于协同图的判别分析(CGDE)方法、基于稀疏图的判别分析(SGDE)方法、基于局部图的判别分析(LGDE)方法相比，在相同的实验条件下，本发明方法的分类结果更加准确。
高光谱图像判别分析线性判别分析降维像素非线性特征主成分分析分类结果空间信息实验条件原始像素局部图稀疏图像素点像素级有效地成核投影捕捉协同分割分类引入保留

[发明专利]生成对抗网络模型的训练方法、超分图像重建方法及设备-CN202310620200.6在审
发明人：宗志凯;查林;王中琦;高新波;路文 -专利权人：青岛信芯微电子科技股份有限公司
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：该方法包括：获取训练样本集，将第一样本中的第一图像输入生成网络得到第一超分图像；将第一超分图像和第一样本中的第二图像输入第一判别网络得到像素域判别结果；将第一超分图像的第一频谱特征图和第二图像的第二频谱特征图输入第二判别网络得到频谱判别结果，根据第一超分图像、第二图像、第一频谱特征图、第二频谱特征图、像素域判别结果和频谱判别结果调整生成网络的网络参数，根据像素域判别结果调整第一判别网络的网络参数，并根据频谱判别结果调整第二判别网络的网络参数
生成对抗网络模型训练方法图像重建设备

[发明专利]一种判别图像亮度背景的方法、装置和显示装置-CN201510241508.5有效
发明人：刘鹏;董学;郭仁炜;陈忠君 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2015-05-13 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G06T7/90 文献下载
摘要：本发明涉及一种判别图像亮度背景的方法、装置和显示装置，其中判别图像亮度背景的方法，包括下面的步骤接收待判别的图像信息，该图像信息包含了每个像素中各个子像素的灰阶值；将该图像信息中以第s行第t列像素为中心的第s±m行第t±n列像素内特定子像素的灰阶值构成数组，并且将此数组按序排列，其中s，m，t，n是自然数；若数组内较大的N个特定子像素的灰阶值均大于给定值的灰阶值，并且方差小于等于特定阈值，则判定该第s±m行和第t±n列内特定子像素为高亮度背景区域，否则判定该第s±m行和第t±n列内特定子像素为非高亮度背景区域。借助于本发明的方法，可以将图像区域判别为高亮度区域或非高亮度区域。
一种判别图像亮度背景方法装置显示装置

[发明专利]谷粒外观品质判别装置的按品质划分的重量比率的计算方法-CN201180011609.3有效
发明人：石突裕树;江盛贵之;中田惠久 -专利权人：株式会社佐竹
申请日： 2011-05-10 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： G01N21/85 文献下载
摘要：本发明提供一种在利用谷粒外观品质判别装置来计算谷粒的按品质划分的重量比率的情况下也能够高精度地计算该重量比率的方法。谷粒外观品质判别装置的按品质划分的重量比率的计算方法通过摄像单元拍摄谷粒，并根据该摄像数据判别谷粒的品质，其特征在于，拍摄多个谷粒，根据该摄像数据判别所述多个谷粒的品质，按品质对该进行了品质判别后的多个谷粒的所述摄像数据的像素数进行合计，对该按照品质进行合计后的像素数乘以预先按品质设定的每一个像素的重量换算系数，由此将所述像素数换算成按品质划分的重量，根据该按品质划分的重量来计算该谷粒的按品质划分的重量比率。
谷粒外观品质判别装置划分重量比率计算方法

[发明专利]图像形成装置-CN201610579682.5有效
发明人：江角祯宏 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2016-07-21 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G02B3/00 文献下载
摘要：一种图像形成装置，在使用伴随着像素位置控制的脉冲进行图像形成时，能够产生合适的激光而不会在像素数据和发光量之间产生色调跳跃。将与像素数据相应的脉宽的激光对像载体进行扫描并照射而曝光的图像形成装置具备：图像处理部，将像素位置数据与像素数据一同按每个像素进行输出，像素位置数据在扫描方向的1个像素的范围内对激光的每个像素的照射位置进行调整；PWM处理部，生成在与像素位置数据相应的像素位置且与像素数据相应的脉宽的脉宽信号；发光驱动部，基于脉宽信号来产生激光；位置判别部，判别相邻的2个像素的脉宽信号是否通过基于像素位置数据的调整而接触，参照判别结果，根据相邻的2个像素的脉宽信号是否接触，将脉宽信号的脉宽校正为不同的值。
像素位置脉宽信号像素像素数据图像形成装置激光脉宽发光驱动部图像处理部判别结果扫描方向色调跳跃图像形成位置判别照射位置发光量像载体脉冲校正照射扫描曝光输出

[发明专利]一种适用于矿区形变监测的序贯BWS-DIE同质点选取方法-CN202210949643.5在审
发明人：陈炳乾;杨家乐;张祥;禄競;秦璐;杨宇 -专利权人：江苏师范大学
申请日： 2022-08-09 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：在SAR影像中设定初始检验窗口和BWS检验窗口，在影像中初始设定参考像素和待判别像素，BWS检验窗口内，对参考像素和待判别像素幅度序列进行拟合优度检验，判断参考像素与待判别像素是同质像素还是异质像素，从而获取参考像素局部的同质点集合；BWS检验窗口的长宽均扩张一个像素后继续求同质点集合，重复扩展直至BWS检验窗口扩张至给定的初始检验别窗口，获得最终的参考像素同质像元集合，利用同质像元集合进行DS目标提取和后续进行矿区形变监测。
一种适用于矿区形变监测 bws die 质点选取方法

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