专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种光机支架-CN201520126611.0有效
  • 王新全;张林;王向前;夏玮玮 - 青岛市光电工程技术研究院
  • 2015-03-05 - 2015-07-29 - F16M1/00
  • 本实用新型公开一种光机支架,包括液晶可调谐滤光安装台、相机安装台、准直镜头安装凸台、会聚镜头安装凸台,其中所述准直镜头安装凸台位于所述液晶可调谐滤光安装台的前端,所述会聚镜头安装凸台位于所述液晶可调谐滤光安装台的后端,在所述会聚镜头安装凸台的后端两侧与所述相机安装台之间分别设有加强筋;在所述准直镜头安装凸台的中心开有准直镜头安装孔,在所述会聚镜头安装凸台的中心开有会聚镜头安装孔,所述准直镜头安装孔与所述会聚镜头安装孔同轴设置,并且在所述液晶可调谐滤光安装台的中间位置设有横向布置的液晶可调谐滤光安装孔。
  • 一种支架
  • [发明专利]太阳能聚光-CN200880007096.7有效
  • 林青龙 - 原子能委员会
  • 2008-03-03 - 2010-01-06 - F24J2/08
  • 本发明的聚光包括会聚透镜(2),该会聚透镜具有焦距f和像焦平面(PFI)。会聚透镜(2)限定了壳体(1)的其中一个壁,该壳体通过两对侧壁(4a、4c)、底壁(3)和透镜(2)限定的前壁所限定,壳体内部上的侧壁和底壁可反光,且壳体的深度p低于透镜的焦距f,以使得在多次反射后,由此反射的光束(R1、R2)会聚在位于所述壳体内的最终像焦点(I’)上,所述聚光包括可动接收(6a),通过控制所述接收(6a)跟随所述光束运动的运动,该接收被保持在会聚光束内或处于至少与所述光束相割的位置处。
  • 太阳能聚光器
  • [发明专利]会聚补偿方法及其装置-CN93109342.2无效
  • 尹鸿秀 - 三星电子株式会社
  • 1993-07-27 - 1999-05-05 - H04N3/23
  • 本发明为装有阴极射线管的图象系统的会聚补偿方法,第一步是算出从阴极射线管的偏转线圈检测到的温度所决定的会聚数据和最佳会聚数据之间的差值;第二步是根据上一步中计算出的差值对会聚进行补偿。本发明的会聚补偿装置的特征为它是由视频随机存取存储、图象信号处理部件、偏转调节部件、控制装置、补偿数据计算装置和会聚调节部件构成的。
  • 会聚补偿方法及其装置
  • [实用新型]原子力显微镜-CN202122405627.3有效
  • 吴森 - 苏州知锐技术有限公司
  • 2021-09-30 - 2022-02-25 - G01Q60/24
  • 本实用新型提供了一种原子力显微镜,包括:光杠杆检测模块,光杠杆检测模块包括激光、光纤结构、准直镜、反射镜和光电探测组件;扫描模块,扫描模块包括会聚透镜、反射面、微悬臂梁探针和扫描组件,会聚透镜、反射面和微悬臂梁探针均设置在扫描组件上;激光发出的光通过光纤结构进行非相干处理进入准直镜进入会聚透镜,通过会聚透镜的光被反射面反射至探针的微悬臂梁上,微悬臂梁反射的光经反射面返回会聚透镜,然后再通过反射镜进入光电探测组件
  • 原子显微镜
  • [发明专利]一种气体浓度检测装置及方法-CN202110350346.4在审
  • 王彪;许玥;朱洪波;李奥奇;黄硕;连厚泉;戴童欣 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2021-03-31 - 2021-06-25 - G01N21/01
  • 本发明公开了一种气体浓度检测装置及方法,包括激光、气室、参比池、第二会聚透镜、第一光电探测、第二光电探测和设在气室内的准直透镜、分光、第一会聚透镜;激光向准直透镜发射激光,准直透镜将接收到的激光以平行光束发出;分光将一部分平行光束反射至第一会聚透镜上,第一会聚透镜将接收到的光束聚集并传送至第一光电探测上进行光电检测;分光将另一部分平行光束透射至参比池中,参比池将接收到的平行光束传送至第二会聚透镜上,第二会聚透镜将接收到的光束聚集并传送至第二光电探测上进行光电检测;将第一光电探测、第二光电探测探测出的光强度分别进行反演运算,然后求出反演运算的均值为待测气体浓度。
  • 一种气体浓度检测装置方法
  • [发明专利]会聚结构及探测系统-CN202211477196.4在审
  • 张萌徕;张磊;储涛 - 之江实验室
  • 2022-11-23 - 2023-03-07 - G02B19/00
  • 本申请涉及一种光会聚结构及探测系统。其中,光会聚结构包括:会聚层、介质层与会聚阵列;所述会聚层、所述介质层与所述会聚阵列层叠设置;所述介质层位于所述会聚层与所述会聚阵列之间,且所述会聚阵列位于所述介质层远离所述会聚层的一侧;所述会聚层与所述会聚阵列的材料包括金属;所述会聚层设有会聚孔;在所述会聚层朝向所述会聚阵列的方向上,所述会聚孔贯穿所述会聚层;所述光会聚结构被配置为使所述会聚阵列远离所述介质层一侧入射的光从所述会聚孔内会聚出射。
  • 会聚结构探测系统
  • [发明专利]ICP发光分光分析装置-CN201510088056.1在审
  • 田边英规 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2015-02-26 - 2015-09-30 - G01N21/73
  • 本发明提供ICP发光分光分析装置,其通过与所测定的波长相应的适当的会聚透镜位置将原子发光线的损耗限制到最小限。ICP发光分光分析装置(1)大致由感应耦合等离子产生部(10)、会聚部(20)、分光(30)和控制部(50)构成。会聚部(20)配置于感应耦合等离子产生部(10)与分光(30)之间,具备会聚透镜(21)、入射窗(22)、驱动部(23)和位置运算部(24)。位置运算部(24)根据预先输入到控制部(50)的原子发光线的波长,运算会聚透镜(21)相对于感应耦合等离子产生部(10)以及分光(30)在原子发光线的行进方向上的最优位置。驱动部(23)根据运算部(24)的运算结果使会聚透镜(21)移动到相对于特定波长最优化的位置。
  • icp发光分光分析装置

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