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[发明专利]设备安全性分析方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202111355046.1在审
发明人：李麦亮;黄铎佳;胡湘洪;时钟;张蕊;谢丽梅;刘事成 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：方法包括：基于目标设备的物理结构构建对应的仿真模型；获取仿真类型，基于仿真类型确定相匹配的仿真工具及仿真方法；确定异常事件所对应的异常取值范围，将异常取值范围中的至少一个边界值输入到仿真模型中进行仿真，得到边界仿真结果；对仿真模型的模型有效性、仿真数据的数据有效性和仿真结果的运行有效性进行检验；若有效性检验通过，则对异常取值范围进行多次抽样，得到多个目标异常参数；将多个目标异常参数分别输入到仿真模型中进行仿真，得到抽样仿真结果，并基于抽样仿真结果确定目标设备的安全性分析结果。
设备安全性分析方法装置计算机存储介质

[发明专利]一种对等外场测试环境的构建方法和装置-CN201110005174.3有效
发明人：黄晓庆;杨光华;董鹏;于剑;刘英男;马良山;舒建军;孔佳 -专利权人：中国移动通信集团公司
申请日： 2011-01-04 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： H04W24/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种对等外场测试环境的构建方法和装置，该方法包括：获取实际网络环境的无线外场参数集和对所述实际网络环境的多个仿真结果，其中，所述仿真结果是根据相应的仿真参数集仿真得到的；确定所述无线外场参数集分别与多个仿真结果之间的拟合度；选择与所述无线外场参数集拟合度最大的仿真结果，根据选择出的仿真结果对应的仿真参数集构建外场测试环境。
一种对等外场测试环境构建方法装置

[发明专利]芯片EDA仿真中检查时钟的方法及装置-CN202210269517.5在审
发明人：袁力;胡扬央 -专利权人：眸芯科技（上海）有限公司
申请日： 2022-03-18 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片EDA仿真中检查时钟的方法及装置，涉及芯片开发技术领域。所述方法包括步骤：获取EDA前仿真和EDA后仿真生成的仿真结果波形文件；根据仿真结果波形文件中的波形分别确定前仿真时钟信号clk的时钟频率和后仿真时钟信号clk的时钟频率，生成前仿真clk时钟频率文件和后仿真clk时钟频率文件；将前仿真clk时钟频率文件、后仿真clk时钟频率文件与参考时钟信号文件三者的时钟频率进行比对，并根据比对的结果生成clk结果文件。本发明能够自动检查仿真时钟的正确性，保证EDA仿真中时钟的准确性，提升EDA仿真效率。
芯片 eda 仿真检查时钟方法装置

[发明专利]一种功耗检测方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202111265481.5在审
发明人：陈文杰;徐宁仪 -专利权人：上海阵量智能科技有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本公开提供了一种功耗检测方法、装置、计算机设备及存储介质，包括：基于测试数据对待测芯片分别进行第一设计阶段仿真和第二设计阶段仿真，确定第一仿真结果和第二仿真结果；基于所述第一仿真结果，确定所述待测芯片在所述第一设计阶段的第一功耗；基于所述第一仿真结果和所述第二仿真结果在采样时间窗口分别对应的部分仿真结果，确定第一采样功耗和第二采样功耗；基于所述第一采样功耗、所述第二采样功耗以及所述第一功耗，确定所述待测芯片的平均功耗。
一种功耗检测方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]仿真测试结果的校验方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202211549607.6在审
发明人：曾楷 -专利权人：广州文远知行科技有限公司
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种仿真测试结果的校验方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取待校验场景对应的场景信息；对场景信息进行扰动，以产生待校验场景对应的多个扰动场景；在各扰动场景对自动驾驶系统进行仿真测试，得到各仿真测试对应的仿真测试结果；根据各测试结果之间的波动，确定待校验场景的仿真测试结果置信度该方法通过引入扰动来评价仿真测试场景所得到的仿真测试结果的置信度，为开发人员分析仿真测试结果提供了参考，有利于提高开发人员的分析效率。
仿真测试结果校验方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]微小卫星热平衡试验方法及系统-CN202210433591.6在审
发明人：黄劲;卞永刚;陈有梅;付碧红;斯朝铭 -专利权人：中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心
申请日： 2022-04-24 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种微小卫星热平衡试验方法及系统，包括：微小卫星经过正常的装星流程后，选取合适尺寸的地面空间环境模拟器，进行真空热平衡试验；使用热分析简化初始模型进行第一次微小卫星的仿真分析，屏蔽外热流，得到第一仿真结果；将真空热平衡试验的试验结果与第一仿真结果进行对比，分析得到温度分布差异，根据温度分布差异判断所述试验结果与热设计结果的偏差；根据试验结果与热设计结果的偏差得到热分析修正简化模型；进行第二次微小卫星的仿真分析，重新加载外热流进行仿真分析，得到第二仿真结果；将第二仿真结果作为微小卫星实际在轨工况的温度，并将所述第二仿真结果与温度指标要求进行对比，以判断热设计的合理性。
微小卫星平衡试验方法系统

[发明专利]一种多通道激光探测仿真装置-CN201811353487.6在审
发明人：王伟;陆长平;张建华;袁伟;段存高;赵晗希 -专利权人：上海无线电设备研究所
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种多通道激光探测仿真装置包括：激光探测参数输入模块，用于输入搭载激光探测体制的激光探测参数；目标场景输入模块，用于设定探测场景参数信息；仿真探测结果三维示意模块，与激光探测参数输入模块及目标场景输入模块相连，接收设定的参数，并根据设定参数进行探测目标场景计算，将计算后探测目标场景输出；仿真探测结果数据统计模块，与仿真探测结果三维示意模块相连，接收仿真结果数据，并根据接收到的仿真探测结果，整理并输出，以供分析使用；半实物仿真对接模块，与仿真探测结果数据统计模块相连，并根据仿真数据与半实物仿真对接，验证相关算法。
激光探测探测结果探测目标参数输入模块数据统计模块半实物仿真仿真装置目标场景输入模块多通道算法三维仿真结果数据场景场景参数场景计算对接模块仿真数据有效验证输出探测验证实物部署分析

[发明专利]MOSFET的仿真方法-CN202111136264.6在审
发明人：高沛雄 -专利权人：广州粤芯半导体技术有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明提供了一种MOSFET的仿真方法，包括：选用至少两个不同沟道长度的MOSFET，使用Silvaco TCAD对MOSFET分别进行多次仿真，获得每个MOSFET的多个仿真结果；从多个仿真结果中选出仿真值与该MOSFET的实际值最接近并且仿真时间最短的最优仿真结果；获取每个MOSFET的最优仿真结果的网格信息；对每个MOSFET的网格信息和沟道长度进行拟合得到网格信息和沟道长度之间的函数关系；将函数导入仿真文档中，形成仿真方法。使用此仿真文档可以对至少两个不同沟道长度的MOSFET进行仿真，并且在仿真短沟道MOSFET时，可以提高仿真精度。在仿真长沟道MOSFET时，可以节省运算资源。
mosfet 仿真方法

[发明专利]模型仿真的云端及终端交互方法、服务器、终端及系统-CN202210245078.4在审
发明人：骆佳巍;康烁 -专利权人：浙江迪捷软件科技有限公司
申请日： 2022-03-14 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G06F8/35 文献下载
摘要：一种模型仿真的云端及终端交互方法包括：云端响应模型仿真请求，启动网络服务并运行仿真容器。开始仿真时，终端将模型转换为Json格式的仿真模型数据，发送至云端。云端接收到Json格式的仿真模型数据后将其转换为与之对应的XML格式的仿真模型数据。云端接收到开始仿真的命令后启动仿真并生成仿真结果。云端将仿真结果转换为Json格式的仿真结果，以及将Json格式的仿真结果发送给终端。终端接收且实时显示仿真结果。本发明能够将仿真、代码生成等核心功能作为独立的底层模块，与前端的人机交互界面进行分离，从而一方面实现前后端的耦合性的降低，另一方面实现同一模型基于网络环境下的云仿真，进而提高仿真系统的适用性和灵活性。
模型仿真云端终端交互方法服务器系统

[发明专利]仿真数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质-CN202110601436.6在审
发明人：江闻文 -专利权人：江闻文
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G06F16/22 文献下载
摘要：本发明实施例涉及数据存储技术领域，公开了一种仿真数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质。仿真结果的存储方法具体包括以下步骤：获取仿真数据，其中，所述仿真数据包括仿真结果数据、仿真模型数据和仿真参数；解析所述仿真模型数据和所述仿真参数，获取元信息；根据所述元信息在非关系型数据库中存储所述仿真结果数据实现了利用非关系型数据库存储仿真结果，从而达到解决在关系型数据库中存储仿真数据存在的延时较长，难以进行数据分析和可视化，以及扩展困难等问题的目的。
仿真数据存储方法装置电子设备介质

[发明专利]基于仿真模拟的检测排队方法、装置、设备及介质-CN202310433312.0在审
发明人：王玮璐;苏亮 -专利权人：平安科技（深圳）有限公司
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能技术，揭露了一种基于仿真模拟的检测排队方法，包括：获取预设的检测点的检测数据并进行拟合处理，得到仿真模拟数据；根据仿真模拟数据建立检测排队模型图，将所述检测排队模型图输入预设的仿真软件得到仿真结果；根据仿真结果分析限制排队时长的可能因素；针对所述可能因素生成对应的排队优化策略并进行模拟仿真，得到优化仿真结果；若优化仿真结果在预设的仿真值域之间，将排队优化策略确定为检测排队方案。此外，本发明还涉及区块链技术，检测数据及仿真结果可存储于区块链的节点。本发明还提出一种基于仿真模拟的检测排队装置、电子设备以及存储介质。本发明可以减少检测排队时间。
基于仿真模拟检测排队方法装置设备介质

[发明专利]一种Bladed风机仿真数据分析方法、系统、介质及设备-CN202110601412.0有效
发明人：朱阳光;陈思范;欧柳利;李卓伟;黄全盼 -专利权人：明阳智慧能源集团股份公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G06F30/17 文献下载
摘要：本发明公开了一种Bladed风机仿真数据分析方法、系统、存储介质及计算设备，该方法通过用于读取通用Bladed风机仿真数据的类BladedRawResults来获取仿真结果数据的内容，集成分析仿真结果各个变量的时序曲线、频谱、功率谱、计算统计值、导出仿真数据以及自动生成分析报告功能；本发明绘制的图形有更好的用户交互性，用户可以自定义线条形状、颜色、粗细等，可同时对比多个Bladed仿真数据变量，可快速导出仿真数据，能够根据仿真结果自动生成分析报告，针对不同的仿真结果进行不同的状态分析，帮助研究人员高效的分析仿真结果。
一种 bladed 风机仿真数据分析方法系统介质设备

[发明专利]自动驾驶仿真测试结果的分析方法、装置和电子设备-CN202210799876.1在审
发明人：金健;张浩然;曹斌 -专利权人：东软睿驰汽车技术(沈阳)有限公司
申请日： 2022-07-06 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种自动驾驶仿真测试结果的分析方法、装置和电子设备，包括：获取对多个测试用例进行一轮仿真测试后得到的多个仿真测试结果；根据各个仿真测试结果中的失败项对每种失败项对应的仿真测试结果的数量进行统计；基于每种失败项对应的仿真测试结果的数量在各种失败项中确定目标失败项；根据目标失败项与自动驾驶的各功能模块之间的关联关系，在各功能模块中确定存在问题的目标功能模块。本发明的自动驾驶仿真测试结果的分析方法能够对自动驾驶仿真测试结果进行自动分析，节省了时间，提高了效率，缓解了现有的通过人工方式对自动驾驶仿真测试结果进行分析的方法耗时严重、效率低下的技术问题。
自动驾驶仿真测试结果分析方法装置电子设备

[发明专利]模型训练方法、工艺确定方法、装置、电子设备和介质-CN202310492805.1在审
发明人：尹茸 -专利权人：小米汽车科技有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06F18/214 文献下载
摘要：本公开涉及一种模型训练方法、工艺确定方法、装置、电子设备和介质，方法包括：获取目标铸件的仿真结果，其中，仿真结果包括温度场仿真结果、流动场仿真结果中的至少一者；基于仿真结果和预定的采样选取条件确定目标铸件的采样区域，采样选取条件用于确定出差异化的采样区域；获取对采样区域中的各个采样位置实施差异化工艺的压铸实验后，各个采样位置所对应的成分测定结果和性能测试结果；以各个采样位置对应的成分测定结果、仿真结果、工艺参数、性能测试结果作为训练样本，对工艺确定模型进行训练，其中，工艺确定模型用于根据成分信息、仿真信息、工艺信息确定性能指标。
模型训练方法工艺确定装置电子设备介质

[发明专利]器件与工艺仿真的异步调试方法、装置及存储介质-CN202211405276.9在审
发明人：李兴冀;骆吉洲;吕钢;杨剑群 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-11-10 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种器件与工艺仿真的异步调试方法、装置及存储介质，其中，器件与工艺仿真的异步调试方法包括：根据半导体器件的工艺仿真结果进行所述半导体器件的器件仿真过程；当所述器件仿真过程出现数据不收敛情况时，根据所述工艺仿真结果描述所述半导体器件的简化结构；根据所述简化结构重新进行所述器件仿真过程；根据重新进行的所述器件仿真过程进行评价。本方法能够实现器件、工艺联合仿真计算的诊断，以帮助用户定位直接将工艺仿真结果应用于器件物理特性仿真计算时出现数值计算不收敛的原因；且本方法能够利用提供的工具快速构建基于工艺仿真结果的器件结构并验证结构在器件仿真过程的数值计算收敛性，由此判定工艺仿真结果的合理性。
器件工艺仿真异步调试方法装置存储介质