专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]压缩回弹测试设备-CN201620712873.X有效
  • -
  • 2016-07-07 - 2017-01-11 - G01N27/04
  • 本实用新型公开了压缩回弹测试设备,其主要包括治具,所述治具内设置有测试电极,测试电极下方设置有压力传感,治具上方设置有快速夹具,所述快速夹具下方连接有上测试电极,还包括驱动治具向上运动的治具驱动机构,治具下方还连接有厚度调节,还包括控制和触摸显示屏,所述测试电极、上测试电极、压力传感、治具驱动机构、厚度调节和触摸显示屏分别和控制连接,本实用新型能科学、有效、合理的评估和管理产品的压缩性、回弹性、回弹时间、压缩电阻、产品厚度及它们之间的关系,且上测试电极和测试电极为镀金纯铜块,使得测试电极几乎不会影响材料的实际电阻值,保证测试出的各压缩条件的电阻精度。
  • 压缩回弹测试设备
  • [发明专利]用于实现受测试装置(DUT)的扫描测试的系统及方法-CN201510772263.9有效
  • M·S·卡沃萨;R·K·米塔尔;S·N·波蒂 - 德州仪器公司
  • 2015-11-12 - 2019-07-23 - G01R31/26
  • 本发明揭示用于启用受测试装置DUT的扫描测试的系统及方法。在一实施例中,一种用于扫描测试包含P扫描输入端口(145)及Q扫描输出端口(150)的所述DUT(110)的测试系统包含测试(115)及适配器模块(120)。测试(115)在时钟频率F1操作且包含用于在F1提供M扫描输入的M测试输入/输出I/O端口(125)及用于在F1接收N扫描输出的N测试I/O端口(130)。适配器模块(120)耦合到测试(115)且经配置以在F1接收M扫描输入且作为响应,在时钟频率F2将P扫描输入提供到P扫描输入端口(145),且在F2从Q扫描输出端口(150)接收Q扫描输出且作为响应,在F1将N扫描输出提供到N测试I/O端口(130),其中M对P的比率等于N对Q的比率,且其中M、N、P及Q中的每一者为正整数。
  • 用于实现测试装置dut扫描系统方法
  • [实用新型]一种压力传感测试治具-CN202221836499.6有效
  • 王东平;李正 - 苏州感芯微系统技术有限公司
  • 2022-07-18 - 2022-12-09 - G01L25/00
  • 本实用新型公开了一种压力传感测试治具,包括底板、模板、上模板、探针盖板、测试导柱;所述模板放置于底板上,压力传感测试载座置于模板与上模板之间,探针盖板置于上模板上方,探针对应插接测试载座上压力传感测试管脚;所述测试导柱穿过上模板及底板,对上模板进行定位。所述底板上表面中部还固定有导正定位板,模板的下表面设有与导正定位板适配的凹槽,导正定位板与凹槽配合对模板进行定位。所述测试载座上设有多个阵列分布的压力传感放置位。本实用新型的压力传感测试治具,采用导正定位板和测试导柱对上下模具进行定位,操作简单方便。
  • 一种压力传感器测试
  • [发明专利]心脏起搏感应电流测试方法及处理终端-CN202010503784.5有效
  • 张尉强;郁红漪;张鸣伟 - 上海市医疗器械检测所
  • 2020-06-05 - 2020-09-15 - G01R19/02
  • 本发明公开了一种心脏起搏感应电流测试方法及处理终端,涉及医疗器械领域,该方法包括:设定感应电流测试项目对应的测试条件;控制所述试验信号发生按照各测试频点和每个测试频点对应的试验电压发出对应的测试信号,测试得到所述心脏起搏在每个测试信号对应的感应电压,并计算得到对应的感应电流的真有效值;将各所述感应电流的真有效值分别与所述感应电流测试项目对应的判断标准进行判断,得到所述心脏起搏在所述测试条件的所有测试结果本发明自动测试心脏起搏在不同测试信号是否合格,整个测试信号的发送、测试结果的判断自动执行,无需人为参与,提高了测试效率。
  • 心脏起搏器感应电流测试方法处理终端
  • [发明专利]一种嵌入式存储测试系统及测试方法-CN200810180765.2有效
  • 王惠刚 - 炬力集成电路设计有限公司
  • 2008-12-02 - 2009-06-17 - G11C29/56
  • 一种嵌入式存储测试系统及测试方法,该系统包括测试装置和与其相连的自动测试设备,该装置包括存储测试控制和存储测试总线接口单元相连,存储测试控制根据自动测试设备输入的测试控制信号,进行状态转换,在相应状态根据自动测试设备通过存储测试总线接口单元输入的存储地址,将自动测试设备通过存储测试总线接口单元输入的测试数据写入嵌入式存储,或者在相应状态根据自动测试设备通过存储测试总线接口单元输入的存储地址,控制存储测试总线接口单元读取嵌入式存储存储的测试数据并由存储测试总线接口单元发送自动测试设备进行验证。本发明在减少SoC管脚数目及节省测试成本的情况下完成嵌入式存储测试
  • 一种嵌入式存储器测试系统方法
  • [发明专利]合成测试电路-CN201580063326.1在审
  • D.R.特赖纳;S.党;F.J.莫雷诺穆尼奥斯;J.沃登 - 通用电器技术有限公司
  • 2015-09-16 - 2017-08-01 - G01R31/333
  • 提供一种用于对测试的装置执行电气测试的合成测试电路(30),包括测试的装置,包含测试的链式链路转换(52),测试的链式链路转换(52)包含多个测试模块,每个测试模块包含与至少一个能量存储装置相连接的多个模块开关;连接到测试的装置的端子(32、34);至少一个注入电路(36、40),可操作地连接到端子(32、34),所述或每个注入电路(36、40)包含源,源包含源链式链路转换,源链式链路转换包含多个源模块,每个源模块包含与至少一个能量存储装置相连接的多个模块开关;控制(50),配置成操作每个源模块,以便有选择地旁路所述或每个对应能量存储装置,并且将所述或每个对应能量存储装置插入对应源链式链路转换中,以便生成跨源链式链路转换的电压,并且由此操作所述或每个注入电路(36、40),以便将电流波形和/或电压波形注入到测试的链式链路(52)中。
  • 合成测试电路

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