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[发明专利]一种基于高速信号测试的测试方法及其装置-CN202210552106.7在审
发明人：陈永;邬刚 -专利权人：杭州加速科技有限公司
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于高速信号测试的测试方法及其装置，包括高速信号测试和直流信息测试，高速信号测试如下：下发关于高速信号测试的指令至预设第一测试模块和/或预设第二测试模块；基于指令生成携带有通道指令，并下发至第一切换控制单元以传输控制资源；在资源单元中，切换通道将控制资源传递至待测模块，进行高速信号测试。本发明的方案可同时进行高速信号测试和直流信息测试，测试成本低，资源有效复用率高，测试效率高，能够满足低端、终端和高端的高速信号测试需求。在高速信号测试的基础上，利用现有的硬件基础拓展出直流信息测试，同时实现高速信号测试和直流信息测试，充分利用测试机的资源。
一种基于高速信号测试方法及其装置

[发明专利]一种高速信号质量的测试方法和测试装置-CN202210722738.3在审
发明人：陈定豪;姚金华 -专利权人：杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种高速信号质量的测试方法，测试方法包括：在待测设备中设置功能区和测试区；分析、模拟待测设备中的信号走线，在功能区中选定需测试的高速信号走线；在测试区复刻需测试的高速信号走线，其中测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示高速信号的SI参数。本发明还涉及一种高速信号质量的测试装置。本发明提供的测试方法和测试装置可以利用PCB板材剩余部分或者增加少量PCB板材的前提下，为工程师提供了对高速信号简单高效的测量方法。
一种高速信号质量测试方法装置

[发明专利]一种高速信号测试系统-CN201810076604.2有效
发明人：吴杨;张玉安;梅雪;刘成刚;徐红春 -专利权人：武汉电信器件有限公司
申请日： 2018-01-26 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： H04B3/46 文献下载
摘要：本发明公开了一种高速信号测试系统，其包括高速信号测试板和高频测试接头安装夹具，所述高速信号测试板包括高速信号焊盘，用于连接待测系统；高速信号微带传输线，金属GND层，金属化通孔和四分之一阻抗匹配单元，用于传输待测系统发射的高速信号所述高频测试接头安装夹具包括高频接头、金属安装座和定位孔，用于连接高速信号测试板和高速信号测试仪表。
一种高速信号测试系统

[发明专利]一种高速光通信芯片测试系统及方法-CN201810878808.8有效
发明人：陆明;马建旭;商俊强;李岩;杨帆;宋柳佳;苏方圆;匡磊 -专利权人：光梓信息科技（上海）有限公司
申请日： 2018-08-03 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种高速光通信芯片测试系统及方法，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；测试源与控制终端相连，包括Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在控制终端的控制下生成测试信号；高速接口板与控制终端、测试源和探针卡相连，用于在控制终端的控制下选择Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器中的一个作为当前测试源，并将当前测试源生成的测试信号发送至所述探针卡；探针卡与待测高速光通信芯片相连，用于基于测试信号测试待测高速光通信芯片，获取待测高速光通信芯片的测试参数。本发明的高速光通信芯片测试系统及方法既可在芯片工程验证时保证测试精度与覆盖率，又可在大批量生产测试时有效提升并行测试效率，减少测试时间，降低测试成本。
一种高速光通信芯片测试系统方法

[发明专利]一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法-CN202210464146.6有效
发明人：毛国梁;李全任 -专利权人：南京宏泰半导体科技有限公司
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路高速数字接口通用检测装置及方法，包括中低速数字测试通道母板和高速数字接口测试通道子板，所述中低速数字测试通道母板包括测试处理器、中低速测试通道单元，中低速测试通道组上设置有高速测试通道子板接口；所述高速数字接口测试通道子板包括测试处理器母板接口、FPGA代码配置发生器、可配置接口协议的高速测试通道驱动用FPGA、高速测试通道单元、可重配置测试数据处理器，所述测试处理器母板接口与中低速测试通道组的高速测试通道子板接口连接本发明既可以满足一般IO口的中低速测试要求，也可以满足高速接口的测试。既可以获得FPGA方案的高灵活性，同时可以获得中低端ATE机台的较低成本。
一种集成电路高速数字接口通用检测装置方法

[实用新型]一种高速电机测试系统-CN202023086739.9有效
发明人：刘尧;马雷;薛彪 -专利权人：势加透博(成都)科技有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01R31/34 文献下载
摘要：本实用新型提供一种高速电机测试系统，涉及电机性能测试领域，所述系统包括测试支架，设置于测试支架上的电源系统、高速逆变器、控制器以及高速电机；所述控制器、电源系统分别与高速逆变器电连接，所述高速逆变器与高速电机电连接；所述高速逆变器与高速电机之间设置有功率分析仪；所述高速电机的输出轴上设置有转速采集器和振动采集器；所述功率分析仪、转速采集器以及振动采集器分别通过CAN总线与计算机通信连接。本实用新型解决了现有技术中高速电机的测试系统存在测试功能不全面、体积较大、各个测试器件之间容易存在干扰，导致测试不便、测试不准确的问题。
一种高速电机测试系统

[发明专利]基于高速视频测量的水下振动模拟测试系统及测试方法-CN202111305346.9有效
发明人：陈鹏;童小华;高飒;汪本康;谢欢;刘世杰;冯永玖;金雁敏;叶真;许雄;柳思聪;王超 -专利权人：同济大学
申请日： 2021-11-05 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01M3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于高速视频测量的水下振动模拟测试系统及方法，其中水下振动模拟测试系统包括水下高速相机、测试水池、水上控制装置、测试对象和造浪装置，测试对象固定在测试水池内，水下高速相机安装在测试水池的侧壁上，水下高速相机的镜头对准测试对象，水上测试系统与水下高速相机进行电连接，测试水池内填充有水，水下高速相机和测试对象分别设置在水面下，造浪装置设置在水面上。
基于高速视频测量水下振动模拟测试系统方法

[发明专利]一种对高速运算放大器芯片进行测试的电路及方法-CN202310883272.X在审
发明人：徐雷钧;白雪;杨济名;张旭杰;张力文 -专利权人：江苏大学
申请日： 2023-07-18 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种对高速运算放大器芯片进行测试的电路及方法，所述高速运算放大器芯片测试的电路及方法包括高速运算放大器芯片测试电路PCB板和高速运算放大器芯片测试方法；高速运算放大器芯片测试电路PCB板作为高速运算放大器芯片的测试搭载平台，将其与测试机连接完成硬件设置；高速运算放大器芯片测试方法基于C++编程语言设计，通过控制继电器接通与关断完成电路拓扑变换，实现对输入失调电压电流，共模抑制比，开环电压增益，电源抑制比，电源静态功耗共六个参数的测试，基于上述测试系统，本申请实施例对高速运算放大器芯片进行测试，同时降低了测试成本，简化了测试步骤，提高了芯片测试的速度和数据准确度。
一种高速运算放大器芯片进行测试电路方法

[发明专利]一种多协议高速serdes测试实现方法及系统-CN201910797541.4有效
发明人：阎健;贺家敏 -专利权人：烽火通信科技股份有限公司
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种多协议高速serdes测试实现方法及系统，涉及测试领域，该方法包括将对应待测试高速serdes接口的测试文件在CPU中进行校验，得到校验码，所述测试文件为含有伪随机码的数据包，且数据包的帧头与待测试高速serdes接口的协议对应；通过待测试高速serdes接口，将FPGA文件和测试文件发送至测试平台的FPGA，所述FPGA文件中包含用于对测试文件进行校验的校验算法；FPGA校验测试文件，并将校验得到的校验码通过待测试高速serdes接口发送至CPU；CPU接收FPGA发送的校验码，并与之前校验得到的校验码进行比对，完成高速serdes接口的测试。本发明能够极大提升高速serdes接口的测试效率。
一种协议高速 serdes 测试实现方法系统

[实用新型]一种用于DP‑QPSK接收机的高速ADC的测试系统-CN201720294822.4有效
发明人：陈哲;肖翔;赵龙;李豹;程玉华;高泉川;黄秋伟 -专利权人：厦门优迅高速芯片有限公司
申请日： 2017-03-24 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： H04B17/20 文献下载
摘要：一种用于DP‑QPSK接收机的高速ADC的测试系统，包括测试终端，用于产生DP‑QPSK数据流并进行耦合、移相后输出数据流；任意波形发生器，与测试终端相连以接收数据流，输出高速模拟信号和时钟信号；高速ADC，与任意波形发生器相连，用于将高速模拟信号和时钟信号转换为高速数字信号；高速缓存电路，与高速ADC相连，用于将高速数字信号转换为低速数字信号；逻辑分析仪，与高速缓存电路相连，用于将低速数字信号发送至测试终端；测试终端接收低速数字信号进行信号恢复，将恢复的信号与原始信号进行比对实现测试。本实用新型的系统单独对高速ADC进行测试，测试方法和步骤简单、成本低。
一种用于 dp qpsk 接收机高速 adc 测试系统

[发明专利]片上系统中高速超宽总线故障测试系统和方法-CN201110142785.2有效
发明人：张金艺;丁梦玲;李娇;段苏阳;吴玉见;王春华 -专利权人：上海大学
申请日： 2011-05-31 - 公布日： 2012-01-18 - 主分类号： G01R31/3177 文献下载
摘要：本发明涉及一种片上系统中高速超宽总线故障测试系统和方法。它包含有为完善片上系统可测试性而增加的电路和基于此电路运行的测试流程，其电路由一个测试访问通道组、六条测试链路和一组高速超宽总线测试控制线组成；其测试流程由单向型高速超宽总线测试流程和双向型高速超宽总线测试流程组成采用本发明，能够对片上系统中的高速超宽总线实现全面的测试访问，完成高速超宽总线上信号完整性故障和固定逻辑值故障的测试，并且能够保证各条总线在测试过程中的相互隔离和有效控制。本发明电路结构简单、测试流程简捷，适用于片上系统中各种类型的高速超宽总线。
系统高速总线故障测试方法

[发明专利]高速通信总线芯片端口特性测试方法-CN201110127102.6无效
发明人：江鑫祯;顾良波;徐惠;沈懿桦 -专利权人：上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请日： 2011-05-17 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的高速通信总线芯片端口特性测试方法包括以下步骤：控制与所述源线连接的高速开关导通，使所述源线与所述测试机连接；所述测试机向所述高速通信总线芯片传输差分信号，启动所述高速通信总线芯片运行；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述源线传输至所述测试机之前，控制与所述源线连接的高速开关断开，使所述源线与所述测试机断开连接；控制与所述捕获线连接的高速开关导通，使所述捕获线与所述测试机连接；所述高速通信总线芯片向所述测试机发射差分信号；在所述高速通信总线芯片产生的反馈信号沿所述捕获线传输至所述测试机之前，控制与所述捕获线连接的高速开关断开，使所述捕获线与所述测试机断开连接。
高速通信总线芯片端口特性测试方法

[发明专利]一种高速摄像机防护外壳抗老化测试机-CN202211385449.5有效
发明人：唐茂;石鹏;李圣;张智银;刘梦昊;李延博;阳乐;齐友珍;刘宗昊;王浩 -专利权人：成都大学
申请日： 2022-11-07 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高速摄像机防护外壳抗老化测试机，涉及高速摄像机生产测试技术领域。该种高速摄像机防护外壳抗老化测试机，包括测试箱体及待测试的高速摄像机防护外壳本体，所述测试箱体的外部铰链有防护门，所述高速摄像机防护外壳本体设置在测试箱体的内部，所述测试箱体上安装有模拟光照，所述测试箱体的内部设置有用于高速摄像机防护外壳本体夹持的夹持组件及加持后转动的转动组件该种高速摄像机防护外壳抗老化测试机，通过模拟光照、磨损组件及调节组件的相互配合，可以模拟高速摄像机防护外壳本体各个面在不同光照及不同的摩擦力作用下的抗老化性能，提高测试机的测试效果。
一种高速摄像机防护外壳老化测试

[发明专利]一种高速背板连接器制备测试装置及测试方法-CN202211383938.7有效
发明人：牛林;邓瑞林;唐四明 -专利权人：深圳市西点精工技术有限公司
申请日： 2022-11-07 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种高速背板连接器制备测试装置及测试方法，涉及芯片检测的技术领域，其包括测试柜以及测试件，测试柜的内部设有上料件，上料件的后方且位于测试柜的内部设有对高速背板连接器进行对接检测的测试件，测试件的周向方向设有对高速背板连接器进行固定且驱使其进行移动的辅助件；本发明仅需要操作人员将五组高速背板连接器依次放置到垂直框内，随后无需操作人员干预，能够实现高速背板连接器的自动化上料，继而大大提高高速背板连接器的测试效率；其次本发明能够通过插拔的方式同时对多组高速背板连接器在不同温度的环境中进行测试，从而测试高速背板连接器引脚的耐久和接触性。
一种高速背板连接器制备测试装置方法

[发明专利]一种短行程产品测试平台及其测试方法-CN201810274880.X在审
发明人：张金国;王续战 -专利权人：江苏富联通讯技术有限公司
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2018-09-07 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种短行程产品测试平台，其特征在于：包括第一测试线，所述第一测试线包括第一料盘、第一取料高速滑轨、第一送料高速滑轨、若干个上测试箱、第一合格盘、第一次品盘；以及第二测试线，所述第二测试线包括第二料盘、第二取料高速滑轨、第二送料高速滑轨、若干个下测试箱、第二合格盘、第二次品盘；所述第一取料高速滑轨与所述第一送料高速滑轨在若干个上测试箱的位置存在重叠部分；通过在产品测试平台的长度方向上实现取料高速滑轨、送料高速滑轨、以及测试箱的位置存在重叠部分，缩短了测试平台的整体长度，节约成本，减少测试时间，提高测试效率。
速滑测试线测试箱取料送料产品测试平台短行程次品料盘测试测试平台测试效率节约

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