“杭州加速科技有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果123个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于ATE设备自检的方法和系统-CN202110673638.1有效
发明人：邬刚;黄海平 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及ATE设备领域，公开了基于ATE设备自检的方法和系统，其包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信息进行校验；测试结果判断，PC端对校验后的测试结果进行判断，测试结果通过则进行测试用例判断，否则测试失败；测试用例判断，PC端对待测设备端的测试用例完成则测试成功，否则重新进行待测设备端的测试校验。通过对ATE设备进行自检，其能够保证输出波形的正确性，性能符合测试的需求；这样有利于ATE设备稳定性、性能测试自动化率以及测试效率。
基于 ate 设备自检方法系统

[发明专利]一种提升ATE设备中FPGA在线升级效率的升级方法及系统-CN202111677571.5有效
发明人：凌云;邬刚 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06F8/654 文献下载
摘要：本发明提出了一种提升ATE设备中FPGA在线升级效率的升级方法及系统，方法包括：获取待升级FPGA地址以及版本数据；解析出所有Flash地址和待写入版本数据；寻址Flash地址对应的所有Flash，将版本数据分别写入到每个Flash中；通过读取每个Flash中的写入数据，并与版本数据进行数据对比，以判断每个Flash是否通过数据校验；若某个Flash通过数据校验，则相应的FPGA从该Flash中加载数据，完成在线升级。本发明将FPGA的版本数据通过并行的方式写入到Flash中，实现了多个Flash同时写入，大幅缩短版本数据下载到Flash的时间，极大提高了ATE设备在FPGA在线升级上的效率。同时优化了数据校验的方法，大大缩减了数据读取和数据对比的数据，在减少数据传输量的同时，提升了数据校验效率。
一种提升 ate 设备 fpga 在线升级效率方法系统

[实用新型]一种PCB板固定装置-CN202320297837.1有效
发明人：沈小栋 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： H05K7/14 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种PCB板固定装置，包括固定座、固定环、转动环和锁定结构，固定座用于设置PCB板，锁定结构用于将转动环可转动的连接在固定座与固定环之间。锁定结构包括：锁定槽、第一滚凸轮轴承、第二滚凸轮轴承和锁定孔，锁定槽设置在固定座中，锁定孔设置在固定环中，第一滚凸轮轴承和第二滚凸轮轴承设置在转动环上，第二滚凸轮轴承用于在锁定孔中滚动以驱动转动环转动，以将第一滚凸轮轴承与锁定槽锁合，从而将固定环与固定座连接。本实用新型通过转动环的转动以将固定座和固定环连接，结构简单，同时在安装和拆卸的过程中非常方便，并且体积较小，不需要很大的外围空间就能够进行安装和拆卸。
一种 pcb 固定装置

[发明专利]基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统-CN202111471138.6有效
发明人：邬刚;凌云 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G06F13/40 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统。加速方法包括：选定引脚电路芯片并进行配置；引脚电路芯片采集待测芯片反馈的测试数据；在预设时间间隔，每块业务板上的FPGA并行读取该业务板上所有引脚电路芯片中的测试数据，并将读取的测试数据存储在FPGA中；测试程序通过读取每块业务板上FPGA中存储的数据，获取该业务板上所有引脚电路芯片的测试数据；测试程序分析测试数据，完成对待测试芯片的测试。本发明提出的方案通过减少ATE设备在芯片测试过程中测试程序对引脚电路芯片的访问次数，进而减少对芯片的配置时间和读取时间，缩短芯片测试时间，提高芯片测试效率，且无须做硬件上的调整，只需对业务板上的FPGA进行进行设计升级。
基于 ate 设备芯片测试加速方法装置系统

[发明专利]一种ATE设备中的时钟生成方法及系统-CN202111675238.0在审
发明人：邬刚;凌云 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： H03K3/017 文献下载
摘要：本发明提出了一种ATE设备中的时钟生成方法及系统，方法包括：获取待配置时钟的时钟参数，解析出时钟周期和边沿时刻参数；边沿时刻子模块计算各级输出，以及输出各个边沿时刻的延时数据；剩余时间子模块选择相应的更新策略以输出相应的剩余时间，并得到各个边沿时刻的波形形状；预设的波形输出子模块，在系统时钟的控制下，根据各个边沿时刻的波形形状和延时数据生成待配置时钟的时钟波形。本发明的时钟生成方案，兼顾时钟精度与时钟参数灵活性，仅需配置好待配置时钟的上升沿参数和周期参数，即可在兼顾时钟精度的同时，实现时钟频率与时钟占空比的大范围调节。
一种 ate 设备中的时钟生成方法系统

[发明专利]基于比较器的高精度边沿检测方法及系统-CN202111486139.8有效
发明人：凌云;陈永 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2021-12-07 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H03K5/125 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于比较器的高精度边沿检测方法及系统。方法包括：获取被测器件输出的待测波形，预估低电平值和高电平值，设置初始电平，将初始电平作为阈值电平；将待测波形和阈值电平输入到比较器，比较阈值电平与待测波形，输出比较信号；判断比较信号是否符合预设条件，若否，则以预设步长迭代调整阈值电平重新进行比较，直至比较信号符合预设条件，将符合预设条件的阈值电平作为输出电平；获取待测波形的实际低电平值和实际高电平值，计算并设置判决电平进行边沿检测。本发明能够在不借助其它测量设备的情况下，消除电阻误差和电平误差对边沿检测精度的影响，有效提高了边沿检测精度。
基于比较高精度边沿检测方法系统

[发明专利]光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统-CN202310315017.5在审
发明人：凌云;邬钢 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提出了一种光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统。方法包括：获取在预设可测电压范围内光源电压参数与光源亮度之间的线性关系；基于预设规则选取准电压参数，获取在准电压参数下的光源亮度的测量值和理论值以得到每个准电压参数对应的变化量，判断每个变化量是否符合预设精度要求；将符合预设精度要求的准电压参数作为校准光源参数，基于校准光源参数构建相应的光源以参与光学芯片的测试。本发明基于梯度下降算法的思想，兼顾稳定性和高效性，无论在任何精度要求环境下，光源校准都能在短时间内完成，校准次数少，校准效率高，精准高效地实现光源校准，进而提升芯片测试效率。
光学芯片测试光源校准方法装置系统

[发明专利]一种抑制电源纹波噪声信号的方法及系统-CN202310026444.1在审
发明人：凌云;陈永 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H02M1/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种抑制电源纹波噪声信号的方法及系统，方法包括对电源发送的信号采样以得到电源纹波噪声信号，处理电源纹波噪声信号，将电源纹波噪声信号分离为纹波信号和噪声信号，分别对纹波信号和噪声信号进行处理，获得与纹波信号幅度相同、相位相反的第一信号和与噪声信号幅度相同、相位相反的第二信号，将第一信号和第二信号导入电源发送的信号，以抑制电源纹波噪声信号。本发明提出的方法突破了现有技术中电源纹波噪声改善中存在的缺陷与限制，解决了电源噪声随机性高、难以改善的痛点，具备对电源纹波和噪声双重高抑制的效果，使电源纹波噪声处理的指标实现了质的提升。
一种抑制电源噪声信号方法系统

[发明专利]一种降低输出电压影响的电流源电路和方法-CN202310027862.2在审
发明人：凌云;邬刚 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明提供了一种降低输出电压影响的电流源电路和方法，该电路包括：输入信号端、反馈电路、输出电路和电流检测电阻。反馈电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻和补偿电阻。第一电阻设置在反相输入端与输出端之间。第二电阻设置在反相输入端与电压输入端之间，第四电阻和补偿电阻串联设置在同相输入端与接地端之间。第三电阻的一端连接同相输入端，第三电阻的另一端连接负载电阻的一端，电流检测电阻的另一端连接输出端，第三电阻与电流检测电阻的连接处还连接外接负载。本发明消除了电流源输出电压对电流源输出电流的影响，降低了电流源输出电压对电流源电路的影响，同时本发明保持了电流源电路低复杂性和低成本性。
一种降低输出电压影响电流电路方法

[发明专利]模拟芯片的调试接口的系统、方法及应用-CN202310147397.6在审
发明人：凌云;邬刚 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06F11/263 文献下载
摘要：为了解决现有技术中，在对ATE设备进行芯片调试接口时，需要频繁的数据更新而导致实际执行效率低的问题，本发明提供了一种模拟芯片的调试接口的系统、方法以及应用，包括：输入模块、调试接口装置以及待测试芯片；其中，输入模块，用于输入调试指令；调试接口装置与所述输入模块进行数据交互，能够批量存储所述调试指令；待测试芯片与所述调试接口装置进行数据交互，能够根据任一所述调试指令与所述调试接口装置中生成对应的协议，对所述待测试芯片进行测试；本发明所述的系统，具有结构简单的优点，而且无需频繁更新数据到硬件的DIO单元中，可批量更新数据，统一触发传输，提升了ATE设备模拟芯片调试接口的执行效率。
模拟芯片调试接口系统方法应用

[发明专利]一种ATE固件重配置处理的方法和装置-CN202310113638.5在审
发明人：陈永;邬刚 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种ATE固件重配置处理的方法和装置，应用于包括ATE设备、MCU及FPGA的ATE测试系统中，所述ATE设备、MCU及FPGA依次连接；该方法包括：若获取到预设的指令，确定所述指令的类型；通过所述MCU从所述ATE设备下载对应所述类型的BIT数据；将下载的所述BIT数据传输至所述FPGA，以执行所述对应所述指令的操作。本方案通过额外增加MCU，不需要FPGA进行额外的布局，且对利用MCU来进行数据下载以及中转，有效提升了处理的效率。
一种 ate 固件重配置处理方法装置

[发明专利]一种ATE设备中异常同步触发信号的捕捉方法及其装置-CN202211629371.7有效
发明人：邬刚;陈永 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提出了一种ATE设备中异常同步触发信号的捕捉方法及其装置，方法包括：通过预设触发器和FPGA中的ISERDES模块以相同的采样时钟、各自不同的采样频率分别对延时后的同步触发信号进行同步采样；通过计算第一采样数据中相邻两个时钟周期连续多个比特的数据，分析得到关于同步触发信号在每个采样周期的信号数据，通过信号数据能否充分反映基准采样数据判断是否异常，结合外部示波器捕捉同步触发信号的真实物理信号。本发明的方案利用FPGA芯片内自带的ISERDES资源，有效的捕捉到概率极小的异常同步触发信号和采样丢失时刻，不仅捕捉定位准确，效率高，定位成本低，而且可以准确得到信号异常的原因和类型。
一种 ate 设备异常同步触发信号捕捉方法及其装置

[外观设计]转换盒（LVDS、MIPI）-CN202330034904.6有效
发明人：凌云 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-01-16 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： 14-03 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：转换盒（LVDS、MIPI）。2.本外观设计产品的用途：用于进行数据测试的信号采集。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：设计1立体图。5.指定设计1为基本设计。6.其他需要说明的情形其他说明：A部放大图为转换盒设计1的接口位置，B部放大为转换盒设计2的接口位置。
转换 lvds mipi

[发明专利]一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置-CN202310174338.8在审
发明人：邬刚;凌云 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置，该方法包括：通过主控单元向业务板分发测试向量；通过业务板执行测试向量获取测试数据；通过各业务板将获取的测试数据发送至集中采集单元；通过集中采集单元将获取的所有测试数据发送至主控单元，以便主控单元进行测试处理。与现有技术相比，本发明能提高测试效率，降低测试时间成本，能集中采集各个业务板上的采集数据，达到异步分发测量向量，并行测量数据采集并统一数据提取，能提高通信总线使用率，达到提升读取测量数据效率的目的；还能提高集中采集板与各业务板之间的吞吐量，促进整体系统的采集效率；还能大大降低业务板对内存的需求，从而降低业务板成本，减少测试机的冗余。
一种提升 ate 设备读取测量效率方法装置

[发明专利]一种提升电路测试设备中电压源精度稳定性的方法及装置-CN202310136365.6在审
发明人：邬刚;陈永 -专利权人： 杭州加速科技有限公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G05F1/567 文献下载
摘要：本发明提供了一种提升电路测试设备中电压源精度稳定性的方法及装置，装置包括输出电压检测模块、温度检测模块、误差自修正模块和反馈补偿模块，方法包括通过输出电压检测模块检测电压源的输出电压，及通过温度检测模块检测电压源所处的环境温度,将当前检测到的输出电压、当前检测到的环境温度输入误差自修正模块中预先建立的拟合模型，得到补偿数据,将补偿数据发送给反馈补偿模块，以使反馈补偿模块对电压源进行对应补偿数据的电压补偿，以使电压源输出最终电压。本方法可对不同环境温度下的电压偏移进行自修正，实现实时、自动地补偿温度引起的电压误差，大幅提高了电压源精度稳定性，还具备提高测试效率、降低测试成本的优点。
一种提升电路测试设备电压精度稳定性方法装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
下一页»
尾页
共 123 条