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[实用新型]凸点量测装置-CN200820189332.9无效
发明人：刘志亮 -专利权人：佛山市顺德区汉达精密电子科技有限公司
申请日： 2008-08-29 - 公布日： 2009-07-22 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种凸点量测装置，其包括：弓形支架；测点支杆，以可相对所述弓形支架活动的方式安装于所述弓形支架上，该测点支杆一端设置有支点；以及测量表，其与所述测点支杆的另一端相连。本实用新型结构简单，先对其进行调零，然后再将其放置在需检测的产品表面进行凸点检测，即可快速、可靠地对产品表面的凸点进行量测。
凸点量测装置

[发明专利]脉脊点量测系统及其量测方法-CN200510098580.3无效
发明人：吴贤财;何金山;黄义智 -专利权人：吴贤财
申请日： 2005-09-06 - 公布日： 2007-03-14 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：一种脉脊点量测系统及其量测方法，系用以量测找出最大之脉脊点，其包括：至少一压力感测器；一脉诊装置，包含第一轴与第二轴，该第一轴与第二轴系不同轴向，且与该压力感测器连接；一控制器，用以控制该脉诊装置之第一、第二轴之位移动作状态；以及一压力波感测撷取系统，用以接收该压力感测器之感测资料；根据该资料可找出最大脉压，复于此处施加压力再取脉波段可比较出最大脉波点，当为最大脉脊波，此即为脉脊点。
脉脊点量测系统及其方法

[发明专利]量测路径优化系统及方法-CN201110020402.4有效
发明人：张旨光;吴新元;杨根 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-01-18 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：一种量测路径优化方法，包括：从量测机台接收工件的基本信息以及在该工件上创建的量测元素的基本信息；根据量测元素的基本信息解析出每个量测元素的量测点，将每个量测元素的名称及该量测元素的量测点存入一个关系数组中；从量测点中找出距离工件的坐标系原点最近的一个量测点，以该量测点为起点，以上述关系数组为单位，通过最近距离的计算，将所有量测点排序，得到包括所有量测点的第一有序数组；及根据上述第一有序数组生成量测机台的量测路径本发明还提供一种量测路径优化系统。本发明能够优化量测机台对量测元素的量测路径，使量测机台移动的量测路径达到最优、最短，并且能够自动设置空点。
路径优化系统方法

[发明专利]一种AGC关键量测安全校验方法及闭锁控制方法-CN202110949490.X在审
发明人：吴继平;肖飞;涂孟夫;陈宏福;于昌海;范静;曹荣章;昌力;徐瑞;刘爱梅;郭斌琪;滕贤亮;庞涛 -专利权人：国电南瑞南京控制系统有限公司;国网上海市电力公司;国家电网有限公司
申请日： 2021-08-18 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： H02J3/24 文献下载
摘要：本发明公开一种AGC关键量测安全校验方法及闭锁控制方法，属于AGC控制技术领域。AGC关键量测安全校验方法包括：获取分别具有多个量测点的频率量测数据、联络线量测数据和机组量测数据；对来源于各量测点的量测数据分别进行校验，确定各量测点的实时运行状态；对于每一类量测数据所对应的所有量测点，根据优先级初始设置参数、优先级实时配置参数以及各量测点的实时运行状态，确定运行正常的量测点的优先级顺序，并更新优先级实时配置参数；将运行正常且具有最高实时优先级的量测点的量测数据，作为用于AGC控制的关键量测数据本发明能够在测点运行异常时有效隔离异常测点数据，提高AGC运行的稳定性和可靠性。
一种 agc 关键安全校验方法闭锁控制

[发明专利]点镭射自动对焦扫描影像量测系统及方法-CN200710200907.2有效
发明人：张旨光;袁忠奎;李艳丽;蒋理 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2007-06-28 - 公布日： 2008-12-31 - 主分类号： G01C11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种点镭射自动对焦扫描影像量测系统，该系统包括计算机及影像量测机台。所述机台包括镭射装置。计算机包括：量测点采集模块，用于在待测影像上选择量测起始点与量测结束点；判断模块，用于判断所述起始点与结束点是否有效；量测内容设定模块，用于接收设定的量测内容；所述量测点采集模块还用于当所述起始点与结束点有效时，控制所述镭射装置按照预先设定的取点间距，从所述起始点到结束点的路径上进行取点、对焦扫描；量测模块，用于得到所有量测点的测量值及所设定的量测内容对应的测量值；及过滤模块，用于对测量值过滤。本发明还提供一种点镭射自动对焦扫描影像量测方法。本发明利用镭射装置在影像上取点，对焦速度快，且精度高。
镭射自动对焦扫描影像系统方法

[发明专利]轮廓线自动量测系统及方法-CN201210334493.3有效
发明人：易远元 -专利权人：长江大学
申请日： 2012-09-12 - 公布日： 2016-12-21 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：一种轮廓线自动量测系统及方法，该方法包括步骤获取待测物体的轮廓线及组成该轮廓线的轮廓点；进行轮廓点取样，获取取样点及其对应的方向向量；根据每个取样点的方向向量将获取的取样点偏移第一预定距离得到对应的理论点，并生成一个量测程序；根据该量测程序对待测物体进行测量得到量测点坐标，计算量测点与对应理论点的距离得到各量测点的偏差值，根据最大偏差值与最小偏差值得到轮廓度；画出理论线与上下公差线，连接各个量测点与对应的理论点，标出各量测点的偏差值。利用本发明可以自动量测待测物体的轮廓线。
轮廓动量系统方法

[发明专利]一种模拟量测值智能预测算法的自适应测试方法-CN202010457983.7有效
发明人：张豪;陈满;巩宇;彭煜民;代雄;杨铭轩;邱小波;姚明亮;于亚雄;佘俊;贺儒飞;高彦明;向正林;李建秋;李德华;郭献彬;王晓翼 -专利权人：南方电网调峰调频发电有限公司
申请日： 2020-05-26 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明提供一种模拟量测值智能预测算法的自适应测试方法，为技术人员测试智能趋势判断算法的性能提供有效手段，也可为智能趋势判断算法提供故障样本。具体步骤如下：首先从时序事件记录表、模拟量测点表、报警阈值表中读取事件记录顺序情况、模拟量测点ID、模拟量测点报警值；接着获取统计周期内机组正常运行状态的运行记录形成基于开关量信号的模拟量测点测值历史统计；然后综合历史统计、模拟量测点报警值、模拟量测点当前测值计算获得带时标的模拟量测点模拟测值；最后将带时标的模拟量测点模拟测值提供给机组启动状态模拟量测值智能预测算法测试，并计算灵敏度，当灵敏度超过阈值域时
一种模拟量测值智能预测算法自适应测试方法

[发明专利]一种配电物联网量测建模方法-CN201711114267.3在审
发明人：陈亮;齐文斌;黄强;梁凯;袁晓冬;谭志海;赵凤青;邓俊波 -专利权人：国网江苏省电力公司电力科学研究院;国家电网公司;北京四方继保自动化股份有限公司;江苏省电力试验研究院有限公司
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2018-04-03 - 主分类号： H02J3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种配电物联网量测建模方法，对物联网传感器测点建立与设备关联的量测模型，实现基于物联网的量测建模，具体为，扩充CIM模型，建立物联网传感器测点模型表，对于含有物联网测点的多源测点，在量测模型表里，用一条记录，通过扩充字段、平行测点的方式，实现同一量测的多源测点关系建模。本发明解决了物联网量测的多源关联问题，为进一步利用物联网量测信息，标准化运行，建立了基础模型。
一种配电联网建模方法

[发明专利]点云剖面量测系统及方法-CN201310314188.2无效
发明人：张旨光;吴新元;刘义 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-07-24 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：一种点云剖面量测系统及方法，其包括：读取待测产品的点云数据；对所读取的点云进行三角网格划分，并输出由所有三角形构成的队列A；根据所获取的点云数据及待测产品的待测剖面来创建基准平面PLN；根据基准平面PLN和用户所选择的元素类型创建三维工件坐标系；计算所有点云的三维工件坐标；获取多个待量测的量测元素在基准平面PLN上的位置；根据所获取的多个待量测的量测元素在基准平面PLN上的位置来提取每个所述待量测的量测元素所对应的点云；根据每个所述待量测的量测元素的所对应的点云数据，利用所述拟合算法拟合所述待量测的量测元素；根据所拟合出的所述待量测的量测元素的方程计算所述待量测的量测元素间的距离、夹角。
剖面系统方法

[发明专利]光谱共焦量测系统及方法-CN201110416986.7无效
发明人：张旨光;蒋理;袁忠奎;薛晓光;李东海 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-12-14 - 公布日： 2013-06-19 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光谱共焦量测方法。该方法包括选择一种量测类型；根据上述选择的量测类型，用户在待量测物体的影像内选择的一个或者两个影像点，及根据预先设定的取点间距，利用所述光谱共焦设备在待量测物体上取点，并计算所取的每个点的Z轴坐标；及存储上述每个点的本发明还提供一种光谱共焦量测系统。该系统及方法利用光谱共焦技术，能对量测区域快速量测并获取量测点坐标，实现精确对焦。
光谱共焦量测系统方法

[发明专利]薄膜电阻值量测列印系统-CN200910205547.4无效
发明人：郑兆希;张新民;李亮宏 -专利权人：向熙科技股份有限公司
申请日： 2009-10-26 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明揭露一种薄膜电阻值量测列印系统，该薄膜电阻值量测列印系统包括：一控制装置，用以进行数据处理；一四极式探针电阻量测设备，量测设备具有多个探针，以形成多个电阻值量测点。其中，控制装置控制量测设备自动对工件上的多个待测点进行量测后，再将量测后的数据传回控制装置处理，以得到这些待测点的电阻值；以及一打印模块，电性连接于控制装置，打印模块具有一印字头，控制装置将这些待测点的电阻值传送至该印字头，印字头将待测点的电阻值印刷于一预定位置。本发明相对于现有技术的功效，除可自动化量测电阻值外，亦可在极短的时间内，大量地量测多个待测点，并且，在量测电阻值之后立即将电阻值标示于这些待测点。
薄膜阻值列印系统

[发明专利]三维量测模拟取点系统及方法-CN201310452029.9无效
发明人：张旨光;吴新元;张恒 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-09-27 - 公布日： 2015-04-15 - 主分类号： G06T17/05 文献下载
摘要：一种三维量测模拟取点系统及方法，应用于计算机中，该计算机连接有光学点云三维扫描仪。该方法包括步骤：利用光学点云三维扫描仪针对待测产品的整个形面进行激光扫描得到产品三维点云；将产品三维点云进行三角形网格化得到网格化点云；在网格化点云上任意选取一量测点，并快速计算出量测点在待测产品表面上对应的初步坐标；以量测点的初步坐标为中心，在量测点周围找出与量测点临近的所有三角形；将所有三角形的中心点进行平面拟合计算出量测点的实际坐标与法向量；并通过模拟测针的量测运动路径来验证所选取量测点的准确性。实施本发明，能够快速准确地在待测产品表面自动地进行选取量测点，且避免人为操作带来的安全隐患。
三维模拟系统方法

[发明专利]单点对焦影像量测系统及方法-CN200710201698.3无效
发明人：张旨光;蒋理 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2007-09-14 - 公布日： 2009-03-18 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种单点对焦影像量测方法，该方法包括步骤：(a)在待测物体的影像上选择量测点；(b)控制影像量测机台移动，并发送命令给镭射控制器，使镭射控制器控制镭射头根据所选择的量测点的X轴、Y轴坐标值，在待测物体上寻找该量测点，并从所述镭射控制器中接收镭射头获取的该量测点到镭射头的距离h；(c)根据距离h及镭射头获取到该距离h时所在位置的坐标值，计算出该量测点的精确坐标值；及(d)根据量测点的精确的坐标值，控制影像量测机台上的Z轴移动，使影像量测机台上的镜头对该量测点对焦。本发明还提供一种单点对焦影像量测系统。本发明利用镭射头对待测物体进行扫描，寻找对焦点，速度快且精度高。
单点对焦影像系统方法

[发明专利]一种多源量测终端数据融合的微电网状态估计方法及系统-CN202211385505.5在审
发明人：刘明;林伟军;区华勇;王庆斌;黄辉;谈赢杰;余泓圻;刘晓腾;温彩健;黄文广;伍锃杰;龙经纬;覃家露;王冬生;郭燕羽 -专利权人：广东电网有限责任公司云浮供电局;南方电网科学研究院有限责任公司
申请日： 2022-11-07 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及微电网技术领域，公开了一种多源量测终端数据融合的微电网状态估计方法及系统，其方法通过获取SCADA量测终端和PMU量测终端分别在相应的预置测量点的SCADA量测序列数据和PMU量测序列数据，还获取AMI量测终端在微电网末端的预置测量点的AMI量测序列数据，基于微电网的网络拓扑结构，搜索与AMI量测终端相关联的SCADA量测终端的多个预置测量点，构成SCADA测量点集合，并确定与AMI量测终端的电气距离最近的SCADA测量点，作为AMI量测终端最关联的SCADA测量点，根据AMI量测终端最关联的SCADA测量点对应的SCADA量测序列数据以及AMI量测序列数据估算AMI当前量测值，根据SCADA量测序列数据、PMU量测序列数据和AMI当前量测值进行微电网状态估计，从而提高微电网状态估计的计算精度。
一种多源量测终端数据融合电网状态估计方法系统

[发明专利]晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质-CN202010206801.9有效
发明人：曹盛宗 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-03-23 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及半导体领域，公开了一种晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质，包括：获取待量测晶圆的待量测图像和预设量测点，并获取所述待量测图像内的异常区域；若所述预设量测点位于所述异常区域内，根据所述异常区域，在所述异常区域外获取目标量测点；通过所述目标量测点对所述待量测晶圆进行量测。与现有技术相比，本发明实施方式所提供的晶圆量测方法、装置及计算机可读存储介质具有提升晶圆量测结果准确性的优点。
晶圆量测方法装置计算机可读存储介质

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