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- [发明专利]基于TDC的FPGA电路传输延迟测试系统和方法-CN201610199881.3在审
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来金梅;石超;王健
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复旦大学
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2016-03-31
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2016-08-10
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G01R31/28
- 本发明属于集成电路技术领域,具体为基于TDC方法的FPGA电路传输延迟测试系统和方法。本发明测试系统包括:待侧电路模块、测试激励生成模块、TDC模块、译码输出模块、时间校准模块和控制模块。本发明利用TDC方法对延迟链计数,可以较为方便的测出FPGA内部电路的传输延迟;利用FPGA芯片的内部资源,构建BIST(内建自测试)进行测试,具有测试成本低,抗干扰性好,可移植性强,不依赖测试工具等特点对于FPGA内部各类传输延迟参数,包括:可编程逻辑单元(CLB),可编程输入输出单元(IOB)、块存储器(BRAM)、数字信号处理器(DSP)、可编程互联等FPGA组成模块电路的开关参数、互联延迟、组合逻辑延迟、CLK‑Q延迟的测试方面具有很好的应用价值。
- 基于tdcfpga电路传输延迟测试系统方法
- [发明专利]一种点积运算装置-CN202211270781.7在审
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王中风;李琼;方超
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南京大学
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2022-10-17
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2022-12-30
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G06F17/16
- 本申请提供一种点积运算装置,所述点积运算装置包括:译码模块、符号与指数运算模块、指数比较求差模块、尾数乘法模块、加法器、有效数对齐模块、符号处理与尾数相加模块、尾数归一与指数调整模块和编码与舍入模块,由于采用融合操作,在加法器内无需进行中间结果的译码和编码与舍入功能,导致本申请所需译码模块和编码与舍入模块的数量减少,因此减小了硬件面积和硬件功耗;并且,由于减少了译码模块和编码与舍入模块,因此计算的关键路径缩短,从而减小了计算延迟
- 一种运算装置
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