“芯片老化”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果582763个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种SOC芯片高温测试的方法和装置-CN201910986062.7在审
发明人：吉喆;薛志明 -专利权人：福州瑞芯微电子股份有限公司
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种SOC芯片高温测试的方法和装置，所述装置包括运行辅助电路、测试辅助电路、待测芯片和统计分析模块；所述待测芯片分别与运行辅助电路、测试辅助电路、统计分析模块连接；所述待测芯片上设置有基础系统模块、功能运行模块、回路测试模块和温度控制模块；所述统计分析模块用于实时获取待测芯片在测试过程中的测试数据，并将测试数据发送至显示设备进行显示。通过上述方案，在进行芯片老化测试时，不仅能覆盖到芯片内部各个模块的系统级功能的HTOL测试，也能够覆盖芯片管脚电路的测试，同时，还可以监控每颗HTOL芯片的实时电性参数和运行状态，便于老化数据分析和老化失效分析
一种 soc 芯片高温测试方法装置

[发明专利]一种LED芯片寿命快速估算方法-CN201410698501.1有效
发明人：胡云峰 -专利权人：电子科技大学中山学院
申请日： 2014-11-26 - 公布日： 2015-03-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种LED芯片寿命快速估算方法，其包括有选两个样品、老化前初始反向电流的测量、高温下加快光通量衰减来进行老化测试、老化后反向电流的测量、和寿命的公式估算这几个步骤，这样通过施加反向电压来测得样品在光衰减前后的反向电流，再利用计算公式就可快速估算出LED芯片的寿命，从而缩短产品研发周期，为改善LED芯片寿命提供了更有力的保障，并能有效缩短LED芯片寿命估算时间，减小试验成本。
一种 led 芯片寿命快速估算方法

[实用新型]一种传感芯片批量老化装置-CN201920052386.9有效
发明人：陈栋梁;周睿颖;吴秋菊;蒋亚春 -专利权人：合肥微纳传感技术有限公司
申请日： 2019-01-11 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供一种传感芯片批量老化装置，包括底板；在所述底板上依次设置有导电机构、限位机构、压制机构；所述限位机构能够限位批量芯片，且限位后的芯片与导电机构电性连接，实现所有芯片并联在电路上；所述压制机构对批量芯片进行压制与现有技术相比，通过限位机构实现芯片的固定已经与导电机构的电性连接，通过压制机构实现芯片的固定；通过将芯片并联在电路上，可实现批量老化。
芯片导电机构限位机构压制机构底板传感芯片电性连接老化装置限位电路本实用新型依次设置压制老化

[实用新型]芯片老化测试箱-CN202022600766.7有效
发明人：杨文祥 -专利权人：苏州诺威特测控科技有限公司
申请日： 2020-11-11 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种芯片老化测试箱，包括具有试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门，还包括设置于所述箱体内部的送风系统、设置于所述箱体内部的风道，所述风道包括设置于所述试验腔顶壁上方的加热腔、设置于所述试验腔一侧部的送风风道本实用新型通过将送风系统和风道相结合，形成一套循环系统，该循环系统使得试验腔内的温度均匀，保证较高的均匀度指标，且达到了温度设定的要求，保证芯片老化试验效果。
芯片老化测试

[实用新型]芯片老化检测工装-CN202321327238.6有效
发明人：宋杰 -专利权人：叁技科技（天津）有限公司
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了芯片老化检测工装，包括背部居中固定安装有防护组件的老化测试箱，所述防护组件包括一侧固定安装于老化测试箱的电路板，所述电路板远离老化测试箱的一侧可活动设置有防护板，且电路板朝向防护板的一面四角均固定安装有缓冲盒所述承压弹簧的一端固定连接有活动安装于缓冲盒内的承压板，所述防护板朝向电路板的一面四角均固定安装有承压杆，所述承压杆远离防护板的一端延伸入缓冲盒并与承压板固定连接，所述防护板内等距开设有安装孔，所述安装孔内可旋转安装有散热风扇，该芯片老化检测工装，结构合理，有利于保障芯片老化检测工作的正常进行，实用性强。
芯片老化检测工装

[外观设计]激光芯片老化柜-CN202030285746.8有效
发明人：颜小伟;昝国骥;李少华;邓卫华 -专利权人：武汉永力睿源科技有限公司
申请日： 2020-06-08 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：激光芯片老化柜。2.本外观设计产品的用途：用于激光芯片老化柜。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
激光芯片老化

[发明专利]射频芯片RF-HTOL老化实验系统-CN202210877122.3在审
发明人：李浩;李振刚 -专利权人：北京唯捷创芯精测科技有限责任公司
申请日： 2022-07-25 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种射频芯片RF‑HTOL老化实验系统，包括：射频信号源模块、分路放大传输模块和接收测试模块；射频信号源模块用于单路输出设定频率和功率的第一射频信号；分路放大传输模块用于将第一射频信号进行放大并输出多路第二射频信号；接收测试模块设置于加热装置内，加热装置用于为射频芯片提供老化测试所需的密闭环境和温度；接收测试模块用于安装多个待测试的射频芯片，以及用于将接收的每路第二射频信号转换为多路第三射频信号，并将每路第三射频信号输入至一个射频芯片，以进行RF‑HTOL老化测试。本发明能够提高射频芯片的测试效率，满足多种不同类型芯片的批量射频高温寿命老化测试。
射频芯片 rf htol 老化实验系统

[发明专利]一种霍尔芯片老化测试装置-CN202011498512.7在审
发明人：罗学杰 -专利权人：罗学杰
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种霍尔芯片老化测试装置，属于芯片测试用设备技术领域。一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体，壳体内设有老化测试机构，壳体后端面左右两侧均设有转动柱，转动柱圆周外壁中部固设有第一转动板，转动柱圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条，转动柱前端贯穿壳体后端面延伸至壳体内部并固设有连接板本发明为一体式结构设计，工作人员将霍尔芯片放置好后，可直接对待测霍尔芯片进行老化测试，一方面提高了测试效率，另一方面也避免了多次取出和放置老化测试机构对芯片造成损坏。
一种霍尔芯片老化测试装置

[发明专利]一种恒流源电路及芯片老化测试方法-CN202310925829.1在审
发明人：张华;薛银飞;黄河;李家桐 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明公开一种恒流源电路及芯片老化测试方法，用于提供芯片老化测试所需的恒流源，恒流源电路包括：第一运放单元；主控制单元，主控制单元的I1‑接口的I1+接口分别与第一运放单元的对应接口电连接；主控制单元包括芯片老化测试方法用前述的恒流源电路进行测试。本发明解决了现有的芯片老化测试用恒流源电路功能单一技术问题。
一种恒流源电路芯片老化测试方法

[发明专利]一种激光器芯片老化测试装置-CN202310471380.6在审
发明人：马超;唐朋;黄秋元;周鹏 -专利权人：武汉普赛斯电子股份有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光器芯片老化测试装置，涉及芯片可靠性测试技术领域，其包括测试本体、温控热沉板、测试夹具、电加热片、风冷组件及散热组件。本发明通过设置上述结构，能够调节散热效率，对于不同种类的芯片，能够辅助加热或散热，能够适应不同功率芯片的老化，且适应性较强。
一种激光器芯片老化测试装置

[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备-CN202011388840.1有效
发明人：周光杰;余振涛 -专利权人：群沃电子科技（苏州）有限公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。该设备包括：第一工控机控制第一机械手臂抓取全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在传送轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；第二工控器控制第二机械手臂抓取传送轨道上的器件测试盘，放置在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，第二工控机和第二机械手机取出自动测试柜的几千测试盘，放置在常熟轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及
一种全自动芯片老化测试 pcb 屏蔽流水线设备

[实用新型]一种微型激光芯片装载固定用夹具-CN201721752798.0有效
发明人：黄日新;王萌 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2017-12-13 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片测试自动化设备领域，特别涉及一种微型激光芯片装载固定用夹具，包括金属底板组件、芯片定位板、弹簧固定片、分隔片、工字骨架和弹片压板，所述金属底板组件、芯片定位板、弹簧固定片、分隔片和工字骨架从下往上依次层叠设置与现有技术相比，本实用新型的微型激光芯片装载固定用夹具定位固定好全部芯片放入测试机进行测试或老化机进行老化，中途不需要转移物待测芯片，保证不发生芯片装夹状态的改变，从而达到老化前后测试数据的可对比性，定位精度高
工字骨架压板微型激光芯片装载弹片夹具本实用新型弹簧固定片芯片定位板金属底板连接固定锁紧螺钉分隔片老化芯片导热底板定位精度高自动化设备测试数据待测芯片夹具定位可对比性芯片测试依次层叠测试机老化机转移物放入装夹测试保证

[发明专利]一种GaAs基LED外延片的老化方法-CN202210347223.X在审
发明人：李晓明;郑波;黄寿东;智友臻;王彦丽 -专利权人：山东浪潮华光光电子股份有限公司
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种GaAs基LED外延片的老化方法，通过在GaAs基发光二极管外延片制作一个未完全分割开的正方形切割图形，再通过P面放在导电金属板、N面放在导电铜板上的方式，形成通电老化，将老化测试的过程选择在制备芯片的过程之前，从根本上解决了需制造GaAs基LED芯片造成的老化反馈周期长的问题，该老化方法操作简单，老化反馈周期可缩短80％以上，能有效的完成GaAs基LED外延片的老化，减少不必要的制造浪费。
一种 gaas led 外延老化方法

[发明专利]老化电路板，老化测试结构及方法-CN202110719903.5有效
发明人：张亚光 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-06-28 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本申请提供一种老化电路板，老化测试结构及老化测试方法，该老化电路板具有第一表面及第二表面，第一表面与第二表面相背设置；第一表面设置有第一连接区，第一连接区设置有第一连接垫，第一连接垫用于连接第一芯片；第二表面设置有第二连接区，第二连接区设置有第二连接垫，第二连接垫用于连接第二芯片；老化电路板内部具有信号连接结构，第一连接垫与第二连接垫通过信号连接结构实现信号连接。本申请通过老化电路板内部的信号连接结构实现第一连接垫与第二连接垫的信号连接，且第一连接垫及第二连接垫分别用于连接第一芯片及第二芯片，由此有助于对第一芯片与第二芯片之间的互联功能进行验证。
老化电路板测试结构方法

[发明专利]一种芯片抗干扰度的评估方法及装置-CN202010233713.8在审
发明人：万今明;查理;肖彪;张凡;张佳佳 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片抗干扰度的评估方法及装置，该方法包括：收集待进行抗干扰度评估的芯片的样品，并将样品分成两组，即第一组样品和第二组样品；对第一组样品直接进行EFT注入，产生初始抗扰度数据；对第二组样品进行老化试验，并在对第二组样品的老化试验的过程中进行EFT注入，产生老化抗扰度数据；将初始抗扰度数据与老化抗扰度数据进行比较，得到样品的抗扰度随老化的变化情况，以实现对芯片抗干扰度的评估。本发明的方案，可以解决MCU的电磁兼容性能未考虑元器件老化的影响而存在评估不准确的问题，达到能够考虑元器件老化的影响准确评估MUC的电磁兼容性能的效果。
一种芯片抗干扰评估方法装置