专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种制作光刻厚度和关键尺寸关系曲线的方法-CN201510547788.2有效
  • 刘必秋;毛智彪;甘志锋 - 上海华力微电子有限公司
  • 2015-08-31 - 2019-12-06 - G03F7/16
  • 本发明公开了一种制作光刻厚度和关键尺寸关系曲线的方法,首先提供一表面具有高度梯度的模板,其中,模板被划分为至少两个不同表面高度的区域,区域包括至少一个曝光单元;接着在具有高度梯度的模板上形成厚度渐变的光刻胶膜;然后对模板的各个区域进行逐个曝光和显影,并测量光刻胶膜的不同厚度所对应的关键尺寸;最后根据不同厚度光刻对应的关键尺寸,制作光刻厚度与关键尺寸的关系曲线。本发明制作光刻厚度与关键尺寸关系曲线的方法大大降低了成本,且节省了工艺时间,通过模板的高度梯度将图形转移到光刻胶膜上可控性好,光刻胶膜的变化空间大,且适合不同区间范围的光刻胶膜厚和关键尺寸关系曲线的制作
  • 一种制作光刻厚度关键尺寸关系曲线方法
  • [实用新型]光学模压圆的模具-CN202122726878.1有效
  • 王吉;余启川 - 美迪凯(浙江)智能光电科技有限公司
  • 2021-11-09 - 2021-12-07 - B29C45/26
  • 本实用新型公开了一种光学模压圆的模具,包括上模板和下模板,上模板和下模板中心分别设置有注槽,上模板的注槽内均匀排列有多排上平台,下模板的注槽内对应均匀排列有多排下平台,上模板和下模板合模时,上平台和下平台紧密贴合,形成平台限制区域,注槽内上平台和下平台外区域形成黑色环氧树脂注区域,上模板上开设有注孔,注孔连通黑色环氧树脂注区域。本实用新型光学模压圆的模具设计巧妙灵活,通过液态注模式,液流动性好,模具设计灵活;通过模具设计,模具中液态环氧液固化方式可多种选择,灵活多变;通过模具制作的整个工艺流程较短,因而产出较高;相应的产品尺寸相对较小
  • 光学模压模具
  • [实用新型]一种圆纳米压印设备-CN202121208121.7有效
  • 张浩;张弩 - 江苏戴米克自动化科技有限公司
  • 2021-06-01 - 2022-01-21 - G03F7/00
  • 本实用新型公开了一种圆纳米压印设备,包括:物料转移机构,所述物料转移机构包括多个料叉及驱动料叉移动的水平驱动模组,通过料叉带动圆在各工位之间流动;匀装置,所述匀装置包括滴机构、抓取机构和匀机,压印装置,所述压印装置包括铰接在所述主基板上的上模板、安装在升降机构的下模板,升降机构驱动下模板向上移动并穿过主基板中部的镂空空间,将下模板与上模板对应合膜,物料存放架,物料存放架的数量至少包括两个,两个物料存放架平行对应且分别用于存放原料和成品;本实用新型是一套完整的圆纳米压印设备,生产连续性好,生产效率高,且圆是在真空腔内压印,相比常压下压印,压印过程不会产生气泡,产品的质量更好。
  • 一种纳米压印设备
  • [发明专利]一种SUZ-4分子筛的制备方法-CN201110111746.6无效
  • 王新平;高珊 - 大连理工大学
  • 2011-04-29 - 2011-11-16 - C01B39/04
  • 步骤为(1)制备:将铝源、硅源、模板剂、氢氧化钾及去离子水混合,置于水热釜中,在100-200℃下,动态化时间为0.5-7天;放置后的下层呈白色胶状物和搅拌整体呈白色浆状物均定义为SUZ-4;步骤为(2)合成SUZ-4分子筛:将、铝源、硅源、碱源、模板剂及去离子水的混合物置于水热釜内,在100-200℃化0.5-7天。对化后所得混合物进行分离,固体经洗涤、干燥后得SUZ-4分子筛原粉。本发明提出的加入的SUZ-4分子筛合成方法,可大大减少了有机模板剂的用量;缩短了反应化时间;降低成本,便于实现工业上大规模生产SUZ-4分子筛。
  • 一种suz分子筛制备方法
  • [发明专利]一种大介孔ZnO纳米太阳能电极膜的制备方法-CN201310133691.8无效
  • 刘志锋;梁小平 - 天津城市建设学院;天津工业大学
  • 2013-04-18 - 2014-10-22 - H01G9/20
  • 本发明属于太阳能电池领域,涉及一种大介孔ZnO纳米太阳能电极膜的制备方法,具体涉及采用溶胶-凝胶结合有机模板法制备大介孔ZnO纳米太阳能电极膜。首先,将纳米级的聚苯乙烯微球(PS)分散于乙醇-水溶液中,采用电泳沉积法在FTO导电玻璃上沉积PS模板,然后以硝酸锌为前驱体,乙醇为溶剂,十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)为介孔模板剂,配制ZnO溶胶,最后,采用浸渍法将ZnO溶胶浸渍到涂覆PS的FTO导电玻璃上,干燥,热处理去除模板剂,可得大介孔ZnO纳米太阳能电极膜。该工艺过程简单,易于操作,制备的大介孔ZnO纳米太阳能电极膜孔径可控,电极膜均匀。
  • 一种大介孔zno纳米太阳能电极制备方法
  • [发明专利]一种检测掩膜版雾状缺陷的方法-CN201010534162.5有效
  • 刘思南;安辉 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2010-11-05 - 2012-05-23 - H01L21/66
  • 本发明揭示一种检测掩膜版雾状缺陷的方法:提供一圆,所述圆上覆盖有一层光刻;利用设为最佳能量值、最佳焦距值的照明光和待检测掩模板图案化所述基准区的光刻;利用测试能量值、焦距值的照明光和待检测掩模板图案化所述测试区的光刻;对所述光刻进行显影;利用圆扫描系统获得基准区和测试区的图像;比对所述测试区的图像与基准区的图像,观察是否有异常点。综上所述,本发明所述检测掩膜版雾状缺陷的方法不需要增加额外检测设备;所述检测方法在在光刻工艺中即可对所述掩模板进行检测;在所述测试区采用多个不同的照射光,从而多次测量掩模板,从而能够准确及时判断出掩模板雾状缺陷
  • 一种检测掩膜版雾状缺陷方法
  • [发明专利]一种免圆贴膜工艺-CN202110158493.1在审
  • 姜黎平 - 姜黎平
  • 2021-02-05 - 2021-06-15 - H01L21/683
  • 本发明公开了一种免圆贴膜工艺,属于半导体领域,一种免圆贴膜工艺,包括模板圆本体,模板的上表面开设有环形凹槽,圆本体放置于模板的内部,本方案通过免胶膜来替代传统的胶水膜以保护圆的正面,有效降低圆被污染的风险,免胶膜利用负压原理吸附在圆上,通过辊轮的滚压使挤压腔向外排出空气以降低其内部的气压,并通过吸附加强膜来增吸附力,有效提高免胶膜的稳定性,它还利用还原铁粉消耗氧气的特性来降低挤压腔内的气压
  • 一种免胶式晶圆贴膜工艺
  • [发明专利]一种干快速化制备沸石分子筛的方法-CN201910502519.2有效
  • 窦涛;谭富江 - 太原大成环能化工技术有限公司
  • 2019-06-11 - 2021-02-26 - C01B39/48
  • 本发明公开了一种干快速化制备沸石分子筛的方法,涉及分子筛固相合成领域;具体包括步骤:在硅铝型分子筛母液中,加入铝源、氟化物化得到该硅铝型分子筛导向剂;在此硅铝型分子筛导向剂中加入碱源、硅源、模板剂R和去离子水,混合均匀后干燥成干粉末;所述干粉末在连续化釜内蒸汽气氛下化,化时间为2~10h,得到沸石分子筛;本发明的导向剂是二次化所得,活性高、导向作用强、可以缩减模板剂用量,提高结晶度,避免固相合成的杂相产生,缩短化周期;连续化釜,无需降温泄压,可连续化生产,所需的化时间短,效率产量高,制得的沸石分子筛稳定性好、结晶度高、硅铝比高。
  • 一种快速制备分子筛方法
  • [发明专利]光刻工艺方法-CN201911053198.9有效
  • 官锡俊 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2019-10-31 - 2021-12-07 - H01L21/033
  • 本发明公开了一种光刻工艺方法,包括步骤:提供产品圆,测量光刻涂布之前的曝光面内的第一表面高度分布;涂布光刻,测量曝光面内的第二表面高度分布;将曝光面分成n个曝光子区域并计算各曝光子区域中光刻的第三厚度值;提供n片测试圆并涂布对应的第三厚度的光刻;对各测试圆进行曝光;测量各测试曝光图形的线宽得到对应的基准图形线宽并计算各曝光子区域的曝光图形线宽差异;将各曝光图形线宽差异转换为产品掩模板上的设计图形线宽差异;制作产品掩模板,加入设计图形线宽差异进行线宽补正;对产品圆涂布光刻、曝光和显影。本发明能减少或消除由于圆曝光面内表面形貌不平整产生的曝光图形线宽差异,提高产品线宽均匀性。
  • 光刻工艺方法

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