专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]面板缺陷拍照方法和面板缺陷拍照装置-CN201910904382.3有效
  • 王珂 - 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2019-09-24 - 2022-06-10 - G01N21/95
  • 本申请涉及一种面板缺陷拍照方法和面板缺陷拍照装置,该面板缺陷拍照方法包括:在当前制程下对待测面板进行检测,得到至少一个当前缺陷的第一缺陷信息;获取前序制程中待测面板已被拍照的历史缺陷的第二缺陷信息;判断至少一个第一缺陷信息与第二缺陷信息是否相同,并获取判断结果;根据判断结果从当前缺陷中确定目标缺陷,并对目标缺陷进行拍照。通过这种方式,将当前制程中检测出的当前缺陷与前序制程中已被拍照的历史缺陷进行对比,以避免对前序制程中已被拍照的历史缺陷进行重复拍照,进而在拍照数量有限时能够拍取更多新出现的缺陷,从而降低当前缺陷的拍照遗漏率
  • 面板缺陷拍照方法装置
  • [发明专利]缺陷检修方法、装置和设备-CN202111146442.3在审
  • 刘亚东;李勇;张泽明 - 景旺电子科技(珠海)有限公司
  • 2021-09-28 - 2022-01-14 - G06T7/00
  • 本申请公开了一种缺陷检修方法、装置和设备,属于电路板检修技术领域。所述方法包括:第一设备获取电路板的扫描图像;根据扫描图像,获取电路板的多个缺陷信息;设置多个缺陷信息中每个缺陷信息的检修权限,每个缺陷信息的检修权限未解除时不允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程,每个缺陷信息的检修权限在所指示的缺陷完成检修后能够被解除,每个缺陷信息的检修权限解除时允许进入下一缺陷信息的缺陷检修流程;将多个缺陷信息发送给服务器,以指示第二设备根据多个缺陷信息对电路板进行缺陷检修。本申请通过为电路板的多个缺陷信息设置检修权限可以保证电路板的所有缺陷都能得到检修,从而避免了缺陷检修漏失,从而保证了电路板的质量。
  • 缺陷检修方法装置设备
  • [发明专利]缺陷检测方法和系统-CN202211171317.2在审
  • 肖智恒;赵何;张志琦 - 江苏智云天工科技有限公司
  • 2022-09-26 - 2022-11-01 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种缺陷检测方法和系统,该方法包括:从工业生产线上获取待检测工件的第一检测图像集;进行预处理以获取相应的第二检测图像集;通过缺陷检测模块对第二检测图像集进行缺陷检测,以获取第二检测图像集中每张检测图像对应的缺陷检测结果;根据缺陷检测结果从第二检测图像集中提取出第一目标缺陷图像集;将第一目标缺陷图像集中的每张目标缺陷图像切割为预设尺寸以获取第二目标缺陷图像集;通过Sim‑Triple模型对第二目标缺陷图像集进行缺陷类型识别,以判定第二目标缺陷图像集中每张缺陷图像对应的缺陷类型。在通过缺陷检测模型对工件进行缺陷检测后,再通过Sim‑Triple模型对缺陷检测结果进行再次检测,以提高缺陷检测的准确性,可靠性较高。
  • 缺陷检测方法系统
  • [发明专利]PCB缺陷板标注和存储方法、系统、电子设备及存储介质-CN202310205814.8在审
  • 罗贵明 - 清华大学
  • 2023-03-03 - 2023-07-04 - G06V10/764
  • 本申请公开了一种PCB缺陷板标注和存储方法、系统、电子设备及存储介质,提出了有参考板和无参考板PCB缺陷板的离线标注模式、标注流程、缺陷分类、缺陷分级、在线标注模式、标注格式等标注方法,包括:离线或在线方式获取PCB板缺陷图片;按照PCB国际标准和行业要求确定PCB板的缺陷准则,识别出PCB板图片中的当前缺陷;根据缺陷准则和PCB缺陷板的属性信息确定缺陷的类别和缺陷的级别,生成PCB缺陷板的最终标注结果。由此,解决了PCB板缺陷数据标注不统一、准确度低、标注成本高、缺陷分布数据不均衡、PCB行业缺陷标准不规范等问题,极大地提高了PCB板缺陷标注的效率和准确性,从而为PCB板外观缺陷智能检测的模型训练、缺陷分类和分级提供可靠的数据支撑
  • pcb缺陷标注存储方法系统电子设备介质
  • [发明专利]一种软件开发项目中的缺陷修复方法和装置、电子设备-CN202310125175.4在审
  • 林活 - 深圳康佳电子科技有限公司
  • 2023-02-02 - 2023-04-25 - G06F11/36
  • 本公开提供一种软件开发项目中的缺陷修复方法和装置、电子设备,其中,该方法包括:获取软件开发项目中目标缺陷的描述信息;从历史缺陷数据库中查询与目标缺陷的描述信息相匹配的、缺陷有用值排序在目标值之前的目标历史缺陷,其中,历史缺陷数据库中包括多个历史缺陷,多个历史缺陷包括目标历史缺陷,每个历史缺陷的描述信息包括以下至少之一:历史缺陷的问题描述信息、历史缺陷的原因分析信息、历史缺陷的修复信息、历史缺陷缺陷有用值;输出所述目标历史缺陷的修复信息。通过本公开,解决了相关技术无法向开发者提供软件开发项目中缺陷的解决思路,导致增加项目人力成本的问题,实现便于开发者快速定位问题原因和提出解决方案的效果。
  • 一种软件开发项目中的缺陷修复方法装置电子设备
  • [发明专利]锂电池缺陷检测方法、系统及存储介质-CN202310084363.7在审
  • 洪智勇;冯英伟;梁冠杰;肖华润;张文康;甄德鑫 - 五邑大学
  • 2023-01-16 - 2023-05-16 - G06V10/774
  • 本申请公开了一种锂电池缺陷检测方法、系统及存储介质,涉及缺陷检测技术领域,方法包括:获取锂电池外观缺陷数据集;将锂电池外观缺陷数据集输入到对象特征提取模型中进行特征抽取,得到第一像素级缺陷语义特征集;对第一像素级缺陷语义特征集进行提纯,得到第二像素级缺陷语义特征集;对第二缺陷语义特征进行分类,构建锂电池外观缺陷语义特征库;从锂电池外观缺陷语义特征库中抽取第一缺陷特征,并通过第一缺陷特征对锂电池外观缺陷数据集进行数据增强,以得到锂电池缺陷检测模型;通过锂电池缺陷检测模型对锂电池待检测图像进行缺陷检测,得到缺陷检测结果。通过这种方法,提高缺陷检测网络的可靠性、鲁棒性及检测精度。
  • 锂电池缺陷检测方法系统存储介质
  • [发明专利]静态代码检测方法和静态代码检测系统、存储设备-CN201810637058.5有效
  • 杨学红 - 中国联合网络通信集团有限公司
  • 2018-06-20 - 2021-10-15 - G06F11/36
  • 该静态代码检测方法包括步骤:对静态代码进行处理,提取变量信息,建立相关变量集合;根据可能产生缺陷的变量进行缺陷归类,建立缺陷集,所述缺陷集至少包括一个缺陷子集,每一所述缺陷子集包括一个与变量相关的根节点缺陷;根据所述缺陷子集中所述根节点缺陷的误报状况,确认缺陷。本发明通过在传统的静态缺陷检测的基础上增加了缺陷关联分析技术,从缺陷之间的内在关联出发,将具有依赖关系的缺陷分为一组;若缺陷之间具有子集关系,如果缺陷子集中的根节点是误报,则整个子集中的所有缺陷均是误报,从而大大提高静态代码检测缺陷确认效率,减少人工确认的工作量。
  • 静态代码检测方法系统存储设备

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