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[发明专利]一种物体近似平坦表面的三维缺陷检测方法及装置-CN201710284680.8有效
发明人：郭继平;吕卓明;李铖;刘晓利;李阿蒙;于冀平;彭翔;李名兆 -专利权人：深圳市计量质量检测研究院
申请日： 2017-04-26 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本发明适用于光学测量技术领域，提供了一种物体近似平坦表面的三维缺陷检测方法，所述三维缺陷检测方法包括：步骤S1，被测物体沿投影图案的条纹方向运动，每当所述被测物体运动至投影图案的各部分条纹区域的预先指定位置时S3，结合预先获取的非等步相移量序列，并根据非等步长四步相移公式对采样后的图像进行相位重建；步骤S4，结合对不同高度的标准平板相位分布的标定数据，恢复出被测物体表面相对于基准平面的高度数据；本发明提供的检测方法可以对定向移动的被测物体进行近似平坦表面的三维缺陷检测
三维缺陷检测被测物体平坦表面投影图案图像采样近似采集被测物体表面光学测量技术预先指定位置标定数据标准平板定向移动高度数据基准平面特征标记条纹方向条纹区域相位分布相位重建预先获取等步长相移量相移检测恢复

[实用新型]一种防印刷缺陷的检测机-CN202320117438.2有效
发明人：宿峰;邓国锋;龚山君;姬昭明 -专利权人：广东金佳远印刷有限公司
申请日： 2023-01-29 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种防印刷缺陷的检测机，防尘模块安装在机体内腔，用于吹走印刷品表面的灰尘以及保持机体上方腔室的无尘环境，包括固定在主体模块内顶壁上的立柱、安装在立柱底端的摄像头、安装在摄像头外侧面上的环形补光灯安装在主体模块内壁上且与封闭组件连接的电动伸缩杆、对称安装在主体模块内壁上的扁嘴喷头、安装在主体模块内腔的鼓风机以及对称安装在主体模块顶端且与主体模块内腔连通的进风组件，立柱用于安装其他组件，摄像头用于对印刷品上的图案进行拍摄，方便与原始图案进行比对，从而检测是否存在印刷缺陷，该防印刷缺陷的检测机，具有避免灰尘、水汽等影响检测的优点。
一种印刷缺陷检测

[实用新型]透明物缺陷检测装置-CN202121968360.2有效
发明人：张魁东;崔颖;吴慧;李益民 -专利权人：安徽顺鼎阿泰克科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种透明物缺陷检测装置，包括网格光源、工业相机及控制中心；网格光源用于照射待测透明物；工业相机与控制中心相连，用于获取待测透明物的图像；控制中心接收工业相机获取的图像并根据需要对图像进行显示或处理本实用新型通过采用网格光源照射待测透明物，如果待测透明物存在缺陷，就会使得获取的待测透明物的图像中的网格图案出现变形或者移位，从而快速、直观地判定待测透明物是否有缺陷，降低检测成本，提高检测效率。
透明缺陷检测装置

[发明专利]用于调整遮罩的布局图案的方法-CN202110120841.6在审
发明人：张世明;梁伟轩 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2021-01-28 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G03F1/76 文献下载
摘要：一种用于调整遮罩的布局图案的方法，包括基于遮罩空白板的多个缺陷的讯息来位移或旋转整个布局图案，以避免当在遮罩空白板上产生作为遮罩的布局图案时，多个缺陷中的第一缺陷的影响。此方法包括基于多个缺陷中的其余的第二缺陷的讯息，在第一位置处调整遮罩的布局图案，以在将布局图案投影到晶片上时减小第二缺陷的影响。此方法还包括基于与第二缺陷不同的多个缺陷中的其余的第三缺陷的讯息，在第二位置处调整遮罩的布局图案，以在将布局图案投影到晶片上时移动第三缺陷的影响位置。
用于调整布局图案方法

[发明专利]光源系统和光学成像检测系统-CN202110463018.5在审
发明人：蔡仲伦 -专利权人：平方和（北京）科技有限公司
申请日： 2021-04-22 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本公开提供的光源系统和光学成像检测系统，采用环形多通道发光二极管(Light Emitting Diode,LED)光源组件，搭配光学凸透镜，可形成独特的光源系统，进而将该光源系统与图像采集装置搭配，可形成光学成像检测系统将该光学成像检测系统应用于检测彩印隐形眼镜，可以避免彩印隐形眼镜印刷区的彩色印刷图案带来的干扰，将印刷区的缺陷特征在图像中显现，有利于提高产品缺陷的检测准确率和检测效率。
光源系统光学成像检测

[发明专利]用于辐射检测器晶体的光学干涉图案形成-CN201080056301.6有效
发明人： T·K·勒维尔恩;W·C·J·亨特;R·S·米瑶卡;L·麦克多纳德 -专利权人：华盛顿大学商业中心
申请日： 2010-10-27 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： A61B6/12 文献下载
摘要：用于辐射检测器晶体的光学界面图案形成。一种辐射检测器被公开，它包含闪烁晶体和多个光电探测器，这些光电探测器被定位以检测闪烁晶体内产生的低能闪烁光子。该闪烁晶体使用表面下激光雕刻处理，以在晶体内产生点状缺陷，用于改变闪烁光子的路径。在一个实施例中，这些缺陷在单块晶体内定义多条边界，以划分单独检测器单元。在另一个实施例中，这些缺陷定义沿纵向改变的交互作用深度边界，以改变被晶体的相邻部分分享的光的量。在另一个实施例中，这些缺陷被均等地分布，以降低来自闪烁事件的光的侧向扩展。此外或另外，类似的SSLE缺陷可以在辐射检测器的其他光引导单元中产生。
用于辐射检测器晶体光学干涉图案形成

[发明专利]周期性图案的自动光学检测方法-CN201510228864.3有效
发明人：洪茂雄;谢朝和 -专利权人：铭传大学
申请日： 2015-05-07 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明为一种周期性图案的自动光学检测方法，其步骤包含：于一周期性图案定义多个规律的控制点；将所述控制点分别围绕形成多个对齐影像；于所述对齐影像中求得一中间影像及取一偏差影像并界定一上限影像及下限影像以形成一自适应模型；以该自适应模型比对全部所述对齐影像中的每一点；并定义所述对齐影像中所述点的灰阶像素大于该上限影像或小于该下限影像者为缺陷区域；本发明可适用于各式具周期性图案的缺陷检测，诸如触控面板、电路板或各式物品的表面，且使用者仅需手动由控制点中点选第一至五参考点，并选取其一控制点的矩形范围以建立边缘影像，即可自动精确且快速地侦测周期性图案的缺陷部分，并可通过控制参数以简易调整侦测率及误检率。
周期性图案自动光学检测方法

[发明专利]激光加工设备的调试方法、装置及存储介质-CN202111362111.3在审
发明人：李海瑞;陈国栋;吕洪杰;杨朝辉 -专利权人：深圳市大族数控科技股份有限公司
申请日： 2021-11-17 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请涉及激光加工设备的调试方法、装置及存储介质，所述方法包括：获取测试文件，所述测试文件包括预设数目的至少一个图层，每一图层中设有针对预设测试板材的至少一个测试区域以及对应于测试区域的测试图案，每一图层对应所述激光加工设备的一组控制参数；根据测试图案和控制参数，控制激光加工设备在所述预设测试板材的对应测试区域进行切割加工；获取所述预设测试板材切割加工后的检测结果数据；根据所述检测结果数据，确定所述激光加工设备的光路是否存在异常缺陷，若存在异常缺陷，则进行提示，以供用户重新调整所述激光加工设备的光路，若不存在异常缺陷，则将所述控制参数与所述预设测试板材切割加工后的切割深度的对应关系进行存储。
激光加工设备调试方法装置存储介质

[发明专利]对外来材料、裂纹和其他表面异常的自动检查-CN201810927449.0有效
发明人： M·萨夫艾 -专利权人：波音公司
申请日： 2018-08-15 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：用于检测工件中的缺陷的检查系统可以包括用于利用图案化的光照射工件的第一区段的照明源，其中该照明源不照射工件的第二区段。处理器将第一输出与第二输出进行比较，并且控制器基于该比较来改变由照明源输出的图案化的光。该反馈控制继续进行，直到背景与缺陷相比是适当均匀的或被伪装，使得缺陷的可见性和/或可检测性增加。
外来材料裂纹其他表面异常自动检查

[发明专利]晶片上半导体结构的缺陷检测-CN202180063375.0在审
发明人： T·科布;P·胡思沃尔;J·T·诺伊曼 -专利权人：卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请日： 2021-09-13 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供一种配置在晶片(60)上的多个半导体结构的缺陷检测的方法(3010)，方法包括获得(3101)晶片(60)的显微图像(42、80)，显微图像(42、80)描绘出多个半导体结构(62、171、172方法还包括从数据库(55)获得用于与多个半导体结构(62、171、172)中个别的一个或多个半导体结构(62、171、172)相关联的一组(150)基底图案类别(151‑159)的每个基底图案类别(151方法更包括基于指纹数据(41)与显微图像(42、80)进行缺陷检测。
晶片上半导体结构缺陷检测

[外观设计]晶圆缺陷检测设备-CN202230827153.9有效
发明人：王进文 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：晶圆缺陷检测设备。2.本外观设计产品的用途：用于晶圆外观缺陷检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
缺陷检测设备

[发明专利]用于具有周期图案纺织物的印花缺陷识别方法-CN202211029339.5有效
发明人：张钰 -专利权人：南通永安纺织有限公司
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料测试和分析技术领域，具体涉及一种用于具有周期图案纺织物的印花缺陷识别方法，包括：获取待检测纺织物图像和标准模板图像块，并确定待匹配灰度图像块及匹配特征点、标准模板灰度图像块及标准特征点；确定各个待匹配灰度图像块对应的图像匹配度，进而确定各个匹配灰度图像块；确定多个匹配子图像块和多个标准子图像块，进而确定多个匹配子图像块的第一、第二图像正常指标，从多个匹配子图像块中筛选出各缺陷子图像块；确定各缺陷子图像块的目标缺陷指标，进而确定待检测纺织物图像中的各目标缺陷子图像块本发明利用材料测试和分析技术，确定纺织物中的各个缺陷区域以及目标缺陷区域，提高了纺织物印花缺陷识别的准确性。
用于具有周期图案纺织印花缺陷识别方法

[发明专利]一种铝箔纸表面缺陷检测装置及方法-CN202011318603.8在审
发明人：赵倩倩;戴宜全;王二化 -专利权人：常州信息职业技术学院
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种铝箔纸表面缺陷检测装置及方法，构造合适的斜坡面并投影特定波长的结构光，反射光到达特制的哑光屏幕板上由相机进行成像。理想情况下得到的图像也是条纹图，当有缺陷时其反射光将受到对应的影响，如果只看一个检测点，随着滚轮旋转带动铝箔前进则检测物上一个点会经过不同亮暗的光照射及反射，这一点与背景技术中的采用固定的光强不同且更有优势；如果看整个图像，则是对整个面的条纹图像分析；条纹是规则的图案，缺陷是其中的干扰，因而本发明的方案更容易通过对比来发现缺陷。
一种铝箔纸表面缺陷检测装置方法

[实用新型]一种铝箔纸表面缺陷检测装置-CN202022724190.5有效
发明人：袁俊杰;张超强;赵倩倩;戴宜全 -专利权人：常州信息职业技术学院
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本实用新型提供一种铝箔纸表面缺陷检测装置，构造合适的斜坡面并投影特定波长的结构光，反射光到达特制的哑光屏幕板上由相机进行成像。理想情况下得到的图像也是条纹图，当有缺陷时其反射光将受到对应的影响，如果只看一个检测点，随着滚轮旋转带动铝箔前进则检测物上一个点会经过不同亮暗的光照射及反射，这一点与背景技术中的采用固定的光强不同且更有优势；如果看整个图像，则是对整个面的条纹图像分析；条纹是规则的图案，缺陷是其中的干扰，因而本实用新型的方案更容易通过对比来发现缺陷。
一种铝箔纸表面缺陷检测装置

[发明专利]图像形成装置-CN201310502839.0有效
发明人：平田胜行;原岛隆 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2013-10-23 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G03G15/00 文献下载
摘要：本发明提供一种即使产生缺陷、条纹等图像噪声的状况下也能使图像调整用图案像的信息正确反映于图像形成条件而不受该图像噪声的影响的图像形成装置。该图像形成装置具备包含调色剂浓度传感器（120）的检测部（220），并在该检测部（220）检测图像调整用图案像前判定该图像调整用图案像的形成区域内的图像噪声的有无。然后，在检测部（220）检测图像调整用图案像时，控制部（210）基于判定结果将检测部（220）的检测区域设定为不产生图像噪声的区域，根据使该区域的检测结果反映于图像形成部（40）的图像形成条件来决定该图像形成条件
图像形成装置