专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]铜离子浓度监控方法-CN202010054568.7有效
  • 郑文锋;许吉昌;孙尚培;许宏玮 - 先丰通讯股份有限公司
  • 2020-01-17 - 2023-10-03 - G01N27/28
  • 本发明的监控方法包括以下步骤:提供一含有铜离子的待测溶液;提供一监控装置;于一特定电位区间内,借由该监控装置测定该待测溶液的一循环伏安曲线,该循环伏安曲线具有一峰电流值;提供复数组浓度已知的铜离子标准溶液,于该特定电位区间,借由该监控装置测定该复数组标准溶液的循环伏安曲线,每一浓度的标准溶液的循环伏安曲线具有一峰电流值,以该复数组标准溶液的铜离子浓度值及其相对应的循环伏安曲线的峰电流值确定一线性方程式,该线性方程式为Y=AX+B,其中Y表示该峰电流值,A表示该线性方程式的斜率,X表示铜离子浓度,B表示该线性方程式的截距;以该线性方程式及该待测溶液的循环伏安曲线的峰电流值,确定该待测溶液的铜离子浓度。
  • 离子浓度监控方法
  • [发明专利]液晶中硅烷偶联剂含量的测试方法-CN201510332494.8有效
  • 巫景铭 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2015-06-15 - 2017-05-03 - G01N30/88
  • 本发明提供一种液晶中硅烷偶联剂含量的测试方法,先利用气相色谱‑质谱联用仪采集n组不同浓度的标准溶液的色谱峰,然后通过分别计算每组标准溶液对应的硅烷偶联剂色谱峰与液晶内标组分峰的面积比,以硅烷偶联剂的浓度值为X轴,以硅烷偶联剂色谱峰与液晶内标组分峰的面积比值为Y轴,建立标准定量曲线,并对所述标准定量曲线进行线性拟合,得到该标准定量曲线线性方程,再利用气相色谱‑质谱联用仪采集待测液样品的色谱峰,计算待测液样品的硅烷偶联剂色谱峰与液晶内标组分峰的面积比,在所述标准定量曲线中查找待测液样品对应的硅烷偶联剂含量,或通过所述线性方程计算待测液样品对应的硅烷偶联剂含量,测试结果准确。
  • 液晶硅烷偶联剂含量测试方法
  • [发明专利]金属离子浓度的测定方法-CN200510036578.3无效
  • 林知本;田民;顾大伟;张钢升;洪士毅 - 深圳富泰宏精密工业有限公司
  • 2005-08-12 - 2007-02-14 - G01N27/48
  • 一种金属离子浓度的测定方法,其特征在于其包括以下步骤:提供一含有金属离子的待测试剂;提供一电位扫描装置;在一特定电位区间内,藉由该电位扫描装置,以一固定扫描速度测定该待测试剂的循环伏安曲线,该循环伏安曲线具有一峰电流值;提供一线性方程,该线性方程为标准金属离子试剂的浓度值与电流值的线性关系,该电流值是该标准金属离子试剂在该特定电位区间内的循环伏安曲线的峰电流值;以该线性方程及该待测试剂的循环伏安曲线的峰电流值确定该待测试剂的金属离子浓度
  • 金属离子浓度测定方法
  • [发明专利]一种基于Fabry-Perot标准具的透过率曲线参数估计方法-CN201510442972.0在审
  • 蒋立辉;章典;陈星;熊兴隆 - 中国民航大学
  • 2015-07-24 - 2015-11-18 - G01S7/497
  • 本发明涉及一种基于Fabry-Perot标准具的透过率曲线参数估计方法。其包括按顺序进行的下列步骤,首先按照较大间隔步长移动标准具腔长,获得整个标准具腔长量程下激光的透过率,利用透过率曲线的线谱形式,减小噪声影响,然后采用谱估计的方法,分析其频谱,利用线性最小二乘算法反演每步对应频率,然后使用较小步长扫描透过率曲线一个峰体内的透过率,利用前面估计的每步对应频率,使用非线性最小二乘法估计峰值透过率和有效反射率,最终形成该标准具对激光的透过率曲线。本发明在标准具步长较大的情况下仍可以精确估计Fabry-Perot标准具透过率曲线的各项参数,受激光器抖动影响小,减少了基于Fabry-Perot标准具的测风激光雷达系统误差。
  • 一种基于fabryperot标准透过曲线参数估计方法

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