专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]等离子非均匀性检测-CN202180008893.2在审
  • S·E·萨瓦斯;A·德尚布里耶 - 科米特技术美国股份有限公司
  • 2021-01-09 - 2022-08-30 - H01J37/32
  • 一种检测射频等离子处理系统中的等离子的非均匀性的方法,该方法包括:在所述射频等离子处理系统的反应室内生成等离子;以及用关于所述射频等离子处理系统的室对称轴以方位角部署的多个传感器,检测来自等离子的在从维持等离子的射频功率的频率到大约十倍频率的倍数的频率范围内的电信号该方法还包括将由所述多个传感器从等离子拾取的电信号的波形进行比较;以及基于比较由所述多个传感器中的每一个检测到的等离子的电性质来确定何时发生等离子非均匀性。
  • 等离子体均匀检测
  • [实用新型]一种用于激光诱导等离子的空间元素成像装置-CN202020259536.6有效
  • 杨新艳;崔执凤;姚关心;黄静春 - 安徽师范大学
  • 2020-03-05 - 2020-10-27 - G01N21/71
  • 本实用新型揭示了一种用于激光诱导等离子的空间元素成像装置,所述装置包括等离子、准直镜、色散器件、成像透镜组、光电成像探测器,其特征在于:所述等离子由高功率密度的激光作用在待测样品表面并诱导剥离物产生的;所述准直镜用于将等离子发射光转化为平行光,并传输至色散器件;所述色散器件用于将等离子发射的复色光转化为多条单色光即多条分析线;所述成像透镜组用于将单色光耦合进光电成像探测器中;所述光电成像探测器用于将等离子发射的某条单色光成像至显示设备上本实用新型获得的成像信息更全面,成像速度更快,适用于固体、液体、气体等领域等离子诊断
  • 一种用于激光诱导等离子体空间元素成像装置
  • [发明专利]等离子辅助薄膜沉积系统与方法-CN200710181613.X有效
  • 杜陈忠;黄振荣;梁沐旺;张志振;李升亮;吴庆辉;罗展兴 - 财团法人工业技术研究院
  • 2007-10-19 - 2009-04-22 - C23C16/515
  • 一种等离子辅助薄膜沉积系统与方法,该系统主要由一等离子薄膜沉积装置以及一等离子工艺监控装置构成,该等离子薄膜沉积装置可供输入脉冲电源与工艺反应气体,由脉冲电源与工艺反应气体作用产生等离子放电解离工艺反应气体成活性物种,以进行薄膜沉积工艺;该等离子工艺监控装置包括一等离子成分光学放射光谱仪以及一脉冲等离子调变程序装置,由该等离子成分光学放射光谱仪侦测等离子成分中活性物种的光谱强度值,再经由脉冲等离子调变程序装置计算活性物种间的光谱强度比值,据以调变适当的脉冲电源等离子作用时间及功率,可在微晶硅沉积的范围内获得高沉积速率,并实时掌控最佳薄膜沉积质量。
  • 等离子体辅助薄膜沉积系统方法

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