专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]填充工艺-CN201310750385.9有效
  • 侯珏 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2013-12-31 - 2020-04-28 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种填充工艺,用于提高填充的薄膜覆盖率,工作步骤如下:步骤A1,向磁控溅射设备中入工艺气体;步骤A2,用第一射频功率、第一气压对进行薄膜沉积;步骤A3,用第二射频功率、第二气压对进行薄膜沉积,重复步骤A2和A3,直至内部薄膜覆盖率均匀,且达到所需的厚度。本发明的填充工艺,工艺设计简单合理,通过采用第一射频功率与第二射频功率交替进行薄膜沉积,提升了填充的薄膜覆盖率,可以完美的支持后续的电镀工艺,提高产能。
  • 硅通孔深孔填充工艺
  • [发明专利]底部开窗刻蚀方法-CN201410336706.5有效
  • 周娜;蒋中伟 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2014-07-15 - 2018-08-24 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种底部开窗刻蚀方法,包括如下步骤:沉积金属铝在晶圆表面和侧壁的电隔离层上;进行底部电隔离层的干法刻蚀,包括如下两步:氧化步骤,进行金属铝氧化反应形成三氧化二铝;刻蚀步骤,采用工艺气体进行刻蚀;重复氧化步骤和刻蚀步骤,直至完全去除底部的电隔离层;去除晶圆表面的电隔离层上剩余的三氧化二铝和铝。本发明的底部开窗刻蚀方法,方法设计简单合理,采用简单的薄膜沉积,氧化和刻蚀技术,获得很高的电隔离层/掩膜刻蚀选择比。
  • 硅通孔底部开窗刻蚀方法
  • [发明专利]一种包含的半导体结构及其制造方法-CN201510138166.4有效
  • 方孺牛;缪旻;金玉丰 - 北京大学
  • 2015-03-26 - 2017-10-10 - H01L23/52
  • 本发明公开了一种包含的半导体结构及其制造方法,该半导体结构包括衬底,信号和地,其中衬底为P型背景掺杂;所述是由多晶填充的;所述信号为N型掺杂;所述地为P型掺杂。本方法为1)在衬底的第一表面上刻蚀出多个;2)在衬底第一表面上粘附一干膜层,图形化干膜层,使干膜层在一部分上形成开口;3)向干膜层上有开口的填充掺杂第一导电类型杂质的多晶,去掉干膜;4)向剩余中填充掺杂第二导电类型杂质的多晶对于高速/高频系统,采用该结构将不需要对原先布局布线和版图进行调整,即能获得信号完整性和电源完整性的提升。同时本发明具有工艺简单,成本低,效果好的优势。
  • 一种包含硅通孔半导体结构及其制造方法
  • [发明专利]一种刻蚀方法-CN201310574583.4有效
  • 严利均;黄秋平;许颂临 - 中微半导体设备(上海)有限公司
  • 2013-11-15 - 2017-01-25 - H01L21/768
  • 本发明提供一种刻蚀方法,将待处理硅片设置在等离子体处理室中,硅片表面包括图形化的掩膜层,循环交替进行的刻蚀和沉积步骤,直到形成具有目标深度的,在刻蚀步骤中入刻蚀气体到反应腔对基片进行刻蚀并形成开口,在沉积步骤中入氟碳化合物气体对刻蚀形成的开口侧壁进行保护,其特征在于在所述刻蚀步骤和沉积步骤之间还包括排气步骤,在排气步骤中停止入刻蚀气体或沉积气体。利用本发明方法能够防止刻蚀弧形侧壁的产生。
  • 一种深硅通孔刻蚀方法
  • [发明专利]一种刻蚀制作高精度的方法-CN201710842404.9有效
  • 吴丽翔;王俊力;卓文军;陈曦;王高峰 - 杭州电子科技大学
  • 2017-09-18 - 2019-11-05 - H01L21/3065
  • 本发明提供一种刻蚀制作高精度的方法。现有方法刻蚀深度空间分布不均匀,从而改变的侧壁及底部轮廓。本发明方法首先在基底上依次制备SiO2薄膜层和多晶薄膜,然后通过紫外光刻将所设计圆环相间的图形转移到裸硅片背面的光刻胶上,再按照图案进行刻蚀,将基底刻穿至刻蚀截止层,去除裸硅片背面残余的光刻胶后重新旋涂光刻胶,将所设计的基准图案通过紫外光刻转移到光刻胶上;显影后,将整个硅片浸入氢氟酸溶液中,对截止层进行湿法腐蚀,基准区域内的圆环完全脱落,形成高精度。本发明方法可以解决刻蚀过程中因负载效应所导致的侧壁轮廓形状畸变问题,提高微型的刻蚀精度。
  • 一种刻蚀制作高精度方法
  • [发明专利]结构-CN201210115869.1有效
  • 徐依协 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-04-18 - 2013-10-30 - H01L23/48
  • 一种结构,包括:衬底;至少一个的阵列,所述阵列包括多个贯穿衬底的;连接多个的第一导电线和第二导电线,且第一导电线和第二导电线互相连接,其中,所述第一导电线沿第一方向连接多个,所述第二导电线沿第二方向连接多个,且第一方向不同于第二方向。本发明提供的结构应力小,封装质量佳。
  • 硅通孔结构
  • [发明专利]结构-CN201210114818.7有效
  • 徐依协 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-04-18 - 2013-10-30 - H01L21/768
  • 一种结构,包括:衬底;至少一个的阵列,所述阵列包括多个贯穿衬底的;连接多个的第一导电线、第二导电线和第三导电线,其中,所述第一导电线沿第一方向连接多个,所述第二导电线沿第二方向连接多个,第一方向不同于第二方向,且第三导电线在所述阵列边角连接第一导电线和第二导电线,使得沿第一方向的应力和第二方向的应力互相抵消。本发明提供的结构应力小,封装质量佳。
  • 硅通孔结构
  • [实用新型]结构-CN201420235163.3有效
  • 甘正浩 - 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2014-05-08 - 2014-09-03 - H01L23/528
  • 本实用新型揭示了一种结构,包括:半导体基底,所述半导体基底上具有;第一电介质层,所述第一电介质层填充于所述的侧壁上;第二电介质层,所述第二电介质层位于所述第一电介质层的侧壁上,所述第二电介质层的介电常数小于所述第一电介质层的介电常数在本实用新型提供的结构中,由于所述第二电介质层的介电常数小于所述第一电介质层的介电常数,减小了整个所述结构的寄生电容,从而提高结构的电性能。
  • 硅通孔结构
  • [实用新型]结构-CN201120454618.7有效
  • 汪学方;徐春林;王宇哲;徐明海;胡畅;刘胜 - 华中科技大学
  • 2011-11-16 - 2012-07-11 - H01L23/538
  • 本实用新型公开了一种结构,其形成于硅片上,并包括掺杂粒子构成的导电区和绝缘区,绝缘区与所述导电区掺杂的粒子的极性相反,所述导电区表面覆盖有金属电极,所述硅片的表面除所述金属电极之外的区域覆盖有绝缘层本实用新型结构的优点在于:通过粒子掺杂方式形成结构的导电区和绝缘区,导电区和绝缘区的基体都还是硅片本身,避免了目前技术中金属和硅片热膨胀系数不同造成的热应力问题,能够提高器件的可靠性和寿命
  • 硅通孔结构

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