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[发明专利]电性参数量测系统-CN201910137809.1有效
发明人：张耀元;何松林;邱宗文;宋芳燕;陈文祥 -专利权人：川升股份有限公司
申请日： 2019-02-25 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种电性参数量测系统，包括电磁波收发装置及判断装置。电磁波收发装置包括讯号收发单元、发射单元及接收单元。讯号收发单元输出射频测试讯号，发射单元电连接讯号收发单元以接收射频测试讯号并据以转换成实质地是均匀平面波的测试电磁波，且发射单元朝向待测材料辐射测试电磁波，讯号收发单元更电连接接收单元，讯号收发单元更通过接收单元接收测试电磁波穿透待测材料后的部分判断装置电连接讯号收发单元，并根据测试电磁波穿透待测材料后的部分去建构量测辐射场型，且利用量测辐射场型与参考辐射场型的差异去判断待测材料工作于射频频率时的一组量测电性参数。相较传统技术，本发明利用测试电磁波量测待测材料的电性参数，实现快速便利的特点。
参数系统

[实用新型]LED电性参数测量装置-CN200920108617.X有效
发明人：安振扬;张林萍;叶磊;张俊芹;方君 -专利权人：北京卓立汉光仪器有限公司
申请日： 2009-05-26 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供一种LED电性参数测量装置，该装置包括：中央控制单元、总线接口单元、第一电流通道测控单元、第二电流通道测控单元、第三电流通道测控单元、USB接口单元和电源单元，中央控制单元通过总线接口单元与三个电流通道测控单元连接并发出测量控制信号启动三个电流通道测控单元对LED进行电性参数测量，以及通过所述USB接口单元与计算机连接并通信，电源装置通过总线接口单元与三个电流通道测控单元连接并提供电能。实用新型实施例可以实现多个LED混光的光电参数检测、供电电流可高速切换和高精度和高速度的电性参数测量。
led 参数测量装置

[实用新型]矿石电性参数测量装置-CN201920783998.5有效
发明人：王建国;钟莉;李金海;徐永红 -专利权人：青海大学
申请日： 2019-05-28 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种矿石电性参数测量装置，能够在采样现场对矿石标本的电性参数进行测量。矿石电性参数测量装置包括装夹平台，装夹平台上设置有两间隔布置的探针座；探针座，设置有沿两探针座的间隔方向延伸设置的探针孔，探针孔内活动设置有探针，探针座上还设置有顶压弹簧，顶压弹簧用于驱动探针向探针孔外伸出以弹性顶压在矿石标本上；矿石电性参数测量装置还包括电性参数测量仪表，电性参数测量仪表的相应电极与两探针座上的探针电连接。
矿石参数测量装置

[发明专利]电路电性参数精确测试系统-CN201711387283.X在审
发明人：赵宗晖 -专利权人：惠州市鑫晖源科技有限公司
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种电路电性参数精确测试系统，包括左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座，所述左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座围合成测试治具，所述测试治具为六面体结构，所述左面板、右面板、前面板、后面板、上面板和底座相互固定连接，所述底座上设置有主板，所述主板与设置于所述前面板上的PASS灯、测试转接板、PASS‑ON开关均电连接。
电路参数精确测试系统

[发明专利]评估栅极介质层电性参数及形成栅极介质层的方法-CN200610116856.0有效
发明人：刘云珍;何永根;郭佳衢 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2006-09-30 - 公布日： 2008-04-02 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种评估栅极介质层电性参数的方法，包括：测量栅极介质层的膜层物理特性参数与所述栅极介质层形成的器件的电性参数；拟合所述物理特性参数与电性参数之间的相关曲线并计算相关系数；找出与电性参数相关系较大的物理特性参数；在线测量栅极介质层物理特性参数；通过与电性参数相关系数较大的物理特性参数预估电性参数。本发明方法能够在线评估栅极介质层电性参数。
评估栅极介质层电性参数形成方法

[发明专利]测定液体标本电性参数的装置-CN201910434268.9在审
发明人：黄俊革;裴健;漆玉茂;卢思同;张彧;谢圣 -专利权人：上海应用技术大学
申请日： 2019-05-23 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01N27/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种测定液体标本电性参数的装置，包括底座、标本支撑座、电极罐、供电电极、观测电极以及标本筒体。本发明中底座设置有电极罐相连通标本筒体，能够测定液体标本的电阻率和极化率，能够对任意液体进行电性能参数的测定。
电极第二电极第一电极标本筒体供电电极液体标本电性参数内侧端支撑座底座观测电性能参数顶部支撑连接电源电阻率极化率外侧端中底座连通

[发明专利]一种充电器校准方法、校准系统及充电器-CN201911258577.1在审
发明人：谢仁彬 -专利权人：四川兴华福科技有限公司
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种充电器校准方法、校准系统及充电器，通过主控设备发送基准电性参数至可编程电源，以使得所述可编程电源输出预设控制电能，然后再通过电性检测模块检测获得充电电性参数，并由所述待测充电器中的处理模块确定出与所述基准电性参数对应的预存电性参数，再将所述预存电性参数与所述充电电性参数进行比对，获得比对结果；最后再基于所述比对结果进行对应的校准参数调整。本申请技术方案可以自动对待测充电器中的校准参数进行校对调整，并且调整后的校准参数可以与每个电性检测模块个体相匹配适用。具有提高充电器的电性检测模块校准参数精准度，以及提高校准参数设置效率和适用性的技术效果。
一种充电器校准方法系统

[发明专利]一种半导体器件的分析方法-CN201910252299.2有效
发明人：苏炳熏 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体器件的分析方法，用以分析HKMG鳍式场效应晶体管的多个电性参数和制造所述晶体管的多个工艺参数，具体包括：针对每一电性参数执行关键工艺参数关联性分析，其中所述关键工艺参数关联性分析包括：分别构建该电性参数对应每一个工艺参数中的多个电性‑工艺模型；对每一个所述电性‑工艺模型进行敏感性分析；基于获得的电性‑工艺模型的敏感性分析结果从所述多个工艺参数中确定多个关键工艺参数；以及基于知识数据库确定所述电性参数与所述多个关键工艺参数之间的关系根据本发明所提供的分析方法，通过专家系统来挖掘出真正造成晶体管元器件电特性异变的制程变异，为调整工艺方案提供可能。
一种半导体器件分析方法

[发明专利]扭矩检测方法及装置-CN201711451013.0有效
发明人：李海卡;倪明;邹建武 -专利权人：纳思达股份有限公司
申请日： 2017-12-27 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01L3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种扭矩检测方法及装置，通过确定样本处理盒的工作扭矩与驱动该样本处理盒工作的电机的电性参数之间的函数关系；根据函数关系，确定与样本处理盒预设的工作扭矩阈值对应的电机的电性参数，形成电性参数阈值；根据该阈值对每个待测试处理盒对应的电机的电性参数进行检测，若电性参数在电性参数阈值范围内，确定工作扭矩在正常范围内；若电性参数在电性参数阈值范围外，确定工作扭矩异常。避免了现有技术中人工检测扭矩效率低且可靠性差的技术问题，实现无需触碰处理盒内部构件仅测定电机的电性参数以推定处理盒的工作扭矩，保证处理盒内部构建稳定性的同时，准确获取处理盒的工作扭矩，确保处理盒质量。
扭矩检测方法装置

[发明专利]一种多光刻层电性参数相关性分析系统和分析方法-CN201711029825.6有效
发明人：郭渊 -专利权人：成都海威华芯科技有限公司
申请日： 2017-10-27 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及半导体制造技术领域，具体涉及一种多光刻层电性参数相关性分析系统和分析方法，本发明根据要进行相关分析的电性测试数据计算每层光刻层的每个电性参数与每个后续光刻层的每个关键电性参数的线性相关系数，根据所述线性相关系数确定与后续光刻层的每个关键电性参数相关的电性参数，可以帮助工程师能根据线性相关系数判定对后续光刻层关键电性性能有显著影响的前层光刻层电性参数，以便工程师可针对性地严格控制影响较大的前层光刻层电性参数，避免前层工艺的损失影响到后续工艺。
一种光刻层电性参数相关性分析系统方法

[发明专利]晶圆可接受测试方法-CN201310196316.8有效
发明人：沈茜;席与凌 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-05-23 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提出一种晶圆可接受测试方法，在测试机台对晶圆进行WAT测试之前，先选取测试电压扫描区间，接着，使用测试机台对晶圆进行测试，测试机台能够记录测试电压扫描区间内所有的电性参数值，因此可以由该区间内所有的电性参数值绘制出电性参数曲线，进而可以由电性参数曲线得出特定的电性参数数值，当测试机台在测试之后反馈的电性参数不准确或者无法反馈电性参数时，无需人工进行第二测试，从而节省了时间和劳动力，提高了检测效率。
可接受测试方法

[发明专利]一种提高成组率的电芯配组方法-CN202210194711.1在审
发明人：洪礼昌;钱淳;黄栋;张杰;杨宇 -专利权人：瀚瑞动力（厦门）新能源科技有限公司
申请日： 2022-03-01 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： H01M10/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种提高成组率的电芯配组方法，其包括以下步骤：将电芯参数分为强制性参数和灵活参数分类；并将电芯通过强制性参数进行分档位，并设置灵活参数极差；根据强制性参数的档位划分出总档位，总档位为强制性参数的档位的乘积，将每个总档位的电芯单独取出隔开；根据每个总档位下的电芯列表，算出每个总档位内的灵活参数极差，即总参数极差；总参数极差是指在总档位下的电芯中灵活参数的最小值与最大值之间的差；对于每个总档位，获取总参数极差与配组极差的比值、Bn；对于每个总档位下的电芯，按照排序参数依次进行配组。本发明能够提高电芯配组的成组率，进而提高电芯的利用率。
一种提高成组电芯配组方法

[发明专利]用于检验WAT测试机台的测试结构及方法、测试系统-CN202210663522.4在审
发明人：孔建业 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-06-13 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于检验WAT测试机台的测试结构及方法，该测试结构包括多个测试焊盘和至少一个标准电性结构，该至少一个标准电性结构与该多个测试焊盘对应电连接，标准电性结构具有标准电性能参数，标准电性结构的测量电性能参数通过WAT测试机台的测试部件进行测试得到，标准电性结构的测量电性能参数与标准电性能参数的偏差大小用于表征WAT测试机台的测试部件是否异常，通过获取测试结构中的标准电性结构的测量电性能参数，然后根据测量电性能参数和标准电性能参数的偏差确定
用于检验 wat 测试机台结构方法系统

[发明专利]导电结构电性缺陷分析方法、电性参数分析方法及系统-CN202110383142.0有效
发明人：金若兰;洪玟基 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-04-09 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本公开提供一种导电结构电性参数分析方法、导电结构电性缺陷分析方法及导电结构电性参数分析系统，涉及半导体技术领域。该分析方法包括：根据预设的图形化工艺步骤形成间隔排布的线形导电结构，导电结构由多个线形前序图形结构形成，各前序图形结构分别对应不同的图形化工艺；获取任一前序图形结构的图案化参数；根据图案化参数计算导电结构的电阻变化值及电容变化值；根据电阻变化值和电容变化值计算前序图形结构的图案化参数对导电结构的导电速率变化值。
导电结构缺陷分析方法参数系统

[发明专利]母排电连接可靠性参数获取方法、装置和电子设备-CN202111174350.6在审
发明人：吕天一 -专利权人：中移（上海）信息通信科技有限公司;中移智行网络科技有限公司;中国移动通信集团有限公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01R31/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种母排电连接可靠性参数获取方法、装置和电子设备，所述母排电连接可靠性参数获取方法包括：获取母排在多个第一参数中的每个第一参数下的搭接表面的热效应测试结果，热效应测试结果至少包括：根据母排电连接热平衡理论模型和工作环境参数确定的仿真测试结果；根据热效应测试结果，获取母排的电连接可靠性参数；工作环境参数包括空气对流系数、风沙参数、尘土参数、摩擦参数；其中，空气对流系数是根据空气流速和空气湿度确定的；第一参数包括母排的结构参数和/或热性能参数本发明方案，可以实现根据母排电连接热平衡理论模型和工作环境参数，对母排进行仿真测试，获取母排的电连接可靠性参数。
母排电连接可靠性参数获取方法装置电子设备

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