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[发明专利]集成电路缺陷检测方法-CN202210512379.9在审
发明人：王琬箐 -专利权人：重庆长安汽车股份有限公司
申请日： 2022-05-12 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路缺陷检测方法，包括：S1：将不同层的集成电路芯片设计网表进行检测区域的划分；S2：将不同检测区域添加标记；S3：在晶圆的制造过程中，将集成电路芯片设计网表上的标记通过制造工艺转移到晶圆上，对不同检测区域编制对应的自动扫描程序；S4：自动光学检测设备根据检测区域的标记调用该检测区域所对应的自动扫描程序来进行扫描检测，并在晶圆缺陷检测完毕后，将缺陷检测结果上传至缺陷检测系统，针对不同区域缺陷选择性取样;S5：通过缺陷检测系统将取样位置传送至扫描电子显微镜或电子显微镜进行拍照，并将拍摄的图像结果反馈至缺陷检测系统进行综合分析。本发明提高了集成电路缺陷检测的效率和灵敏度。
集成电路缺陷检测方法

[发明专利]使用反射电子探针对玻璃缺陷进行分析的方法-CN201711125391.X有效
发明人：李志勇;李青;郑权;王丽红;闫冬成;李俊锋;张广涛 -专利权人：东旭光电科技股份有限公司
申请日： 2017-11-14 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本公开涉及一种使用反射电子探针对玻璃缺陷进行分析的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：S1、标记玻璃缺陷的位置并测量玻璃缺陷距离玻璃表面的深度；S2、将距离所述玻璃缺陷最近的玻璃表面作为切割面，并使用玻璃刀对所述切割面进行多次切割，得到具有多条切割裂痕的切割后的样品；S3、观察所述切割后的样品，如果有至少一条所述切割裂痕与所述玻璃缺陷的位置的距离为0～0.55mm，则将所述切割裂痕作为用于在透射电镜下定位玻璃缺陷的特征裂痕；S4、以所述特征裂痕为参照物，使用反射电子探针对所述玻璃缺陷进行定位分析。本公开很好的解决了现有方法中缺陷定位不准的问题，且该方法简单快捷，无需增加额外的成本。
使用反射电子探针玻璃缺陷进行分析方法

[发明专利]用于变压器套管的绝缘缺陷检测装置及方法-CN201711043682.4有效
发明人：赵龙;仇茹嘉;王鑫;郑国强;高博;胡世骏;罗亚桥;杨海涛;汪玉;丁津津;李远松;王小明;何开元;陈凡 -专利权人：国网安徽省电力公司电力科学研究院;国家电网公司
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明实施方式提供一种用于变压器套管的绝缘缺陷检测装置及方法，该绝缘缺陷检测装置包括：量子传感器，设置在变压器套管的外表面；电子自旋共振谱仪，电子自旋共振谱仪包括激光发生器和微波收发器，用于：控制激光发生器向量子传感器发射激光以激发量子传感器；控制微波收发器向量子传感器发射微波信号并接收量子传感器反馈的微波信号；根据反馈的微波信号得到变压器套管的电场和/或磁场强度的分布特征；处理器，用于根据分布特征判断变压器套管是否存在缺陷以及在判断出变压器套管存在缺陷的情况下确定缺陷的缺陷类型该绝缘缺陷检测装置能够变压器套管的电场、磁场分布特征进行检测并判断出该变压器套管的缺陷类型。
用于变压器套管绝缘缺陷检测装置方法

[发明专利]一种轴承缺陷分选方法-CN202211186040.0有效
发明人：周湖 -专利权人：南通思诺船舶科技有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种轴承缺陷分选方法，该方法通过应用电子设备采集轴承倒角处的表面图像，并对其进行相关的计算和数据处理，以达到对轴承缺陷进行分选的目的，具体包括：通过可见光应用电子设备采集待检测轴承倒角处的可见光表面图像，根据所采集到的待检测轴承倒角处的表面图像进行相关计算和数据处理，得到待检测轴承倒角处的暗区连通域灰度图中的各个暗区连通域的缺陷程度，根据各个暗区连通域的缺陷程度，判断待检测轴承倒角处是否存在缺陷，并对待检测轴承进行缺陷分选本发明利用图形识别以及相关的数据处理技术，解决了轴承缺陷分选准确性低的技术问题，提高了轴承缺陷分选的准确性、鲁棒性和效率性。
一种轴承缺陷分选方法

[实用新型]用于变压器套管的绝缘缺陷检测装置-CN201721431941.6有效
发明人：赵龙;仇茹嘉;王鑫;郑国强;高博;胡世骏;罗亚桥;杨海涛;汪玉;丁津津;李远松;王小明;何开元;陈凡 -专利权人：国网安徽省电力公司电力科学研究院;国家电网公司
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2018-05-25 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型实施方式提供一种用于变压器套管的绝缘缺陷检测装置，该绝缘缺陷检测装置包括：量子传感器，设置在变压器套管的外表面；电子自旋共振谱仪，电子自旋共振谱仪包括激光发生器和微波收发器，用于：控制激光发生器向量子传感器发射激光以激发量子传感器；控制微波收发器向量子传感器发射微波信号并接收量子传感器反馈的微波信号；根据反馈的微波信号得到变压器套管的电场和/或磁场强度的分布特征；处理器，用于根据分布特征判断变压器套管是否存在缺陷以及在判断出变压器套管存在缺陷的情况下确定缺陷的缺陷类型该绝缘缺陷检测装置能够变压器套管的电场、磁场分布特征进行检测并判断出该变压器套管的缺陷类型。
变压器套管绝缘缺陷检测装置量子传感器电子自旋共振谱微波收发器电场分布特征缺陷类型微波信号控制激光发生器磁场分布特征发射微波信号本实用新型传感器反馈激光发生器处理器磁场激光反馈发射激发检测

[发明专利]监控电子束扫描仪缺陷检出率的方法-CN201310496404.X有效
发明人：范荣伟;倪棋梁;龙吟;陈宏璘 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-10-21 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种监控电子束扫描仪缺陷检出率的方法，包括如下步骤：在CMOS晶圆的第一区域建立至少一测试单元，测试单元包括NMOS区和PMOS区；在NMOS区形成多个NMOS阻断缺陷；以电子束扫描仪扫描测试单元以检测NMOS阻断缺陷，并记录其检出率；更换下一枚CMOS晶圆，重复进行以上步骤。
监控电子束扫描仪缺陷检出方法

[发明专利]曲面电子显示屏用弧形玻璃面板缺陷检测方法-CN201611207618.0有效
发明人：岳慧敏;潘志鹏;陈红丽;李绒;吴雨祥;刘永 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-12-23 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明提出曲面电子显示屏用弧形玻璃面板缺陷检测方法，属于光学三维测量技术领域。本发明所述方法将结构光照明技术用于电子显示屏玻璃面板缺陷检测领域，克服了传统检测方法无法对带弧边的玻璃面板曲率较大的弧边进行高精度检测的缺点，对于带弧边的玻璃面板可以同时高精度检测双侧弧边和中间平面部分的缺陷
曲面电子显示屏弧形玻璃面板缺陷检测方法

[发明专利]一种基于电场作用修正硅基材料晶格缺陷的方法-CN202111637888.6在审
发明人：张俐楠;靳力春;刘红英;吴立群;王洪成 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： H01L21/322 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于电场作用修正硅基材料晶格缺陷的方法，本发明的一种基于电场作用修正硅基材料晶格缺陷的方法通过对湿法刻蚀后的硅基材料进行预热处理和施加直流电场，以此来修正硅基材料自身的晶格缺陷以及其在湿法刻蚀过程中产生的晶格缺陷，在高温条件下配合电场力产生的电子风力作用在相关电子以及原子上，使硅基材料恢复其原本的状态，从而提高硅基材料的品质因数，提升其应用性能并增大其应用前景。
一种基于电场作用修正基材晶格缺陷方法

[发明专利]一种内外缺陷被动磁识别方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310188198.X在审
发明人：李红梅;赵春田;黄冉冉 -专利权人：四川大学;威海华腾海洋工程技术有限公司;宜昌华腾管道工程有限公司
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N27/82 文献下载
摘要：本发明涉及电磁无损检测技术领域，提供一种内外缺陷被动磁识别方法、装置、电子设备及存储介质，包括：一种除了漏磁检测主磁化器外，无需再接任何电流、电压、磁场激励的内外缺陷被动磁识别方法；基于以上方法的检测装置，实施方法，和对采集信号进行处理和对内外壁缺陷进行识别的信号处理方法，及相关电子设备及存储介质。本发明可有效用于在漏磁检测中区分内、外壁缺陷，简化了现有漏磁检测装备的结构和电路，减少了污染漏磁检测信号的噪声来源。
一种内外缺陷被动识别方法装置电子设备存储介质

[发明专利]用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备-CN201910712753.8在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：北京字节跳动网络技术有限公司
申请日： 2019-08-02 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本公开实施例公开了用于采集应用缺陷信息的方法、装置及电子设备。该方法的一具体实施方式包括：实时监听预设应用在正常运行或测试运行中是否产生缺陷事件；响应于监听到所述应用在正常运行或测试运行中产生缺陷事件，确定所述缺陷事件所指示的缺陷对应的缺陷类型；利用预设缺陷信息采集组件执行与所述缺陷类型匹配的缺陷信息采集操作；上报所采集的缺陷信息。降低了采集缺陷信息的难度与复杂度，提高了采集缺陷信息的效率，并提高了所采集的缺陷信息的准确率。
用于采集应用缺陷信息方法装置电子设备

[发明专利]一种生成电子彩票贺卡的方法及应用系统-CN201110166238.8无效
发明人：陈益平 -专利权人：广东博众网络信息技术有限公司
申请日： 2011-06-10 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G07C15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种生成电子彩票贺卡的方法及应用系统。本发明的生成电子彩票贺卡的方法，包括如下步骤：(1)选择电子贺卡；(2)彩票投注；(3)发送电子贺卡；(4)兑奖。本发明的生成电子彩票贺卡的系统包括：电子贺卡选择模块，用于选择电子贺卡的类型、模板；彩票购买模块，用于选择彩种、期号、号码投注、支付；发送模块，用于发送电子彩票贺卡；兑奖模块，用于彩票兑奖。本发明具有如下有益效果：1.本发明的生成电子彩票贺卡的方法可以弥补现有电子贺卡单调功能存在的缺陷并实现彩票的赠送；2.本发明所提出生成电子彩票贺卡的系统，设计简单，功能全面，可以弥补现有电子贺卡单调功能存在的缺陷并实现彩票的赠送
一种生成电子彩票贺卡方法应用系统

[发明专利]外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质-CN202211043508.0在审
发明人：冯蓬勃;谢学智;张富强;李会富 -专利权人：歌尔股份有限公司
申请日： 2022-08-29 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开涉及缺陷检测领域，具体涉及外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质。所述外观缺陷的检测方法，包括：对于目标物的至少一个点位中的每个点位，获取所述点位的外观图像，对所述点位的外观图像进行第一检测，确定所述点位的外观是否存在预设缺陷，在所述点位的外观存在预设缺陷的情况下，根据所述预设缺陷的类型确定所述目标物的外观是否存在缺陷
外观缺陷检测方法电子设备存储介质

[发明专利]管道缺陷识别方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210258040.0在审
发明人：陈涵;王亚立;乔宇;代毅 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06V20/10 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种管道缺陷识别方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待识别管道图像和所述待识别管道图像对应的缺陷掩膜图像；基于所述待识别管道图像和所述缺陷掩膜图像确定管道圆心信息；基于所述管道圆心信息和所述缺陷掩膜图像确定管道缺陷位置通过上述技术方案，实现了管道缺陷位置的自动识别，提高了管道缺陷识别的效率。
管道缺陷识别方法装置电子设备存储介质

[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质-CN202210680626.6在审
发明人：马政;钟志权;王新江 -专利权人：商汤集团有限公司
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：获取目标对象的待检测图像；将所述待检测图像输入预先训练的第一神经网络，经由所述第一神经网络确定所述待检测图像对应的缺陷预测值；响应于至少所述缺陷预测值属于预设的复核区间，确定所述待检测图像对应的缺陷检测规则；基于所述缺陷检测规则，确定所述目标对象对应的缺陷检测结果。
缺陷检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]延长测试晶圆使用寿命的方法-CN201410714879.6在审
发明人：范荣伟;柳祚钺;龙吟;倪棋梁;陈宏璘 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2014-11-28 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：该方法应用于电子束缺陷扫描仪抓取率检测中，包括：提供一已被电子束缺陷扫描仪扫描后的测试晶圆，所述测试晶圆的表面形成有亚稳态的化学键；采用离子溶液去除所述亚稳态的化学键，所述离子溶液的PH值为：PH>本发明通过将测试晶圆与离子溶液充分接触，以修复由于电子束扫描对测试晶圆造成损坏，使测试晶圆够长期有效的监控电子束缺陷扫描仪抓取率，避免更换检测晶圆带来的多余的数据收集工作以及抓取率长期数据产生偏差，进而保证在线缺陷数据的可靠性与稳定性
延长测试使用寿命方法