专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于灰度游程矩阵的高压线断落监测方法-CN202210924245.8在审
  • 林少娜 - 启东市恒瑞电源科技有限公司
  • 2022-08-03 - 2022-08-30 - G06V20/10
  • 本发明涉及图像数据处理技术领域,具体涉及一种基于灰度游程矩阵的高压线断落监测方法。该方法得到高压线缆俯拍灰度图像后,在灰度图像中获取不同点对构建方向上的灰度共生矩阵,以不同灰度共生矩阵中两点灰度值均为高压线缆区域灰度值的点对出现的概率大小,确定高压线缆在各方向上分布的可能性,然后在各点对构建方向上分别得到灰度值为高压线缆区域灰度值的灰度游程矩阵并计算各个灰度游程矩阵总长度,以各点对构建方向对应的灰度游程矩阵总长度,计算正常和实际情况下高压线缆在非最大可能位于的方向上的总长度,比较两种总长度的关系,完成断线判断。
  • 基于灰度游程矩阵高压线监测方法
  • [发明专利]一种去除遮挡人脸背景的阈值分割方法-CN202210180102.0在审
  • 王文峰;陈彦兆;张晶晶 - 上海应用技术大学
  • 2022-02-25 - 2022-07-22 - G06V40/16
  • 本发明公开了一种去除遮挡人脸背景的阈值分割方法,S1:获取待分割子图像,分别与预设的若干模板进行像素提取,得到每个模板下相对应的各像素点的灰度值和灰度方差值;S2:选取灰度方差值最小时模板下的灰度值,求平均值得到灰度均值并中值滤波;S3:基于待分割子图像的像素点与中值滤波后的灰度均值构建灰度共生矩阵;S4:基于灰度共生矩阵进行数值归一化处理,得到灰度共生概率矩阵;S5:以阈值向量分割灰度共生概率矩阵P,计算得到分割后的二值图像的共生矩阵概率分布;S6:基于共生矩阵概率分布计算二阶相对熵并最小化,得到最优阈值进行阈值分割处理,直至分割完所有图像。
  • 一种去除遮挡背景阈值分割方法
  • [发明专利]一种汽车零部件精密识别方法-CN202210822912.1有效
  • 李振鹏;张延飞 - 山东聊城富锋汽车部件有限公司
  • 2022-07-14 - 2022-11-04 - G06T7/00
  • 获取齿轮灰度图像进行窗口分割;对每个窗口进行边缘检测,获取缺陷窗口;计算缺陷窗口中边缘像素点的缺陷程度,获取缺陷像素点;以缺陷像素点为中心,根据邻域上各个方向的缺陷像素点个数计算方向概率;获取缺陷窗口各个方向的灰度游程矩阵,获取每个缺陷窗口的最终灰度游程矩阵;将最终灰度游程矩阵划分为长游程区域和短游程区域;计算游程频数差异度;将最终灰度游程矩阵划分为高灰度阶区域和低灰度阶区域;计算灰度频数差异度;计算每个缺陷窗口的置信度判断该窗口的缺陷类别本发明结合矩阵中像素的灰度频数差异特征、游程长度差异特征,能够更加准确的识别缺陷类型。
  • 一种汽车零部件精密识别方法
  • [发明专利]超声成像处理方法及装置-CN201310578611.X有效
  • 薛丹;王伟;陈哲;刘丽丽 - 海信集团有限公司
  • 2013-11-18 - 2014-03-19 - A61B8/00
  • 本发明中根确定出显示像素点映射在所述存储矩阵中的存储位置;根据存储位置,在存储矩阵中确定存储位置的邻近矩阵点;对邻近矩阵点的扫描线数据表征的图像灰度值进行均值运算,得到灰度值均值;利用邻近矩阵点的扫描线数据表征的图像灰度值,进行插值运算,得到显示像素点的初始显示灰度值;对灰度值均值和初始显示灰度值进行加权,得到显示像素点对应的显示灰度值;依次得到各显示像素点对应的显示灰度值,根据各显示像素点对应的显示灰度值进行成像。通过本发明能够减少硬件消耗,并提供灰度值计算精度。
  • 超声成像处理方法装置
  • [发明专利]一种掩模表面颗粒缺陷检测方法-CN202110895622.5在审
  • 刘建明;刘庄 - 江苏维普光电科技有限公司
  • 2021-08-05 - 2021-11-23 - G01N21/956
  • 本发明公开了一种掩模表面颗粒缺陷检测方法,方法的步骤中包括:获取透射光照射掩模得到的透射灰度图像T和反射光照射掩模得到的反射灰度图像R,对反射灰度图像进行反色运算得到反射灰度反色图像;获取透射灰度图像和反射灰度反色图像中各像素的法向量的方向角角度数据,根据相应方向角角度数据构建透射图像角度矩阵A和反射图像角度矩阵B;对透射图像角度矩阵A和反射图像角度矩阵B进行数据分析,得到缺陷位置,根据缺陷位置构建缺陷结果矩阵C。
  • 一种表面颗粒缺陷检测方法

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