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[发明专利]一种电池低温容量测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310881463.2在审
发明人：杨晓琴;李元伟;尹福利;牟丽莎 -专利权人：深蓝汽车科技有限公司
申请日： 2023-07-18 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/378 文献下载
摘要：本发明涉及电池低温容量测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法通过获取电池在放电测试中的第一温度，将第一预设温度阈值与第一温度进行比较，若第一温度大于第一预设温度阈值，停止电池的放电测试，将电池进行冷却，对电池冷却过程中的第二温度进行检测，直至第二温度小于或等于第二预设温度阈值继续电池的放电测试，重复执行获取电池在放电测试中的第一温度至直至第二温度小于或等于第二预设温度阈值，继续电池的放电测试的动作，直至电池的电压等于第二截止电压，统计电池在全部放电测试中的放电容量；本发明测试方法，更贴近动力电池使用工况，其测试结果对动力电池低温容量的评估更为合理。
一种电池低温容量测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种红外热像仪测试系统-CN201010591580.8无效
发明人：李欣;范芸;赵秀娟;胡佳伟;马彦静;徐莹 -专利权人：烟台睿创微纳技术有限公司
申请日： 2010-12-16 - 公布日： 2011-04-20 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明的红外热像仪测试系统包括控制模块、目标温度模拟模块、红外准直光学模块、温度转换模块、显示模块。控制模块分别与目标温度模拟模块和温度转换模块相连，控制输出模拟的辐射温度信号以及选取测试环境。红外准直光学模块将辐射温度信号转换为平行光辐射温度信号输出至温度转换模块。温度转换模块，用于产生室温测试环境以及高低温测试环境，并将接收到的平行光辐射温度信号投射到位于室温测试环境或者高低温测试环境中的待测热像仪上。显示模块显示所述待测红外热像仪发送来的红外热图。这就在同一测试系统中实现在室温以及高低温环境下测试热像仪的性能。同时，还提高了模拟温度的精准度及测试系统的稳定性、可靠性、灵活性。
一种红外热像仪测试系统

[实用新型]一种红外热像仪测试系统-CN201020663658.8有效
发明人：李欣;范芸;赵秀娟;胡佳伟;马彦静;徐莹 -专利权人：烟台艾睿光电科技有限公司
申请日： 2010-12-16 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本实用新型的红外热像仪测试系统包括控制模块、目标温度模拟模块、红外准直光学模块、温度转换模块、显示模块。控制模块分别与目标温度模拟模块和温度转换模块相连，控制输出模拟的辐射温度信号以及选取测试环境。红外准直光学模块将辐射温度信号转换为平行光辐射温度信号输出至温度转换模块。温度转换模块，用于产生室温测试环境以及高低温测试环境，并将接收到的平行光辐射温度信号投射到位于室温测试环境或者高低温测试环境中的待测热像仪上。显示模块显示所述待测红外热像仪发送来的红外热图。这就在同一测试系统中实现在室温以及高低温环境下测试热像仪的性能。同时，还提高了模拟温度的精准度及测试系统的稳定性、可靠性、灵活性。
一种红外热像仪测试系统

[发明专利]一种高温老化测试仪及其恒温控制方法-CN201110254520.1无效
发明人：何宏;李志雄;庞卫文 -专利权人：深圳市江波龙电子有限公司
申请日： 2011-08-31 - 公布日： 2012-02-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明适用于电子测试领域，尤其涉及一种高温老化测试仪及其恒温控制方法。在本发明实施例中，高温老化测试仪的温度控制模块通过判断金属箱环境温度是否与目标温度一致，从而控制加热器的加热情况，使得金属箱环境温度与目标温度同步，减小了温度漂移和误差，并且设定温度范围广，连续可调；另外，由于高温老化测试仪设置有测试上电接口，所以高温老化测试仪可以采集并分析被测产品在高温测试下的运行参数，使得测试人员更好地了解被测产品在高温测试下的运行情况。
一种高温老化测试仪及其恒温控制方法

[实用新型]一种高温老化测试仪-CN201120323391.2有效
发明人：何宏;李志雄;庞卫文 -专利权人：深圳市江波龙电子有限公司
申请日： 2011-08-31 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型适用于电子测试领域，尤其涉及一种高温老化测试仪。在本实用新型实施例中，高温老化测试仪的温度控制模块通过判断金属箱环境温度是否与目标温度一致，从而控制加热器的加热情况，使得金属箱环境温度与目标温度同步，减小了温度漂移和误差，并且设定温度范围广，连续可调；另外，由于高温老化测试仪设置有测试上电接口，所以高温老化测试仪可以采集并分析被测产品在高温测试下的运行参数，使得测试人员更好地了解被测产品在高温测试下的运行情况。
一种高温老化测试仪

[发明专利]抗温度干扰的工控系统物理入侵检测阈值估计方法及装置-CN202111481067.8在审
发明人：周安;黄浩;马腾腾;焦可欣 -专利权人：广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司电力调度控制中心
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G06F21/55 文献下载
摘要：本发明公开了抗温度干扰的工控系统物理入侵检测阈值估计方法及装置。本发明通过在不同的测试温度下，依次控制物理入侵设备与工控系统连接和断开连接，对工控系统进行物理入侵检测，获取每一测试温度下的入侵测试信号和未入侵测试信号，对于每一测试温度下的入侵测试信号和未入侵测试信号，分别将入侵测试信号和未入侵测试信号与预先获取的标准信号进行差分对比，从得到的差异信号中提取入侵特征和未入侵特征，当得到所有测试温度下的入侵特征和未入侵特征时，根据每一测试温度下的入侵特征和未入侵特征，确定每一测试温度下的检测阈值，能够考虑环境温度对工控系统物理入侵检测的干扰，提高不同环境温度下工控系统物理入侵检测的准确性和成功率。
温度干扰系统物理入侵检测阈值估计方法装置

[实用新型]温度冲击试验设备-CN202121589904.4有效
发明人：柏庆;金光勇;黄华;刘兴峰;陈旭波 -专利权人：广电计量检测（重庆）有限公司
申请日： 2021-07-13 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种温度冲击试验设备，包括高温气体输出组件、低温气体输出组件及测试组件，高温气体输出组件包括第一输出管，第一输出管用于输出高温气体，低温气体输出组件包括第二输出管，第二输出管用于输出低温气体，测试组件包括底座及测试管，测试管可移动设于底座上，使测试管与第一输出管连通或第二输出管连通，测试管上用于安装排气温度传感器，使排气温度传感器的探针伸入测试管内。通过测试管与不同输出管连通，使测试管内产生温度变化，进而对排气温度传感器在温度变化时受到的冲击影响及是否失效进行测试，因此上述温度冲击试验设备，能够对排气温度传感器在温度变化时的工作情况进行针对性的测试，测试效果更好。
温度冲击试验设备

[实用新型]温度传感器测试工装及温度传感器测试系统-CN201721051694.7有效
发明人：吴红静;侯斐;唐磊;何银山;聂金泉;张远进;刘冬冬;苏业东 -专利权人：湖北文理学院;东风汽车电子有限公司
申请日： 2017-08-21 - 公布日： 2018-03-23 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：一种温度传感器测试工装及温度传感器测试系统，属于测量设备技术领域。本实用新型提供的温度传感器测试工装包括设有支板的底座，支板连接有可升降的滑块，滑块连接有可升降的测试平台，测试平台开设有至少一个测试孔，每个测试孔的下方均设有顶部具有开口的储油筒，储油筒内设有加热装置。本实用新型提供的温度传感器测试工装能够十分方便的固定温度传感器，并驱动温度传感器上下移动以便于进行最大量程检测。本实用新型还提供了一种包含上述温度传感器测试工装的温度传感器测试系统。
温度传感器测试工装系统

[实用新型]老化设备控制系统-CN202121759437.5有效
发明人：杨谦 -专利权人：深圳市禹龙通电子股份有限公司
申请日： 2021-07-29 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： H05K5/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种老化设备控制系统，包括老化架和多个测试单元；老化架设有多个测试分区；多个测试单元一一对应分设于各所述测试分区；每个测试单元包括多个测试模块；测试模块包括用于放置所述测试产品的支撑体、用于检测支撑体的温度的温度传感器、温度控制器、散热设备、加热设备和第一电源；第一电源用于为测试产品供电；支撑体设置于散热设备上；温度控制器，分别与温度传感器、散热设备和加热设备连接，用于接收温度传感器检测的温度，并根据温度控制散热设备和加热设备的工作状态本实用新型可以提高老化设备控制系统的通用性，并能够提高测试产品的散热效果。
老化设备控制系统

[发明专利]温度传感器芯片测试装置及测试方法-CN201510868851.2有效
发明人：王玉 -专利权人：上海申矽凌微电子科技有限公司
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2018-06-05 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种温度传感器芯片测试装置及测试方法，包括PN结、腔室、子板、负载板以及测试机台；其中，所述PN结和子板设置在所述腔室中；所述负载板连接所述测试机台；所述负载板用于向样本温度传感器芯片和待测试温度传感器芯片提供相同的VCC电源和GND接地；所述PN结用于向所述样本温度传感器芯片和待测试温度传感器芯片输入激励；所述测试机台用于读出样本温度传感器芯片的温度数据；所述腔室用于保持PN结的温度稳定；所述子板用于承载PN结。本发明中的方法在任一温度，即生产环境温度的条件下，使用常用的测试设备，包括测试机台、机械手，就能够在满足精度的前提下，快速、经济的完成温度传感器芯片的大批量生产测试。
温度传感器芯片测试机台负载板腔室子板测试样本测试装置测试设备生产测试生产环境输入激励温度数据温度稳定机械手接地读出承载

[实用新型]一种热扩散能效对比测试装置-CN201621480373.4有效
发明人：胡孟;宋文龙 -专利权人：东莞市鸿艺电子有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2017-08-08 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种热扩散能效对比测试装置，包括样品片、发热源和温度检测模块，发热源设在样品片一侧并与样品片相接触，样品片另一侧分布有测试点，测试点与温度检测模块电连接，温度检测模块采集各个测试点的温度信息，温度检测模块包括接收单元和对比单元，接收单元接收各个测试点的温度信息，对比单元将各个测试点的温度信息进行对比。本实用新型中，测试点与温度检测模块电连接，温度检测模块采集各个测试点的温度信息并对各个测试点的温度信息进行对比，进而得出一种样品片的热扩散性能，然后重复测试步骤，可以得到另一种样品片的热扩散性能，最后将两者进行对比
一种扩散能效对比测试装置

[实用新型]一种PMV测试装置-CN201420487205.2有效
发明人：赵永青;黄永红;王成 -专利权人：长沙理工大学
申请日： 2014-08-27 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种热舒适性指标PMV测试装置，它包括LCD显示屏、键盘、A/D转换、51单片、空气温度探头、黑球温度探头、湿度测试探头、风速测试探头。利用所述的空气温度探头、黑球温度探头、湿度测试探头、风速测试探头测试平均辐射温度、空气干球温度、空气相对湿度、风速，输入到51单片机进行计算得到PMV并输出到PC机。本实用新型结构简单、成本低廉、测试准确。
一种 pmv 测试装置

[发明专利]一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法-CN202211131576.2在审
发明人：刘国赢;马长春;黄瀛 -专利权人：杭州永谐科技有限公司
申请日： 2022-09-15 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于OTA测试系统的温度补偿测试方法。包括如下步骤：空口和传导测试共用前端与空口和传导测试共用后端之间设置有空口测试通路和传导测试通路；在校准时，测试空口测试通路和传导测试通路，并保留校准值，分别记为Cr和Cc；测试的时候，分别测试空口测试通路和传导测试通路本发明通过将空口测试通路和传导测试通路共用前端和后端，只有中间一部分是分开的，并且都受到同样温度变化的影响；传导测试随温度的变化，可以代表空口测试随温度的变化；用传导测试结果随温度变化的值，对空口测试结果进行补偿；提升OTA测试系统的温补稳定性。
一种用于 ota 测试系统温度补偿方法

[发明专利]一种内存芯片的温度控制方法、装置、设备及存储介质-CN202010614720.2有效
发明人：李栋 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种内存芯片的温度控制方法、装置、设备及计算机可读存储介质，方法包括：确定出使目标内存芯片的第一当前温度达到对应的测试温度时，铝制外壳内部的第一标准温度，并设置所述测试温度和所述第一标准温度的映射关系；然后获取目标测试温度和目标内存芯片的第一当前温度，并确定出所述第一当前温度和所述目标测试温度的大小关系；根据所述大小关系和与所述目标测试温度对应的目标映射关系调节所述铝制外壳内部的第二当前温度，以使得所述第一当前温度等于所述目标测试温度可见，本方法能够使目标内存芯片的第一当前温度能够更精准地达到目标测试温度，从而提高对目标内存芯片的温度控制的准确度。
一种内存芯片温度控制方法装置设备存储介质

[发明专利]温升自动测试系统及测试温升的方法-CN201810140774.2在审
发明人：杨启勇 -专利权人：广州视源电子科技股份有限公司
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2018-08-07 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种温升自动测试系统及测试温升的方法，涉及测试技术领域，上述温升自动测试系统包括电源供应器，电参数测试仪，恒温箱，智能终端，温度采集装置和电子负载；电源供应器、电参数测试仪、测试样品、电子负载依次串接构成测试回路，智能终端用于控制恒温箱提供环境温度，并控制电源供应器提供工作电压，采集电参数测试仪的输出参数和电子负载的输出电信号，在输出参数和输出电信号满足测试要求时，控制温度采集装置采集设置于恒温箱中的测试样品的温度信息，并根据温度信息和环境温度确定测试样品的温升。通过智能终端综合调控恒温箱、电源供应器、电参数测试仪、电子负载和温度采集装置，实现对测试样品的自动温升测试，测试效率高。
温升测试样品电子负载恒温箱电参数测试仪温度采集装置自动测试系统电源供应器智能终端输出参数温度信息测试技术领域采集电参数测试测试测试回路测试效率测试要求工作电压控制电源温度确定温升测试依次串接综合调控输出供应器

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