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[发明专利]一种随机数测试方法、装置、设备和计算机程序产品-CN202111623658.4在审
发明人：惠行行;刘娟 -专利权人：国民技术股份有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H04L9/08 文献下载
摘要：本申请提供一种随机数测试方法、装置、设备和计算机程序产品，涉及网络安全技术领域。一种随机数测试方法，采用多核并行处理技术，包括：获取测试项并对所述测试项进行预处理，生成多个独立的测试子项；创建响应请求的前台线程和执行测试的后台线程；基于所述测试子项，通过所述后台线程获取并分配空闲的处理器核心分别执行每个所述测试子项并生成测试结果；发送测试完成事件至所述前台线程，并终止所述后台线程。本申请的技术方案采用多核多进程处理机制，提高处理器利用率，极大地缩短了测试周期。
一种随机数测试方法装置设备计算机程序产品

[发明专利]仪表测试用板卡-CN201710029544.4有效
发明人：伏晓刚;陈龙;胡之跃 -专利权人：大陆汽车车身电子系统（芜湖）有限公司
申请日： 2017-01-16 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明的实施例提供一种仪表测试用板卡，包括：通讯模块，处理器模块，电源模块，以及测试功能模块。通讯模块被配置为实现处理器模块与上位机之间的通讯。处理器模块被配置为：根据来自上位机的指令控制测试功能模块完成测试功能，以及向上位机反馈测试状态。电源模块被配置为向通讯模块、处理器模块以及测试功能模块供电。测试功能模块被配置为在处理器模块的控制下，完成测试功能。根据本发明的实施例的仪表测试用板卡，能够降低测试系统的复杂程度，并且降低测试系统的开发和使用成本。
仪表测试板卡

[发明专利]配件测试装置及配件测试方法-CN200710148154.5无效
发明人：韩雪山;郑全阶;金志仁;宋建福;陈玄同;刘文涵 -专利权人：英业达股份有限公司
申请日： 2007-08-28 - 公布日： 2009-03-04 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种配件测试装置及配件测试方法。该配件测试装置包含有微处理单元、信号转换单元。其中微处理单元，用以发出仿真信号；信号转换单元，分别与微处理单元及配件电性连接，用以接收仿真信号，并将仿真信号转换为测试信号，利用该测试信号测试配件。配件接收测试信号后响应一回馈信号，并由信号转换单元接收后传送给微处理单元，以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。以往测试方式，较费时而且频繁的插拔动作会对主机造成损害。本发明的配件测试装置及配件测试方法，去除了以往测试方式的缺陷，达到缩短检测时间、提高生产效率的效果。
配件测试装置方法

[发明专利]一种级联功率模块测试系统及方法-CN202010404278.0在审
发明人：唐捷;陆涛;陈欣光;於凡枫;高敏 -专利权人：上海宏力达信息技术股份有限公司
申请日： 2020-05-13 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种级联功率模块测试系统及方法，涉及功率模块测试。包括：可调电源模块，用于将外接电压转换为目标测试电压并输出；控制器，用于发送脉冲信号；可调节电抗，可调节电抗连接至少一待测试功率模块，用于将测试系统中的电抗值调整至目标测试电抗；至少两处理模块，每个处理模块分别连接可调电源模块、控制器和待测试功率模块，可调电源模块通过处理模块向待测试功率模块提供目标测试电压，处理模块接收脉冲信号并根据脉冲信号控制待测试功率模块动作，以实现待测试模块的性能测试。具有以下有益效果：将待测试功率模块的双脉冲测试和对冲测试合并在一起测试，提高了测试效率，并降低了测试损耗。
一种级联功率模块测试系统方法

[发明专利]一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法-CN201611151518.0在审
发明人：王学军;王洪祥;杨振;薛路磊 -专利权人：绍兴芯谷科技有限公司
申请日： 2016-12-14 - 公布日： 2017-03-15 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法，测试系统包括IC器件、结构对称的信号处理电路和V/I测试源，信号处理电路的信号输入端与IC器件的基准电压测试端子相连，信号处理电路的信号输出端与V/I测试源相连；其测试方法为信号处理电路分别将输入电压Vin和稳压管电压Vz缓冲放大后进行比较，并将比较后的信号通过减法放大后输出电压Vout给V/I测试源。本发明可消除测试设备地线及空间噪声的共模干扰，降低测试系统因测试误差造成的影响，获得更高精度的测试结果。
一种精确测试 ic 基准电压系统方法

[发明专利]一种监控测试的方法和监控测试装置-CN200810007939.5无效
发明人：郑庆达 -专利权人：福建星网锐捷网络有限公司
申请日： 2008-02-20 - 公布日： 2008-07-23 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及自动化测试领域，特别涉及一种监控测试的方法和监控测试装置，用以解决现有技术中存在的在测试时，测试程序运行过程中如果出现问题，不能够及时处理，从而增加测试的成本以及测试的时间，降低测试效率的问题本发明实施例的方法包括：在对被测设备的功能进行测试时，如果不能正常测试，则确定当前的被测功能；根据所述被测功能，确定对应的处理措施，并根据确定的所述处理措施进行处理。采用本发明实施例的方法能够降低测试的成本以及测试的时间，提高测试的效率。
一种监控测试方法装置

[发明专利]设备测试方法、装置及系统-CN201510779373.8有效
发明人：李日安;刘强 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2015-11-13 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种设备测试方法、装置及系统，该方法包括：使用测试脚本对设备进行测试，当测试到错误时，获取错误的错误识别码；在错误数据库中，根据错误识别码查找对应的处理代码；利用处理代码处理错误；继续使用测试脚本对设备进行测试通过本发明的实施，在检测到错误时，自动查找对应的处理代码，并对错误进行处理，在处理之后继续进行设备测试，而不需要中断设备测试，减少了测试过程中的异常中断，提高了测试成功率；还可以通过自适应阈值算法调节重试次数
设备测试方法装置系统

[发明专利]一种高保真测试接口装置及半导体测试设备-CN202210969875.7在审
发明人：李文海;魏海波;裴敬;邓标华 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精鸿电子技术有限公司
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本申请涉及一种高保真测试接口装置及半导体测试设备，包括：测试头，该测试头用于通过测试控制器测试半导体器件；设备专用适配器，该设备专用适配器包括连接半导体器件的若干插槽；测试母板，该测试母板上设有连接测试头和设备专用适配器的同轴电缆，以向设备专用适配器传输测试信号；协议处理板卡，该协议处理板卡插拔连接在测试母板和设备专用适配器之间，以向设备专用适配器传输测试信号。本申请的高保真测试接口装置引入了协议处理板卡用来适配高速芯片的信号传递需求；同时由于协议处理板卡可灵活更换的特性，可针对不同客户开发不同类型的协议处理板卡，从而适配各种定制需求。
一种高保真测试接口装置半导体设备

[发明专利]处理器程序的测试方法和装置-CN201610620616.8有效
发明人：陈博文 -专利权人：龙芯中科技术有限公司
申请日： 2016-07-29 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种处理器程序的测试方法和装置，用于获取对处理器程序进行测试的测试指令序列以及测试指令序列的预期结果序列，测试指令序列存储于处理器的内存空间，该方法包括：获取当前指令地址，当前指令地址为内存中的地址；判断当前指令地址是否为已存储任一测试指令的已存储指令地址，测试指令为待测试的处理器程序所支持的指令；若当前指令地址为已存储指令地址，则执行当前指令地址中存储的测试指令，并将当前指令地址中存储的测试指令的执行结果加入预期结果序列本发明的方法能够使得测试处理器程序的测试指令序列能够重复执行以及包含不确定结果指令时提高测试效率。
处理器程序测试方法装置

[实用新型]测试工装-CN202223419938.6有效
发明人：陶瑞兴;黄永贺;何金红;李然;于海滨;陈媛 -专利权人：同方威视科技（北京）有限公司
申请日： 2022-12-15 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试工装，涉及测试技术领域。该测试工装包括上位机、N个微处理器和M个测试单元，所述N个微处理器与所述上位机通信连接，N大于或等于1；所述M个测试单元中每个测试单元包括至少一个继电器或至少一个光耦单元，所述M个测试单元中至少一个测试单元与其它测试单元之间的测试功能不相同，M大于或等于2；其中，所述M个测试单元与所述N个微处理器中部分或全部微处理器通信连接，所述上位机用于通过所述N个微处理器控制所述M个测试单元来对被测件进行测试。
测试工装

[发明专利]一种传送测试数据包的方法和系统-CN200810172060.6无效
发明人：李爱民;唐利;徐瑞林;杨捷;李达有;冯恩波;任雄伟 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2008-10-28 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明的实施例公开了一种传送测试数据包的方法和系统，能够减少测试系统中测试数据包到达测试单元的时间延迟，解决测试数据包之间不同的时间误差问题。本发明实施例提供的方法包括：设备驱动程序对接收的测试数据包进行处理；设备驱动程序将处理后的测试数据包直接传送给测试单元。本发明实施例通过去除设备驱动程序处理时延、操作系统处理时延、各协议栈和测试单元本身的处理时延，来解决现有测试系统中的时间延迟问题。
一种传送测试数据包方法系统

[实用新型]一种集成电路验证系统的连接驱动电路-CN202120718149.9有效
发明人：屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 -专利权人：天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路验证系统的连接驱动电路，包括测试机连接电路及与所述测试机连接电路连接的信号处理电路，所述信号处理电路包括信号放大电路及信号缩小电路，将信号通过所述信号处理电路进行放大或缩小处理，驱动所述测试机连接电路及通过所述测试机连接电路连接的测试机，所测试机连接电路通过芯片座连接电路连接测试芯片能保证正常驱动测试机，提高测试效率；与所述测试机连接电路连接的若干跳线电路，及与所述电源处理电路连接的电源跳线电路，用于手动控制信号的传输。
一种集成电路验证系统连接驱动电路

[发明专利]一种轨道交通内异构处理器单板的自动化测试系统及方法-CN202210818608.X在审
发明人：王阳;侯新强;楼玮;周旭东;王子旭 -专利权人：浙江众合科技股份有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种轨道交通内异构处理器单板的自动化测试系统及方法，所述自动化测试系统包括上位机和自动化测试台，自动化测试台上设置有第一测试辅助板、第二测试辅助板、第三测试辅助板以及测试槽，所述第三测试辅助板通过串口与第一测试辅助板以及第二测试辅助板连接，所述第一测试辅助板和第二测试辅助板均通过网口与上位机连接，测试槽和第三测试辅助板之间通过IO串口连接。所述自动化测试方法具体为将待测试异构处理器单板插入测试槽，确定测试程序的测试顺序，自动化测试台执行测试程序，对待测试异构处理器单板进行测试。本发明能够对异构的处理器单板进行测试，并能够自动确定测试顺序并判断测试结果，同时还增加有应力测试。
一种轨道交通内异构处理器单板自动化测试系统方法

[发明专利]数据处理方法及装置、存储介质和服务器-CN202110713491.4在审
发明人：郑尧成;丁进超;李怡康 -专利权人：上海商汤临港智能科技有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本公开提供了一种数据处理方法及装置、存储介质和服务器，其中，所述方法包括：获取待处理的自动驾驶测试数据；根据测试数据的类型与数据处理方式的对应关系，确定所述待处理的自动驾驶测试数据中不同类型的测试数据对应的数据处理方式；基于确定的数据处理方式，对所述待处理的自动驾驶测试数据中的所述不同类型的测试数据进行处理，所述确定的数据处理方式至少包括数据质量检测处理。
数据处理方法装置存储介质服务器

[发明专利]一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法-CN202211600768.3在审
发明人：沈郁博;郭晗;常成;席雨;陆涛;王宁;孙铮 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06F16/25 文献下载
摘要：本申请提供一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，包括：调取预存储的多个测试文件至表格的多个工作表，所述多个测试文件与所述多个工作表一一对应，每一所述测试文件包括多个测试数据；在所述多个工作表中确定一目标工作表，对所述目标工作表中的数据进行处理，并存储该处理过程，其中所述处理过程包括：在所述目标工作表中的多个所述测试数据中提取多个目标数据，对多个目标数据进行计算，得到所述目标工作表的有效测试数据；调用所述处理过程，对其余工作表中的数据进行处理，得到其余工作表的有效测试数据。本申请在表格中实现批量处理多个测试数据得到有效测试数据，提高了数据处理效率的同时提高了数据准确性。
一种半导体集成电路自动测试数据处理方法