专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试装置-CN201210423883.8在审
  • 金志仁;吕玉树 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2012-10-30 - 2014-05-14 - H04L12/26
  • 一种测试装置,适于伺服器,包括第一连接单元、第二连接单元、数据传输单元、处理单元与网络单元。第一连接单元适于耦接伺服器的主机板。第二连接单元适于耦接待测元件。数据传输单元依据选择信号,切换多个数据传输模式其中之一,以进行第一连接单元与第二连接单元的数据传输。处理单元控制数据传输单元,通过第一连接单元对主机板进行第一测试程序,或通过第一连接单元与第二连接单元对待测元件进行第二测试程序。网络单元接收外部装置所产生的控制信号,以使外部装置通过网络单元,控制处理单元进行第一测试程序与第二测试程序。
  • 测试装置
  • [实用新型]一种新型水稻植播开沟装置-CN201320439097.7有效
  • 金志仁;朱林中;陈飞 - 上海光明长江现代农业有限公司
  • 2013-07-22 - 2013-12-11 - A01C5/06
  • 本实用新型公开一种新型水稻植播开沟装置,包括压力板,压力板采用的材质为铁,压力板的一端设置有推土板,压力板的另一端设置有播种开沟器,播种开沟器的外侧设置有蓄水槽开沟器。可以将开沟装置直接悬挂在拖拉机上面,通过两种不同规格的开沟器,方便对稻田中的蓄水沟和播种沟分别进行开沟,以利于水稻的良好成长,采用旱地刀轮对稻田进行松土以便于开沟器对稻田进行便捷开沟,能够有效地提高工作效率,减少人力成本,增加了使用的灵活性,设计新颖,是一种很好的创新方案,很有市场推广前景。
  • 一种新型水稻植播开沟装置
  • [发明专利]辅助测试装置-CN201110461168.9有效
  • 金志仁;黄培伦 - 英业达股份有限公司
  • 2011-12-29 - 2013-07-03 - G01R31/00
  • 一种辅助测试装置,适于一待测物。辅助测试装置包括电源单元、储存单元与控制单元。电源单元用以提供多个电压,其中这些电压互不相同。储存单元用以储存对应待测物的电源时序表与模拟信号产生表。控制单元耦接储存单元与电源单元,用以依据电源时序表,提供多个电源时序控制信号,使电源单元依据这些电源时序控制信号,依序提供前述电压给待测物,并依据模拟信号产生表,提供对应待测物的模拟信号给待测物,且控制单元接收待测物回应于前述电压与模拟信号所产生的多个状态信号。
  • 辅助测试装置
  • [发明专利]检测电容缺失的方法-CN201010590955.9有效
  • 金志仁;郑全阶;宋平;陈志丰 - 英业达股份有限公司
  • 2010-11-30 - 2012-05-30 - G01R31/02
  • 一种检测电容缺失的方法,适于检测多个相互并联的旁路电容。此种检测方法包括输入一交流信号至旁路电容,其中交流信号具有多个测试频率;记录旁路电容在每一测试频率时的测试电压值,以形成一测试结果表;判断测试结果表是否相同于一标准电压表;以及当判断结果为不相同时,输出缺失信号。应用此种检测方法可有效识别旁路电容中是否存在有缺失,并且藉此解决大电容与小电容并联情况下小电容不可测的问题。
  • 检测电容缺失方法
  • [发明专利]周边组件状态的检测装置-CN201010590976.0有效
  • 金志仁;郑全阶;范雅静;陈志丰 - 英业达股份有限公司
  • 2010-11-30 - 2012-05-30 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种周边组件状态的检测装置,通过主机板用以检测主机板所连接的多个周边组件的使用状态。检测装置包括:基板管理控制单元与复杂可编程逻辑组件。基板管理控制单元通过内部整合电路总线连接于周边组件;基板管理控制单元接收测试信号并产生相应的响应信息;复杂可编程逻辑组件通过内部整合电路总线连接于基板管理控制单元;复杂可编程逻辑组件中包括协议扩展模块,协议扩展模块转换内部整合电路总线与序列周边接口总线间所传递的测试信号;经由复杂可编程逻辑组件的切换可以取得基板管理控制单元所连接的各项周边组件的使用状态。
  • 周边组件状态检测装置
  • [发明专利]多芯片测试系统及其测试方法-CN201010582585.4无效
  • 金志仁;陈琏锋 - 英业达股份有限公司
  • 2010-11-30 - 2012-05-30 - G06F11/26
  • 一种多芯片测试系统及其测试方法,利用可编程控制器串接多个具有联合测试工作组JTAG接口的芯片来进行功能检测的多芯片测试系统及其方法。测试系统包括待测装置及控制装置。待测装置包括多个芯片、可编程控制器、及第二JTAG接口,各该芯片具有第一JTAG接口,可编程控制器通过第一JTAG接口耦接至各个芯片,第二JTAG接口连接至可编程控制器,控制装置连接至第二JTAG接口,用以发送一切换指令至可编程控制器。测试方法先接收一切换指令来选择一待测芯片,再根据待测芯片,发送一测试信号至待测芯片,待测芯片根据测试信号,回传一测试结果至可编程控制器。
  • 芯片测试系统及其方法
  • [发明专利]高速周边元件扩展接口的测试系统-CN201010590917.3无效
  • 金志仁;郑全阶;姜骁;陈志丰 - 英业达股份有限公司
  • 2010-11-30 - 2012-05-30 - G06F11/267
  • 本发明涉及一种高速周边元件扩展接口的测试系统,用以测试多个微处理控制单元。测试系统包括:测试治具与测试主机。每一测试治具更包括高速周边元件扩展接口桥接器与微处理控制单元,高速周边元件扩展接口桥接器电性连接于微处理控制单元;测试主机通过高速周边元件扩展接口控制器电性连接测试治具,在储存设备中存储具有多个测试项目的测试列表,处理单元将测试项目发送至测试治具,使得测试治具所连接的微处理控制单元执行测试项目,微处理控制单元在完成测试项目后,微处理控制单元返回一回应信息给测试主机。
  • 高速周边元件扩展接口测试系统

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