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[发明专利]莪术油固体脂质纳米粒及其制备方法-CN200510137891.6无效
发明人：杨凯亮;陈大为 -专利权人：沈阳药科大学
申请日： 2005-12-29 - 公布日： 2006-08-30 - 主分类号： A61K36/9066 文献下载
摘要：本发明公开了一种莪术油固体脂质纳米粒及其制备方法。它具有毒性低、防止敏感药物的水解、控制药物释放、生物利用度高及良好的靶向性等优点。它包括治疗有效量的莪术油和可药用的磷脂、乳化剂、固体脂质材料、液体脂质材料、抗氧化剂等。原料按重量比组成为莪术油∶磷脂∶乳化剂∶固体脂质材料∶抗氧化剂＝1～40∶3～50∶2～30∶3～50∶0.5～10。莪术油固体脂质纳米粒的制备方法可以采用熔融超声法，高压乳匀法，冷匀质法，乳化－溶剂挥发法，微乳法等。
莪术固体纳米及其制备方法

[实用新型]银漂法一次成像单反两用照像机-CN89215882.4无效
发明人：刘学宾 -专利权人：刘学宾
申请日： 1989-09-07 - 公布日： 1990-04-11 - 主分类号： G03B17/50 文献下载
摘要：一种银漂法一次成像单反两用照像机，在机身内部装有活动反光板，配以单片片盒及普通像机的后背。既可以作银漂法彩色一次成像用，又可作普通像机用。
银漂法一次成像两用照像机

[发明专利]一种昔格达地层岩质边坡稳定性计算的拟动力下限法-CN202010611011.9有效
发明人：刘文连;李泽;眭素刚;唐果;陆得志;宁飞;安家金;樊亚红 -专利权人：中国有色金属工业昆明勘察设计研究院有限公司;昆明理工大学
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种昔格达地层岩质边坡稳定性计算的拟动力下限法，本发明以昔格达地层岩质边坡为研究对象，采用块体单元离散昔格达地层岩质边坡，将地震波假设为简谐波，并使用拟动力法原理计算块体单元的地震惯性力，根据下限法原理建立地震作用下昔格达地层岩质边坡稳定性的拟动力下限法非线性数学规划模型；使用“序列二次规划算法”循环求解昔格达地层岩质边坡稳定性的拟动力下限法非线性数学规划模型，获得地震作用下岩质边坡稳定性的安全系数与时间的关系曲线。本发明方法具有概念明确、计算效率和计算精度高等特点，可将其应用于地震作用下昔格达地层岩质边坡的稳定性分析，可为岩质边坡的抗震设计提供科学依据。
一种昔格达地层岩质边坡稳定性计算动力下限

[发明专利]一种多组分质谱泄漏检测装置-CN202111494803.3在审
发明人：陈联;成永军;孙雯君;冯天佑;赵澜;管保国;孙冬花 -专利权人：兰州空间技术物理研究所
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G01M3/20 文献下载
摘要：本申请涉及真空泄漏检测技术领域，具体而言，涉及一种多组分质谱泄漏检测装置，包括累积检漏法组件、质谱分析组件、动态检漏法组件以及抽空机组，其中：累积检漏法组件包括累积检漏法接口、累积检漏室以及第一真空计；质谱分析组件包括质谱分析室、四极质谱计以及第二真空计；动态检漏法组件包括动态检漏法接口、动态检漏室以及第三真空计；抽空机组包括涡轮分子泵、吸附泵以及前级机械泵。
一种组分泄漏检测装置

[发明专利]一种数字展会的信息处理分系统-CN201711007286.6在审
发明人：王汝迟 -专利权人：成都金麒麟云信息科技有限公司
申请日： 2017-10-25 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种数字展会的信息处理分系统，包括姿态数据处理模块、成像数据像质改善模块、测距数据后处理模块、归一化处理模块、直接对地定位处理模块、DEM生成模块、编码图像生成模块、三维显示器，所述姿态数据处理模块用于对信息获取分系统采集的数据通过互补滤波算法进行解算；所述成像数据像质改善模块用于对信息获取分系统采集到的图像数据进行均值滤波得到高像质图像；所述测距数据后处理模块用于距离数据修订。
一种数字信息处理分系统

[发明专利]基于多角度卫星观测数据的森林生物量反演方法-CN202211354974.0在审
发明人：崔磊;戴逸群;张虎 -专利权人：天津师范大学
申请日： 2022-11-01 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了基于多角度卫星观测数据的森林生物量反演方法，属于空间信息技术领域，包括以下步骤；步骤S10：利用半变异函数选择出森林覆盖且均质的中等分辨率成像光谱仪‑MODIS像元；步骤S11：基于一种热点校正的核驱动模型重构均质MODIS像元在近红外波段的热点观测方向反射率；步骤S12：基于最小二乘回归法建立森林覆盖且均质MODIS像元在近红外波段的热点反射率与地面实测森林地上生物量‑AGB的数学关系模型，基于该关系模型开展相关森林类型的
基于角度卫星观测数据森林生物量反演方法

[发明专利]一种最佳阶数估算方法-CN201410797066.8有效
发明人：张闻文;斯雪峰;何睿清;张伟良;李百凌;陈钱;顾国华;何伟基;钱惟贤;隋修宝;屈惠明;路东明;于雪莲;任侃;王利平;王庆宝;张毅 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2014-12-19 - 公布日： 2015-04-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：该方法适用于估算高阶鬼成像像质最好时对应的阶数，此时的阶数称为最佳阶数。图像信息区域像素数对应的像素块数称为有效像素数。通过仿真鬼成像实验对参考图像和物图像进行高阶处理，仿真出重建图像并计算其对比度与载噪比，结合高阶鬼成像像质评估方法，估算高阶鬼成像在不同有效像素数的条件下对应的最佳阶数，并初步推测最佳阶数与有效像素数之间的关系与传统确定最佳阶数方法相比，本发明的像质评价更全面，更符合实际实验结果，具有更高的实用性。
一种最佳估算方法

[发明专利]基于全频段光学加工面形误差系统链路像质仿真分析方法-CN202011000089.3有效
发明人：班章;杨勋;李晓波;姜禹希 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：基于全频段光学加工面形误差系统链路像质仿真分析方法，涉及光电成像技术领域，本发明根据用户指标要求，设计光学系统结构，建立光学系统链路模型，基于实测光学元件加工面形数据，建立镜面加工面形低频误差仿真模型和中高频误差仿真模型完成数据准确性检验后，将加工面形误差数据加载至光学链路仿真系统中进行像质分析。本发明设定合理的数据采样间隔。建立准确的加工面形误差仿真模型，为进行高精度、快运算光学系统链路像质仿真分析奠定基础。
基于频段光学加工误差系统链路像质仿真分析方法

[发明专利]一种基于模型的无波前传感器自适应光学校正方法-CN202010211955.7有效
发明人：董冰;任虹禧;张晓芳;胡新奇 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本方法，采用图像功率谱密度低频空间的积分的倒数作为图像的像质评价函数，在非相干成像系统模型的基础上，推导了像质评价函数(图像功率谱密度低频空间的积分的倒数)与模式系数之间的关系，通过引入N+1次偏置，采集N+2幅图像计算像质评价函数，根据所推导的关系计算模式系数，并由变形镜产生共轭波前，达到校正像差，提高图像质量的目的。
一种基于模型无波前传感器自适应光学校正方法

[发明专利]一种自由曲面成像系统面形公差分析方法-CN201910978048.2有效
发明人：杨通;倪俊豪;程德文;王涌天 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2019-10-15 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：获取高斯基函数的中心位置、标准差和权重系数；根据生成的高斯基函数组计算当前面形误差分布，将当前面形误差分布进行线性缩放，缩放后的面形误差分布作为实际曲面面形误差分布矩阵；获得设定数量的实际曲面面形误差分布矩阵，选择合适的像质评价指标，根据面形误差进行蒙特卡罗分析，获得不同累积概率值下的像质评价指标的预测值，按需求选取设定累积概率之下的将像质评价指标的预测值作为分析量，对分析量进行分析以确定所给出的最大可接受公差值是否合理。
一种自由曲面成像系统公差分析方法

[实用新型]一种摄像头的检测装置-CN202022058689.7有效
发明人：廖广毅;李巧 -专利权人：东莞市宇瞳光学科技股份有限公司
申请日： 2020-09-18 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：其中摄像头的检测装置用于检测待检测产品的像质，其包括固定底盘、水平转动组件、支架、竖直转动组件及芯片固定组件。本实用新型中能够检测待检测产品转动过程中的像质，还能检测待检测产品固定于某一位置时的像质。
一种摄像头检测装置

[发明专利]基于核鉴别局部切空间排列的雷达目标距离像识别方法-CN201610481502.X有效
发明人：于雪莲;李海翔;戴麒麟;曲学超;周云 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-06-24 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开了基于核鉴别局部切空间排列的雷达目标距离像识别方法，其包括以下步骤：获取若干已知其所属目标类别的训练距离像和待识别其所属目标类别的测试距离像；预处理获取的训练距离像和测试距离像；基于局部切空间重构误差最小化和类间散射最大化准则，得到从高维距离像空间到低维特征空间的映射矩阵V；提取训练距离像和测试距离像的特征：y＝VTk，其中，VT为映射矩阵V的转置，k为任意一个训练距离像或测试距离像的核向量；采用最近邻法比较测试距离像和训练距离像的特征，将每个待识别的测试距离像划归到离其最近的训练距离像所属的目标类别中。
距离像测试距离局部切空间雷达目标映射矩阵鉴别预处理低维特征空间误差最小化最大化准则目标类别最近邻法散射高维向量重构转置

[发明专利]一种星空图像处理方法-CN201310596390.9有效
发明人：王安国;佟帅;孙兴 -专利权人：中国人民解放军海军大连舰艇学院
申请日： 2013-11-20 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：一种星空图像处理方法，包括以下步骤：步骤一：星图预处理，包括暗场校正和平场校正；步骤二：噪声剔除，采用阈值处理的方法剔除天光背景噪声和CCD噪声；步骤三：星像分割，基于阈值处理后星空图像的灰度值分布特性，采用叉投影的方法来进行星像分割；步骤四：星像质心提取，采用重心定位法进行星像质心提取。
一种星空图像处理方法

[发明专利]半导体薄膜、半导体薄膜的制备方法和半导体元件-CN201310154043.0无效
发明人：井上一吉;宇都野太;本田克典 -专利权人：出光兴产株式会社
申请日： 2008-04-23 - 公布日： 2013-09-04 - 主分类号： C03C17/23 文献下载
摘要：将含有非晶质氧化物的非晶质氧化物薄膜暴露于用高频率激发含有氧的气体而产生的氧等离子体中。氧等离子体的产生条件优选外加频率数为1kHz以上300MHz以下、压力为5Pa以上。另外，优选利用溅射法、离子镀法、真空蒸镀法、溶胶凝胶法、微粒涂布法的任一者暴露非晶质氧化物薄膜。
半导体薄膜制备方法元件

[发明专利]半导体薄膜、半导体薄膜的制备方法和半导体元件-CN200880015165.9无效
发明人：井上一吉;宇都野太;本田克典 -专利权人：出光兴产株式会社
申请日： 2008-04-23 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： C01B13/14 文献下载
摘要：将含有非晶质氧化物的非晶质氧化物薄膜暴露于用高频率激发含有氧的气体而产生的氧等离子体中。氧等离子体的产生条件优选外加频率数为1kHz以上300MHz以下、压力为5Pa以上。另外，优选利用溅射法、离子镀法、真空蒸镀法、溶胶凝胶法、微粒涂布法的任一者暴露非晶质氧化物薄膜。
半导体薄膜制备方法元件

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