专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基准标记确定装置、基准标记确定方法-CN201980090419.1有效
  • 铃木干也;小谷一也;横井勇太 - 株式会社富士
  • 2019-02-19 - 2022-10-14 - H05K13/08
  • 本公开的课题在于良好地进行基准标记的确定。在本基准标记确定装置中,基于形成部数据中的各形成部数据和标记数据,来变更暂定搜索区域而设定正式搜索区域,其中形成部数据是与位于被暂定地设定在电路基板上的暂定搜索区域的内部的一个以上形成部中的各形成部相关的数据,标记数据是与基准标记相关的数据即,并判定位于所设定的正式搜索区域的内部的一个以上形成部中的各形成部是否为基准标记。其结果是,基准标记的确定能够比基于暂定搜索区域的情况更良好地进行。
  • 基准标记确定装置方法
  • [发明专利]带隙基准电路及带隙基准芯片-CN202211145171.4有效
  • 丁光彩 - 北京聚思芯半导体技术有限公司
  • 2022-09-20 - 2023-06-13 - G05F1/567
  • 本公开涉及一种带隙基准电路及带隙基准芯片。带隙基准电路包括:电源、嵌位电路、第一晶体管、第二晶体管、等效电阻电路和基准电压输出电路;嵌位电路的输入端与电源相连,嵌位电路的输出端分别与所述第一晶体管和第二晶体管相连,用于控制第一晶体管的输入端和第二晶体管的输入端处于虚短路状态;等效电阻电路与第二晶体管的输出端相连,用于为等效电阻电路中的第一目标晶体管和第二目标晶体管提供电流,其中,等效电阻电路中的第一目标晶体管和第二目标晶体管工作在线性区;基准电压输出电路与等效电阻电路相连,用于根据等效电阻电路的电压生成基准电压。如此,可以有效减小电阻面积,进而减小带隙基准电路的面积,节约成本。
  • 基准电路芯片
  • [发明专利]基准电压生成电路和基准电流生成电路-CN200610059712.6无效
  • 小林一行;铃木达也;金田安弘 - 三洋电机株式会社
  • 2006-03-03 - 2006-09-13 - G05F3/10
  • 在作为半导体集成电路而构成的基准电流生成电路中要得到微小的输出电流的情况下,使决定输出电流的基准电阻的面积增大。通过用由(R1、R2)构成的电阻分压电路来分配调节器(14)的输出电压,从而产生微小的基准电流。电阻分压电路可用由晶体管(Q3)构成的开关断路构成。在(R1、R2)的连接点(P)和基准电压输出端之间设置由晶体管(Q4)构成的开关,另外,将电容器(C)连接到该输出端。用控制电路(16)输出的时钟脉冲来周期性接通·截断控制(Q3、Q4)。(C)在接通时充电为基准电压,在截断时将输出端保持为基准电压。
  • 基准电压生成电路电流
  • [实用新型]带隙基准电压稳定的基准源电路-CN202123399920.X有效
  • 漆星宇;刘焕双;高金潇;王赛;李肖飞;刘树钰;郑宗源;张明;王新安 - 江苏润石科技有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-05-10 - G05F1/56
  • 本实用新型涉及一种带隙基准电压稳定的基准源电路。其包括带隙基准源以及运算放大器,运算放大器包括第一放大级以及第二放大级,第一放大级包括两个呈并联分布的放大校正部,所述放大校正部包括一电压放大单元以及用于对所述电压放大单元的失调电压校正与存储的失调电压校正单元一放大校正部配置处于放大工作状态时,另一放大校正部同时被配置处于校正工作状态,且仅处于放大工作状态的放大校正部适配电连接至第二放大级相应的差分输入端;本实用新型通过动态校正,消除运算放大器放大器的失调电压,提高基准源电路输出带隙基准电压温度特性的长期稳定性
  • 基准电压稳定电路
  • [发明专利]一种水质评价方法、系统、电子设备及存储介质-CN202310932674.4在审
  • 于海龙 - 于海龙
  • 2023-07-26 - 2023-10-24 - G06Q10/0637
  • 本发明公开一种水质评价方法、系统、电子设备及存储介质,涉及水质评价领域,方法包括:获取待测水功能区域的水质因子浓度;根据水质因子浓度,确定水质评价指标;根据水质评价指标的浓度,利用VBA逻辑判断函数,确定水质评价指标的水质类别;所述评价指标的水质类别包括第一评价指标的水质类别和第二评价指标的水质类别;根据水质评价指标的水质类别,判断水质评价指标是否超标;若水质评价指标超标,则根据水质评价指标的浓度,确定超标倍数;根据超标倍数和待测水功能区域的水质类别确定待测水功能区域的治理方案本发明提高了水质评价的效率。
  • 一种水质评价方法系统电子设备存储介质
  • [发明专利]一种水质等级评价方法、装置及介质-CN202210653644.5在审
  • 宫玉琳;胡命嘉;刘云清;陈晓娟 - 长春理工大学
  • 2022-06-10 - 2022-08-30 - G06Q10/06
  • 本申请公开了一种水质等级评价方法、装置及介质,涉及水质等级评价领域。获取水质的样本集合;根据样本集合确定各水质评价因子的平均权重,并根据平均权重筛选出目标水质评价因子以确定目标水质评价因子组合;根据目标水质评价因子组合筛选每个样本中的目标水质评价因子对应的目标水质参数以得到目标样本集合;确定目标样本集合中每个目标样本的目标水质参数与水质等级之间的映射关系,在映射关系的基础上配置相关向量机以构建水质等级评价模型,以便根据水质等级评价模型确定水质水质等级。通过筛选出对水质等级评价贡献大的水质评价因子构建水质等级评价模型,降低水质评价模型的复杂度,提高水质等级评价的效率。
  • 一种水质等级评价方法装置介质
  • [发明专利]基于同位素的水质溯源监测方法及相关装置-CN202310240408.5在审
  • 王杰;刘占涛;朱永剑 - 恒天益科技(深圳)有限公司
  • 2023-03-14 - 2023-05-30 - G06Q10/0639
  • 本发明涉及水质监测领域,公开了一种基于同位素的水质溯源监测方法及相关装置,用于提高水质溯源监测的准确率。方法包括:对历史水质要素数据进行同位素组成和相对含量分析,得到历史水质同位素数据,并对历史水质质量数据进行聚类分析,确定多个水质类别;基于多个水质类别,对历史水质要素数据进行参数映射,得到标准水质评价参数;将标准水质评价参数及历史水质同位素数据输入预置的训练模型进行迭代训练,得到水质质量监测模型;获取待检测水体的目标水质要素数据,并将目标水质要素数据输入水质质量监测模型进行水质质量分析,得到目标水质分析结果
  • 基于同位素水质溯源监测方法相关装置
  • [发明专利]水质检测方法和水质检测系统-CN202111402386.5在审
  • 王萍;李晖;谢国莉;耿慧慧;佟昊鹏;赵佳星 - 北京电子科技职业学院
  • 2021-11-19 - 2022-03-01 - G01N33/18
  • 本发明属于涉及水质检测技术领域,尤其涉及一种水质检测方法和水质检测系统。本发明的水质检测方法包括:本发明提供了一种水质检测方法,包括以下步骤:获取便携式水质检测笔发送的水质检测信息和水质检测数据;根据所述水质检测信息获取对应的水质评价信息;根据所述水质评价信息对所述水质检测数据进行分析得到水质分析结果;根据水质检测信息和/或水质分析结果产生相应的建议和/或者推荐信息。本发明还包括用于执行上述方法的水质检测系统。本发明可以使用户方便获知水质的好坏并为用户提供合理的建议。
  • 水质检测方法系统

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