专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]在片S参数共面波导TRL校准-CN201510464446.4有效
  • 徐鹏;刘晨;张立森;邢东 - 中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 2015-07-31 - 2018-04-17 - G01R35/00
  • 本发明公开了一种在片S参数共面波导TRL校准,涉及太赫兹在片S参数测试装置技术领域。所述校准包括衬底层,所述衬底层的制作材料与被测的衬底材料相同,所述衬底层的上表面设有直通标准、反射标准和传输线标准,所述衬底的下表面覆盖有金属层,所述直通标准、反射标准和传输线标准的地线分别通过贯穿于衬底层的通孔与金属层连接,所述直通标准、反射标准和传输线标准的地线的探针终点处设有对标标记。校准校准精度更高,操作更简单,并且避免了去嵌入带来的误差,能够更准确的表征器件特性。
  • 参数波导trl校准
  • [实用新型]在片S参数共面波导TRL校准-CN201520570171.8有效
  • 徐鹏;刘晨;张立森;邢东 - 中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 2015-07-31 - 2015-12-02 - G01R35/00
  • 本实用新型公开了一种在片S参数共面波导TRL校准,涉及太赫兹在片S参数测试装置技术领域。所述校准包括衬底层,所述衬底层的制作材料与被测的衬底材料相同,所述衬底层的上表面设有直通标准、反射标准和传输线标准,所述衬底的下表面覆盖有金属层,所述直通标准、反射标准和传输线标准的地线分别通过贯穿于衬底层的通孔与金属层连接,所述直通标准、反射标准和传输线标准的地线的探针终点处设有对标标记。校准校准精度更高,操作更简单,并且避免了去嵌入带来的误差,能够更准确的表征器件特性。
  • 参数波导trl校准
  • [发明专利]组合窗帘-CN201611047998.6在审
  • 曾裕城 - 曾裕城
  • 2016-11-23 - 2017-03-29 - A47H23/02
  • 本发明公开了一种组合窗帘,包括帘身和帘头,所述帘头固定在帘身外侧,所述帘身包括多个矩形的帘身标准,帘身标准通过可拆卸卡合与四周相邻的帘身标准拼接;所述帘头包括多个帘头标准,帘头标准水平两侧通过可拆卸卡合与相邻的帘头标准拼接本发明通过设置具有多个矩形帘身标准的帘身和具有多个帘头标准的帘头,通过生产多个标准,可以组合任意客户想要的产品,降低了客户定制产品后取得成品的时间,避免了生产质量的不稳定。
  • 组合窗帘
  • [发明专利]一种冷链集装器标准及模块化冷链集装器-CN201910054764.1有效
  • 张银龙;朱丹;张琨;张浩;殷勤;史明红;邱绍峰;周明翔;罗小华;陈潇 - 中铁第四勘察设计院集团有限公司
  • 2019-01-21 - 2020-12-15 - B65D88/74
  • 本发明公开了一种冷链集装器标准及模块化冷链集装器,冷链集装器标准为箱式结构,箱体内壁设置有制冷系统、外壁设置有与制冷系统具有通信连接的状态显示系统;标准的顶部、两个侧面及底部设置有用于标准之间进行组合的拼装接口;基于冷链集装器标准的模块化冷链集装器,包括供电单元、供电总线、一个或多个冷链集装器标准;各冷链集装器标准间通过设置在标准顶部、两侧及底部的拼装接口紧固连接;供电单元通过供电总线与具有供电功能的拼装接口连接;各标准共用同一电源,通过互为备用的供电接口保证任意一个标准的损坏不影响其他冷链集装器标准的供电;通过本发明提供的模块化冷链集装器实现了冷链货物精细化制冷管理。
  • 一种集装标准件模块化
  • [发明专利]一种残余应力检测方法-CN201711393070.8有效
  • 廖志强;来柯 - 重庆市铜梁区华亿来铝材加工厂
  • 2017-12-21 - 2020-11-03 - G01L5/00
  • 本发明公开了一种残余应力检测方法,包括以下步骤;S1、将三块经过热处理的金属材料分别处理,第一块不经过任何后续处理得到标准A,第二块经过人工时效和机械拉伸后得到标准B;第三块经过某种残余应力消除法后得到标准C;S2、对标准A、标准B和标准C进行表面变形检测,分别测得标准A、标准B和标准C的表面变形量D、E、F;S3、通过公式1计算经过某种残余应力消除法处理后表面残余应力比值;公式1:Z=F/(本发明通过设置没有经过任何残余应力消除处理的标准A和残余应力消除掉的B作为标准,从而可以更准确的计算出新的残余应力消除方案能够消除的残余应力比值。
  • 一种残余应力检测方法

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