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[发明专利]光记录介质用物镜的检查方法-CN201010105914.6无效
发明人：胜间敏明 -专利权人：富士能株式会社
申请日： 2010-01-25 - 公布日： 2010-09-22 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供一种光记录介质用物镜的检查方法，该光记录介质用物镜的检查方法在设计温度和检查温度不同时，更加公正地辨别物镜的好坏。该检查方法检查将第1温度作为设计温度而设计出的塑料制的光记录介质用物镜，包括：第1工序，求出在与第1温度不同的第2温度中的物镜的形状及折射率；第2工序，决定计算用平行平板的厚度，以便由具有在第2温度中的形状及折射率的物镜和与检查用平行平板相同的材质且具有在第2温度中的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小；第3工序，利用与在第2工序中决定的计算用平行平板的厚度相同的厚度的检查用平行平板，在第2温度中检查根据设计所制作的物镜。
记录介质物镜检查方法

[发明专利]金属比率检查方法、电加热式催化器的制造方法及蜂窝结构体的制造方法-CN202310234178.1在审
发明人：横井里奈;野吕贵志;佐藤隆道 -专利权人：日本碍子株式会社
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明提供能够更容易地检查喷镀复合材料的金属比率的金属比率检查方法、电加热式催化器的制造方法及蜂窝结构体的制造方法。金属比率检查方法是用于检查包含金属及陶瓷的喷镀复合材料的金属比率的金属比率检查方法，其包括：在对喷镀复合材料照射拍摄光的状态下对喷镀复合材料进行拍摄的拍摄工序(步骤S11)、基于拍摄工序中得到的喷镀复合材料的图像的亮度分布来推定喷镀复合材料的金属比率的推定工序
金属比率检查方法加热催化制造蜂窝结构

[发明专利]半导体器件的检查方法、制造方法以及检查用夹具-CN201310070252.7无效
发明人：山下大辅;柴田浩延;江崎朗 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2013-03-06 - 公布日： 2013-09-25 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：实施方式涉及的半导体器件的检查方法具有：在形成有半导体器件并在表面贴合了支撑衬底的半导体衬底的背面贴合检查用夹具的工序，该检查用夹具具备比上述半导体衬底大且在中心部形成有比上述半导体衬底小的开口的片以及保持上述片的外周部的保持架；剥离贴合到上述半导体衬底的表面的支撑衬底的工序；以及检查上述半导体器件的电气特性的工序。
半导体器件检查方法制造以及夹具

[实用新型]一种国标检查镜头CS接口投影治具-CN201920124154.X有效
发明人：张勇;吴沛林;谢胜;张能义 -专利权人：广州长步道光电科技有限公司
申请日： 2019-01-24 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G03B21/14 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种国标检查镜头CS接口投影治具，涉及CS接口，主要为了解决现有CS接口生产过程需要进行单工序全检装置的过程；该国标检查镜头CS接口投影治具，包括螺纹通规和投影底座，所述螺纹通规和投影底座通过UV胶水进行粘合，取消产线对镜头CS口独立的全检工序，从而优化了此投影治具，使镜头CS口检查工序直接合并到投影检查阶段。
投影治具镜头螺纹国标全检通规底座本实用新型检查工序生产过程投影检查检查单工序粘合产线合并优化

[发明专利]焊接区的检查方法-CN201510090004.8有效
发明人：川喜田笃史;小仓修平;岸弘朗;岩本雄太 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2015-02-27 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明涉及精度良好地特定照射检查用激光时的来自熔融部的放出光，由此能够进行可靠性更高的检查的焊接区的检查方法。在从照射焊接用激光(L1)的第1照射工序(S21)向照射检查用激光(L5)的第2照射工序(S23)转移时，在中断焊接用激光(L1)的照射之后，从焊接用激光(L1)切换成检查用激光(L5)，在检查焊接区的检查工序(S25)中，从放出光(L2、L6)的强度的波形抽取放出光的强度为恒定的阈值以下的两个时间点作为检查开始时刻(A)和检查结束时刻(B)，将从检查开始时刻(A)到检查结束时刻(B)推定为照射了检查用激光(L5)的照射期间，基于照射期间中的放出光的强度的波形进行焊接状态的检查。
焊接检查方法

[发明专利]基因染色体检查管理系统、检查管理服务器、客户终端、基因染色体检查管理方法以及程序-CN201580010503.X在审
发明人：北川祐介;杉原了一 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2015-02-24 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G06Q50/22 文献下载
摘要：本发明提供一种能够在不影响检查精确度的范围内可靠地完成检查或者能够确保检查精确度或掌握检查精确度的基因染色体检查管理系统、检查管理服务器、客户终端、基因染色体检查管理方法以及程序。在对来源于胎儿的有核红细胞所含的染色体的异常进行检查的基因染色体检查中使用的基因染色体检查管理系统(10)具备：识别信息获取部(14)，其获取母体的识别信息；采血日期时间确定部(16)，其确定采血日期时间；存储部(20)，其将母体的识别信息和采血日期时间的信息建立关联来进行存储；检查进展检测部(24)，其对至少完成确定为不受脱核的影响的工序的前一特定工序为止的检查的进展状况进行检测；以及管理部(26)，其根据所检测的进展状况对至少完成特定工序为止的检查的进展进行管理。
基因染色体检查管理系统服务器客户终端方法以及程序

[发明专利]硅晶片及其制造方法-CN201080013892.9有效
发明人：小野敏昭;木原誉之;星野由美 -专利权人：胜高股份有限公司
申请日： 2010-03-24 - 公布日： 2012-02-22 - 主分类号： C30B33/02 文献下载
摘要：本发明的硅晶片的制造方法具备对硅晶片进行表面处理的晶片准备工序、设定在晶片上施加的应力的应力设定工序、检查晶片面上存在的伤痕的检查工序、以及判断晶片是否满足基准的判定工序，能够制造即使是利用FLA退火处理进行毫秒退火也能耐受开裂的晶片
晶片及其制造方法

[发明专利]缺陷检查系统以及缺陷检查方法-CN202211080646.6在审
发明人：佐野裕子;石川昌义;新藤博之 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2022-09-05 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供缺陷检查系统、缺陷检查方法，能吸收拍摄条件不同所引起的检查图像的差，或具有各检查工序中能共同使用的过滤模型，能进行高效率的检查。缺陷检查系统(100)具有：缺陷检测部(104)，比较检查图像(4)和不具有缺陷的图像即参照图像来检测检查图像内缺陷位置；过滤模型，将检测的缺陷位置分类为虚报或指定的缺陷种类；过滤条件保持部(106)，保持过滤条件；缺陷区域提取部，在每个预定的距离内将缺陷检测部(104)检测的缺陷位置汇总；缺陷过滤部(105)，按每个缺陷区域判定是否符合过滤条件，仅提取符合的缺陷区域；标准化部(101)，基于检查时的加工工序和按每个加工工序或每个拍摄条件设定的标准化条件对检查图像
缺陷检查系统以及方法

[发明专利]一种检查井与城市道路路面顺接施工的监测方法、系统、终端以及存储介质-CN202210733325.5在审
发明人：方贺帅;华燕芬;陈智勇;赵维锋 -专利权人：诚通凯胜生态建设有限公司
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本申请涉及一种检查井与城市道路路面顺接施工的监测方法、系统、终端以及存储介质，涉及施工监测的技术领域，解决了存在部分工序施工达不到预期要求的情况，一旦出现这个情况，容易导致整体检查井与城市道路路面顺接施工达不到要求的问题，其方法包括：获取检查井与城市道路路面顺接施工工艺不同工序施工的时间节点；根据不同工序施工完成的时间节点，定时识别获取相应施工工序完成的现场图像信息；分析获取相应施工工序的现场图像信息所涉及的特征信息；将所分析获取的特征信息与预设工序完成的特征信息作比对。本申请具有如下效果：更好的保障检查井与城市道路路面顺接施工工艺不同工序按照要求实施。
一种检查井城市道路路面施工监测方法系统终端以及存储介质

[发明专利]一种生产线的维护方法及其系统、触控一体机-CN201811512285.1在审
发明人：刘岗;薛兴平;王兵;张斌 -专利权人：米亚索乐装备集成（福建）有限公司
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2019-05-28 - 主分类号： G06Q10/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种生产线的维护方法及其系统、触控一体机，涉及电池产线维护的技术领域，包括：根据项目中的多个环节，确定项目所对应的项目流程图以及每个环节对应的工序检查表，工序检查表用于供工作人员填写；根据工序检查表的填写情况和项目流程图本发明能够有助于现场人员了解工序流程还可以了解项目进度，节省人力，有效的避免了工序流程出错的情况。
工序检查触控一体机工序流程项目进度维护产线出错环节电池

[发明专利]晶圆检查方法及晶圆检查装置-CN201680052394.2有效
发明人：长田达弥;江头雅彦;内野智胜 -专利权人：胜高股份有限公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种能够检查晶圆表面上有无凹坑的晶圆检查方法。本发明的晶圆检查方法的特征在于，包括：使用第1光学系统（10）选出晶圆（1）的缺陷的工序；从所述已选出的缺陷选定凹坑候选的工序；及使用第2光学系统（20），将所述凹坑候选分类为凹坑及凹坑以外的缺陷的工序
检查方法装置

[发明专利]高压容器的检查方法及检查装置-CN202210116680.8在审
发明人：中西胜;辰岛宏亮;青木文宏 -专利权人：本田技研工业株式会社
申请日： 2022-02-07 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种在纤维束的卷绕中不接触收敛部的碳纤维就能够评价卷绕于收敛部的加强层的形状的高压容器的检查方法及检查装置。高压容器的检查方法包括拍摄工序、取得工序及判定工序。在拍摄工序中，向内衬的外周面中的卷绕于收敛部的碳纤维的外表面照射光并拍摄碳纤维。在取得工序中，通过拍摄来取得因光相对于碳纤维的外表面的反射而得到的浓度信息。在判定工序中，将由取得工序得到的浓度信息与预先设定的浓度信息进行比较来判定收敛部的加强层的形状的良好与否。
高压容器检查方法装置

[发明专利]检查方法和检查系统-CN201210576496.8在审
发明人：切明健志;吉田清;三浦聪纪;木村爱佳;水田政智 -专利权人：日产自动车株式会社;汽车能源供应公司
申请日： 2012-12-26 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G01N27/00 文献下载
摘要：本发明涉及检查方法和检查系统，能够对层叠膜中的未贯通层叠膜的缺陷进行检查，该层叠膜是通过在金属层的两面层叠绝缘层而形成的。检查方法是对层叠膜的缺陷进行检查的检查方法，该层叠膜是通过在金属层的两面上层叠绝缘层而形成的，该检查方法包括电压施加步骤工序和检测步骤工序。在电压施加步骤工序中，一边向层叠膜的表面提供导电性液体，一边在对第一电极与第二电极之间施加电压，该第一电极与被提供该液体的层叠膜的表面相接触，该第二电极与从层叠膜的端部暴露的金属层的端部相接触。在检测步骤工序中，对被施加电压的第一与第二电极之间的通电状态进行检测。
检查方法系统

[发明专利]缺陷检测方法以及缺陷检测装置-CN201810601368.1有效
发明人：畠堀贵秀;长田侑也;田窪健二 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明提供能够容易地测量缺陷的深度的缺陷检测方法，其包括：位移统括测定工序，一边在被检查物体的整个检查区域内激发第1弹性波，一边对该检查区域内的该被检查物体的整个表面进行频闪照明，并控制弹性波的相位和频闪照明的时刻，由此，在该弹性波的互不相同的至少3个相位下统括测定检查区域的各点的前后方向的位移；缺陷位置确定工序，根据该至少3个相位下的检查区域的各点的前后方向的位移来确定缺陷在该检查区域的表面上的位置即表面位置；和深度方向信息获取工序，从抵接在包含用缺陷位置确定工序确定的表面位置的所述表面的限定区域内的探头朝表面位置的内部投射第2弹性波，根据其响应波来求该缺陷的深度方向的位置及/或大小。
缺陷检测方法以及装置

[发明专利]基板检查系统-CN200610153412.4有效
发明人：南方拓;藤井良树 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2006-09-14 - 公布日： 2007-03-21 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：提供一种基板检查系统，其在执行检查的工序被限定时，也能容易的判别在元件安装基板上品质下降的部位及其品质下降的原因。由设置在最后的回流焊工序中的检查装置(1)、分别设置在其前两个工序中的图像获取装置(2A、2B)、图像显示装置(3)构成网络系统。在检查装置中，对每个元件求出在检查规定数的基板期间所得到的计测值相对判定基准值的安全裕度，并将该安全裕度小的元件的元件代码发送到其他装置(2A、2B、3)。在图像获取装置中，将来自检查装置的元件代码所对应的图像存储在存储器中。在图像显示装置中，针对元件代码所对应的元件，从检查装置及图像获取装置接收图像的发送，并按照每个相同基板及相同元件显示各工序的图像。
检查系统