专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件-CN200510052775.4无效
  • 新井高雄 - 恩益禧电子股份有限公司
  • 2005-03-14 - 2005-09-14 - G05F3/16
  • 一种半导体器件,包括输出晶体、并联连接到输出晶体检测晶体、与检测晶体串联连接的检测电阻、以及过电流保护晶体,该输出晶体用于控制流过第一端和第二端之间的电流,该检测电阻用于检测流过检测晶体的电流作为检测电压并且其阻值被设置为与第一端和第二端之间的电位差成正比,该过电流保护晶体用于根据检测电压的增加来降低输出晶体检测晶体的导通电流。
  • 半导体器件
  • [发明专利]功率器件及电池管理系统-CN202110548079.1在审
  • 周号 - 珠海迈巨微电子有限责任公司
  • 2021-05-19 - 2021-07-27 - H02J7/00
  • 本公开提供一种功率器件,功率器件用于检测电池组的充电电流和放电电流,功率器件包括:放电控制晶体和充电控制晶体,放电控制晶体和充电控制晶体串联构成控制串联电路,并且串联电路连接在电池组侧与负载/充电器侧之间的电流回路中;充电检测晶体,充电检测晶体的漏极与充电控制晶体的漏极连接,充电检测晶体的源极作为充电电流检测端;放电检测晶体,放电检测晶体的漏极与放电控制晶体的漏极连接,放电检测晶体的源极作为放电电流检测
  • 功率器件电池管理系统
  • [实用新型]功率器件及电池管理系统-CN202121075586.X有效
  • 周号 - 珠海迈巨微电子有限责任公司
  • 2021-05-19 - 2021-11-05 - H02J7/00
  • 本公开提供一种功率器件,功率器件用于检测电池组的充电电流和放电电流,功率器件包括:放电控制晶体和充电控制晶体,放电控制晶体和充电控制晶体串联构成控制串联电路,并且串联电路连接在电池组侧与负载/充电器侧之间的电流回路中;充电检测晶体,充电检测晶体的漏极与充电控制晶体的漏极连接,充电检测晶体的源极作为充电电流检测端;放电检测晶体,放电检测晶体的漏极与放电控制晶体的漏极连接,放电检测晶体的源极作为放电电流检测
  • 功率器件电池管理系统
  • [发明专利]一种晶体加工用性能检测装置-CN201610234807.0在审
  • 达令;项钰 - 安庆市晶科电子有限公司
  • 2016-04-15 - 2016-07-27 - B07C5/344
  • 本发明公开了一种晶体加工用性能检测装置,振动盘将晶体排列整齐后送入进料槽的进料通道内,晶体在进料槽的进料通道内进料,通过第一限位机构和第二限位机构,保证所述进料通道的检测段内晶体进料稳定,检测机构对检测段内的晶体进行检测本发明提出的晶体加工用性能检测装置,结构设计合理,通过在进料通道一侧设置检测机构,能够连续对晶体进行精确检测,并且第一限位机构和第二限位机构对晶体进料速度进行控制,保证晶体进料稳定,使得每次仅有一个晶体位于检测工位,从而大大提高检测效率和检测精度。
  • 一种晶体管工用性能检测装置
  • [实用新型]一种晶体加工用性能检测装置-CN201620317532.2有效
  • 达令;项钰 - 安庆市晶科电子有限公司
  • 2016-04-15 - 2016-11-23 - B07C5/344
  • 本实用新型公开了一种晶体加工用性能检测装置,振动盘将晶体排列整齐后送入进料槽的进料通道内,晶体在进料槽的进料通道内进料,通过第一限位机构和第二限位机构,保证所述进料通道的检测段内晶体进料稳定,检测机构对检测段内的晶体进行检测本实用新型提出的晶体加工用性能检测装置,结构设计合理,通过在进料通道一侧设置检测机构,能够连续对晶体进行精确检测,并且第一限位机构和第二限位机构对晶体进料速度进行控制,保证晶体进料稳定,使得每次仅有一个晶体位于检测工位,从而大大提高检测效率和检测精度。
  • 一种晶体管工用性能检测装置
  • [发明专利]一种功率模块和电机控制器-CN202111346303.5在审
  • 陈润;廖光朝;张小兵 - 深圳云潼科技有限公司
  • 2021-11-15 - 2022-02-25 - H02M7/5387
  • 本发明实施例提供一种功率模块和电机控制器,功率模块包括:第一晶体、第二晶体、第三晶体、第四晶体、第五晶体、第六晶体和串联连接的至少两个温度检测单元;第一晶体的控制极接入第一控制信号,第一晶体的第一极与第二晶体的第一极和第三晶体的第一级电连接,第一晶体的第二极与第四晶体的第一极电连接;至少一个所述温度检测单元被所述第一晶体、所述第二晶体、所述第四晶体和所述第五晶体包围,至少一个所述温度检测单元被所述第二晶体、所述第三晶体、所述第五晶体和所述第六晶体包围本实施例提供的功率模块和电机控制器,可以更精确的检测功率模块内部的温度。
  • 一种功率模块电机控制器
  • [发明专利]半导体器件-CN201910772178.0在审
  • 吉村直弘;相马治 - 瑞萨电子株式会社
  • 2019-08-21 - 2020-03-27 - H03K17/081
  • 功率控制器件可靠地断开故障输出晶体的电流路径。具体地,功率控制器件包括输出晶体、输出端子、将输出晶体连接到输出端子的键合导线、控制输出晶体的输出的输出晶体驱动电路以及检测输出晶体的故障的故障检测电路。当故障检测电路检测到输出晶体的故障并输出故障检测信号时,输出晶体驱动电路控制输出晶体的输出,使得与未检测到故障时相比,更大的电流流过键合导线。
  • 半导体器件
  • [发明专利]一种BUCK电路检测方法、装置、电子设备及介质-CN202111553020.8在审
  • 蔡文波;康磊 - 浪潮商用机器有限公司
  • 2021-12-17 - 2022-03-25 - G01R31/28
  • 本申请公开了一种BUCK电路检测方法、装置、电子设备及介质,涉及电路检测领域。该方法应用于BUCK电路检测装置,该BUCK电路检测装置包括晶体检测控制单元和系统管理芯片;晶体与低边晶体、电感器、负载构成回路;检测控制单元与晶体连接,用于在晶体两端施加电流,并检测其两端电压;系统管理芯片与检测控制单元连接,用于控制检测控制单元在晶体两端施加电流和控制检测控制单元检测晶体两端电压,若该电压为0,则确定低边晶体短路。该BUCK电路检测装置通过检测晶体两端电压是否为0,能够准确识别出低边晶体是否短路,有效降低了因高边晶体导通、低边晶体短路导致烧毁主板的风险。
  • 一种buck电路检测方法装置电子设备介质
  • [发明专利]过电流检测电路-CN200910170512.1无效
  • 中岛荣 - 恩益禧电子股份有限公司
  • 2009-09-04 - 2010-03-17 - G01R19/00
  • 本发明提供了一种过电流检测电路。根据本发明的示例性方面的过电流检测电路包括检测晶体、电势差设置单元、以及第一晶体,通过电势差设置单元控制其电流值。此外,电势差设置单元包括第一耗尽型晶体,电源电压被施加于第一耗尽型晶体的漏极,并且第一耗尽型晶体的栅极和源极被连接至第一晶体的栅极;第二晶体,第二晶体的漏极和栅极被连接至第一晶体的栅极;以及第二耗尽型晶体,其被提供在第一晶体和第二晶体的源极之间的电流路径上,第二耗尽型晶体的栅极和漏极被连接至检测晶体的源极。
  • 电流检测电路
  • [发明专利]检测电路-CN201610041474.X有效
  • 杉浦正一;五十岚敦史 - 艾普凌科有限公司
  • 2016-01-21 - 2019-11-08 - G01R31/02
  • 检测电路,避免了检测电路在电源刚刚起动后的误检测。作为解决手段,检测电路具有:设于电压输入端子与电压输出端子之间的输出晶体、以及对与电压输出端子连接的负载的开路进行检测的负载开路检测电路,负载开路检测电路的输出电路具有第1晶体和第2晶体串联连接的结构,该第1晶体与输出晶体共栅连接,该第2晶体的栅极被输入表示检测出负载开路的信号,第1晶体构成为在输出晶体截止时截止。
  • 检测电路
  • [发明专利]电压缓冲器-CN201210100635.X有效
  • 高小文 - 联咏科技股份有限公司
  • 2012-04-09 - 2013-10-23 - G05F1/56
  • 本发明提供一种电压缓冲器,其包括第一、第二、第三晶体以及电压检测器。第一晶体的第一端耦接第一参考电压。第二晶体的第一端耦接第一晶体的第二端,第二晶体的控制端耦接一输入电压,第二晶体的第二端耦接输出电压。第三晶体的第一端耦接第二晶体的第二端,第三晶体的第二端耦接第二参考电压。电压检测器通过检测第一晶体的第二端上的电压来产生检测结果,并输出检测结果至第二晶体的基底端。
  • 电压缓冲器

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