专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术-CN201510227560.5有效
  • 苏静;裴世鑫;王迪;桑琳;郝蒙萌;张黎 - 南京信息工程大学
  • 2015-05-06 - 2019-04-16 - G01N21/84
  • 本发明涉及一种确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术,使用微型溶液晶体生长装置来确定溶液晶体生长溶解度曲线,包括晶体生长槽和生长槽温度控制器,晶体生长槽上设有进气孔、出气孔和补料孔,首先在室温下量取适量晶体生长溶液,加入到微型溶液晶体生长装置的晶体生长槽中;称取晶体,从补料孔加入到晶体生长槽中;待晶体充分溶解,通过生长槽温度控制器缓慢的升高晶体生长槽内的温度,与此同时,通过显微镜观察晶体生长槽内晶体溶解情况。本发明的确定溶液晶体生长溶解度曲线的光学显微技术结合了晶体生长装置和显微技术,操作简单,易于观察,精度高,适用于多数无机、有机以及有机‑无机杂合溶液晶体的测定。
  • 一种确定溶液晶体生长溶解度曲线光学显微技术
  • [发明专利]晶体生长炉冷却方法及系统、晶片-CN202310074549.4在审
  • 请求不公布姓名;请求不公布姓名;马新成 - 三一硅能(株洲)有限公司
  • 2023-01-16 - 2023-05-02 - C30B15/00
  • 本发明涉及半导体制造技术领域,提供一种晶体生长炉冷却方法及系统、晶片,其中,晶体生长炉冷却方法包括:在晶体生长完成后,将晶体生长炉停炉;向晶体生长炉中加入用于冷却晶体生长炉的埚底料,埚底料是晶体生长后剩余的硅料如此,解决了现有技术中晶体生长炉冷却时长较长的问题,在晶体生长炉停炉后,将埚底料即回收的晶体生长剩余的硅料加入晶体生长炉中冷却晶体生长炉,由于硅料具有较高的导热系数和较大的比热容,可以使得晶体生长炉快速冷却,缩短了晶体生长炉的冷却时长,提高了冷却效率。埚底料是晶体生长所剩余的,可以就地取材,对埚底料二次利用,不需要额外的投入,可以重复使用,少投入高回报,大幅节约了成本,减少了资源浪费。
  • 晶体生长冷却方法系统晶片
  • [发明专利]反馈晶体生长状态的方法、晶体生长控制方法及控制系统-CN201710025411.X有效
  • 朱允中;王彪;林少鹏;马德才 - 中山大学
  • 2017-01-13 - 2019-05-07 - C30B15/22
  • 本发明涉及一种反馈晶体生长状态的方法,通过采集晶体生长过程中的晶体和熔体间的界面相电动势,获得实时变化的电信号,由所述实时变化的电信号反馈晶体生长状态。本发明还涉及一种晶体生长控制方法,通过采集晶体生长过程中的晶体和熔体间的界面相电动势,获得实时变化的电信号,根据所述实时变化的电信号调整晶体生长的条件参数,从而控制晶体生长。本发明还涉及一种晶体生长控制系统,包括晶体生长控制装置、生长信号采集单元和信号处理单元。通过本发明的方法可以精确反馈晶体生长的整体状态,克服判断滞后的缺陷,实时控制晶体生长工作。
  • 反馈晶体生长状态方法控制控制系统
  • [发明专利]晶体生长界面扰动的原位探测方法、控制方法及控制系统-CN201710025412.4有效
  • 朱允中;王彪;马德才;林少鹏 - 中山大学
  • 2017-01-13 - 2018-11-13 - C30B15/22
  • 本发明涉及一种晶体生长界面扰动的原位探测方法,通过采集晶体生长过程中的晶体和熔体间的界面相电动势,获得实时变化的电信号数据;根据所述电信号数据的波动规律获得晶体生长界面的扰动状态。本发明还涉及一种晶体生长界面扰动的控制方法,根据本发明获得的晶体生长界面的扰动状态调整晶体生长条件,以控制晶体生长界面扰动。本发明还涉及一种晶体生长界面扰动的控制系统,包括晶体生长界面扰动控制装置、生长信号采集单元和信号处理单元。通过本发明的方法可以实时反馈晶体生长界面状态,使现有手段难以探测到的微弱的界面扰动得以清晰展现,突破性地解决了提拉法晶体生长界面扰动检测的难题。
  • 晶体生长界面扰动原位探测方法控制控制系统
  • [发明专利]一种晶体生长用智能控制系统-CN202211358023.0在审
  • 罗毅;龚瑞 - 安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司
  • 2022-11-01 - 2023-01-17 - C30B15/20
  • 本发明公开了一种晶体生长用智能控制系统,涉及晶体生长技术领域,解决了现有技术无法对晶体生长过程进行精确控制,影响晶体生长质量和效率的技术问题;本发明中的中枢控制模块与数据采集模块和生长控制模块相连接;数据采集模块与若干类型数据传感器相连接,生长控制模块与晶体生长设备相连接;本发明获取晶体生长整个过程的视频数据,基于视频数据构建或者及时更新晶体生长模型;将晶体生长模型与构建的标准晶体模型进行比较,根据二者差异确定控制参数,通过生长控制模块对晶体生长设备进行控制;本发明通过晶体生长模型来实现监控,降低了成本和劳动强度;通过与标准晶体模型进行比较来确定晶体生长设备的调整幅度,实现高精度的自动化调节。
  • 一种晶体生长智能控制系统
  • [发明专利]一种晶体生长设备控制方法及系统-CN202310197639.2在审
  • 尚海波;周小勇;李强;臧洪波 - 扬州合晶科技有限公司
  • 2023-03-03 - 2023-06-02 - C30B15/20
  • 本申请涉及晶体制备设备技术领域,提供一种晶体生长设备控制方法及系统。通过根据晶体类型、晶体生长量、粉体配比,基于智能匹配分析模型进行热场参数匹配获得动态热场变化序列,进一步结合晶体类型、晶体生长量、粉体配比进行生长参数聚类,基于聚类结果划分晶体生长监控周期,根据晶体生长监控周期划分结果、动态热场变化序列结合各周期晶体生长实时状态,构建长晶参数优化空间,基于优化参数组合控制晶体生长设备。解决现有技术中存在对于晶体生长制备设备的控制精度不足,导致基于晶体生长设备生产所获晶体与实际制备需求不适配的技术问题,实现提高对于晶体生长制备设备的控制精度,提高生产所获晶体与实际制备需求的适配度的技术效果
  • 一种晶体生长设备控制方法系统
  • [实用新型]一种用于水平定向结晶法的晶体生长坩埚-CN202121031883.4有效
  • 田野;顾跃;丁雨憧;李和新;刘军 - 中国电子科技集团公司第二十六研究所
  • 2021-05-14 - 2021-12-24 - C30B11/00
  • 本实用新型公开了一种用于水平定向结晶法的晶体生长坩埚,包括坩埚本体,在坩埚本体上设有晶体生长槽和籽晶槽,籽晶槽与晶体生长槽连通,坩埚本体呈长方体结构,晶体生长槽和籽晶槽与所述坩埚本体外壁的距离不小于10mm,晶体生长槽整体由光滑的弧面构成,籽晶槽为长方体槽;通过设计晶体生长坩埚坩埚壁的厚度,解决生长过程中坩埚容易出现漏点和裂纹导致晶体生长失败的风险,还能使坩埚可以进行反复利用;并且通过坩埚晶体生长槽的设计解决坩埚晶体生长槽的折角处曲率半径小,导致此处晶体界面曲折率较大,容易引起晶体缺陷,如气泡、开裂、云层等问题,使用本实用新型晶体生长坩埚制备出来的晶体更为优质。
  • 一种用于水平定向结晶晶体生长坩埚
  • [实用新型]晶体生长-CN202123418391.3有效
  • 廖寄乔;李丙菊;彭浩波;李姚平;李军 - 湖南金博碳基材料研究院有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-07-05 - C30B23/00
  • 本实用新型提供了一种晶体生长炉,包括:炉体及多个晶体生长单元;晶体生长单元包括托盘、坩埚、加热装置及保温装置,托盘设于炉体内,坩埚设置在托盘上,加热装置围绕托盘设置,保温装置围绕加热装置的外侧设置;多个晶体生长单元分别独立地设置在炉体内该晶体生长炉内的多个晶体生长单元均配备有独立的热场,同时保证了各晶体生长单元内的热场均匀,有效减小了晶体生长单元的径向温度梯度,并且能够对每个晶体生长单元的温度实现更加精确地控制,可提高产品品质。在炉体内设置多个晶体生长单元,可实现单个生长单元长晶或多个生长单元同时长晶,也可采用不同尺寸的晶体生长单元,提高了单炉产量,同时保证了生产的灵活性。
  • 晶体生长

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