专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种荧光光源及荧光显微成像系统-CN201710199496.3在审
  • 王沛沛;郑贤良;金志樑;杨西斌;余冠成;熊大曦 - 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
  • 2017-03-29 - 2017-07-25 - F21K2/00
  • 本发明公开了一种荧光光源及荧光显微成像系统,荧光光源包括激光光源、荧光轮单元、反射/透射单元;所述激光光源包括用于提供激发光的一个或多个激光器;所述反射/透射单元对激发光反射而对发射光透射,或者对激发光透射而对发射光反射;所述激光光源发出的激发光经反射/透射单元反射或透射后进入所述荧光轮单元,激发光经所述荧光轮单元后产生的发射光经反射/透射单元透射或反射后进入后端的荧光显微成像模块,通过配置共聚焦成像、单分子荧光成像、结构光成像显微成像模块,实现用价格相对低廉的激光器代替原有显微光学系统原有激光器,在保持原系统性能的前提下,大幅降低系统成本。
  • 一种荧光光源显微成像系统
  • [发明专利]一种水环境中细菌原位显微成像检测装置及检测方法-CN201911311174.9在审
  • 杨顶田 - 中国科学院南海海洋研究所
  • 2019-12-18 - 2020-05-08 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种水环境中细菌原位显微成像检测装置,包括壳体、成像采集模块和荧光激发模块;荧光激发模块包括设置在壳体内的深紫外激光光源、伸出壳体外的激发光窗口、以及用于连接深紫外激光光源与激发光窗口的光纤;成像采集模块包括设置在壳体上的采集窗口、设置在壳体内的显微采集部和成像部。本发明同时还公开了一种水环境中细菌原位显微成像检测方法。本发明采用深紫外激光诱导荧光及光片技术,通过深紫外激光激发水体中细菌的内在荧光,并通过显微成像技术采集图像,分析水环境中细菌的种类和丰度,有效提高检测效率,且检测方便、快捷。
  • 一种水环境细菌原位显微成像检测装置方法
  • [发明专利]超分辨受激辐射损耗偏振荧光显微成像系统-CN202310451127.4在审
  • 袁景和 - 山东智创视景光电科技有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-09-12 - G01N21/64
  • 超分辨受激辐射损耗偏振荧光显微成像系统,它涉及偏振荧光显微成像技术领域,具体涉及一种超分辨受激辐射损耗偏振荧光显微成像系统。它按照光束传播方向依次设置有偏振照明系统、显微成像系统和偏振荧光探测系统;所述偏振照明系统包括激发光单元、受激辐射损耗光单元;偏振照明系统,用于产生偏振方向可调的线偏振激光和圆偏振的螺旋位相的受激辐射损耗光采用上述技术方案后,本发明有益效果为:实现不同偏振方向的荧光分子选择性激发;实现荧光分子的手性研究;采用圆偏振的损耗光,获得超分辨检测和成像;实现两偏振方向的超分辨荧光成像和荧光分子的各向异性测量。
  • 分辨辐射损耗偏振荧光显微成像系统
  • [实用新型]偏光显微摄影装置-CN202122504225.9有效
  • 崔利 - 崔利
  • 2021-10-18 - 2022-02-22 - G02B21/36
  • 本实用新型提供了一种偏光显微摄影装置,所述偏光显微摄影装置运用移动终端的摄像头实现显微放大成像,包括显微镜头、光源盒和调焦机构;所述显微镜头安装于所述移动终端的摄像头,所述显微镜头集成有检偏镜,所述检偏镜用于偏振光成像;所述光源盒设置在所述显微镜头下方,并通过反射光线为所述显微镜头照明,所述光源盒上还设置有起偏镜,所述起偏镜用于将所述光源盒反射的光转换成偏振光;所述调焦机构用于放置所述移动终端,并可调节所述移动终端的摄像头到被拍摄样品之间的距离进行调焦该偏光显微摄影装置携带方便,使用方式简单,具有较高放大率且成像清晰,并具有偏光观察和摄影功能。
  • 偏光显微摄影装置
  • [发明专利]一种扫描电子显微成像缺陷判定方法-CN202010169099.3有效
  • 李万国;杜畅 - 北京航空航天大学
  • 2020-03-12 - 2021-08-31 - G01Q30/02
  • 本发明提供一种扫描电子显微成像缺陷判定方法,用于对受机械振动影响的扫描电子显微图像成像质量进行评价,属于电子显微领域。本发明通过以下技术方案实现:(1)扫描电子显微成像缺陷的定义;(2)选取扫描电子显微镜在机械振动方面的关键部位;(3)利用所选取关键部位的机械振动测量数据进行电子束参数的传递计算,预测电子束在被观察样品表面的实际照射位置相对理想照射位置的偏离量;(4)绘制照射位置对照图将电子束照射位置偏离量的预测结果可视化;(5)根据照射位置对照图判定成像缺陷的性质和程度。
  • 一种扫描电子显微镜成像缺陷判定方法
  • [实用新型]一种光片显微镜的样品加载装置及光片显微镜系统-CN202122861047.5有效
  • 赫家烨;唐经纬;李彦明;林盛豪 - 深圳高性能医疗器械国家研究院有限公司
  • 2021-11-19 - 2022-05-10 - G02B21/26
  • 本实用新型适用于光学成像技术领域,提供了一种光片显微镜的样品加载装置,包括具有开口且内设有成像介质的样品仓,所述样品加载装置还包括可穿过所述开口的比色皿部件,所述比色皿部件具有用于固定样品的磁性部件、隔绝于所述样品仓以使所述样品仓中的成像介质与所述比色皿部件内的成像介质隔离开来的安装腔本实用新型还提供了一种光片显微镜系统。本实用新型提供的一种光片显微镜的样品加载装置及光片显微镜系统,可容纳大体积样品,样品不易形变,提升了成像效果,同时在样品的预处理省时,样品仓中的的成像介质和比色皿中的成像介质隔离开来,每次成像只需要更换比色皿内的少量介质,节省了成像介质。
  • 一种显微镜样品加载装置系统
  • [发明专利]一种无盲区的全场域超声显微成像系统及其方法-CN202011025111.X有效
  • 纪轩荣;刘缘;曾吕明 - 广东工业大学
  • 2020-09-25 - 2023-07-25 - G01N21/17
  • 本申请公开了一种无盲区的全场域超声显微成像系统及其方法,将超声成像与激光超声成像相融合,在近场区域采用激光超声成像,采用相控聚焦成像算法对近场成像点进行激光超声图像重建;在中、远场区域采用超声成像,单独激发高频菲涅尔环阵超声换能器的每一个阵元发射超声信号,再用所有阵元接收回波超声信号,采用全聚焦成像算法对中、远场成像点进行超声图像重建。从而能够同时实现近、中和远场区域的超声显微成像,并通过三维运动平台带动待检测样品的运动,从而实现了整个待检测样品无盲区的三维超声显微成像
  • 一种盲区全场超声显微镜成像系统及其方法

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