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[实用新型]机车接触器的检测装置-CN202020613429.9有效
发明人：黎莎;姚宇华 -专利权人：武汉黎赛科技有限责任公司
申请日： 2020-04-22 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种机车接触器的检测装置，包括：控制模块，用于接收测试指令并根据所述测试指令产生测试信号和接收测试反馈信号；测试模块，与所述控制模块连接，用于根据所述测试信号产生测试电压和测试电流并输送到机车接触器中；采集模块，与所述控制模块连接，用于根据所述测试反馈信号生成测试结果并记录。本实用新型提供的一种机车接触器的检测装置，解决了现有技术中机车接触器检测装置精度较低，操作复杂的问题，实现了可准确测量出机车接触器触点电阻及开关信号的性能，减轻了人员的劳动强度，提高了测试效率，减少人工参与
机车接触器检测装置

[实用新型]集成电路测试装置-CN201820056849.4有效
发明人：王国华;谢伟 -专利权人：深圳市斯纳达科技有限公司
申请日： 2018-01-12 - 公布日： 2018-08-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开一种集成电路测试装置，所述集成电路测试装置包括用于放置待测试集成电路的底座、压盖、测试用PCB、及射频测试头，所述底座安装在测试用PCB上，所述底座上安装有多个测试探针，所述测试探针的下端用于与测试用PCB的测试焊盘导电接触，所述射频测试头的上端穿过测试用PCB及底座以用于与待测试集成电路的高频引脚导电接触，所述压盖用于压紧放置在底座内的待测试集成电路，使待测试集成电路的测试引脚与对应的测试探针的上端导电接触，并使待测试集成电路的与射频测试头的上端导电接触。本实用新型能够提高高频测试参数的精准度，并降低集成电路测试装置的设计成本。
测试集成电路集成电路测试装置导电接触底座射频测试头测试探针上端测试本实用新型压盖测试焊盘测试引脚底座安装高频测试高频引脚精准度下端压紧穿过

[发明专利]非接触芯片测试系统与方法-CN201310161906.7有效
发明人：程景全;秦龙;段人杰;曾为民;卢裕階;刘晶晶;陶辉 -专利权人：无锡华润微电子有限公司
申请日： 2013-05-03 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种非接触芯片测试系统和方法，该方法先测得最强耦合干扰电平X、最弱耦合干扰电平Y、本底噪声Z和无耦合干扰解调灵敏度K，然后根据不同的测试指令和本底噪声选用不同的阈值电压对非接触芯片进行测试。该非接触芯片测试系统与方法根据测试指令和本底噪声环境的不同选用不同的阈值电压，从而减小多通道测试时的干扰，提高对非接触芯片进行多通道测试的准确性。
接触芯片测试系统方法

[发明专利]一种继电器测试夹具-CN201210386439.3无效
发明人：周容灿 -专利权人：贵州天义电器有限责任公司
申请日： 2012-10-13 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：继电器测试夹具，该项测试夹具包括插座、绝缘套和接触片所述插座上设有多组插孔，接触片两两对称插入绝缘套相应槽孔中确保两接触片之间绝缘，一并装入插座的各插孔中，各接触片底端焊接引线与测试设备相连。本发明继电器测试夹具结合测试设备，对单台继电器电气参数的测试，几秒钟的时间即可完成。提高了测试精度、提高了生产效率、保证了仪器仪表的安全。
一种继电器测试夹具

[实用新型]一种金属接触件及测试端子-CN202122602938.9有效
发明人：梅佳威 -专利权人：深圳市德明利技术股份有限公司
申请日： 2021-10-26 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： H01R13/40 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种金属接触件及测试端子，包括底座；底座两侧设有接触片，两组接触片相对设置构成接触组件；接触组件的接触片上均设有接触凸起，两组接触片上的接触凸起相对；底座两侧设有至少两组接触组件。本实用新型通过在底座两侧设置两组以上的接触组件，使金属接触件的稳定性得到了大幅度的提高，在测试时，测试针与金属接触件的面积大大增加，即使其中一组接触组件发生变形，其他组的接触组件也可以进行弥补，使得测试端子每次插入时都能够有效识别测试件
一种金属接触测试端子

[发明专利]一种微系统封装内界面材料的接触热阻测试设备及方法-CN202211628503.4在审
发明人：张志祥;李逵;匡乃亮;郭雁蓉;师航波;韶甜甜 -专利权人：西安微电子技术研究所
申请日： 2022-12-17 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种微系统封装内界面材料的接触热阻测试设备及方法，一种微系统封装内界面材料的接触热阻测试设备包括测试台Ⅱ，测试台Ⅱ内设有控温装置，测试台Ⅱ上依次设有被测样品、测试台Ⅰ、微系统封装模块、控压和测量距离装置，微系统封装模块内设有测温二极管，测温二极管与电流输出和电压采样装置电连接；一种微系统封装内界面材料的接触热阻测试方法包括采用瞬态热阻测试设备进行K系数的提取；对样品进行加热降温测试；测试曲线及数据处理；最后计算两个不同材料之间的表面接触热阻。本发明通过实测推算出界面接触热阻，测试精度和效率更高，测试流程简易，可完成对不同材料、不同压力、不同粗糙度以及不同温度条件下的接触热阻提取。
一种系统封装界面材料接触测试设备方法

[实用新型]一种用于红外触摸屏的触摸高度测试装置-CN202120359099.X有效
发明人：张福汉 -专利权人：安徽富创通科技有限公司
申请日： 2021-02-09 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于红外触摸屏的触摸高度测试装置，包括待测试的接触面组件、滑轨组件、红外光组件以及测试组件，所述滑轨组件固定在接触面组件上，所述测试组件设置在滑轨组件上且可上下移动，所述红外光组件固定在接触面组件上且在接触面组件表面形成红外感应网格；所述测试组件沿着垂直于接触面组件的方向移动，通过红外感应网格实现对触摸高度的测试。本实用新型在测试之前会进行校准(测试组件触碰到接触面组件的表面)、数据清零，保证每次测试的点基准都是一样的，通过这种方式减小了测试装置带来的误差；并且，本实用新型提供的测试装置中滑轨组件所覆盖的长度可以调节，使得该测试装置适合各种长度的红外触摸屏。
一种用于红外触摸屏触摸高度测试装置

[实用新型]一种平面接触式芯片或摄像头测试装置-CN202220481571.1有效
发明人：朱晓莹 -专利权人：东莞市图锐科技有限公司
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种平面接触式芯片或摄像头测试装置，包括活动模、固定模、测试件和进给机构，所述测试件与活动模相连接，所述测试件上设有测试平面，所述固定模上设有载物槽，所述进给机构与活动模相连接，所述载物槽用于放置待测件，所述测试平面能与载物槽上放置的待测件相接触。本实用新型中，通过设置进给机构，能使得活动模朝向固定模进行移动，从而测试平面能与载物槽上的待测件实现接触来对待测件进行测试，而且进给机构能提供一定的压力来保证测试件和待测件的可靠接触，同时，由于测试件是通过测试平面来与待测件进行接触的，其接触面大，待测件受到的压强小，能有效降低对待测件造成损伤的概率，保证测试后的产品的使用可靠性。
一种平面接触芯片摄像头测试装置

[实用新型]可调式无功补偿设备测试系统-CN201721645822.0有效
发明人：张倩;李振英 -专利权人：山东哈雷电力科技有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种无功补偿设备测试装置；具体涉及一种可调式无功补偿设备测试系统，包括一次电路和二次电路，二次电路包括四个交流接触器，分别为交流接触器KM1—KM4，交流接触器包括线圈、常闭触点、常开触点和常开主触点，四个交流接触器线圈均串联启动按钮和停止按钮，一次电路包括相互并联的一次测试主路和一次测试旁路，一次测试主路上设置串联的交流接触器KM2常开主触点和调压器，一次测试旁路上设置交流接触器KM1常开主触点，市电通过一次测试主路或一次测试旁路串联至电容测试支路，电容测试支路并联电抗器测试支路。本实用新型可进行电容器和电抗器的性能测试，并根据不同的测试需求调整测试电压，使用方便灵活。
交流接触器无功补偿主触点测试设备测试系统本实用新型测试旁路电容测试二次电路一次电路电抗器可调式主路串联交流接触器线圈电容器串联启动按钮设备测试装置支路测试需求测试支路常闭触点常开触点调整测试停止按钮性能测试支路并联调压器并联市电灵活

[发明专利]无套件取放处理机-CN201880082263.8在审
发明人：拉里·斯塔基;伊戈尔·谢克曼;约翰·里维斯;肯特·布鲁门辛;科林·斯科菲尔德 -专利权人：波士顿半导体设备有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种无套件取放处理机，其进行至少一个设备的热测试。示例性处理机包括均热板、第一原动机、第二原动机、测试站点致动器和测试接触器。测试接触器可电接触设备。第一原动机可将设备放置在均热板上。第二原动机可将设备运送至测试接触器，在热测试期间保持该设备，并且从测试接触器移动该设备。测试站点致动器可在热测试期间在第二原动机上施加力。
套件处理机

[发明专利]模组测试装置-CN202111151884.7在审
发明人：万淑清;祁鹏鹏;鲁周抗;黄炜胜 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明涉及一种模组测试装置。该模组测试装置包括：基座；承载架，承载架用于安装待测试模组；按压组件，按压组件用于与待测试模组接触或分离，以对待测试模组进行测试；测试探针，测试探针用于与待测试模组接触并采集待测试模组在与按压组件接触时产生的信号；护针组件，护针组件设置于基座，并用于在测试件对待测试模组测试完成后使按压组件与待测试模组分离。该装置测试安全性更高，保护性更好。
模组测试装置

[发明专利]高频测试接触元件和测试探针设备-CN202080095160.2在审
发明人：奥特马尔·菲舍尔;威廉·施罗夫;彼得·布鲁尔;大卫·斯图尔德雷尔-考法姆;蒂姆·希尔特 -专利权人：英冈测试设备有限责任公司
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于在接触配对物，特别是板对板插头连接器，和测试探针设备之间可释放地建立接触的高频测试接触元件(10)，所述测试接触元件包括薄片主体(10a)，该薄片主体在一个终端具有用于接触接触配对物(30)的第一接触区域(1)；用于接触接收测试接触元件的接触探针设备(20)的相对的第二接触区域(2)；以及曲折弹性区域(3)，该曲折弹性区域位于两者之间并且具有沿着该弹性区域的运行方向(V)延伸的优选地居中布置的空腔(5)，该空腔是为沿着测试接触元件(10)的纵向延伸方向(L)的弹性而设置的，其中曲折弹性区域(3)具有多个具有5°至70°的相应弯曲角度(α1，α测试接触元件(10)的高频测试探针设备(20)，以及涉及一种用于根据本发明的高频测试探针设备(20)的测试接触附接件(40)。
高频测试接触元件探针设备

[发明专利]一种基于NFC智能手机的非接触智能卡测试方法-CN201911110429.5在审
发明人：刘丽丽;王丰;张希岩 -专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2019-11-14 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： H04M1/24 文献下载
摘要：针对非接触智能卡与不同型号的NFC手机之间存在的数据通信兼容性问题，本发明公开了一种基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法。该基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法包括：手机端编写测试脚本，测试脚本解析，智能卡指令发送，智能卡响应接收，数据处理。本发明通过建立完整的测试流程，实现具有NFC功能的手机与非接触智能卡的完整数据测试和交易流程，该数据流程还包括判定非接触智能卡和具有NFC功能手机之间的异常处理，以及测试数据的存储和格式判定。本发明涉及到非接触智能卡的测试验证领域，应用于非接触智能卡和不同型号的具有NFC功能的智能手机之间的测试，从而达到兼容性测试的目的。
一种基于 nfc 智能手机接触智能卡测试方法

[发明专利]一种弹力测试机及其点检方法-CN202110507663.2在审
发明人：黄堪设;封宇 -专利权人：东莞市川富电子有限公司
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种弹力测试机及其点检方法，包括机台以及设置在机台上的测试台、存储仓、测试装置、移动机构，测试台放置进行弹力测试的物料，弹力测试通过移动机构的驱动在存储仓与测试台之间移动；测试装置包括多个按矩阵分布的感应组件，感应组件包括测力传感器和探头，探头设置在测力传感器的感应端，存储仓放置有多个用于对各测力传感器进行点检的砝码，探头具有进行弹力测试时与物料接触的第一接触部、进行点检时与砝码接触并将砝码提出存储仓的第二接触部本发明通过探头上不能被磁化的第一接触部和能被磁化或具有磁性的第二接触部将点检和测试分开接触，一次就点检完成机台上的所有测力传感器，免去繁杂的手工挂砝码和人工确认数据。
一种弹力测试及其点检方法

[发明专利]背接触电池的测试方法-CN202211337117.X在审
发明人：王尧;柳伟;夏锐;陈达明;张学玲 -专利权人：天合光能股份有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本申请提供一种背接触电池的测试方法，首先使测试光源发出的光线透过一透光部件，透光部件与背接触电池上的透光压紧件的透光率相同；然后调节测试光源的输出光强，以使测试光源发出的光线在透过透光部件后的光强等于标准光强；随后使用调节后的测试光源透过透光压紧件照射背接触电池，以测试背接触电池在标准光强下的性能参数。由于调节测试光源的输出光强是对透过透光部件的光强进行调节，使其光强等于标准光强。而且透光部件与背接触电池上的透光压紧件的透光率相同。所以调节后的测试光源发出的光线在透过透光压紧件到达背接触电池时，光强等于标准光强，保证背接触电池的测试环境更加精准，进而提高了测试的准确性。
接触电池测试方法