专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种多功能妇科检查护理-CN201320786250.3有效
  • 陈彬 - 陈彬
  • 2013-12-04 - 2014-06-04 - A61F13/15
  • 本实用新型属于医疗器械装置技术领域,特别涉及一种多功能妇科检查护理。该多功能妇科检查护理,包括隔离和设置于隔离垫上部中心的接触,其特征是:所述隔离内部设置有电阻丝,隔离四角分别连接设有固定绳,隔离接触通过粘扣相连接,接触四周连接设有挡板。
  • 一种多功能妇科检查护理
  • [发明专利]显示装置-CN202010457622.2在审
  • 戴名柔;蔡嘉豪 - 群创光电股份有限公司
  • 2020-05-26 - 2021-11-30 - H01L27/12
  • 本揭露提供一种显示装置,包括基板、晶体管、第一绝缘层、转接、第二绝缘层以及像素电极。晶体管设置于基板上且包括漏极。第一绝缘层设置于晶体管上且包括第一接触孔。转接设置于第一绝缘层上且通过第一接触接触漏极。转接填入第一接触孔的底部以形成第一接触区。第一接触区具有第一接触面积。第二绝缘层设置于转接垫上且包括第二接触孔。第二接触孔的底部暴露出部分的转接以形成第二接触区。第二接触区具有第二接触面积。像素电极设置于第二绝缘层上且通过第二接触接触转接。在显示装置的上视图中,转接包含第一接触区与第二接触区。第二接触面积大于第一接触面积。本揭露的显示装置可提升并稳定像素电极与漏极之间的电子传输。
  • 显示装置
  • [发明专利]半导体装置-CN201910775969.9有效
  • 大河原淳 - 株式会社电装
  • 2019-08-22 - 2023-08-08 - H01L29/739
  • 半导体装置具备半导体基板、设置于半导体基板上的绝缘膜、设置于绝缘膜上的电力用的主电极、以及设置于绝缘膜上的信号用的。在设置有主电极的单元区域和设置有区域的各个中,在绝缘膜形成有接触孔。位于区域的接触孔的高度位置高于位于单元区域的接触孔的高度位置,位于区域的接触孔的宽度大于位于单元区域的接触孔的宽度。
  • 半导体装置
  • [发明专利]一种密封-管片沟槽接触面应力松弛的测试方法-CN202210570191.X在审
  • 龚琛杰;林赞权;雷明锋;朱彬彬;施成华 - 中南大学
  • 2022-05-24 - 2022-10-18 - G01N3/08
  • 本申请公开了一种密封‑管片沟槽接触面应力松弛的测试方法,包括以下步骤:采用数值模拟得到密封对沟槽的挤压效果,确定接触路径;绘制路径上的接触应力分布曲线,采用数值积分方法得到密封对沟槽的闭合压力;进行密封力学压缩性能试验,采用薄膜压力传感器获取指定变形量下的密封‑沟槽接触面上的闭合压力值;将曲线积分计算值与压力传感器测量值进行对比,拟合标定系数;将密封以特定变形量固定在夹持装置中,置于老化炉中老化,实时读取薄膜压力传感器的测量值;根据标定系数及实时测量值,得到密封各个柱脚及与与沟槽接触边上的接触应力变化。本发明实现了老化过程中密封‑沟槽接触面应力松弛过程的实时监测。
  • 一种密封垫管片沟槽接触面应力松弛测试方法
  • [实用新型]一种防护型低压接触-CN201921825456.6有效
  • 杨庆;余长忠 - 盐城市鹤鸣电气制造有限公司
  • 2019-10-29 - 2020-05-15 - H01H50/04
  • 本实用新型公开了一种防护型低压接触器,包括第一固定板、固定块和第二固定板,所述固定块前右侧固定有支撑板,且支撑板上开设有滑道,所述滑道滑动连接有滑杆,且滑杆固定在低压接触器本体上下两侧,所述第二固定板右侧固定有第一弧形橡胶,且第一弧形橡胶右侧设置有第二弧形橡胶,所述第二弧形橡胶右侧固定有空心螺纹固定件,所述低压接触器本体右侧设置有指示灯。该防护型低压接触器,设置有第一弧形橡胶、第二弧形橡胶、空心螺纹固定件和第二螺栓,将电缆线固定在第一弧形橡胶和第二弧形橡胶之间,防止因外部原因,电缆线发生扯动,电缆线与低压接触器本体接触点松动,影响低压接触器工作
  • 一种防护低压接触器
  • [发明专利]半导体器件测试方法-CN201510230999.3有效
  • 殷原梓 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2015-05-07 - 2019-01-25 - H01L21/66
  • 本发明提供一种半导体器件测试方法,包括如下步骤:在待测区域的周围形成若干个缓冲,所述缓冲自下至上包括一介质层和一金属层;将半导体器件置于扫描电镜的样品室中,控制扫描电镜的探针向所述缓冲垫下针,并根据扫描电镜控制系统中显示的缓冲的明暗确定探针是否与缓冲接触,所述探针与缓冲接触之后,停止下针;将所述探针分别移到邻近的所述接触电极,并分别与相应的所述接触电极接触,在每个所述探针上加不同的偏压,从而测试半导体器件的电学特性。本发明中,使得探针先下针到缓冲,可以避免针尖弯曲,保证测试的准确,并且,根据缓冲图像的明暗判断探针是否与缓冲接触,确定探针下针的位置,便于测试。
  • 半导体器件测试方法

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