“接受测试”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果878391个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]晶圆质量控制方法-CN200710041092.8有效
发明人：林光启;张霞峰 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-05-23 - 公布日： 2008-11-26 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆质量控制方法，包括，根据不同时间测量的各盒晶圆的可接受测试参数和良率，得到可接受测试参数和良率与时间的关系；如果可接受测试参数和良率均随时间产生漂移并且与时间的相关性概率小于第一设定值，则根据可接受测试参数和良率，得到良率随可接受测试参数漂移趋势；根据良率随可接受测试参数漂移趋势，得到良率和可接受测试参数的相关系数；如果良率和可接受测试参数的相关系数大于或等于第二设定值，则可接受测试参数是与晶圆失效有关的可疑参数；如果良率和可接受测试参数的相关系数小于第二设定值，则可接受测试参数不是与晶圆失效有关的可疑参数。
质量控制方法

[发明专利]检测可接受测试数据方法及晶圆可接受测试控制方法-CN200710094483.6无效
发明人：杨斯元;简维廷 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-12-13 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：一种检测可接受测试数据方法，包括，采集可接受测试数据，计算所采集可接受测试数据的平均值和方差；获得与基准平均值、基准方差以及规格宽度对应的偏移容忍度，以及与可接受测试数据的规格宽度对应的离散容忍度；若所采集可接受测试数据的平均值与基准平均值的差的绝对值超出偏移容忍度，或所采集可接受测试数据的方差与基准方差的比值超出离散容忍度，则所采集可接受测试数据为失控数据。本发明还公开了一种晶圆可接受测试控制方法，所述检测可接受测试数据及晶圆可接受测试控制方法使得检测更准确可靠，并且提高检测效率，减少假警报率。
检测可接受测试数据方法测试控制

[发明专利]纺织品印花牢度的测试方法-CN200910049290.8有效
发明人：吴磊;黄晓华;诸华英;龚晓阳 -专利权人：上海天祥质量技术服务有限公司
申请日： 2009-04-14 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： G01N19/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种纺织品印花牢度的测试方法，所述测试方法为：加速洗涤测试，结论为接受或不接受；实际家庭洗涤测试，结论为接受或不接受；若上述两项测试结论都是接受，则进行拉伸测试，最终结论为接受或不接受。本发明提供的纺织品印花牢度的测试方法，简单易行，适用于各类印花纺织品，为国内外的生产厂商和供应商提供了一个评定印花纺织品质量好坏的考核标准。
纺织品印花牢度测试方法

[发明专利]晶圆测试参数的限值确定方法-CN200810112505.1有效
发明人：林光启;张霞峰;黄珺 -专利权人：中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请日： 2008-05-23 - 公布日： 2009-11-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种晶圆测试参数的限值确定方法，将良率测试参数与可接受测试参数相结合，将可接受测试参数分为与良率测试参数相关和与良率测试参数不相关的类型，对于与良率测试参数相关的可接受测试参数，根据不同的可接受测试参数对良率影响程度的不同，对可接受测试参数的限值范围进行界定，提高了报警的准确性，减少了误报漏报，节省了人力和时间，节约了成本。
测试参数确定方法

[发明专利]一种晶圆可接受性测试系统及方法-CN201310625206.9有效
发明人：沈茜;娄晓祺 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-11-28 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆可接受性测试系统及方法，主要是在晶圆可接受性测试之后增加一测试异常状态判断以及判断结果输出的过程，即通过所述测试对晶圆进行可接受性测试的测试结果进行整理和分析以及根据所述测试结果处理模块的处理结果输出异常状态数据，从而判断晶圆可接受性测试异常的原因，进而使晶圆测试用户能够更加快捷、方便和准确地把握晶圆可接受性测试异常的原因。
一种可接受性测试系统方法

[发明专利]晶圆接受测试方法-CN202310071938.1在审
发明人：陈俊池;于亚男;孟文艳;韩斌 -专利权人：华虹半导体（无锡）有限公司
申请日： 2023-01-30 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆接受测试方法，包括：在所有PAD上放置针卡；将并行测试装置的pogo pin与针卡连接；利用pogo pin在所有信号端侧设置近端屏蔽层；在第一目标PAD、第二目标PAD以及第一邻位PAD本申请通过在所有信号端侧设置近端屏蔽层，并将非测量信号端侧的近端屏蔽层接地，可以将非测量信号端在与晶圆接触后形成的噪声及时引导至并行测试装置的内部地端，从而避免产生回路噪声，提高了小电流测试中测试数据的稳定性
接受测试方法

[发明专利]晶圆可接受测试的实时监控方法-CN200910194620.2无效
发明人：孙新光;莫保章;倪晓昆 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-08-26 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆可接受测试的实时监控方法，将晶圆划分为若干点，每个点有若干测试参数进行测试，其中部分参数为关键参数，包括步骤：设定晶圆可接受测试的类型和判断标准；进行晶圆可接受测试；对晶圆可接受测试得到的测试数据进行收集和整理；根据所述类型和判断标准进行判断，对所述测试数据进行监控，如果判断合格，则继续测试，否则，暂停测试，转入人工处理。与现有技术相比，本发明提出的晶圆可接受测试的实时监控方法，随时对每一块晶圆上的芯片测试出的数据进行监控，从而可以及时发现探针卡的探针是否对准对应芯片上的探点上，从而避免后续整批待测的芯片受到刮伤，减少损失
可接受测试实时监控方法

[发明专利]一种基于消息的自动化测试的系统和方法-CN200610089433.4无效
发明人：苏春梅;张学英;南虹 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2006-06-26 - 公布日： 2008-01-02 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于消息的自动化测试的系统，包括测试系统和被测试系统；其中，还包括：转换模块，分别直接与测试系统和被测试系统连接，用于将测试信息转换成被测试系统可接受的数据发送给被测试系统，并将测试结果转换成测试系统可接受的数据发送给测试系统此外，本发明还提出了一种基于消息的自动化测试的方法，包括：将转换模块分别与测试系统和被测试系统连接；测试系统发送测试信息至转换模块，转换模块将测试信息转换成被测试系统可接受的数据，发送给被测试系统；被测试系统根据测试信息执行相应操作，返回测试结果至转换模块，转换模块将测试结果转换为测试系统可接受的数据，发送至测试系统；测试系统对测试结果进行处理。
一种基于消息自动化测试系统方法

[发明专利]光路测试系统及测试方法-CN202210746020.8在审
发明人：皇甫惠鑫;欧云飞;黄佳锦 -专利权人：杭州桐庐医疗光学仪器有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种光路测试系统及测试方法，属于内窥镜测试领域。本发明包括接受仪和分析处理系统，其结构特点在于：还包括测试模组和可拆卸模组，测试模组与可拆卸模组配合，可拆卸模组与接受仪连接，接受仪与分析处理系统连接；测试模组包括测试底座、测试模组本体和卡接机构，测试模组本体通过卡接机构设置在测试底座上，测试底座包括测试底座本体、套管和套管座，套管座设置在测试底座本体上，套管设置在套管座上，测试模组本体安装在套管和套管座上。将被测试光棒放置在可拆卸模组内，通过测试模组可测试光棒数据，将测得的数据通过接受仪传输至分析处理系统进行分析光棒是否合格。无需人工检测，提高工作效率。
测试系统方法

[发明专利]晶圆可接受性测试机台内部环境的监测方法和监测装置-CN201510128230.0在审
发明人：沈茜;莫保章 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2015-03-23 - 公布日： 2015-06-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆可接受性测试机台内部环境的监测方法，包括：提供一监测晶圆并检测该监测晶圆的缺陷颗粒数量；将所述监测晶圆置入所述晶圆可接受性测试机台，对该监测晶圆模拟N次晶圆可接受性测试，其中N等于待进行所述晶圆可接受性测试的所有晶圆的数量且N为大于等于2的正整数；检测所述监测晶圆的缺陷颗粒数量；根据对监测晶圆模拟N次晶圆可接受性测试前后得到的监测晶圆的缺陷颗粒数量的差值判断晶圆可接受性测试机台的内部环境是否正常。本发明能够有效模拟机台正常测试时的内部环境情况，从而更有效、更严格地控制机台内部环境。
可接受性测试机台内部环境监测方法装置

[发明专利]晶圆接受测试结构及其测试方法-CN202211682699.5在审
发明人：姚业旺;黄灿阳;彭雄;田野 -专利权人：广州粤芯半导体技术有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本申请公开了一种晶圆接受测试结构及其测试方法，该晶圆接受测试结构包括基底和金属互连层，其中，金属互连层设置于基底上，金属互连层包括至少两个由下至上依次层叠设置的金属互连结构，金属互连结构包括介质层、连接插塞和金属层
接受测试结构及其方法

[实用新型]一种光路测试系统-CN202221642438.6有效
发明人：皇甫惠鑫;欧云飞;黄佳锦 -专利权人：杭州桐庐医疗光学仪器有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光路测试系统，属于内窥镜测试领域。本实用新型包括接受仪和分析处理系统，其结构特点在于：还包括测试模组和可拆卸模组，测试模组与可拆卸模组配合，可拆卸模组与接受仪连接，接受仪与分析处理系统连接；测试模组包括测试底座、测试模组本体和卡接机构，测试模组本体通过卡接机构设置在测试底座上，测试底座包括测试底座本体、套管和套管座，套管座设置在测试底座本体上，套管设置在套管座上，测试模组本体安装在套管和套管座上。将被测试光棒放置在可拆卸模组内，通过测试模组可测试光棒数据，将测得的数据通过接受仪传输至分析处理系统进行分析光棒是否合格。无需人工检测，提高工作效率。
一种测试系统

[发明专利]基于R指数的产品接受度分析方法及装置-CN202110479927.8在审
发明人：杨瑞冬;韩之皓;巴根纳;王彦平;闫盘炜;佟晶晶 -专利权人：内蒙古伊利实业集团股份有限公司
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06Q30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于R指数的产品接受度分析方法及装置，包括：展示目标操作界面；获取目标操作界面中多个参数输入框中输入的多个参数值，多个参数值为测试者对待判断样品的测试结果，测试结果包括待判断样品是否为标准样品的测试结果和待判断样品不是标准样品且是否可接受的测试结果；响应于针对目标操作界面中的目标按键的操作信息，根据多个参数值，确定产品的差异性R值以及产品是否存在差异性；若存在差异性，则根据所述多个参数值确定产品的接受度以及产品是否可接受；在目标操作界面中展示产品的差异性R值、是否存在差异性、产品的接受度和产品是否可接受。本发明可以快速判断产品是否能被接受，快速判断产品是否能上市销售。
基于指数产品接受分析方法装置

[发明专利]芯片可接受度测试方法-CN201010278654.2有效
发明人：戴晓明 -专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
申请日： 2010-09-10 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片可接受度测试方法。该芯片可接受度测试方法包括：中间扫描值设定步骤，用于设定介于扫描起始值和扫描终值之间的第一中间扫描值；电流测量步骤，用于根据第一中间扫描值测量流经MOS晶体管的漏极的第一电流值；第一比较判断步骤，用于比较第一电流值的绝对值和基准电流值的绝对值；和扫描测试步骤，用于在第一电流值的绝对值不小于基准电流值的绝对值的情况下，将扫描起始值到第一中间扫描值的范围确定为扫描范围来对MOS晶体管进行扫描测试。根据本发明的该芯片可接受度测试方法在保持测试精度的情况下极大地提高了测试速度。
芯片可接受测试方法

[发明专利]晶圆可接受测试方法-CN201310196316.8有效
发明人：沈茜;席与凌 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-05-23 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提出一种晶圆可接受测试方法，在测试机台对晶圆进行WAT测试之前，先选取测试电压扫描区间，接着，使用测试机台对晶圆进行测试，测试机台能够记录测试电压扫描区间内所有的电性参数值，因此可以由该区间内所有的电性参数值绘制出电性参数曲线，进而可以由电性参数曲线得出特定的电性参数数值，当测试机台在测试之后反馈的电性参数不准确或者无法反馈电性参数时，无需人工进行第二测试，从而节省了时间和劳动力，提高了检测效率。
可接受测试方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条