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- [发明专利]磁头检查方法以及磁头制造方法-CN201110039238.1无效
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中込恒夫;松下典充
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株式会社日立高科技
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2011-02-15
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2011-09-21
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G11B5/455
- 本发明是关于磁头检查方法以及磁头制造方法,可大幅度地缩短原子力显微镜的检查时间,使检查用探针的高度保持固定,从而借由磁力显微镜、扫描型霍尔探针显微镜或扫描型磁阻效应显微镜来正确且高速地进行检查。为了计算出离开与磁头的悬浮高度相当的距离的位置,使用原子力显微镜来分别对相当于X轴、Y轴的一行的区域的表面形状进行扫描,借此来计算出该表面形状的斜度等,且基于该计算结果,决定利用磁力显微镜来对有效轨道宽度进行测定时的磁头的悬浮高度即,将磁力显微镜的悬臂单元的磁性探针的扫描测定区域的一半以下的小区域,设为使用原子力显微镜来扫描的磁头的记录部表面的扫描测定区域,从而可大幅度地缩短原子力显微镜的检查时间。
- 磁头检查方法以及制造
- [发明专利]显微镜照明系统及方法-CN201210495458.X有效
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C·舒尔茨
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徕卡显微系统复合显微镜有限公司
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2012-11-28
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2013-06-05
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G02B21/08
- 一种显微镜照明系统,用于在第一、共焦和第二、非共焦显微镜照明模式之间进行转换,该系统具有用以提供第一显微镜照明模式的显微镜照明单元(100),包括:照明源装置(10),用于产生平行于光轴(9)传播的照明光束(16);扫描镜装置(2),用于在垂直于光轴的平面中偏转照明光束(16);扫描目镜(3)和下游扫描镜筒透镜(5),用于将扫描镜装置(2)成像在显微镜目镜(7)的后焦面(6)上,并扩展照明光束(16),显微镜目镜为了提供特别用于定位显微镜的第二显微镜照明模式,该单元(100)具有聚焦透镜(4),该聚焦透镜可被插入照明光束(16)的路径中从而使得照明光束被聚焦在显微镜目镜(7)的后焦面(6)上。
- 显微镜照明系统方法
- [发明专利]扫描隧道显微镜-CN201710861990.1在审
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沈艳
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沈艳
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2017-09-21
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2018-01-26
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G01Q60/10
- 本发明属于扫描探针显微镜技术领域。本发明解决的技术问题是现有扫描隧道显微镜使用电扫描管较多,制作和使用都比较复杂,而且体积大,不适合在极端条件下使用。本发明的技术方案为一种扫描隧道显微镜,所述扫描隧道显微镜包括镜体、压电扫描管、以及压电步进马达,镜体内置空腔,压电扫描管和压电步进马达均安装在所述空腔内。本发明的有益效果是,制作简便,用1根压电扫描管即可完成实现探针‑样品的粗逼近和扫描,能够在极低温以及强磁场等对扫描隧道显微镜尺寸有较大限制的极端环境中使用。
- 扫描隧道显微镜
- [发明专利]一种样品位置校准方法和装置-CN201710575510.5在审
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何伟;李帅;王瑞平
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聚束科技(北京)有限公司
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2017-07-14
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2017-12-26
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H01J37/20
- 本文提供了一种样品位置校准方法和装置,所述方法包括将放置有样品的样品承载装置载入光学显微镜视场中;样品承载装置上设有定位标记;采用光学显微镜对样品承载装置成第一放大倍数的像,识别图像中定位标记并获取定位标记在光学显微镜下的第一坐标;将样品承载装置载入扫描电子显微镜视场中,采用扫描电子显微镜对样品承载装置成第二放大倍数的像,识别图像中定位标记并获取定位标记在扫描电子显微镜下的第二坐标;依据第一坐标和第二坐标,确定光学显微镜对应的坐标系和扫描电子显微镜对应的坐标系之间的相对位置关系本申请可解决样品在光学系统和扫描电子显微镜之间转换时出现的定位不准确的问题。
- 一种样品位置校准方法装置
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