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[发明专利]集成SoC的交换芯片的测试验证板、测试装置及方法-CN201911013420.2在审
发明人：魏全增;孔军;张志军 -专利权人：盛科网络（苏州）有限公司
申请日： 2019-10-23 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及集成SOC的交换芯片的测试验证板、测试装置及方法，包括设置于所述测试验证板上的存储器模块，所述存储器模块设置有存储器接口，待测芯片安装在所述测试验证板上，所述存储器接口用于将所述存储器模块与所述待测芯片连接；所述存储器模块用于存储所述待测芯片测试所需的测试程序，所述待测芯片上电初始化后，所述待测芯片通过内部集成的主处理器将存储器模块中的测试程序自动加载到片内RAM中，并执行测试过程。本发明可以解决现有技术中通过JTAG边界扫描技术的芯片测试方式的测试周期长、测试成本高的问题。
集成 soc 交换芯片测试验证装置方法

[发明专利]芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质-CN201811261790.3有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本公开涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。涉及芯片测试领域，该方法包括：确定待测试的芯片的语言规则；确定待测试的芯片的产品及时序规格；根据所述语言规则与所述产品及时序规格由测试模板库中确定待测试模板；根据所述产品及时序规则与所述待测试模板生成测试编码；以及通过所述测试编码对待测试的芯片进行自动化测试。本公开涉及的芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质，能够自动生成大数据复杂存储器测试编码，采用正规化方式快速地产生不同规格的DDR4存储器测试编码，提升芯片产品验证分析效率。
芯片测试方法装置电子设备计算机可读介质

[发明专利]集成电路测试装置及测试方法-CN202010613957.9有效
发明人：陈戈 -专利权人：绍兴网策科技有限公司
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本申请公开了集成电路测试装置及测试方法。该集成电路测试装置包括：测试机，包括多个测试工位，用于提供多个测试信号以及对多个待测芯片的响应信号进行分析以获得测试结果；以及分选机，包括多个芯片工位，用于放置多个待测芯片，以及根据分选信号对多个待测芯片进行筛选，其中，测试机的多个测试工位经由测试排线与分选机的多个芯片工位相连接，分选机中存储经由测试排线传输的多个芯片工位的工位标识，测试机从分选机获得多个芯片工位的标识回传信号，以及根据测试结果和标识回传信号产生分选信号该集成电路测试装置允许测试机和分选机之间任意顺序的测试排线连接，即使在大量待测芯片测量的情形也可以避免芯片识别错误。
集成电路测试装置方法

[发明专利]芯片测试系统-CN201911156671.6在审
发明人：阚博涵;杨真;彭燕鸿 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提出了一种芯片测试系统，芯片测试系统包括：测试电路板、测试座、压板组件和固定组件，测试电路板具有测试程序；测试座设有用于连接待测芯片的多个连接柱，多个连接柱均与测试电路板连接；压板组件用于将待测芯片固定至测试座，测试电路板、测试座和压板组件均设于固定组件。根据本发明的芯片测试系统，在进行芯片测试时，压板组件可以将待测芯片牢固地固定至测试座上，待测芯片可以通过连接柱与测试电路板连接，从而对待测芯片进行测试。由此，实现了对焊装前的芯片的测试，剔除了焊接前芯片的质量缺陷，使得芯片调试过程更加稳定可靠。而且，采用测试系统进行芯片测试时，即插即用，测试过程简单快捷。
测试电路板测试座压板组件芯片测试系统待测芯片连接柱芯片固定组件芯片测试测试测试程序测试过程测试系统即插即用芯片调试质量缺陷对焊焊接剔除

[实用新型]芯片测试系统-CN201922035748.6有效
发明人：阚博涵;杨真;彭燕鸿 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种芯片测试系统，芯片测试系统包括：测试电路板、测试座、压板组件和固定组件，测试电路板具有测试程序；测试座设有用于连接待测芯片的多个连接柱，多个连接柱均与测试电路板连接；压板组件用于将待测芯片固定至测试座，测试电路板、测试座和压板组件均设于固定组件。根据本实用新型的芯片测试系统，在进行芯片测试时，压板组件可以将待测芯片牢固地固定至测试座上，待测芯片可以通过连接柱与测试电路板连接，从而对待测芯片进行测试。由此，实现了对焊装前的芯片的测试，剔除了焊接前芯片的质量缺陷，使得芯片调试过程更加稳定可靠。而且，采用测试系统进行芯片测试时，即插即用，测试过程简单快捷。
芯片测试系统

[发明专利]芯片测试方法及设备-CN202111511707.5在审
发明人：陈亮 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种芯片测试方法及设备，方法包括：确定每个待测芯片对应的数据接收窗口；根据每个待测芯片对应的数据接收窗口，以及测试机台预设的数据输入窗口，确定每个待测芯片对应的时间调整参数；根据每个待测芯片对应的时间调整参数，确定每个待测芯片对应的实际输入时间点；在每个待测芯片对应的实际输入时间点向对应的待测芯片输入数据，以使每个待测芯片在对应的数据接收窗口接收测试机台输入的数据，从而可以有效避免部分待测芯片因性能差异无法准确接收到数据的问题，提高了测试结果的一致性和准确性。
芯片测试方法设备

[实用新型]一种用于芯片测试的PCB测试板-CN202222441242.7有效
发明人：赵卫宇;蔡威;向绍兴;陈玲玲;付城阳;孙纯;向淑晴 -专利权人：佰帕科技（武汉）有限公司
申请日： 2022-09-15 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于芯片测试的PCB测试板，包括基座，所述基座的一侧开设有放置槽，所述基座的上表面开设有第一凹槽，所述放置槽的内壁活动连接有PCB测试板，所述PCB测试板活动连接在凹槽的内底壁，所述凹槽靠近PCB测试板上表面的内壁固定连接有测试座，所述测试座的上表面开设有第二凹槽。该用于芯片测试的PCB测试板，通过卡槽、电动伸缩杆、PCB测试板和柔软垫的设置，将待测芯片放置在卡槽中，启动电动伸缩杆带动固定板将待测芯片夹紧，待测芯片的下表面与顶针相导通，顶针将PCB测试板与检测板相导通，从而通过检测板检测待测芯片的好坏程度，可同时测试多个待测芯片，提高了工作效率，电动伸缩杆能够适用于不同尺寸的待测芯片，适用性强。
一种用于芯片测试 pcb

[发明专利]红外探测器芯片测试用连接装置-CN202011227903.5在审
发明人：袁羽辉;张懿;付志凯 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2020-11-06 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提出了一种红外探测器芯片测试用连接装置，连接装置固定于测试杜瓦冷台上，并通过测试杜瓦冷台与测试装置电连接，用于对待测芯片进行测试，连接装置包括：PCB框架和衬底层，PCB框架设有用于与待测芯片电连接的第一连接端和与测试杜瓦冷台电连接的第二连接端，PCB框架具有沿厚度方向贯通的放置腔；衬底层位于放置腔内，待测芯片固定于衬底层并与第一连接端电连接。由此，待测芯片通过PCB框架和外部电学接插件形成电学联通，以对待测芯片进行测试。而且，PCB框架固定至测试杜瓦冷台，在进行待测芯片更换时，仅需更换衬底层和待测芯片，焊接时，仅需焊接待测芯片与PCB框架间的引线，极大地提高了待测芯片的测试效率。
红外探测器芯片测试连接装置

[发明专利]一种抓点测试系统及方法-CN202110577646.6有效
发明人：李辉 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种抓点测试系统及方法，其中，所述抓点测试系统包括：测试设备，用于提供抓点测试的测试信号；电路板，所述电路板与所述测试设备通过连接线缆电连接，所述电路板用于固定待测芯片，并将所述测试设备提供的所述测试信号传输给所述待测芯片；抓点机台，用于获取所述待测芯片在所述测试信号下的异常点，实现对所述待测芯片进行抓点测试。
一种抓点测试系统方法

[实用新型]四轴机械手分选机-CN202220295810.4有效
发明人：张永乐;郑挺;郑朝生;马海龙;张传益;卢旭坤 -专利权人：东莞利扬芯片测试有限公司
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种四轴机械手分选机，其包括高低温箱、取盘装置、移料装置和测试装置；高低温箱具有温度可调节的腔室，腔室内放置有第一芯片盘，第一芯片盘上放置有若干待测芯片，腔室用于使待测芯片的温度处于测试温度；取盘装置包括取盘机构和支撑机构，取盘机构用于从取料口取出第一芯片盘以及用于将第一芯片盘放回高低温箱，支撑机构用于支撑取出的第一芯片盘；移料装置用于拾取待测芯片并将拾取的待测芯片转移；测试装置用于接收转移的待测芯片并对待测芯片进行测试，于待测芯片完成测试后，移料装置根据测试结果将芯片分类转移。采用本实用新型四轴机械手分选机能够保持稳定的测试良率，并提高芯片测试效率和节省人力成本。
机械手分选

[发明专利]一种晶圆的测试方法-CN201810355979.2有效
发明人：赵志香;李强;李海琪 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2018-04-19 - 公布日： 2021-03-05 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种晶圆的测试方法，应用于晶圆中的芯片单元的检测，其中，测试方法包括以下步骤：步骤S1、判断是否存在未比对的芯片单元；若否，待测晶圆测试结束，退出；步骤S2、晶圆探测工具用以探测获取芯片单元的芯片信息并将芯片信息发送至测试工具；步骤S3、测试工具将芯片信息与待测集合中的每个待测试的芯片单元的标准地址信息进行比对以形成比对结果；若比对结果一致，则测试工具将调用与待测试的芯片单元的对应的测试项对当前的待测试芯片单元执行测试，以获得测试结果并返回步骤其技术的有益效果在于，不仅操作简单方便而且灵活性强，替代了传统方式建control map的种种复杂繁琐过程，提高了测试效率。
一种测试方法

[发明专利]芯片失效分析方法和装置-CN201611229910.2有效
发明人：韦俊;陈倩 -专利权人：无锡华润上华科技有限公司
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片失效定位方法和装置，通过机台连接板将光发射显微镜与加温台盘连接起来，使机台连接板位于光发射显微镜的底座与加温台盘的底座之间。同时，在机台连接板与加温台盘之间设置隔热垫圈；将加温台盘装载于所述光发射显微镜的样品台所处的位置上；将待测试芯片置于加温台盘的台面上，设定加温台盘的温度范围，使待测试芯片处于测试温度下，其中，所述温度范围为140℃‑160℃；待测试芯片上的亮点为待测试芯片的失效位置。因此，能够结合加温台盘使待测试芯片处于测试温度下，再通过光发射显微镜来定位出待测试芯片的失效位置。
芯片失效分析方法装置

[发明专利]一种检测装置、检测方法及自动化检测系统-CN201810865926.5有效
发明人：何瑞日 -专利权人：上海移远通信技术股份有限公司
申请日： 2018-08-01 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例涉及芯片检测技术领域，公开了一种检测装置、检测方法及自动化检测系统。该检测装置包括：测试夹具、检测电路和待检测芯片；检测电路包括至少N个测试探针，待检测芯片包括至少M个接地引脚；其中，M、N均为大于等于3的正整数，且N大于M；待检测芯片通过测试夹具与检测电路电连接，测试探针设置于测试夹具的底部，其中，待检测芯片中至少M个接地引脚不在同一边；若M个接地引脚分别与M个测试探针连接，检测电路确定待检测芯片被放置到位；若M个接地引脚不能分别与M个测试探针连接，检测电路确定待检测芯片未被放置到位。本发明中，使得在芯片检测过程中通过检测电路实现对芯片放置状况的检测，保证芯片正确放置在检测装置。
一种检测装置方法自动化系统

[发明专利]芯片测试方法-CN201610326424.6在审
发明人：白浪;黄必亮;任远程;周逊伟 -专利权人：杰华特微电子（杭州）有限公司
申请日： 2016-05-17 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片测试方法，用于在芯片的中测或成测工艺中测试芯片与温度相关的测试项，包括：向待测芯片内部的功率器件施加电压或电流，并通过调节所施加的电压或电流的大小以及对应的施加时间,控制所述待测芯片的温度达到预设温度；在所述待测芯片的温度达到所述预设温度后，测试所述待测芯片与温度相关的测试项。其利用芯片内部的功率器件在通电后会产生功耗，进而提升芯片整体的温度，完成对芯片与温度相关的测试项的测试，无需外加任何加热装置，在中测和成测时均适用，方法简单，便于使用。
芯片测试方法

[发明专利]基于电源电流的硬件木马检测方法和系统-CN201410092672.X有效
发明人：侯波;王力纬;恩云飞;何春华 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2014-03-13 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种基于电源电流的硬件木马检测方法，包括如下步骤对原始芯片施加测试向量组，同时在所述原始芯片的电源端测试电源电流，获得所述原始芯片的静态电流数据和瞬态电流数据，据此确定出阈值线；其中，所述原始芯片为不含硬件木马的芯片；对待测芯片施加所述测试向量组，在所述待测芯片的电源端测试电源电流，获得所述待测芯片的静态电流数据和瞬态电流数据；根据所述阈值线，以及所述待测芯片的静态电流数据和瞬态电流数据，判断待测芯片是否含有木马。本发明还提供对应的硬件木马检测系统，本发明的测试过程简单、测试时间短、测试结果准确。
基于电源电流硬件木马检测方法系统