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[发明专利]一种平面声呐阵阻抗特性近场声全息法校准测量方法-CN201811504271.5有效
发明人：商德江;平自红;肖妍;韩金风;刘月婵;孙超 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2018-12-10 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01S7/52 文献下载
摘要：一种平面声呐阵阻抗特性近场声全息法校准测量方法，属于大型平面发射阵阻抗特性近场声全息测量方法的研究技术领域，其技术要点是：平面发射阵阻抗特性计算方法；基于近场声全息的辐射阻抗校准方法；基于BAHIM法近场声全息变换方法和算法；基于近场声全息的辐射阻抗校准方法数值仿真；建立低频平面声呐阵阻抗特性近场声全息理论测试模型。本发明可根据水声监听船主动声呐设备声特性校准的需求，有针对性地开展平面声呐阵阻抗特性近场声全息法校准基本原理研究、近场声全息法校准方案设计、低频声呐阵阻抗特性校准软件开发以及近场声全息法校准测量试验的相关研究工作
一种平面声呐阻抗特性近场全息校准测量方法

[发明专利]基于相位还原的近场天线测量方法-CN202211739482.3在审
发明人：尚军平;王永泰;左炎春;李荣;熊冬琼;胡永浩;廖明亮;赵静;李欣荣;张小苗 -专利权人：西安电子科技大学;中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种基于相位还原的近场天线测量方法，主要解决现有天线测量技术中高频天线近场相位获取困难，无法进行高频天线近场精确测量的问题。其实现方案为，通过近场天线测量获取高频天线近场两个平面的幅值，根据两个平面的幅值运用全局优化算法计算得到第一平面的最优初始相位，再由该最优初始相位和两个平面的幅值运用迭代傅里叶算法还原出高频天线近场第一个平面的相位；由第一个平面的幅值和还原的相位组成第一个平面的电场，由该电场计算得出高频天线的远场方向图。本发明采用优化还原算法得到高频天线的相位，无需进行测量，不仅解决了现有技术天线近场相位获取困难的问题，节约了近场天线测量的成本，且可兼容于高、低频天线测量，具有很强的实用性。
基于相位还原近场天线测量方法

[实用新型]近场平面扫描架以及近场平面扫描系统-CN201720695069.X有效
发明人：毛记平;东君伟;秦三团 -专利权人：中山香山微波科技有限公司
申请日： 2017-06-14 - 公布日： 2017-12-19 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种近场平面扫描架，包括第一支架；装设于第一支架上可沿X轴方向直线移动的第一直线移动机构；装设于第一直线移动机构上的可沿Y轴方向直线移动的第二直线移动机构；装设于第二直线移动机构上的可沿Z轴方向直线移动的第三直线移动机构；以及装设于第三直线移动机构上的可以在竖直平面内周向转动的、用于搭载测试部的转动机构；第一、第二、第三直线移动机构以及转动机构可以单独工作或者任意结合同时工作。本实用新型还公开了一种近场平面扫描系统。通过上述实施方式，其具有X、Y、Z及极化轴四轴运动能力，可以有效捕捉水平方向传播的波谱信息，能够容易地调整扫描架与待测设备之间的距离，自动化程度高，测试效率高。
近场平面扫描以及系统

[发明专利]基于共轭梯度法的无相位平面近场测量方法-CN202310171476.0在审
发明人：于丁;唐浩喻;张志亚;马迪;张欢欢;杨林 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R25/00 文献下载
摘要：本发明公开一种基于共轭梯度法的无相位平面近场测量方法，其步骤包括：对二维窄波束天线进行平面近场测量；获取两平面上的近场电场的幅度信息；在两个测量平面上迭代电场恢复二维窄波束天线的近场相位；生成全局误差参数；在两个平面上迭代恢复近场电场的相位；利用共轭梯度法对传播电场进行补偿；当达到收敛条件后终止迭代。
基于共轭梯度相位平面近场测量方法

[发明专利]一种用于近场赋形的平面透射阵列天线设计方法-CN202310779905.2在审
发明人：肖冬萍;范雷莉;张淮清;熊汉;王薪 -专利权人：重庆大学
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： H01Q15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于近场赋形的平面透射阵列天线设计方法，属于无线能量传输技术领域，包括以下步骤：确定平面透射阵列的单元大小以及馈源天线位置，并通过全波仿真获取平面透射阵列的入射电场；根据平面透射阵列的入射电场，推导平面透射阵列近场平面上的电场分布的计算公式；计算近场平面的电场分布，通过生物地理学优化算法对平面透射阵列的相位分布进行优化，得到所需近场平面的聚焦分布形状，完成近场赋形的平面透射阵列天线的设计。本发明解决了单点聚焦平面透射天线只适用于点对点微波能量传输系统，限制了微波能量传输技术的应用，不能实现任意形状的能量分布以及不能满足各种微波无线能量传输系统的问题。
一种用于近场赋形平面透射阵列天线设计方法

[发明专利]一种分时数据合成的共形阵列测试方法-CN201811199630.0有效
发明人：朱庆超;张小林;方佳;苗菁;张琪春;金谋平 -专利权人：中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请日： 2018-10-15 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种分时数据合成的共形阵列测试方法，包括步骤；对天线中的各个体单元、多通道开关的各端口进行编号；测试各所述开关电缆链路的不一致性并保存不一致性的测试数据；将所述端口通过所述电缆与对应编号的所述个体单元连接，设置平面近场测试参数，并确定近场采集平面；固定所述天线不动，逐一打开各所述端口，并采集单元平面近场数据，直到根据所述对应关系采集所有单元平面近场数据；对所述单元平面近场数据进行去除不一致性操作；对所述单元平面近场数据进行相位加权合成，获得天线平面近场数据；进行近远场变换获得天线方向图；本发明可得到天线任意波位的方向图，大幅度提高现有资源配置下天线测试能力。
一种分时数据合成阵列测试方法

[发明专利]基于远场平面扫描的毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法-CN202010793596.0在审
发明人：赵建勋;张旭;但佳雄;李帅 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2020-08-10 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01R29/14 文献下载
摘要：一种基于远场平面扫描的毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法，主要解决现有毫米波辐射器近场辐射剂量测量的精度低和效率低的问题。本发明测量并计算位于远场的扫描平面上的电场复振幅的分布，通过傅里叶逆变换，将远场的电场复振幅变换为平面波谱，将近场剂量空间分解为各个近场平面，通过傅里叶变换，将平面波谱变换为各个近场平面上的电场复振幅和磁场复振幅本发明方法通过在位于远场的扫描平面上测量功率，并由此计算出毫米波辐射器的近场辐射剂量，和现有的直接测量方法相比，本发明在测量精度和测量效率方面均有所提高。
基于平面扫描毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法

[发明专利]一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质-CN202310918512.5在审
发明人：袁浩波;李玉洁;杨普;王楠楠 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种多探头平面近场测量方法、系统、设备及介质，方法包括：将待测天线AUT与探头分别进行摆放，使探头的中心处于待测天线AUT扫描面的中心；使用探头对待测天线AUT进行扫描得到实测数据，对实测数据进行校准，得到平面近场数据；将平面近场数据通过平面多探头补偿算法，得到待测天线AUT的平面波谱，将待测天线AUT的平面波谱带入平面波谱与远场的关系式，得到待测天线AUT的远场数据；将待测天线AUT的远场数据在平面波谱与远场的关系式中的球坐标系下的坐标θ和#imgabs0#的均匀网格下进行输出，得到多探头平面近场测量结果；系统、设备及介质，用于实现多探头平面近场测量方法；本发明具有测量时间短、测量结果准确的特点。
一种探头平面近场测量方法系统设备介质

[发明专利]一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法-CN202310383818.5在审
发明人：沈伦玉;周祚;赵虔;邓乐武;杜微;魏平;李华军;吴杰 -专利权人：成都飞机工业（集团）有限责任公司
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法，属于天线测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、在待测天线的辐射近场区，进行平面近场扫描测量，得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据；步骤二、将天线近场数据变换到天线远场本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入，从共同结果中将探头影响去除，可以大幅度降低探头影响，有效修正增益和方向图测量结果；解决了探头影响的实际评估分析，对于提升平面近场法天线测量准确度具有至关重要的意义。
一种平面近场天线测量中的扫描探头修正方法

[发明专利]热辅助磁头检查方法及其装置-CN201210175492.9有效
发明人：张开锋;广濑丈师;渡边正浩;本间真司;中込恒夫;德富照明;中田俊彦;立崎武弘 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-05-30 - 公布日： 2012-12-05 - 主分类号： G11B5/455 文献下载
摘要：在热辅助磁头元件检查方法及其装置中，将样品装载到能在扫描探针显微镜装置的平面内移动的工作台上，使样品的近场光发光部产生近场光，通过在使具有探针的扫描探针显微镜的悬臂在样品表面附近上下振动的状态下使工作台在平面内移动，检测近场光引起的散射光，使用基于检测出的散射光的近场光的产生位置信息，检测从样品的近场光发光部发出的近场光的强度分布或者近场光发光部的表面形状。
辅助磁头检查方法及其装置

[外观设计]多探头平面近场和柱面近场天线测试系统-CN201730604700.6有效
发明人：陈宇钦 -专利权人：上海益麦电磁技术有限公司
申请日： 2017-12-01 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：多探头平面近场和柱面近场天线测试系统。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于多探头平面近场和柱面近场天线测试。3．本外观设计产品的设计要点：在于整体的形状。
外观设计近场天线平面近场多探头柱面测试系统测试图片

[发明专利]RFID应答器-CN201711174116.7有效
发明人：海基·阿霍卡斯;米卡·皮尔瓦奈宁 -专利权人：康菲德斯合股公司
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： H01Q1/22 文献下载
摘要：RFID应答器，包括：包括辐射元件(2)的天线、IC(3)和布置在辐射元件(2)的下方的接地平面(4)，该接地平面(4)是没有开口的实心的。辐射元件(2)包括近场通信部(6)，该近场通信部延伸出接地平面(4)的边缘，以使能够通过接地平面(4)从RFID应答器的背面进行天线的近场通信。
rfid 应答器

[发明专利]近场通信天线-CN201410682211.8在审
发明人：翁崇训 -专利权人：国基电子（上海）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2014-11-24 - 公布日： 2016-06-22 - 主分类号： H01Q1/50 文献下载
摘要：一种近场通信天线，用于进行近场通信，此近场通信天线包括接地部、辐射部、短路部及馈入部。其中，接地部位于基板的第一平面；辐射部所在平面与第一平面平行，辐射部包括第一辐射部与第二辐射部；短路部的一端连接接地部，另一端连接辐射部，用于调节近场通信天线的共振频率以缩小近场通信天线的尺寸；馈入部连接于辐射部本发明近场通信天线的近场电场强度较强，其天线体积也较小，适用于轻薄短小的产品设计中。
近场通信天线

[发明专利]一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法-CN201610710111.0有效
发明人：张启涛;赵兵;刘灵鸽;马玉丰;焦婧;李文龙;王宇 -专利权人：西安空间无线电技术研究所
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2018-10-09 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法，包括步骤如下：一、按照平面近场测试方法将待测天线进行安装，场地校准；二、在探头初始位置，设定扫描范围、测试距离，进行第一个极化分量数据的采集，得到近场数据D0，探头旋转90度得到近场数据D90，探头继续旋转90度得到近场数据D180，探头继续旋转90度得到近场数据D270；三、进行近远场变换与数据修正，得到最终修正后的待测天线方向图数据。本发明避免了探头安装的机械调整工作，通过数学算法对探头安装精度引起的测量误差进行修正，得到修正探头安装精度后的方向图测试数据，极大的降低平面近场对于探头安装的机械精度要求。
一种平面近场探头安装精度引起测试误差修正方法

[发明专利]平面相控阵列天线的近场电磁安全分析方法-CN201110451556.9有效
发明人：王春;吴楠;宋东安;陈亮;谢大刚 -专利权人：中国舰船研究设计中心
申请日： 2011-12-29 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种系统平台上平面相控阵列天线的近场电磁安全分析方法，通过计算相控阵天线辐射的近场电磁环境从而分析系统平台上平面相控阵天线附近人员和设备的电磁安全性。平面相控阵天线的近场由每个有源(激励)阵元在阵中的辐射场叠加而获得。平面阵列天线的近场区域相对于阵元来说，已经是远场区域。求解出每个阵元在阵中的辐射远场后，叠加并校正后即可获得阵列天线的近场。根据近场电场数据与电磁安全性标准规定的电场限值比较，来判断系统平台上处于相控阵天线近场的人员和设备的电磁安全性。本方法的每一步都基于严格的理论，理论上的严谨性保证了计算结果的精确性，从而能够精确分析处于天线近场区域的人员和设备的电磁安全性。
平面相控阵天线近场电磁安全分析方法

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