专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数值控制器-CN200710139077.7有效
  • 山口刚太;菱川哲夫;大西靖史;藤林谦太郎 - 发那科株式会社
  • 2007-07-24 - 2008-01-30 - G05B19/18
  • 揭示了一种能够预见机器操作中干涉发生并安全地放置干涉的数值控制器。提前位置计算部基于干涉检查设备的干涉检查的结束时间点、干涉检查所需时间和通信所需时间和减速和停止可移动部分所需时间及预定浮动之和,确定用于下次干涉检查的提前时间。进一步地,基于预读取的程序数据计算提前时间处可移动部分的提前位置并输出到干涉检查设备。干涉检查设备在提前位置执行干涉检查。如果检测到干涉干涉检查设备向运动命令输出部传送轴停止信号,从而停止运动命令并减速和停止可移动部分。由于根据干涉检查所需时间确定干涉检查时间,能够没有延迟或提前地安全地防止干涉的发生。
  • 数值控制器
  • [发明专利]多级条纹追踪方法-CN202310850906.1在审
  • 安其昌;刘欣悦;李洪文 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2023-07-12 - 2023-10-10 - G02B23/12
  • 本发明涉及光干涉望远镜技术领域,尤其涉及一种多级条纹追踪方法,包括如下步骤:S1、采用ABCD四步移相法对两个光干涉望远镜接收到的光束进行移相干涉,形成四路干涉光;S2、将四路干涉光中携带有相移的一路引出与第三个光干涉望远镜接收到的光束进行移相干涉,获得条纹追踪结果;S3、根据条纹追踪结果对三个干涉望远镜进行光程调节。本发明利用两个光干涉望远镜的干涉光中的光场信息与另外一个光干涉望远镜进行干涉,可以同时实现至少三个光干涉望远镜的干涉,提高光干涉望远镜的调节效率。
  • 多级条纹追踪方法
  • [发明专利]一种激光白光复合干涉测量系统及方法-CN201810448837.0有效
  • 杨树明;薛兴昌;张国锋;杨新宇;杨林林;吉培瑞 - 西安交通大学
  • 2018-05-11 - 2021-01-19 - G01B9/02
  • 本发明公开了一种激光白光复合干涉测量装置及方法,可以将单色光相移干涉与白光扫描干涉相结合,提高系统的测量性能。该测量装置包括白光LED光源、准直透镜、滤光片、光学显微干涉模块和图像采集装置。测量方法是首先对被测样品进行白光扫描干涉测量。然后进行单色光相移干涉测量,只需在分光镜前放置滤光片即可,其它部分与白光扫描干涉相同。将白光扫描干涉测量结果与单色光相移干涉测量结果相结合,可以解决单色光相移干涉中存在的相位模糊问题;相对于白光扫描干涉,复合干涉测量结果具有更高的精度。另外,本发明复合干涉测量系统采用Michelson干涉结构,其横向测量范围远大于商业白光干涉Mirau结构的测量范围,对于大尺寸零件表面检测具有更大优势。
  • 一种激光白光复合干涉测量系统方法
  • [发明专利]基于无网格与频率估计的干涉合成孔径雷达相位解缠方法-CN201510401427.7在审
  • 冯大政;王逸凡;杨凡;张妍 - 西安电子科技大学
  • 2015-07-09 - 2015-10-28 - G01S13/90
  • 本发明提供一种基于无网格与频率估计的干涉合成孔径雷达相位解缠方法,能够提高干涉合成孔径雷达干涉相位图的像素点之间解缠精度。该相位解缠方法包括如下步骤:获取干涉合成孔径雷达的干涉相位图;将所述干涉相位图划分为多个子干涉相位图,并计算每个子干涉相位图中相邻像素点之间的缠绕相位梯度值;确定所述每个子干涉相位图的形函数;根据所述每个子干涉相位图中相邻像素点之间的缠绕相位梯度值和所述形函数,得到所述每个子干涉相位图的缠绕相位梯度函数;根据所述每个子干涉相位图的缠绕相位梯度函数,求解所述每个子干涉相位图的解缠相位值;根据所述每个子干涉相位图的解缠相位值,对所述干涉合成孔径雷达的干涉相位图进行解缠
  • 基于网格频率估计干涉合成孔径雷达相位方法
  • [发明专利]地物形变确定方法、装置、电子设备及存储介质-CN202311017560.3有效
  • 陈玄;赵晨;刘阁;关山;汪磊;李强;王祯 - 北京观微科技有限公司
  • 2023-08-14 - 2023-10-27 - G01S13/90
  • 本发明提供一种地物形变确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及雷达干涉测量技术领域,该方法包括:根据目标地物对应的SAR影像序列,确定第一干涉对集合;将第一干涉对集合输入至干涉对优化模型中,得到干涉对优化模型输出的第二干涉对集合;根据第二干涉对集合,确定目标地物的形变结果;其中,干涉对优化模型是基于第一干涉对集合对应的时间基线最大信息系数和空间基线最大信息系数构建得到的。该方法采用干涉对优化模型对第一干涉对集合中的干涉对进行优化选择,得到第二干涉对集合,整个过程不局限于SAR影像序列的数据量多少,同时可提高干涉对中干涉点的相干性,使得后续基于该第二干涉对集合得到准确性较高的目标地物的形变结果
  • 地物形变确定方法装置电子设备存储介质
  • [实用新型]一种干涉仪测试结构-CN202222713158.6有效
  • 张宝安 - 苏州然玓光电科技有限公司
  • 2022-10-14 - 2023-01-13 - G01D18/00
  • 本实用新型公开了一种干涉仪测试结构,涉及干涉仪测试技术领域,该干涉仪测试结构,包括干涉仪本体和活动安装在干涉仪本体底端表面的干涉仪放置板,所述干涉仪放置板的底端表面安装有三角支架,所述干涉仪放置板的内部安装有引出结构,所述干涉仪本体内部安装有四个固定结构,所述干涉仪本体的外侧表面安装有取出结构。本实用新型通过顶柱本体阻挡移动板随着干涉仪本体向下移动,移动板带动四个斜角顶块本体向上移动,斜角顶块本体将固定卡块本体向干涉仪本体外侧挤出,固定卡块本体卡在卡接槽内,使干涉仪本体固定在干涉仪放置板内,使干涉仪本体在测量使不会发生晃动,使干涉仪本体测量数据准确性高。
  • 一种干涉仪测试结构
  • [实用新型]连接器端子-CN00255394.5无效
  • 杜竟良;高茂森 - 华琦电子工业股份有限公司
  • 2000-10-30 - 2001-12-26 - H01R43/16
  • 一种连接器端子及端子料带排配,其中,端子的干涉体系左右高低错位设置,藉此即可对干涉壁面的两侧于不同干涉处配合,而端子料带系于相邻端子的干涉体作错位配置,使干涉体成凹凸状并互相卡合并保持安全距离,以提高端子高速传输时的安全性,干涉体的改进配置可提供与干涉壁面单侧连续性的干涉配合,以避免对干涉壁面的破坏,同样,藉料带的配置可于组装时干涉体对同一干涉壁面不同干涉处配合,可避免对壁面过度挤压造成破裂。
  • 连接器端子
  • [实用新型]一种陶瓷颗粒磨料机的进料口结构-CN202021426521.0有效
  • 陈永隆;柯林;陈叔林 - 安徽永舟文具有限公司
  • 2020-07-20 - 2021-05-14 - B02C23/02
  • 本实用新型公开了一种陶瓷颗粒磨料机的进料口结构,包括有设在磨料机上的进料机构,进料机构包括有进料斗、干涉机构,进料斗的底部设有斗底板,斗底板上开设有漏孔;干涉机构包括有干涉罩、干涉座,干涉罩位于进料斗内,干涉罩与进料斗的内壁之间设有固定杆,干涉座固定在斗底板且位于干涉罩的下方;干涉座与干涉罩之间设有间隙,间隙内设有转动架,转动架由设在干涉座内的传动机构控制转动,转动架的两端均设有搅动板,搅动板位于干涉座与进料斗之间
  • 一种陶瓷颗粒磨料进料结构
  • [发明专利]多轴设备控制方法、计算设备及存储介质-CN201911191969.0在审
  • 翟金双 - 苏州威兹泰克软件科技有限公司
  • 2019-11-28 - 2020-02-21 - G05B19/414
  • 本发明公开了一种多轴设备控制方法、计算设备及存储介质,该方法预先选择干涉轴,设定干涉轴的安全位置,设定干涉轴的目标位置和非干涉轴的目标位置,所述方法包括:判断干涉轴是否处于安全位置,当干涉轴不处于安全位置时,驱动干涉轴直至其安全位置;当干涉轴处于安全位置时,驱动非干涉轴至其目标位置,再驱动干涉轴至其目标位置。通过预先选择干涉轴,并设定干涉轴的安全位置,确保了设备控制过程中,不会发生起始点位和目标点位空间硬件上的干涉
  • 设备控制方法计算存储介质

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