专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于生成全息干涉条纹的方法及系统-CN201110078768.7有效
  • 谈学能;吴涛;苏昊 - 武汉思臻光信息科技有限公司
  • 2011-03-30 - 2012-10-10 - G03H1/08
  • 本发明提供了一种用于生成全息干涉条纹的方法及系统,该方法包括:针对一数字图像,生成该数字图像的BMP灰度位图;根据该BMP灰度位图的每一像素的灰度值,确定该像素所对应的全息干涉条纹的角度和密度;以及根据每一像素所对应的全息干涉条纹的角度和密度以及不对称切面全息干涉条纹模式,生成所述数字图像的全息干涉条纹,其中,所述全息干涉条纹的密度位于0-700线/mm的范围内,所述不对称切面全息干涉条纹模式被配置为:全息干涉条纹由明至暗渐变、由暗至明突变,全息干涉条纹切面由高至低渐变通过在不对称切面全息干涉条纹模式下生成低密度的全息干涉条纹,由该全息干涉条纹所组成的全息图可具有理想的水晶白光效果。
  • 一种用于生成全息干涉条纹方法系统
  • [发明专利]一种三维干涉条纹几何特征的标定系统及方法-CN202210945312.4在审
  • 张浩 - 大连海事大学
  • 2022-08-08 - 2022-12-09 - G06T7/70
  • 本发明提供一种三维干涉条纹几何特征的标定系统及方法。采用高精度线性电动位移台与矩阵相机结合,使用控制程序操控位移台沿着干涉条纹投射方向移动,同时控制相机拍摄不同位置的干涉条纹得到条纹的三维图像;利用空间傅里叶变换、高斯拟合以及最大值位置提取算法计算明暗条纹变化的空间频率,从而基于像素尺寸标定干涉条纹系统的条纹间距;通过图像二值化和边缘检测算法提取条纹边界轮廓,标定干涉条纹区域的高度和宽度,最终实现三维干涉条纹系统几何特征的评估。该系统和方法可以对干涉条纹系统作更为全面的标定。
  • 一种三维干涉条纹几何特征标定系统方法
  • [发明专利]基于MATLAB平台的干涉条纹波面重建方法-CN201811250671.8有效
  • 梅启升;王敏;梁秀玲;周群 - 福建师范大学
  • 2018-10-25 - 2022-06-03 - G06T11/00
  • 本发明涉及一种基于MATLAB平台的干涉条纹波面重建方法,首先读取一张含有噪声的干涉条纹图片时,对图片进行预处理,通过图像增强处理与图像滤波处理得到质量较好的干涉图像;随后对干涉图像进行二值化处理,除条纹以外信息进行删除,根据条纹二值图特征信息对图像进行孔洞填充,随后根据完整的条纹信息进行干涉条纹进行骨架提取;根据干涉条纹骨架信息,对图像中的毛刺与断点等问题分别进行删除与连接的处理;根据完整的干涉条纹骨架特征信息对干涉条纹进行级次标定;最后根据重新标定的干涉条纹骨架进行面型重建处理出,并通过MATLAB将其中每一步的处理效果图片显示出来。
  • 基于matlab平台干涉条纹重建方法
  • [发明专利]条纹追踪方法-CN202111063486.X有效
  • 安其昌;刘欣悦;张景旭;李洪文;王越 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2021-09-10 - 2022-09-20 - G01J9/02
  • 本发明提出了一种条纹追踪方法,包括如下步骤:使用两路光子灯笼对光信号进行收集;获取经光子灯笼出射的N路干涉条纹图;根据干涉条纹图求得光程差,并从光程差中获取相位信息;以干涉条纹图为输入,以干涉条纹的相位差信息为输出,构建并训练神经网络模型;利用干涉系统对不同角度的光信号进行收集,获取不同角度的光信号干涉条纹图;将干涉条纹图输入至训练好的神经网络模型,获取相位差并进行补偿,以实现干涉条纹的追踪。本发明提供的条纹追踪方法,利用光子灯笼进行光信号收集能够提升单模光纤传输容量,能够大幅度提高光信号的收集能力;且利用训练神经网络模型的方式进行条纹追踪,保证了条纹追踪的精度。
  • 条纹追踪方法
  • [发明专利]DFDI仪器多普勒干涉条纹对比度分析方法-CN202010065235.4有效
  • 吴银花;魏儒义;吴慎将;聂亮;赵保银;张发强 - 西安工业大学
  • 2020-01-20 - 2021-07-13 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种DFDI仪器多普勒干涉条纹对比度分析方法。通过DFDI仪器多普勒干涉条纹对比度分析模型,可系统分析仪器各项关键参数对干涉条纹对比度的影响,从而有助于确定各项参数的最佳取值范围。本发明采用的步骤为:1、根据光程差d和光栅分辨率gr,确定中间参数g1和中间参数g2;2、建立DFDI仪器多普勒干涉条纹对比度分析模型;3、利用干涉条纹对比度分析模型,获取当前参数值组合下对应多普勒干涉条纹对比度;4、利用干涉条纹对比度分析模型,获取该任意一个参数在其取值范围内对应的多普勒干涉条纹对比度一维分布;5、利用干涉条纹对比度分析模型,可获取该任意两个参数在其取值范围内对应的多普勒干涉条纹对比度二维分布
  • dfdi仪器多普勒干涉条纹对比度分析方法
  • [发明专利]三维形状测量装置-CN200580044232.6无效
  • 武田光夫;米哈尔·埃马努埃尔·波罗斯基;坂野洋平 - 国立大学法人电气通信大学
  • 2005-12-22 - 2007-12-12 - G01B11/24
  • 在使用白色干涉条纹测量被测量物的三维形状的三维形状测量装置(白色干涉测量装置)中,可以缩短运算所需要的处理时间,并且可以高精度地确定白色干涉条纹的振幅的包络线为最大的位置。在白色干涉测量装置中,首先对于由来自参照镜(6)的返回光和来自被测量物(7)的返回光的干涉产生的白色干涉条纹,求出振幅的包络线的分布,使用该包络线的分布,求出白色干涉条纹的对比度为最大的大概的位置。然后,提取白色干涉条纹中包含的至少两个以上相互不同的分光光谱频带成分的干涉条纹,在白色干涉条纹的对比度为最大的大概位置的附近求出得到相互不同的分光光谱频带成分的干涉条纹的相位为相互相等的值的位置。
  • 三维形状测量装置

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