专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]流式细胞仪WDM入射光信号的耦合装置-CN201420151541.X有效
  • 徐进礼 - 常州必达科生物科技有限公司
  • 2014-04-01 - 2015-01-28 - G01N15/10
  • 本实用新型涉及流式细胞仪WDM入射光信号的耦合装置,包含流式池的光收集透镜组件和WDM模块,流式池的光收集透镜组件的输出端布置有WDM入射耦合透镜,WDM入射耦合透镜的输出端布置WDM模块,WDM入射耦合透镜为球形透镜或者鼓形透镜采用球形入射透镜来耦合光信号进入WDM模块,入射调整范围,不需要WDM模块位置的严格校准,极大地简化了WDM模块的定位校准和调试工作。解决入射的局限性,能够耦合接收更大的入射度的荧光散射信号,提高光接收效率。避免了光纤的使用,不用考虑光纤传导带来的信号损失。入射裕量的增大,降低了WDM模块校准定位的难度,极大地提高了量产组装效率。
  • 细胞wdm入射信号耦合装置
  • [发明专利]一种面阵APS数字太阳敏感器的精度补偿方法-CN201110259209.6有效
  • 黎雯洋;张高飞;尤政;邢飞 - 清华大学
  • 2011-09-05 - 2012-05-02 - G01C25/00
  • 包括小角度入射和大角度入射的精度补偿。首先对太阳敏感器图像处理芯片计算输出的太阳光斑中心坐标值进行一次旋转校正;然后对大角度入射的坐标值做二次校正,利用旋转校正的坐标值做折射模型的坐标映射;再利用单轴的高阶多项式拟合法计算太阳角度正切值,若入射为小角度,利用旋转校正后坐标值计算,若入射为大角度,用二次校正的坐标值计算;最后求反正切得到太阳角度值。本发明适合于面阵APS阵列式数字视场太阳敏感器的精度补偿,补偿了主要误差因素,具有较高的精度。
  • 一种aps数字太阳敏感精度补偿方法
  • [发明专利]图像读取装置和图像形成装置-CN200610082609.3有效
  • 市川裕一;仲谷文雄 - 富士施乐株式会社
  • 2006-05-18 - 2007-04-18 - H04N1/04
  • 装置包括:光源;第一引导单元,用于按包括第一入射和第二入射的规定入射将来自光源的光导向物体;信号发生单元,用于接收光并基于接收到的光生成图像信号;第二引导单元,用于将从物体反射的光导向信号发生单元;以及控制单元,用于控制第一引导单元以按包括第一入射和第二入射的至少两个不同入射将来自光源的光导向物体,并控制信号发生单元以针对所述至少两个不同入射生成图像信号。
  • 图像读取装置形成
  • [发明专利]一种地层倾角探测方法及系统-CN202010128675.X有效
  • 巩向博;王升超;万晓杰;许卓 - 吉林大学
  • 2020-02-28 - 2021-06-22 - G01V1/30
  • 本发明公开一种地层倾角探测方法及系统,涉及地震勘探技术领域,包括:获取组合震源激发地震波场的入射;组合震源包括多个子震源;获取相邻两个子震源之间的相位差;获取子震源的激发参数;根据激发参数、入射和相位差启动子震源;获取检波器接收的振幅信息;比较所有振幅信息,得到最大振幅对应的最佳入射;最佳入射为地层倾角。本发明通过设置震源的入射和激发参数获取反射波的振幅信息,得到振幅最大时的入射,即最佳入射,由于最佳入射与地层倾斜方向垂直,所以最佳入射与倾斜地层的倾角相等。
  • 一种地层倾角探测方法系统
  • [发明专利]双通干涉测量编码器系统-CN201280066526.9有效
  • P.德格鲁特;J.莱森纳 - 齐戈股份有限公司
  • 2012-11-08 - 2014-09-10 - G01D5/38
  • 编码器头包括被如下配置的一个或多个元件:i)以相对于编码器刻度的法线的第一入射将第一入射光束定向到所述衍射编码器刻度;ii)以相对于编码器刻度的法线的第一返回从衍射编码器刻度接收第一返回光束,第一返回不同于第一入射;iii)以相对于编码器刻度的法线的第二入射将第一返回光束作为第二入射光束重定向到所述衍射编码器刻度;和iv)以相对于编码器刻度的法线的第二返回从所述衍射编码器刻度接收回第二返回光束,第二返回不同于第二入射,其中第一入射与第二入射之间的差小于第一入射与第一返回之间的差并且小于第二入射与第二返回之间的差。
  • 干涉测量编码器系统

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