专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]可靠连接器-CN201610591051.5在审
  • 管玉龙 - 昆山雷驰电子有限公司
  • 2014-08-12 - 2017-02-22 - H01R43/00
  • 本发明公开了一种高可靠连接器,所述高可靠连接器通过以下成型及组装步骤获得:提供一外壳体料带,于其上成型若干个并列设置的带料带的外壳体,相连外壳体之间通过其料带连接;提供若干带料带的端子,将该带料带的端子依次插入所述外壳体和绝缘本体一体的半成品中的绝缘本体内,并将端子的料带去除;去除外壳体的料带,即得到若干个连器成品;锯齿结构为在所述下壳体的纵向的一侧边上设置凹部形成;所述绝缘本体为塑胶材料注塑而成,且该绝缘本体的下表面上射出成型后形成有若干个注塑定位孔
  • 可靠性连接器
  • [实用新型]可靠连接器-CN201620045650.2有效
  • 周泽;陈智会 - 昆山宫田电子科技有限公司
  • 2016-01-18 - 2016-08-17 - H01R13/502
  • 本实用新型公开一种高可靠连接器,包括第一塑料座、第二塑料座、金属屏蔽壳、第一导线排端子和第二导线排端子,所述第一导电线排、第二导电线排分别以注塑成型的方式嵌设于第一塑料座、第二塑料座中,所述第一导电线排本实用新型大大简化了整个连接器的结构,简化了制程,降低了生产报废率,避免了产品使用过程中出现脱落,从而影响使用寿命和可靠
  • 可靠性连接器
  • [发明专利]连接接触可靠检测方法-CN201710061022.2在审
  • 李术东;吴毅;金瑞超 - 天津市捷威动力工业有限公司
  • 2017-01-25 - 2017-04-26 - G01R31/36
  • 本发明提供了一种连接接触可靠检测方法,由若干芯串联或者并联在一起组成电池组,对所述电池组的连接接触可靠检测方法包括如下步骤将交流内阻测试仪采用四端子测试法的接线方式连接在连接的待检测节点处;设置测量档位、电压测量量程和电阻测量量程;采集测量数据;将采集的测量数据传输到上位机进行处理;所述上位机判断测量的电阻值是否在合格范围内,若超出合格范围表示连接可靠存在问题。本发明所述的连接接触可靠检测方法使用交流内阻测试仪测量连接接触内阻,实现产品连接处的快速检测,保证产品质量的可靠和一致,将连接的可靠通过数值量化。
  • 连接接触可靠性检测方法
  • [实用新型]可靠制动进给箱-CN201020669839.1有效
  • 李立强;姜辉;孙先柱;季卫东;赵康原;焦建华;沈红忠 - 齐重数控装备股份有限公司
  • 2010-12-21 - 2011-06-29 - B23Q5/40
  • 本实用新型公开了一种高可靠制动进给箱,包括伺服电机、失制动保护器、电机轴齿轮、大齿轮、进给箱体、滚珠丝杠、横梁、滚珠丝杠螺母、平键。伺服电机固定在进给箱体的上部,电机轴齿轮固定在伺服电机的电机轴上,与电机轴齿轮相啮合的大齿轮固定在滚珠丝杠的上部,失制动保护器固定在进给箱体的上部,通过平键与滚珠丝杠连接,滚珠丝杠螺母固定在横梁上。本实用新型的有益效果是:进给箱正常工作时,失制动保护器不制动,当机床断电时,伺服电机和失制动保护器同时制动横梁,在伺服电机发生故障的情况下,失制动保护器能够独立制动滑枕、横梁,有效地防止了滑枕、横梁滑落事故的发生
  • 可靠性制动进给
  • [实用新型]连接接触可靠检测装置-CN201921852057.9有效
  • 杨志强 - 宁波市沃特测试技术服务有限公司
  • 2019-10-31 - 2020-07-10 - G01R31/00
  • 本实用新型涉及可靠检测技术领域,且公开了一种连接接触可靠检测装置,包括检测箱,所述检测箱底部固定安装有置物台,所述置物台底部左右两侧均固定安装有数量为两个的万向轮,所述检测箱顶部固定安装有空气加热器该连接接触可靠检测装置,解决了目前在对连接接触可靠进行检测时往往需要进行高温检测,但是现有的连接接触可靠检测装置没有有效利用检测过程中产生的能量,检测完成后,高温空气直接排放,造成了资源的浪费的问题
  • 连接接触可靠性检测装置
  • [发明专利]后端介材料的可靠评估方法-CN201810236020.7有效
  • 杨盛玮;韩坤 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2018-03-21 - 2020-04-10 - G01R31/12
  • 本发明涉及一种后端介材料的可靠评估方法,包括:对晶圆所有待检测点进行测试,获取各待检测点的电流‑电压曲线、击穿电压以及实际击穿寿命;选取任意一点作为参考点,测量得到参考点的金属间距;对晶圆各个待检测点的电流获取各个待检测点的线性拟合的斜率与金属间距之间的对应关系;计算得到各个待检测点的金属间距计算值;计算得到各个待检测点的实际击穿电场强度,所述击穿电场强度与金属间距无关;计算在统一恒定测试电场下的修正击穿寿命;根据实际击穿电场强度以及修正击穿寿命,对后端介材料的本征可靠进行评估
  • 后端材料可靠性评估方法
  • [发明专利]一种迁移可靠测试结构-CN201210564557.9有效
  • 储佳 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2012-12-24 - 2017-05-31 - H01L23/544
  • 本发明公开了一种迁移可靠测试结构及其制备方法,迁移可靠测试结构包括第一层金属线,其包括第一金属线,与第一金属线平行且相隔一定距离的第二金属线,以及垂直连接于第一金属线和第二金属线之间的第三金属线;第三金属线的一端靠近第一金属线的一个端点,另一端靠近第二金属线的一个端点;金属线之间填充有绝缘介质;以及第二层金属线,位于第一层金属线上方,通过金属通孔引出第一层金属线以进行可靠测试。通过本发明的迁移可靠测试结构和制备方法,只需要两层金属结构就能够完成电流拥堵效应引起的迁移可靠测试,减少了制造工艺步骤。
  • 一种迁移可靠性测试结构
  • [发明专利]用于检验介薄膜可靠的方法-CN95120985.X无效
  • 严今榕 - 现代电子产业株式会社
  • 1995-12-31 - 1997-03-19 - G01R31/12
  • 一种用于检验在半导体基片上的介薄膜的可靠的方法确立第一级的电流值并施加于介薄膜;施加对应后续各级的下一个电流直到介薄膜被击穿,其中,各级的电流值按续增加;测量电荷值直到介薄膜被击穿,其中对应于各级的电流值被一预定的分母值除,而且各被除的那些值被分成所述分母那么多次施加到介薄膜上,在将被除的值的电流施加到介薄膜上之后,在预定的时间就介薄膜是否被击穿进行测量。
  • 用于检验薄膜可靠性方法

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