专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测活体检验模型可靠的方法以及装置-CN202010026205.2有效
  • 邹浔;程瑾;毛楠;钱承君 - 北京百度网讯科技有限公司
  • 2020-01-10 - 2023-04-25 - G06V40/40
  • 本申请公开了一种检测活体检验模型可靠的方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质,涉及活体检测技术领域。本申请在检测活体检验模型可靠时所采用的实现方案为:使用预设颜色的滤色片拍摄假脸物体,获取对应所述预设颜色的测试图片集;将所述测试图片集中的各图片输入待检测活体检验模型,根据所述待检测活体检验模型的输出结果,获取对应所述预设颜色的测试结果集;根据所述测试结果集及其对应的预设颜色确定可靠等级,输出所述可靠等级作为所述待检测活体检验模型的可靠检测结果。本申请能够提升活体检验模型可靠的检测准确度。
  • 检测活体检验模型可靠性方法以及装置
  • [发明专利]GPS定位技术中的相位整周模糊度可靠检核方法-CN201110257805.0有效
  • 潘树国;王庆;邓健 - 东南大学
  • 2011-09-02 - 2012-04-25 - G01S19/44
  • 本发明公开了一种GPS定位技术中的相位整周模糊度可靠检核方法,基于模糊度解的数理统计特性,依次对模糊度浮点解及整数解可靠进行检验,首先,通过最小二乘参数估值最大变化率检验浮点解稳定性,以确保浮点解的统计特性,在此基础上采用方差验后检验检验浮点解可靠;其次,基于模糊度成功率检验理论,建立模糊度整数估值失败率与传统Ratio检验阈值c间的函数关系,从而利用给定的可靠指标——模糊度整数估值失败率确定Ratio检验阈值c,解决了传统Ratio检验阈值难以确定的问题,最后,通过Ratio检验法,实现所求模糊度整数估值的可靠检验,获得模糊度准确值。
  • gps定位技术中的相位模糊可靠性检核方法
  • [发明专利]一种机电产品半试验寿命与可靠仿真方法-CN202011178637.1有效
  • 傅惠民;文歆磊;付越帅 - 北京航空航天大学
  • 2020-10-29 - 2022-10-18 - G06F30/20
  • 本发明提供一种机电产品半试验寿命与可靠仿真方法,步骤如下:1、建立威布尔分布半试验寿命与可靠仿真方法,实现威布尔分布下的产品寿命随机仿真以及可靠统计推断;2、建立对数正态分布半试验寿命与可靠仿真方法,实现对数正态分布下的产品寿命随机仿真以及可靠统计推断;3、建立产品可靠仿真检验方法,对产品可靠度和可靠寿命仿真测试结果进行检验,在高置信水平下判断可靠仿真系统是否正确可信;4、建立仿真与试验相结合的寿命预测和可靠评估方法,利用产品试验数据和仿真数据,进行可靠融合评估。实现了机电产品可靠与寿命随机仿真以及仿真检验和融合利用,增加了机电产品可靠评估的信息量,提高了产品可靠评估精度。
  • 一种机电产品试验寿命可靠性仿真方法
  • [实用新型]一种激光芯片可靠检验夹具-CN202123256446.5有效
  • 陈志远;祝贝贝;林一凡 - 中久光电产业有限公司
  • 2021-12-22 - 2022-06-10 - B25B11/00
  • 本实用新型涉及激光器技术领域,尤其涉及一种激光芯片可靠检验夹具,包括底座,所述底座上设有左右分布且相互连通的定位槽和调节槽,所述定位槽用于放置激光芯片,所述调节槽内设有滑块及调节杆,所述调节杆用于调节滑块到定位槽右端的距离在本实用新型中,将激光芯片置于定位槽内,使其左侧与定位槽的倾斜内壁抵接,调节杆调节滑块使其倾斜的左侧壁与激光芯片的右侧抵接,从而对激光芯片的左右、上下限位,不会使芯片焊料变形,简单快捷,极大的提高了检验效率
  • 一种激光芯片可靠性检验夹具
  • [发明专利]基于质量偏差的制造过程产品可靠下滑风险评价方法-CN201410490761.X有效
  • 何益海;尹超;王林波 - 北京航空航天大学
  • 2014-09-23 - 2017-06-23 - G06F19/00
  • 一种基于质量偏差的制造过程产品可靠下滑风险评价方法,步骤如下1、建立制造过程产品可靠下滑风险评价指标体系;2、依据步骤1中的指标体系收集产品制造稳态下的历史数据;3、利用结构方程检验步骤1中建立的指标体系与步骤2中采集的历史数据的适配,若适配检验通过,则进入步骤4;若适配检验不通过,则回到步骤1,对指标体系进行修正;4、将步骤3中检验通过后的指标体系应用到产品正常批量生产状态下,计算每个批次的制造过程产品可靠下滑风险RS;5、计算每个批次的制造过程产品可靠下滑风险RS的置信区间;6、应用计算得到的制造过程产品可靠下滑风险RS及置信区间监控产品批量生产状态下各批次可靠下滑风险的波动情况。
  • 基于质量偏差制造过程产品可靠性下滑风险评价方法

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