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[发明专利]一种检测系统和检测设备-CN202210101391.0在审
发明人：兰雨;彭沐曦;张磊;陶雪飞 -专利权人：中国农业银行股份有限公司
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种检测系统和检测设备，检测系统包括光源模块，用于为耦合器模块提供光源；耦合器模块，用于将光源模块发出的光分别发射至待检测光器件和参考反射镜，并将待检测光器件反射的光以及参考反射镜反射的光发生干涉，得到干涉光束；探测信号模块，用于接收干涉光束并进行准直后送入数据采集模块；数据采集模块，用于对干涉光束进行分析处理，并将分析结果送入上位机；反馈控制模块，用于获取并处理耦合器模块的第四端反射的干涉光束的反射光，并基于处理结果对发射至参考反射镜的光束进行补偿修正。
一种检测系统设备

[发明专利]一种折射率测量装置及方法-CN201310119458.4有效
发明人：伏碧德;白春;龚婧瑶;曹晓君 -专利权人：辽宁科旺光电科技有限公司
申请日： 2013-04-08 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：该装置包括：不同波长的多个短相干光源、波分复用器、光纤耦合器、两个光纤准直器、移动式反射镜、反射镜、透明平板、波分解复用器、多个光电接收器和多段光纤，各部件形成参考光路与测量光路。通过参考光路与测量光路配合，测出被测透明物体上、下表面在反射镜和透明平板形成的腔体中的位置，结合反射镜和透明平板之间的距离，得到被测透明物体的厚度，通过比较被测物放入前后的光程差以及被测透明物体的厚度就能得到被测物镜的折射率该测量装置结构简单，测量精度高，可以高精度方便在线测量平面、球面镜的折射率和色散系数。
一种折射率测量装置方法

[实用新型]一种折射率测量装置-CN201320171403.3有效
发明人：伏碧德;白春;龚婧瑶;曹晓君 -专利权人：辽宁科旺光电科技有限公司
申请日： 2013-04-08 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：该装置包括：不同波长的多个短相干光源、波分复用器、光纤耦合器、两个光纤准直器、移动式反射镜、反射镜、透明平板、波分解复用器、多个光电接收器和多段光纤，各部件形成参考光路与测量光路。通过参考光路与测量光路配合，测出被测透明物体上、下表面在反射镜和透明平板形成的腔体中的位置，结合反射镜和透明平板之间的距离，得到被测透明物体的厚度，通过比较被测物放入前后的光程差以及被测透明物体的厚度就能得到被测物镜的折射率该测量装置结构简单，测量精度高，可以高精度方便在线测量平面、球面镜的折射率和色散系数。
一种折射率测量装置

[发明专利]一种双曲面或椭球面反射镜光轴精密标定装置及标定方法-CN202310126820.4在审
发明人：刘伟光;李阳;许航航;管伟;韩志超;张向明;史永航;张小强;卢恒;贺凯 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种双曲面或椭球面反射镜光轴精密标定装置，其包括：由前至后同轴布置的干涉仪、高精度球面标准镜、待标定反射镜组件、内调焦望远镜；高精度球面标准镜中心开孔，干涉仪发出球面波测试光束，入射到待标定反射镜组件后再反射到高精度球面标准镜上，之后沿原路返回，进入干涉仪与参考光束发生干涉，实现干涉测量。本发明通过高精度自准直方法，实现测量基准高精度转换，通过调节使干涉仪发出的球面波测试光束的汇聚中心及高精度球面标准镜曲率中心连线、双曲(椭球)面反射镜光轴、内调焦望远镜光轴、光轴标定工装反射镜法线相互平行
一种双曲面椭球反射光轴精密标定装置方法

[发明专利]一种望远镜主次镜实时对准检测系统-CN202210381024.0有效
发明人：彭起;包奇红;杨智焜;任戈;侯智芸;谭毅;江川;朱柏林;井旭旭 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-04-12 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于光学检测领域，具体涉及一种望远镜主次镜实时对准检测系统。该系统通过在被测主镜边缘区域上下左右四个位置放置四个小球面反射镜，并使小球面反射镜的球心都位于被测主镜的焦点处，则由次镜边缘反射的检测参考光经小球面反射镜反射后能够原路返回，构成自准直检测光路。由小球面镜返回的四束光进入探测器后在像面上形成四个光斑，通过分析四个光斑在像面上分布的位置坐标信息可解算出主次镜对准误差的大小。该系统可适用于离轴和同轴望远镜的实时对准检测，且不受望远镜口径大小的限制，而所用小球面反射镜也简单易得，因此更加具有实用性。
一种望远镜主次实时对准检测系统

[发明专利]四轴4细分干涉仪-CN201110206450.2有效
发明人：程兆谷;陈建芳;程亚;黄惠杰;池峰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海微电子装备有限公司
申请日： 2011-07-22 - 公布日： 2012-02-15 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：所述的四轴分光系统由3个50%平面分光镜和3个45°平面反射镜组成。本发明包括四轴4细分平镜干涉仪和四轴4细分差分干涉仪，在差分干涉仪中采用可调节45°反射镜将参考光引导到与测量镜同方向放置的固定在运动物体上的参考反射镜。
细分干涉仪

[发明专利]一种基于色差和谱域干涉的光学3D成像装置及方法-CN202111002348.0在审
发明人：王毅;黄玉斌;马振鹤;赵玉倩 -专利权人：东北大学秦皇岛分校
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：该装置包括宽带光源，光源出射光入射第一透镜；第一透镜出射平行光入射分光装置；分光装置出射参考光和样品光；样品光依次经过第三透镜和第四透镜入射扫描振镜后经第五透镜以不同焦点聚焦在样品的不同深度层面上；参考光入射光栅，从光栅出射不同波长的参考光通过第二透镜聚焦反射镜表面；在第二透镜和反射镜之间设置三角形透光体；经反射镜反射的参考光和经样品的不同深度层面反射的样品光均进入分光装置后，再进入光谱仪中形成干涉光谱；光谱仪与扫描振镜均与计算机相连
一种基于色差干涉光学成像装置方法

[实用新型]一种双反射镜无焦系统中主次镜装调系统-CN202122335944.2有效
发明人：戚海艳;杜兵强;马骏;田骏 -专利权人：茂莱(南京)仪器有限公司
申请日： 2021-09-26 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双反射镜无焦系统中主次镜装调系统，所述主次镜装调系统以干涉仪光轴为测试基准，包括主镜装调系统和次镜装调系统；装调主镜时，所述主镜装调系统由zygo干涉仪、平面标准镜、主镜以及球面参考镜组成；所述平面标准镜装在zygo干涉仪上，所述球面参考镜位于平面标准镜与主镜之间；主镜与zygo干涉仪的光轴垂直；球面参考镜的球心位置与主镜的焦点位置重合；装调次镜时，所述次镜装调系统由zygo干涉仪、平面标准镜、次镜、主镜以及平面参考镜组成；所述平面标准镜装在zygo干涉仪上，所述次镜位于平面标准镜与主镜之间；所述平面参考镜位于主镜远离平面标准镜一侧，所述平面参考镜与zygo干涉仪的光轴垂直。本实用新型系统基于zygo干涉仪对双反射镜无焦系统主次镜进行装调，以干涉仪光轴为测试基准，干涉仪位置无需频繁更换，因此测试基准固定，可同时实现对双反射镜无焦系统中主镜和次镜相对位置的装调及后续主次镜系统综合波前测试
一种反射镜无焦系统主次镜装调

[发明专利]基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置-CN200910061971.6无效
发明人：翟中生;王选择;钟毓宁;曹洪端;杨练根 -专利权人：湖北工业大学
申请日： 2009-05-06 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：该装置包括激光器、分光镜、目标反射镜、参考反射镜和四象限接收器，目标反射镜固定在被测物体上。激光调制器对激光器发出的光束进行调制，被调制的光束经分光镜后分为两束，这两束光分别经目标反射镜和参考反射镜反射后再返回分光镜，会聚产生动态干涉条纹，当被测物体绕z轴有角度变化时，动态干涉条纹的宽度将发生变化
基于干涉条纹形状二维角度测量装置

[实用新型]基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置-CN200920085527.3无效
发明人：翟中生;王选择;钟毓宁;曹洪端;杨练根 -专利权人：湖北工业大学
申请日： 2009-05-06 - 公布日： 2010-05-12 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：该装置包括激光器、分光镜、目标反射镜、参考反射镜和四象限接收器，目标反射镜固定在被测物体上。激光调制器对激光器发出的光束进行调制，被调制的光束经分光镜后分为两束，分别经目标反射镜和参考反射镜反射后再返回分光镜，会聚产生动态干涉条纹，当被测物体沿z轴有角度变化时，动态干涉条纹的宽度将发生变化，当被测物体沿
基于干涉条纹形状二维角度测量装置

[发明专利]双波长共路正交载频数字全息检测装置及检测方法-CN201510677008.6在审
发明人：单明广;刘磊;钟志;张雅彬 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2015-10-16 - 公布日： 2016-01-13 - 主分类号： G01B9/021 文献下载
摘要：利用非偏振分光棱镜将汇合在一起的双波长入射光分成反射的参考光和透射的物光；参考光照射在小孔反射镜上并被反射；物光经过二向色镜后分成双波长物光，分别照射在第一反射镜和第二反射镜上并被反射，再次经过二向色镜后合成一束物光；经过反射的参考光和物光经非偏振分光棱镜汇合成一束后通过第二透镜形成一幅正交载频全息图，被图像传感器采集到计算机并计算待测物体相位。
波长正交载频数字全息检测装置方法

[发明专利]基于静态反馈的快速反射镜螺旋扫描控制方法、装置、电子设备和存储介质-CN202211372167.1在审
发明人：董斐;谢洪洋;胡庆雷;王薪宇 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提出一种基于静态反馈的快速反射镜螺旋扫描控制方法、装置、电子设备和存储介质。包括：建立一种快速反射镜的高阶传递函数模型，通过扫频的方法辨识模型参数并将上述传递函数模型转化为高维状态空间模型；设计二维螺旋参考指令的运动学模型，并与快速反射镜的状态空间模型联立构建元系统模型；设计带有折扣因子的最优控制指标并构建最优控制问题，通过内嵌的指令运动学模型提升快速反射镜的跟踪能力；求解上述带有折扣因子的最优控制问题，得到显式的静态反馈控制率，实现快速反射镜的螺旋扫描控制。本发明发明解决现有快速偏转镜数学模型阶次低且表达能力受限、螺旋扫描控制方法带宽窄且难以数字化实现的问题，提升快速反射镜螺旋扫描的精度。
基于静态反馈快速反射螺旋扫描控制方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种实时近红外光激发联合术中光学导航装置-CN202310623273.0在审
发明人：汤东;廖逸群;张竞秋;王道荣 -专利权人：汤东;桐庐欣阳医疗器械有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：ICG附加OCT荧光成像系统、数据采集器A、数据采集器B、显示器，OCT成像系统包括：光源A、光纤耦合器A、样本路径干涉检测单元、光学频率时钟单元，ICG附加OCT荧光成像系统包括：光源B、附加OCT参考臂、附加OCT检测臂，附加OCT参考臂包括：二向色分光镜、反射镜A、透镜A、偏振反馈控制器、反射镜B，附加OCT检测臂包括：MEMS扫描反射镜、透镜B、内窥相机。该种导航装置整合了光学相干断层扫描系统，能够做到术中进行实时组织活检参考，减少单纯采用吲哚菁绿荧光导航产生的漏诊及误诊肿瘤转移淋巴结情况，提升了手术精准程度。
一种实时红外光激发联合光学导航装置

[发明专利]自动标定激光器工作波长的光声光谱检测系统及标定方法-CN202110183262.6在审
发明人：王世有 -专利权人：王世有
申请日： 2021-02-10 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01J3/443 文献下载
摘要：本发明公开一种自动标定激光器工作波长的光声光谱检测系统，有后石英透镜，后石英透镜另一侧设有可接收激光器光线的参考气体池，参考气体池与后石英透镜相对侧设有反射镜，反射镜与激光器的光线呈倾斜角度设置，在反射镜的反射光路上设有光电探测器，光电探测器的输出端与AD转换器相接，参考气体池中密封有标准气体混合体，标准气体混合体中的标准气体种类与激光器的个数相等，标准气体混合体中每种标准气体的浓度大于或等于对应被测气体浓度量程的最大值，克服现有技术定期人为校准标定所存在的各种问题
自动标定激光器工作波长声光检测系统方法

[发明专利]一种多波长多角度反射率测量方法-CN202310596185.6在审
发明人：张子怡;林楠 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2023-05-25 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种可同时测量多波长多角度下光学膜层反射率的方法。其中包括宽光谱光源、分光元件、色散元件、光通量探测器、样品与反射镜。宽光谱光源先经过分光元件产生两束光束，其中一束为参考光束由色散元件将复色光分散为单色光，之后由光通量探测器测得参考光束各波长的光通量，另一束为检测光束聚焦于样品上发生反射传输到反射镜上，通过在不同入射角度时调节反射镜到相应的位置，来使出射光束位置始终保持不变，之后再由色散元件将复色光分散为单色光，通过光通量探测器测得检测光束各波长的光通量，最后通过参考光束光通量与检测光束光通量的比值求得样品反射率。
一种波长角度反射率测量方法

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