专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1453679个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种自带插头插座的PCB测试方法-CN201810855927.1有效
  • 王旭 - 重庆匠颖科技有限公司
  • 2018-07-31 - 2020-12-22 - G01R31/28
  • 本发明提供一种自带插头插座的PCB测试方法,利用现有的PCB测试治具测试PCB的导通性,同时将旁路测试模块结合到PCB测试治上,用于同步测试PCB自带插头插座的导通性,由此可以非常方便快捷的测得PCB以及PCB自带插头插座的导通性,测试方法操作简单,测试结果的准确度高,避免了装配后才检测插头插座导致的人力物力的浪费,大大提高了检测效率以及降低了检测以及生产成本,具有很强的适用性。
  • 一种插头插座pcb测试方法
  • [发明专利]记录装置和方法、光学记录介质、再现装置和再现方法-CN201680028781.2有效
  • 生田一树 - 索尼公司
  • 2016-03-23 - 2020-03-17 - G11B7/0045
  • 本发明的目的是减少因缺乏测试区域而造成阻止数据记录的可能性。对于光学记录介质的多个记录层中的每个记录层,设定测试区域,对测试区域执行试用写入以控制激光功率,并且表示所设定的测试区域的实际位置的信息被记录。通过再现记录在包括多个记录层的光学记录介质中的信息,以及记录表示所设定的测试区域的实际位置的信息,来获取表示测试区域的实际位置的信息,其中每个记录层设定有测试区域,对测试区域执行试用写入以控制激光功率。
  • 记录装置方法光学介质再现

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top