专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]内部电源电压生成电路-CN201210030619.8无效
  • 杉浦正一 - 精工电子有限公司
  • 2012-02-10 - 2012-08-22 - G05F3/08
  • 本发明提供一种内部电源电压生成电路,逻辑电路动作时的贯穿电流不会由于构成逻辑电路的P型晶体管和N型晶体管的阈值电压偏差的影响而过大,能够抑制消耗电流。该内部电源电压生成电路生成内部电源端子的内部电源电压,并将所述内部电源电压提供给逻辑电路,所述内部电源电压生成电路具有对给予栅极的电压进行源极跟随器输出的晶体管,内部电源电压的值是根据N型晶体管的阈值电压与P型晶体管的阈值电压的绝对值之和给予的,所述N型晶体管使用与所述逻辑电路内部的N型晶体管相同的制造工艺来形成,所述P型晶体管使用与所述逻辑电路内部的P型晶体管相同的制造工艺来形成。
  • 内部电源电压生成电路
  • [发明专利]内部电源电压生成电路-CN201210033230.9无效
  • 杉浦正一 - 精工电子有限公司
  • 2012-02-14 - 2012-08-22 - G05F3/08
  • 本发明提供一种内部电源电压生成电路,其中,在逻辑电路工作时,贯通电流不会由于制造偏差的影响而变得过大,能够抑制消耗电流。一种内部电源电压生成电路,其生成内部电源端子的内部电源电压,并将所述内部电源电压提供给逻辑电路,其中,该内部电源电压生成电路具备:晶体管,其以源极跟随器的方式输出被提供给栅极的电压;以及电流限制电路,其限制以源极跟随器的方式输出被提供给所述栅极的电压的晶体管的最大电流,所述内部电源电压生成电路被构造成能够抑制流到逻辑电路的最大电流以及消耗电流。
  • 内部电源电压生成电路
  • [发明专利]内部电源电压生成电路-CN201110074553.8无效
  • 杉浦正一 - 精工电子有限公司
  • 2011-03-25 - 2011-10-05 - G05F3/08
  • 本发明提供一种内部电源电压生成电路,其中,被提供内部电源电压的逻辑电路的贯通电流与电源电压无关。作为解决手段,基准电压(VREF)是基于电流源(1)的恒定电流而与电源电压(VDD)无关地生成的,内部电源电压(DVDD)是通过源极跟随器,基于基准电压(VREF)而与电源电压(VDD)无关地生成的。基于内部电源电压(DVDD)而流起逻辑电路(9)的贯通电流。因此,逻辑电路(9)的贯通电流与电源电压(VDD)无关。另外,内部电源电压(DVDD)是逻辑电路(9)能够按照规格进行工作的最低限度的逻辑电路(9)用的电源电压。因而逻辑电路(9)的贯通电流小。
  • 内部电源电压生成电路
  • [发明专利]产生内部电源电压的电路-CN91108584.X无效
  • 陈大济;全峻永 - 三星电子株式会社
  • 1991-08-30 - 2002-09-11 - G05F1/59
  • 一个内部电源电压产生器接收外部电源电压,不管温度如何变化都能产生稳定且恒定的内部电源电压,并施加在半导体存储器器件上。为此,该产生器包括电压共用电路(80),该电路设有作为负载元件的较高阻值的第一可变电阻(R1′)和作为驱动元件的较低阻值的第二可变电阻(R2′)。与电压共用电路(80)的输出端相连接的比较器(60)则使输出电路(70)增加该内部电源电压以响应温度的升高。图4
  • 产生内部电源电压电路
  • [发明专利]芯片内部电源输出电压测量系统及方法-CN201210312733.X在审
  • 桂伟;任栋梁 - 上海宏力半导体制造有限公司
  • 2012-08-29 - 2012-12-12 - G01R19/00
  • 本发明提供了一种芯片内部电源输出电压测量系统及方法。根据本发明的芯片内部电源输出电压测量系统包括:测试机以及探针卡;其中所述测试机通过所述探针卡连接至待测芯片;其中,所述测试机包括驱动电压施加单元以及电源管理单元;而且其中,所述驱动电压施加单元用于向内部电源供电以确保电源供给的准确性;所述电源管理单元用于所述向所述待测芯片施加驱动电流,以量测所述待测芯片的内部电源输出电压;并且其中,所述测试机的第一通道和第二通道在输出端相互短接并连接至所述探针卡的一个输入端口;而且,所述探针卡的所述输入端口对应于所述待测芯片的一个引脚
  • 芯片内部电源输出电压测量系统方法
  • [发明专利]降压电路-CN201010243284.9有效
  • 神保敏且 - 瑞萨电子株式会社
  • 2010-07-30 - 2011-04-06 - G05F1/10
  • 降压电路包括内部电源部件,该内部电源部件被构造为基于基准电压将从外部电源提供的外部电源电压减小到低于外部电源电压内部电源电压。第一电流控制部件被构造为当内部电源电压低于设定电压时控制流过内部电源部件的电流。第二电流控制部件被构造为当内部电源超过设定电压时控制流过内部电源部件的电流。
  • 降压电路
  • [发明专利]半导体集成电路-CN200710127904.0无效
  • 竹内義昭 - 株式会社东芝
  • 2007-06-29 - 2008-01-02 - G11C7/10
  • 本发明的半导体集成电路包括:内部电源电压下降电路(4),其降低第一外部电源电压(VCC)以产生内部电源电压(VDDQ);输入电路(1),向其提供内部电源电压(VDDQ);内部电路(2),向其提供第一外部电源电压(VCC),并且其与输入电路(1)连接;输出电路(3),向其提供不同于第一外部电源电压(VCC)的第二外部电源电压(VCCQ),并且其与内部电路(2)连接。第二外部电源电压(VCCQ)与第一外部电源电压(VCC)分离,并且低于第一外部电源电压(VCC)。
  • 半导体集成电路

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