专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种自动发现关键影响力指标的方法-CN202010560315.7有效
  • 沈克勤;王伟;何林浩 - 南京开特信息科技有限公司
  • 2020-06-18 - 2020-09-15 - G06F11/34
  • 本发明提供一种自动发现关键影响力指标的方法,包括:设定对目标系统进行检查的指定时间段;选取指定时间段内与目标系统相关的影响力指标,并将选取的影响力指标进行采集并保存;对采集并保存的影响力指标进行两两相关性计算;对相关性计算结果取绝对值,并基于取绝对值结果,将每个影响力指标与其他所有影响力指标的相关性值进行求和,获得各影响力指标的综合相关性值;对获取的所有综合相关性值进行从大到小排序,并选取前预设N个最大的综合相关性值;将选取的前预设N个最大的综合相关性值以及对应的影响力指标进行显示。便于自动的从所有指标中,筛选出最具影响系统健康状况的指标,无需人工干预。
  • 一种自动发现关键影响力指标方法
  • [发明专利]一种电网系统的关键节点识别方法-CN202210379477.X在审
  • 王飞飞;谢丽明;孙泽军;王冠 - 平顶山学院
  • 2022-04-12 - 2022-07-12 - G06F30/18
  • 本发明提供了一种电网系统的关键节点识别方法,属于电网监测领域,包括:步骤1、构建电网系统模型;步骤2、采用聚集局部结构信息识别关键节点算法ALSI计算电网系统模型中节点的影响力,包括:通过邻居节点的度与邻居节点所在的层来计算邻居节点的贡献;通过节点自身的度与节点所在的层数来计算电网节点自身影响力;综合邻居节点的贡献和节点自身影响力,计算节点在网络中的影响力;步骤3、根据节点在网络中的影响力对关键节点进行识别。该方法提高了关键节点的识别能力;引入了节点与邻居节点之间的相似关系、邻居节点的Ks值与度,节点邻居贡献的加入可以使节点的检测更加有效;该算法简单,时间复杂度低,可以适用于规模较大的网络。
  • 一种电网系统关键节点识别方法
  • [发明专利]信息推送方法-CN201210209511.5有效
  • 杜小勇;刘红岩;何军;王婷婷 - 杜小勇
  • 2012-06-21 - 2012-11-28 - G06F17/30
  • 所述方法包括:提取每个用户的历史信息中的关键词,并获取所述关键词对应用户的初始权重;根据所述用户与各其他用户之间的数据传输记录,计算各其他用户对所述用户的关联权重;根据所述初始权重及所述关联权重,计算出所述关键词对应所述用户的关联后权重;根据所述关键词对应所述用户的关联后权重,为所述用户推送匹配的信息。本发明实施例将网络平台上各用户之间的影响视为一个动态的影响过程,不仅考虑到各用户受到与其存在数据传输记录的用户的影响,还考虑到用户在受到影响后同时会对其他用户再次造成影响
  • 信息推送方法
  • [发明专利]一种建立光刻工艺条件的方法-CN202211522331.2在审
  • 王雷 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2022-11-30 - 2023-03-14 - G03F7/20
  • 本发明提供一种建立光刻工艺条件的方法,包括提供晶圆;提供测试掩膜板,测试掩膜板上形成有相同的设计图形,但设计图形的密度不同;对设计图形进行曝光显影,在晶圆上形成对准图形;测量对准图形的关键尺寸;判断关键尺寸是否满足设定的阈值,若不满足,调整光刻工艺,直到关键尺寸满足设定的阈值;最后确定光刻工艺条件。本发明解决了现有光刻工艺建立方法不考虑测试掩模版的设计图形密度不同造成关键尺寸有差异的问题,使得光刻工艺更加完善,减小了造成不同图形密度的设计图形和产品间存在的关键尺寸差异的可能,并且考虑到显影对关键尺寸的影响,对于关键尺寸变化要求高的工艺和设计,减小了影响
  • 一种建立光刻工艺条件方法
  • [发明专利]智能微网设备关键度分析方法-CN201910920790.8有效
  • 姚袁中 - 上海博辕信息技术服务有限公司
  • 2019-09-26 - 2022-06-24 - G06Q10/06
  • 本申请提供了一种智能微网设备关键度分析方法,涉及电网技术领域。该智能微网设备关键度分析方法包括:获取智能微网中的目标设备的历史状态数据,该智能微网为包括多个目标设备的智能微网拓扑结构,目标设备为所述多个目标设备中的任一设备;基于历史状态数据获得目标设备的综合评分值;获得目标设备对所述智能微网拓扑结构的影响系数;根据影响系数与综合评分值确定所述目标设备的关键度,关键度用于表征所述目标设备在故障时的抢修优先级。维修人员可以根据智能微网中各个设备的关键度制定日常巡检计划,并在智能微网发生故障后,根据关键度的大小从高到底排查各个目标设备,从而能够保证关键设备能够被优先处理,提高处理智能微网故障的效率。
  • 智能设备关键分析方法
  • [发明专利]数据处理时效测试方法和装置-CN202110171584.9在审
  • 卫欣音;夏雯君;李海波 - 中国工商银行股份有限公司
  • 2021-02-08 - 2021-06-04 - G06Q10/06
  • 本说明书提供了一种数据处理时效测试方法和装置,其中,该方法包括:获取多个作业的作业运行时间数据、作业依赖关系数据和变更作业集,其中,多个作业包括按预设逻辑对指定数据的数据加工处理;根据作业运行时间数据和作业依赖关系数据,确定多个作业中影响作业整体时效的关键作业;将关键作业与变更作业集进行匹配,得到变更关键作业;对变更关键作业进行时效测试,并根据时效测试结果,识别变更关键作业是否存在时效风险。上述方法自动化程度高,能够精准定位存在时效风险的变更关键作业,并对整体时效影响做出判断,缩短了验证的时间周期,极大提高了大数据作业的测试效率。
  • 数据处理时效测试方法装置
  • [发明专利]提高光刻工艺中图形关键尺寸的均匀性的方法-CN201710530447.3有效
  • 王雷 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2017-06-30 - 2018-08-21 - G03F7/20
  • 本发明公开了一种提高光刻工艺中图形关键尺寸的均匀性的方法,包括如下步骤:步骤一、测量各种不同的图形周期下,各种不同的局部图形密度对相应的图形周期下的图形关键尺寸的影响,并根据测量结果建立光刻工艺调整规则;步骤二、对已经设计好的产品版图的本层图形进行局部图形密度统计;步骤三、根据本层图形的局部图形密度分布,按照光刻工艺调整规则对本层图形的各图形对应的光罩关键尺寸进行调整。本发明能消除版图中局部图形密度的变化对图形关键尺寸的影响,使各种局部图形密度下的各图形关键尺寸趋于和设计要求相同,提高图形关键尺寸的均匀性。
  • 提高光刻工艺图形关键尺寸均匀方法

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