专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种测量待测样品四维电子能量损失的方法-CN202011448013.7有效
  • 高鹏;李跃辉;时若晨 - 北京大学
  • 2020-12-09 - 2021-11-12 - G01N23/20058
  • 本发明提供一种测量待测样品四维电子能量损失的方法,所述方法包括如下步骤:S1、将制备好的待测样品放入电镜,旋转待测样品至待测的带轴;S2、在电镜的电子束的汇聚半角为第一汇聚半角下校正像散,再切换电子束的汇聚半角为第二汇聚半角;S3、调整电镜相机上的衍射斑使待测动量区位于狭缝光阑的预留区域内;S4、插入所述狭缝光阑使得所述狭缝光阑位于所述预留区域内;S5、插入单色仪,限制通过电子束的能量,提高能量分辨率;S6、调整像散;S7该方法可以测量纳米结构的能量‑动量,不需要大块的单晶样品,是角分辨光电能谱和高分辨电子能量损失仪的有效补充。
  • 一种测量样品电子能量损失方法
  • [发明专利]一种用于电化学原位学测试的膜电极电解池及应用-CN202310568452.9在审
  • 张波;黄睿;栗京京 - 复旦大学
  • 2023-05-18 - 2023-08-18 - G01N27/28
  • 本发明属电化学和光谱学技术领域,具体为一种用于电化学原位学测量的膜电极电解池及其和应用。本发明电解池包括:作为工作电极的聚合物膜电极,用于负载目标的阴/阳极催化剂,是电化学反应发生的场所;作为工作电极集流体的顶盖,其中配有通光孔以供原位学测试通光采;作为对电极的集流体的底板,用于支撑电解池以及与各种学测试仪器连接本发明能够实现多种电化学原位学测量,包括X射线吸收测试、X射线光电能谱、掠入射X射线衍射、拉曼光谱、衰减全反射红外光谱、微分质、核磁的原位学测量,具有广阔的应用前景。
  • 一种用于电化学原位测试电极电解池应用
  • [发明专利]阻气性膜-CN201580004314.1有效
  • 上林浩行;佐竹光;德永幸大 - 东丽株式会社
  • 2015-01-20 - 2017-11-17 - B32B9/00
  • 本发明的阻气膜在高分子基材的至少一面具有阻气层,所述阻气层从高分子基材起依次相接配置有包含氧化锌和二氧化硅的第1层与包含硅化合物的第2层,通过X射线光电能谱法测定得到的第1层与第2层的界面的Si2p轨道的结合大于第1层的Si2p轨道的结合,并且小于第2层的Si2p轨道的结合
  • 气性
  • [实用新型]一种纳米薄膜制备及化学状态测试系统-CN202121325962.6有效
  • 于泠然;徐秀兰;于广华;冯春;滕蛟;李明华;王学敏 - 广东麦格智芯精密仪器有限公司
  • 2021-06-15 - 2021-12-24 - G01N23/2273
  • 本实用新型公开了一种纳米薄膜制备及化学状态测试系统,系统包括制备室以及与制备室连接的分析室,制备室和分析室均为真空,且制备室的真空度小于分析室的真空度;制备室内具有氩离子枪和制备平台;分析室内具有X射线光电能谱分析仪,X射线光电能谱分析仪用于对制备室制备得到的薄膜材料的表面原子进行化学状态测试;系统还包括设置在制备室和分析室内的样品输送装置,样品输送装置用于将制备室制备得到的薄膜材料输送至分析室内。本方案中制备的薄膜材料不会经历空气的曝光,不需要用Ar离子枪把薄膜材料表面的氧化层蚀刻掉,从而避免薄膜材料中电子结合的变化,因此可以提高薄膜材料的表面原子的化学状态的测试的准确度。
  • 一种纳米薄膜制备化学状态测试系统

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