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[发明专利]一种数据处理方法和电子设备-CN201310729189.3在审
发明人：肖蔓君;陈柯;杨晨 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2013-12-25 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：所述数据处理方法包括：在条纹结构光投射到一待测物体时，获取包含所述待测物体的第一图像，其中，所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光，所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同；检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息；基于所述条纹图像信息，获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息；根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息，对所述待测物体的立体图像进行深度恢复
一种数据处理方法电子设备

[发明专利]消除背景光的方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910335841.0有效
发明人：李勇;魏一振;张卓鹏 -专利权人：杭州光粒科技有限公司
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种消除背景光的方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质，通过在背景光下通过投影仪投影多套相移正弦条纹，并获取多幅变形条纹图；根据变形条纹图，计算每套相移正弦条纹的条纹和；然后根据条纹和，计算每幅变形条纹图的背景光分量，并根据背景光分量对多幅变形条纹图进行处理，以消除多幅变形条纹图中的背景光分量，可以快速并精确地去除变形条纹图中的背景光。
消除背景方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种管道内表面三维重建检测系统-CN202210712186.8在审
发明人：邵新杰;潘硕;刘金华;宋彬;王怀光;唐香珺;李晓磊;吴定海 -专利权人：中国人民解放军陆军工程大学
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种管道内表面三维重建检测系统，方法包括：获取相机参数；获取若干个光平面的编号集；编号集包括平面参数、平面编号、平面宽度和平面中心距离；将若干个光平面投影到待测管道的内表面，对内表面进行采集得到光条纹图像；提取光条纹图像中每个光条纹的中心线坐标，得到中心线坐标集；基于中心线坐标集得到每个光条纹的条纹中心距离；基于条纹中心距离、平面中心距离、平面宽度和条纹宽度得到每个光条纹的条纹编号；基于相机参数、光条纹图像、平面参数、条纹编号和平面编号进行三维重建，得到管道内表面三维重建模型。本发明通过多个光平面，能够实现高精度的管道内表面三维重建。
一种管道表面三维重建检测系统

[发明专利]机械零件表面线结构光条纹中心的高精度提取方法-CN202210590915.7在审
发明人：苗建伟;姜波;赵京鹤;张颖;张翠翠;胡晶 -专利权人：长春光华学院
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种机械零件表面线结构光条纹中心的高精度提取方法，属于机器视觉测量技术领域。首先，拍摄一张机械零件表面线结构光条纹图像并灰度化处理；其次，对光条纹图像的随机噪声进行降噪处理；接下来，在选定的感兴趣区域确定光条纹的法线方向，并在法线截面提取光条纹的灰度信息，然后利用小波变换在频域去除光条纹中光线漫反射的多次反射部分，以减小机械零件的漫反射特性对光条纹中心提取精度的影响；最后，将处理后的光条纹频域信息进行小波重构并提取光条纹中心。本发明利用小波变换处理线结构光条纹图像，减小了机械零件漫反射特性对光条纹中心提取精度的影响，实现了机械零件表面线结构光条纹中心的高精度提取。
机械零件表面结构条纹中心高精度提取方法

[发明专利]一种图像处理方法和装置-CN201310462302.6有效
发明人：陈柯;肖蔓君;杨晨;付荣耀;马骞 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2013-09-30 - 公布日： 2017-07-21 - 主分类号： H04N13/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种图像处理方法和装置，该方法包括控制光投射器向待摄取对象的表面投射多条纹结构光和点结构光，以在待摄取对象的表面形成多条光条纹，并在光条纹之间形成多个光点；通过图像传感器采集表面具有光条纹和光点的待摄取对象的目标图像；获取包含该光条纹和光点的参考图像；根据参考图像中光条纹的特征信息和目标图像中光条纹的特征信息，计算目标图像中每条光条纹位置处的第一深度值；根据参考图中光点的特征信息和目标图像中光点的特征信息，计算目标图像中每个光点位置处的第二深度值；根据目标图像中光条纹位置处的第一深度值和光点位置处的第二深度值，生成目标图像的深度图。
一种图像处理方法装置

[发明专利]检测设备及其检测方法-CN202110124120.2在审
发明人：陈鲁;李青格乐;魏林鹏;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种检测设备，其中，所述检测设备包括：发光装置，用于产生照射待测物的入射光，所述待测物表面具有图案标记，所述图案标记包括条纹标记，所述入射光用于在所述图案标记表面形成图案光斑，所述图案光斑包括条纹光斑，所述条纹光斑用于与所述条纹标记形成莫尔条纹，所述入射光经所述图案标记后形成信号光，所述信号光携带所述莫尔条纹的信息，所述条纹光斑的条纹延伸方向与所述条纹标记的条纹延伸方向具有预设角度，所述预设角度为锐角；成像装置，用于收集所述信号光并根据收集的信号光形成检测图像。
检测设备及其方法

[发明专利]光信号解码方法和装置及系统-CN201410141223.X有效
发明人：郭成;胡洪 -专利权人：珠海横琴华策光通信科技有限公司
申请日： 2014-04-09 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： H04B10/116 文献下载
摘要：本发明公开了一种光信号解码方法和装置及系统。光信号解码方法包括获取光信号对应的明暗条纹图片；对明暗条纹图片进行解析，得到明暗条纹图片中的暗条纹数量或明条纹数量；以及根据暗条纹数量或明条纹数量获取明暗条纹图片对应的码元信息。
信号解码方法装置系统

[发明专利]一种激光条纹的中心线提取方法-CN201510007418.X有效
发明人：马千里;李文龙;蒋诚;於来欣;谢核;杜雨丁 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2015-01-08 - 公布日： 2017-07-18 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光条纹中心线的提取方法，属于机器视觉技术领域，包括S1对光条纹图像进行去噪处理，获得无噪光条纹图像；S2对经步骤S1获得的无噪光条纹图像进行区域提取，获得包含有光条纹全部的面积较小的矩形区域；S3去除经步骤S2获得的所述矩形区域中的像素孤立点；S4采用高斯卷积法对经步骤S3获得的边缘无毛刺的光条纹进行处理；S5对经步骤S4获得的平滑模糊光条纹进行两次灰度重心法处理，提取所述平滑模糊光条纹的二次中心线；S6对经步骤S5获得的二次中心线进行非均匀三次B样条曲线拟合，获得优化后的光条纹中心线，即实现光条纹中心线的提取。
一种激光条纹中心线提取方法

[发明专利]基于神经网络的结构光系统测量误差数据自动识别方法-CN202310080482.5在审
发明人：薛琦;丁鏖倬;童磊;王浩宇 -专利权人：郑州大学;河南缔云科技有限公司
申请日： 2023-01-12 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及深度学习、光学测量和计算机视觉领域，尤其涉及一种基于神经网络的结构光系统测量误差数据自动识别方法，包括如下步骤：S1、拍摄结构光三维测量过程中的结构光条纹图像，获取结构光条纹截面；S2、将结构光条纹截面转变为灰度分布图片作为数据集，将数据集划分为有缺陷、无缺陷两种类型；S3、利用五十层残差神经网络进行训练，得到用于结构光条纹质量检测的神经网络模型；S4、基于S3训练的模型，设计用于结构光条纹质量检测的程序；S5、直接将被测条纹截面输入预测程序，得到结构光条纹质量评价；利用残差神经网络训练结构光条纹缺陷检测模型，该模型和预测算法直接对输入的结构光条纹截面进行缺陷检测，过程方便快捷，准确性高。
基于神经网络结构系统测量误差数据自动识别方法

[实用新型]具有图像显示的光干涉条纹可逆计数装置-CN200920222615.3有效
发明人：梁昌林;吴念乐 -专利权人：清华大学
申请日： 2009-09-14 - 公布日： 2010-06-23 - 主分类号： G01D5/34 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种具有图像显示的光干涉条纹可逆计数装置，属于光电测量和监测技术领域。装置由光路、图像显示和可逆计数三系统组成。光路系统中暗盒为T型结构，薄平面反射镜置于暗盒内下部，其反射面与中心光线传播方向的夹角为45°，将干涉光场分为干涉条纹图像光场和干涉条纹计数光场。CCD摄像头检测干涉条纹图像由显示器显示。可逆计数系统的两个光电二极管检测干涉条纹计数光场的明暗条纹变化，两者输出的光电信号经光电信号处理电路处理成相位差为π/2的方波脉冲信号，输入可逆计数器进行判向和计数。本实用新型能同时实现光干涉条纹的图像化显示和移动条纹自动可逆计数，用于教学科研和工程监测等的光干涉条纹测量。
具有图像显示干涉条纹可逆计数装置

[发明专利]机器学习低质量大变化密度光学条纹图信息提取方法-CN201910177872.8有效
发明人：唐晨;陈明明 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-03-10 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G06V10/762 文献下载
摘要：本发明涉及光学检测和光信息处理技术领域，为提出基于机器学习提出新的光条纹图信息提取方法，包括新的条纹方向和密度计算方法和新的条纹图去噪方法，用于提取低质量大变化密度光条纹图信息。为此，本发明采取的技术方案是：机器学习低质量大变化密度光学条纹图信息提取方法，通过机器学习的方法将一幅大变化密度条纹图分为两幅或更多幅密度均匀的子图像，然后，选择合适的光信息提取方法分别处理密度均匀的图像，从而降低大变化密度光条纹图信息提取的难度，提高大变化密度光条纹图信息提取的精度。本发明主要应用于光学检测和光信息处理场合。
机器学习质量变化密度光学条纹信息提取方法

[发明专利]一种彩色结构光图像快速颜色分类方法及系统-CN202310177430.X有效
发明人：林捷;左飞飞;王继斌;王亚杰;张文宇;吴宏新 -专利权人：北京朗视仪器股份有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06V10/764 文献下载
摘要：本发明公开了一种彩色结构光图像快速颜色分类方法及系统，方法包括：对彩色结构光图像进行全局去噪处理得到处理后的彩色结构光图像；根据HSB颜色模型的色调公式以及预设动态阈值，对处理后的彩色结构光图像进行初步条纹颜色分类，得到初分类的颜色条纹类别，包括：条纹颜色分类成功的类别和条纹颜色分类失败的类别；对所有条纹颜色分类失败的类别条纹进行邻域相关颜色分类，得到调整后的条纹颜色分类，对所有条纹颜色分类失败的类别的条纹遍历调整完成后得到初始颜色分类的彩色结构光图像；对初始颜色分类的彩色结构光图像进行多通颜色重分类得到最终颜色分类的彩色结构光图像。
一种彩色结构图像快速颜色分类方法系统

[发明专利]基于向量遍历线结构光条纹中心坐标的计算方法-CN202110623537.3在审
发明人：陈晓辉 -专利权人：黄淮学院
申请日： 2021-06-04 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G06F17/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于向量遍历线结构光条纹中心坐标的计算方法，包括下述步骤：定义线结构光条纹图像的坐标系；计算条纹主方向的条纹法向方向；分析条纹法向方向与图像x方向的夹角a；分析条纹法向方向与图像y方向的夹角b；比较a与b的大小，若a≤b，则基本向量方向为x方向；若ab，则基本向量方向为y方向；遍历基本向量序列，计算每个基本向量中的基本向量的条纹中心点坐标；得到线结构光条纹中心坐标Pi<本发明通过二次线性回归分析每个基本向量，并计算极大值点作为线结构光条纹中心坐标点，从而实现的线结构光条纹中心的高精度，高实时性获取。
基于向量遍历结构条纹中心标的计算方法

[发明专利]一种基于双光源和双偏振相机的光弹性应力测量方法-CN202310408587.9在审
发明人：潘兵;丁军忠;李德威 -专利权人：北京航空航天大学;国家深海基地管理中心
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：本申请提供一种基于双光源和双偏振相机的光弹性应力测量方法。该方法，包括：利用设置在等倾线条纹生成光路的末端的第一偏振相机获取等倾线条纹光弹性图像，其中，所述等倾线条纹生成光路设置白光光源；利用设置在等差线条纹生成光路的末端的第二偏振相机获取等差线条纹光弹性图像，其中，所述等差线条纹生成光路设置单色光源；利用四步相移法处理所述等倾线条纹光弹性图像，确定被测试件的主应力方向角θ；利用六步相移法处理所述等差线条纹光弹性图像，并根据所述主应力方向角θ，确定被测试件的主应力差如此，可以实现更高测量精度的光弹性应力测量。
一种基于光源偏振相机弹性应力测量方法

[发明专利]基于改进VMD-GWO算法的双光梳干涉条纹信号去噪方法-CN202211481962.4在审
发明人：李校博;石浩男;赵海涵;胡浩丰;翟京生 -专利权人：天津大学
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01S7/493 文献下载
摘要：本发明公布了一种基于改进VMD‑GWO算法的双光梳干涉条纹信号去噪方法，步骤1、获取双光梳干涉条纹信号，得到原始双光梳干涉条纹信号f(t)；步骤2、将原始双光梳干涉条纹信号f(t)作为输入信号，进行迭代的VMD‑GWO算法优化与分解处理，得到收敛于适应度函数的最优解(k,α)；步骤3、将最优解(k,α)作为得到信号信噪比与包络对称性均为最优的VMD分解参数；步骤4、对各个模态分量进行筛选，选择其中包含双光梳干涉条纹的若干个模态分量；步骤5、舍去高、低频噪声信号；步骤6、重构双光梳干涉条纹信号。与现有技术相比，本发明提高双光梳干涉条纹信号的信噪比以及峰值位置提取的准确性，优化了双光梳干涉条纹的时域形状特征。
基于改进 vmd gwo 算法双光梳干涉条纹信号方法

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