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[发明专利]VUV光学器件的非接触式热测量-CN201680065637.6有效
发明人： A·谢梅利宁;I·贝泽尔;K·P·格罗斯 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2016-11-29 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01J5/48 文献下载
摘要：本文中描述了用于以长波长红外光对光学元件执行非接触式温度测量的方法及系统。所述受测量光学元件对长波长红外光展现出低发射率，且通常对长波长红外光具有高反射性或高度透射性。在一个方面中，在长波长IR波长下具有高发射率、低反射率及低透射率的材料涂层被安置在计量或检验系统的一或多个光学元件的选定部分上方。材料涂层的位置在由所述计量或检验系统用于对样本执行测量的主要测量光的直接光学路径外部。以单个IR相机对IR透明光学元件的前后表面执行温度测量。通过主要测量光束的光学路径中的多个光学元件执行温度测量。
长波长红外光光学元件温度测量材料涂层非接触式光学路径检验系统计量测量光学元件透明光学元件测量光束低发射率低反射率高发射率高反射性光学器件测量光热测量透射率透射性波长样本测量安置外部

[发明专利]一种利用光学标志对高精度平面进行平面度测量的方法-CN201810508172.8在审
发明人：肖利峰;黄桂平;张体强 -专利权人：郑州辰维科技股份有限公司
申请日： 2018-05-24 - 公布日： 2018-09-18 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明涉及利用光学标志对高精度平面进行平面度测量的方法，可有效解决对高精度平面的测量问题，方法是，在被测平面周边均匀粘贴编码反光标志，光学投点器投射光学标志点方向与被测平面法线方向夹角≤10度，投点器投射的光学标志点覆盖被测天线表面并聚焦清晰；用测量相机对被测平面进行摄影，移动相机进行多角度、多照片摄影；通过摄影测量软件对摄影的照片进行坐标位置计算，得到光学投点器投射到被测平面上的光学标志点坐标；利用测量软件对测量光学标志点坐标数据进行分析，将全部光学标志点点云直接进行平面拟合，然后在软件拟合统计对话框中查看平面度，即可得到被测平面的平面精度。本发明方法简单易用，测量精度高，省时省力。
光学标志高精度平面投射点器平面度测量对话框摄影平面法线方向坐标位置计算测量精度高测量光学测量软件测量问题测量相机反光标志均匀粘贴平面拟合平面周边摄影测量天线表面移动相机有效解决坐标数据标志点点坐标平面的平面度拟合省时省力聚焦清晰覆盖统计分析

[发明专利]激光加工系统及用于激光加工系统的方法-CN201980065557.4有效
发明人： B·许尔曼;N·韦肯曼 -专利权人：普雷茨特两合公司
申请日： 2019-08-02 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：所述激光加工系统包括：具有壳体的加工头，所述壳体具有用于从所述加工头(101)发射所述激光束(10)的开口(212)；测量装置(120)，其配置为能够引导光学测量光束(13)通过所述开口(212)，以及用于使所述激光束(10)和所述光学测量光束(13)对准的光学单元，所述光学单元能够被设定以在开口(212)的区域内垂直于所述加工头(101)的光轴调整所述激光束(10)和所述光学测量光束(13)。测量装置(120)还配置为能够根据基于光学测量光束(13)对于光学单元的不同设定而言的反射的测量值来确定光学单元的与激光束(10)的居中对准相对应的设定。
激光加工系统用于方法

[实用新型]一种光学测量仪器的校准器-CN202020425098.6有效
发明人：高欢迪;高丽莎 -专利权人：中衡计量服务（海南）有限公司
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光学测量仪器的校准器，包括支撑管、在该支撑管管内升降的升降杆、设置在该支撑管的内部与该升降杆的底端固定并可以在该支撑管的任意位置定位的定位机构、设置该升降杆顶端的用于安装光学测量仪器的微调机构，本实用新型通过定位机构在支撑管内任意位置定位，实现升降杆在支撑管内升降并定位，实现安装在微调机构上的光学测量仪器能定位在不同的高度，若光学测量仪器所在的位置还存在误差时，则通过微调机构对光学测量仪器再次微调高度，实现高精度调节光学测量仪器的高度的功能，使光学测量仪能够有效的、精准的对被测物进测量避免测量存在的正负误差，提高测量精度，本实用新型操作简单，使用方便。
一种光学测量仪器校准

[发明专利]一种基于地面测量的大气光学湍流实时计算装置及方法-CN202310740978.0有效
发明人：李亚林;张洪群;李安;黄鹏;施胜浦;李强;王阳;平嘉贺 -专利权人：中国科学院空天信息创新研究院
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06F17/18 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于地面测量的大气光学湍流实时计算装置及方法。由于大气光学湍流强度主要由低空大气的光学湍流决定，且低空大气的光学湍流随高度近似呈指数分布，因此，本发明通过测量统计低空大气光学湍流在整个大气光学湍流中的占比，同时通过近地面实时测量大气光学湍流实时修正低空大气光学湍流拟合系数，进而实现间接实时测试大气光学湍流强度的目的。
一种基于地面测量大气光学湍流实时计算装置方法

[发明专利]基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪系统ZEMAX仿真方法-CN201810771009.0有效
发明人：陈洪芳;汤亮;石照耀;戴成睿;宋辉旭;孙衍强 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2018-07-13 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪系统ZEMAX仿真方法，用于分析光学系统中各个光学元件的非理想对系统能量的影响，基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪测量系统的光学系统原理，根据各个光学元件之间的结构，设置多重结构的参数，然后进行顺序调整，建立基于双波长法补偿空气折射率的激光追踪测量系统的模型。设定各光学元件的参数，分析干涉信号条纹对比度，实现光学系统最优化的参数设定，达到提高激光追踪测量系统测量精度的目的，对激光追踪测量光学系统设计和光学元件的选择具有指导意义。
基于波长补偿空气折射率激光追踪系统 zemax 仿真方法

[发明专利]一种透光材料双面测厚装置-CN201811058019.6在审
发明人：刘杰波 -专利权人：深圳立仪科技有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开一种透光材料双面测厚装置，包括第一光学位移测量头、第二光学位移测量头以及分别与所述第一光学位移测量头以及第二光学位移测量头连接的触发部，所述触发部按照指定的时序发送电脉冲给第一光学位移测量头以及第二光学位移测量头，使两个测量头同时或采样时间有重叠地射出光线。
测量头光学位移采样测厚装置透光材料触发帧率光能采集射出光线时序发送电脉冲下采样信噪比光能采集曝光

[实用新型]一种三维光学通道电磁场移动扫描测量系统-CN201520134254.2有效
发明人：李岩松;刘君 -专利权人：华北电力大学
申请日： 2015-03-09 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本实用新型公开了属于空间电磁场检测技术领域的一种三维光学矩阵通道电磁场移动扫描测量系统。包括三维光学矩阵通道磁场移动扫描测量系统、三维光学单通道磁场移动扫描测量系统、三维光学矩阵通道电场移动扫描测量系统。采用三维磁光效应和三维电光效应，能够在三维上同时测量空间磁场和电场；能够实现空间电磁场的三维重现；采用完全的光学元件和光学传感材料，对于空间电场和磁场不产生扰动，测量得到的数据是完全真实的；能够测量微小点的磁场和电场
一种三维光学通道电磁场移动扫描测量系统

[实用新型]柴油汽车尾气排放检测仪的测量机构-CN201220482173.8有效
发明人：魏所库;张立强;刘康 -专利权人：天津市圣威科技发展有限公司
申请日： 2012-09-19 - 公布日： 2013-03-06 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种柴油汽车尾气排放检测仪的测量机构，包括电源、控制主板、风扇、空气幕风道、测量室、光学信号发射装置、光学信号接收装置、测量室温度传感器、测量室电加热片，所述的光学信号发射装置和光学信号接收装置分别安装在测量室的两端，测量室电加热片和测量室温度传感器安装在测量室上，风扇安装在空气幕风道上，风道安装在测量室两端上方并将新鲜空气吹向信号发射装置和信号接收装置的光学镜片上清洗镜片，控制主板通过电加热片控制测量室的温度并采集计算测量数据
柴油汽车尾气排放检测测量机构

[发明专利]光学镜头装调及检测系统与方法-CN201810811031.3在审
发明人：陈洪福;巩岩;郎松;王宏伟;张艳微;马思齐 -专利权人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
申请日： 2018-07-23 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：一种光学镜头装调及检测系统，包括装调设备和像质检测设备；装调设备包括偏心差测量装置和镜面间距测量装置，像质检测设备包括波前像差检测装置；偏心差测量装置包括光学测量头、气浮转台以及立柱导轨，光学测量头包括照明模块、投影模块、显微二级放大模块和第一探测器，光学测量头与立柱导轨滑动连接，光学测量头沿立柱导轨可上下移动，气浮转台用于固定待测镜头。上述光学镜头装调及检测系统，不仅可以检测待测镜片的偏心差和待测镜片的间距和待测镜片的厚度，还可以检测整个待测镜头的波前像差，评估整个待测镜头的像质，且光学测量头的显微二级放大模块用于将经投影模块的成像进行二次放大，以提高光学镜头装调及检测系统的检测精度。
光学测量头光学镜头检测系统装调偏心立柱导轨镜片二级放大模块波前像差气浮转台投影模块像质检测装调设备差测量镜头显微检测间距测量装置第一探测器可上下移动镜面二次放大滑动连接检测装置照明模块像质成像评估

[发明专利]基于外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量光学系统仿真方法-CN201811064647.5有效
发明人：陈洪芳;汤亮;石照耀;姜博;宋辉旭 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2018-09-12 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了基于外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量光学系统仿真方法，本发明首先分析了基于直反射三光路激光外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量光学系统原理，然后根据光学系统原理利用ZEMAX建立基于直反射三光路激光外差干涉的双基圆盘式渐开线样板测量系统的能量仿真模型，并利用此能量仿真模型分析光学系统中各光学元件性能非理想对激光外差干涉信号能量的影响。本发明方法突破双基圆盘式渐开线样板亚微米级精度测量技术的瓶颈，建立新的测量模型，分析光学元件非理想对测量系统能量的影响。对直反射三光路激光外差干涉的双基圆盘式渐开线样板高精度测量光学系统设计，光学元件的选择，测量系统精度的提高具有指导意义。
基于外差干涉圆盘渐开线样板测量光学系统仿真方法

[发明专利]基于双光梳干涉测量法的光学镜片质量检测系统及方法-CN202010150743.2有效
发明人：元晋鹏;汪丽蓉;王三丹 -专利权人：山西大学
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于光学精密测量技术领域，公开了一种基于双光梳干涉测量法的光学镜片质量检测系统及方法，系统包括光源系统、干涉测量系统、信号处理系统。光源系统包括第一光学频率梳和第二光学频率梳，用于产生重复频率满足外差拍频条件的两束激光；干涉测量系统中，第一光学频率梳的输出信号被分为测量光束和参考光束两束光，其中，测量光束入射到待测光学镜片后，与参考光束重合；重合后的测量光束和参考光束与第二光学频率梳的输出光束再次重合后分为两束，分别被探测器的两个探测窗口探测；信号处理系统用于根据探测器的探测信号，计算得到待测光学镜片的厚度和折射率。本发明可以同时测量玻璃镜片的厚度和折射率，并实现玻璃镜片的二维表征。
基于双光梳干涉测量光学镜片质量检测系统方法

[发明专利]光学测量装置-CN202010488724.0在审
发明人：韩政洹 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：提供了光学测量装置。光学测量装置包括多个测量单元、第一光学系统和第二光学系统，其中，多个测量单元在第一方向上间隔开，第一光学系统配置成改变光路以允许光入射在多个测量单元上，并且第二光学系统配置成改变光路以允许光入射在第一光学系统上，其中，第一光学系统包括配置成将光路改变为对应多个测量单元的多个固定单元，并且第二光学系统能够在第二方向上被传送并且包括配置成将光路改变为对应多个固定单元的多个移动单元，其中，多个移动单元允许外部光入射在其上并且能够在与第二方向不同的第三方向上被传送
光学测量装置

[发明专利]光学玻璃光学均匀性的测量装置及测量方法-CN201310435949.X有效
发明人：孙元成;宋学富;张晓强;王慧;杜秀蓉;刘铸熠 -专利权人：中国建筑材料科学研究总院
申请日： 2013-09-23 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明是关于光学玻璃光学均匀性的测量装置及测量方法，属于光学玻璃检测领域，所述光学玻璃由应力导致折射率不同，所述测量装置，包括：光源组件，用于提供偏振光；干涉色形成组件，用于使发生双折射的所述偏振光形成干涉色本发明的测量装置，通过利用光学玻璃双折射形成的干涉色图像，得到各像素点的折射率差值，从而获得光学玻璃的光学均匀性，该装置所用器件为较常用的光学器件，简单易得且成本低廉；测量时无需对光学玻璃表面进行特殊处理，简化了测量步骤且进一步节约了成本。
光学玻璃光学均匀测量装置测量方法

[发明专利]光学测量系统的屏蔽方法-CN200710020864.X无效
发明人：陈荣发;赵毅红 -专利权人：扬州大学
申请日： 2007-04-10 - 公布日： 2008-05-21 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学测量系统的屏蔽方法，其特征是在光学测量系统的光学k9玻璃表面上镀ITO透明导电薄膜。镀膜步骤包括：将光学k9玻璃镜面进行预处理；采用DHK－500镀膜装置和ITO烧结靶；将预处理的镜片装夹在基片架上，镜片与靶面之间距离为40～50mm；抽真空，充入氩气，施加射频电压，形成等离子区，通入氧气，监控薄膜生长厚度；对光学k9玻璃表面上沉积薄膜ITO膜，经过真空退火工艺，制得ITO透明导电薄膜。本发明工艺合理先进，在光学测量系统的光学k9玻璃表面上镀ITO透明导电薄膜，使光学测量仪器在各种环境下工作，都能排除电磁干扰，提高光学测量仪器的测量质量和精度。
光学测量系统屏蔽方法