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[发明专利]使用低相干光学干涉测量技术来确定在对材料激光加工的机器中的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统-CN202080092699.2在审
发明人：西蒙·多那太罗;芭芭拉·普雷维塔利;达妮埃尔·科伦坡 -专利权人：艾迪奇股份公司
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01B9/0209 文献下载
摘要：描述了一种用于确定与用于对材料激光加工的机器的工作头中的传输激光束的光路相关联的至少一个光学元件的局部位置的方法和系统，包括：产生相应的测量低相干光辐射束，朝向光学元件引导测量光束，并朝向光学干涉传感器布置引导由光学元件的反射或扩散的测量光束；产生参考低相干光辐射的相应光束，并且朝向干涉式光学传感器布置引导参考光束；将测量光束和参考光束叠加在传感器装置的公共入射区域上；检测测量光束和参考光束之间的干涉条纹图案在入射区域上的位置；以及根据干涉图案沿着入射区域的照射轴线的位置或干涉图案在频域内的频率来确定测量光路与参考光路之间的光学长度差，测量光路与参考光路之间的光学长度差表示(a)光学元件的当前局部位置与(b)光学元件的预定标称局部位置之间的差。
使用相干光学干涉测量技术确定材料激光加工机器中的至少一个元件局部

[发明专利]一种光学制件均匀性干涉检测方法-CN201911028089.1有效
发明人：周华民;周晓伟;张云;余文劼;李茂源;邓天正雄;黄志高 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明属于光学制件均匀性检测技术领域，并具体公开了一种光学制件均匀性干涉检测方法，其包括如下步骤：S1激光束经分束器分为测试光束和普通光束，测试光束通过装有与待测光学制件材料的折射率相同的折射率匹配溶液的透明槽后，与普通光束发生干涉形成相干光束；S2将待测光学制件浸入折射率匹配溶液中，再次进行干涉形成相干光束；S3由浸入待测光学制件前后的相干光束的干涉条纹数得到待测光学制件的折射率偏差，即可得到待测光学制件的均匀性情况本发明结合干涉技术与折射率匹配装置，并对光路进行设计，完成光学制件的均匀性检测，为复杂面形光学制件的折射率均匀性检测提供了一种效率高、准确度高、可行性强的方法。
一种光学制件均匀干涉检测方法

[发明专利]单帧斜波干涉仪-CN202180077784.6在审
发明人：克里斯托夫·普鲁斯;克里斯蒂安·朔贝尔 -专利权人：斯图加特大学
申请日： 2021-11-22 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01B9/02015 文献下载
摘要：提供了一种用于测量光学平滑测试对象(122)的表面(108)或光学厚度的干涉仪(10)，其中干涉仪(10)被配置成利用彼此具有不同波长的多个物体波(14.1，14.2，14.3)同时照射光学平滑测试对象，并且将由照射的测试对象变形的物体波(14.1，14.2，14.3)在图像捕获装置(K)上叠加到相干参考波上，以及将叠加产生的干涉图光谱分解为波长特定的部分干涉图。
单帧斜波干涉仪

[发明专利]高精度波长测量用干涉仪装置-CN202211663087.1在审
发明人：刘春红;程国军;代晓珂 -专利权人：核工业理化工程研究院
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01B9/02015 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度波长测量用干涉仪装置，包括壳体和设置于壳体内部的光学机构，所述光学机构包括左右平行设置的独立干涉仪和组合干涉仪，所述独立干涉仪包括Ⅴ号干涉仪后腔镜和以及设置于其前方的Ⅴ号干涉仪前腔镜；所述组合干涉仪包括组合后腔镜和以及设置于其前方的组合干涉仪前腔镜，组合后腔镜包括自下而上依次叠放的Ⅰ号干涉仪后腔镜、Ⅱ号干涉仪后腔镜、Ⅲ号干涉仪后腔镜和Ⅳ号干涉仪后腔镜。本发明提供了一种高精度波长测量用干涉仪装置，在一个密封腔体中集成五个费索干涉仪，简化测量光学系统，同时提出一种简洁的波长测量方法，可实现10‑7波长测量精度。
高精度波长测量干涉仪装置

[发明专利]偏振光感应型测光装置-CN201310544585.9有效
发明人：大泽贤太郎;井手达朗;向尾将树 -专利权人：日立视听媒体股份有限公司
申请日： 2013-11-06 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： G01J4/02 文献下载
摘要：射出的光分支成照射到测定对象（107）的检查光和不照射到测定对象的参照光，把检查光通过被测定对象反射或散射而得到的信号光分离成相互正交的两个偏振分量即第一分支信号光和第二分支信号光，使第一分支信号光和参照光输入到第一干涉光学系统（113a）而相干涉，生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光，使第二分支信号光和上述参照光输入到第二干涉光学系统（113b）而相干涉，生成相位关系相互不同的三个以上的干涉光，检测出由第一干涉光学系统生成的干涉光和由第二干涉光学系统生成的干涉光
偏振光感应测光装置

[发明专利]用于对光学信号再定时、再成型和再发送的全光学再生器-CN03152317.X无效
发明人：布莱恩·A·查普特 -专利权人：阿尔卡塔尔光电子学美国公司
申请日： 2003-07-28 - 公布日： 2004-06-09 - 主分类号： H04J14/02 文献下载
摘要：公开一种全光学3R再生器(AO3R)以及一种使用AO3R对光学信号进行再定时、再成型和再发送的方法。AO3R包括一个偏振器，它接收输入光学信号并使其偏振。AO3R还包括第一干涉仪(例如，干涉型转换器模块)，它对已偏振的输入光学信号进行再定时和再成型，并且将其作为已偏振的输出光学信号进行发送。时钟恢复机构使用第二干涉仪和各种电气部件，通过将已偏振的输入光学信号中的数据流与已偏振的输出光学信号中的数据流进行比较，来重新俘获已偏振的输入光学信号的时钟信号。激光器使用重新俘获的时钟信号来驱动第一干涉仪，使它能对已偏振的输入光学信号进行再定时。
用于光学信号定时成型再发再生

[发明专利]一种基于同轴干涉的波面测量系统和方法-CN201910430146.2在审
发明人：贾伟;周常河;王津;项长铖;谢永芳;薄启宇 -专利权人：暨南大学
申请日： 2019-05-22 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于同轴干涉的波面测量系统，包括：马赫曾德双光束干涉光路、同轴干涉记录单元、二维移动平台、激光干涉仪单元及数据处理单元；待测光学元件设置在所述马赫曾德双光束干涉光路中，所述马赫曾德双光束干涉光路用于产生两束马赫曾德干涉光路，一路作为参考光，另一路作为测量光，其中测量光经过待测光学元件，所述同轴干涉记录单元设置在二维移动平台上，用于将两束马赫曾德干涉光路合路成同轴干涉信号，并记录同轴干涉信号的光强信息，本发明测量波面的尺寸和精度不再受限于分束镜的大小和表面质量，因此在大尺寸波面以及大尺寸光学元件面形测量中具有很好的应用前景。
同轴双光束干涉光路马赫曾德干涉光路二维移动平台干涉波面测量干涉信号光学元件记录单元测量光大尺寸光学元件数据处理单元激光干涉仪光强信息面形测量参考光测量波分束镜波面合路受限记录应用

[发明专利]基于微分干涉的光学薄膜缺陷检测方法-CN201610905495.1有效
发明人：边心田;雷枫 -专利权人：淮阴师范学院
申请日： 2016-10-18 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于微分干涉的光学薄膜缺陷检测方法，包括：分别调整入射的光源为平面光波、待检测的光学薄膜的表面与平面光波垂直；平面光波依次经过光栏、光学薄膜、第一准直透镜和柱状透镜后，通过微分干涉形成两束平行的出射光；两束平行的出射光经过第二准直透镜，在光电探测器上成像为微分干涉图像；对微分干涉图像进行分析，获取光学薄膜的表面和内部缺陷。本发明利用微分干涉获取光学薄膜表面以及内部的具有较强立体感的清晰图像，易于进行缺陷的分辨，不仅可以同时检测上表面、下表面以及内部缺陷，且检测结果不受外界环境的背景光以及光学薄膜表面反光特性的影响，具有容易实现和成本低廉等优点
微分干涉光学薄膜平面光波光学薄膜表面内部缺陷缺陷检测准直透镜出射光平行图像工厂生产线光电探测器受外界环境立体感反光特性检测结果清晰图像柱状透镜背景光上表面下表面检测光栏入射光源成像分辨垂直分析

[发明专利]具有双边测量能力的掠入射干涉仪-CN201480057206.6有效
发明人： J·M·科布;T·J·邓恩;J·W·弗兰克维奇 -专利权人：康宁股份有限公司
申请日： 2014-08-14 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：掠入射干涉仪包括隔开的第一衍射光学元件和第二衍射光学元件，在其之间设置大体上平面的物体。第一衍射光学元件形成剪切的第一衍射阶光束，剪切的第一衍射阶光束以掠入射角从物体的相反的第一表面和第二表面反射，而零衍射阶光束未反射。第二衍射光学元件将未反射的零衍射阶光束和剪切的反射光束结合以形成准直的结合光束。1X双远心中继系统将结合光束中继到折叠光学系统，所述折叠光学系统在位于像平面处的漫射屏上形成第一干涉图像和第二干涉图像。第一干涉图像和第二干涉图像的数字图像被获取并被处理以表征物体的厚度变化。
具有双边测量能力入射干涉仪

[发明专利]一种局部大面形误差智能补偿干涉检测系统和方法-CN202110513987.7有效
发明人：薛帅;戴一帆;石峰;宋辞 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：一种局部大面形误差智能补偿干涉检测系统和方法，包括波面干涉仪、标准镜头、静态补偿器、自适应光学元件和待测面，波面干涉仪装配有标准镜头；标准镜头以及待测面之间依次设置有静态补偿器和自适应光学元件，波面干涉仪连接远场光强数据读取装置，远场光强数据读取装置读取波面干涉仪获取的远场光强图像并输入到控制器；控制器根据远场光强图像预测并输出面形大误差模式像差拟合系数的推测值；自适应光学元件像差控制模块根据待测面的面形大误差模式像差拟合系数的推测值，生成自适应光学元件的驱动信号，驱动自适应光学元件产生补偿像差，实现待测面面形大误差的智能补偿检测。本发明提高了复杂光学面形加工效率。
一种局部大面误差智能补偿干涉检测系统方法

[发明专利]光学防伪元件及其制作方法-CN201910336073.0有效
发明人：张巍巍;孙凯;朱军 -专利权人：中钞特种防伪科技有限公司;中国印钞造币总公司
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： B42D25/45 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种光学防伪元件及其制作方法，属于光学防伪领域。所述光学防伪元件包括：基材，所述基材具有相互对立的第一表面和第二表面；以及位于所述基材的所述第一表面上的干涉型反射镀层，所述干涉型反射镀层处于所述光学防伪元件的非镂空区域而不处于镂空区域，所述干涉型反射镀层为法布里‑珀罗干涉器结构，所述法布里‑珀罗干涉器结构中的吸收层与所述基材接触，且所述吸收层的材料为合金材料。采用合金材料作为吸收层，使得光学防伪元件在保持较高的色彩饱和度的同时，能够成功实现光变膜的全部镂空，解决了现有技术中色彩饱和度与镂空之间的矛盾，实现了多种光学防伪效果的组合。
光学防伪元件及其制作方法

[发明专利]用于诊断乳腺癌的光学相干断层扫描设备及其控制方法-CN201310175428.5在审
发明人：张祐荣;崔泫 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2013-05-13 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：提供了一种用于诊断乳腺癌的光学相干断层扫描设备及其控制方法。所述用于诊断乳腺癌的光学相干断层扫描（OCT）设备包括：干涉仪，将光分为测量光和参考光并且引起参考光和响应光之间的干涉，所述响应光通过使测量光被乳腺导管内部反射而返回；光学探头，光学探头插入到乳腺导管的内部中，光学探头将测量光照射在乳腺导管的内部上、接收通过被乳腺导管的内部反射而返回的响应光，并且将响应光传输到干涉仪；检测单元，检测由响应光和参考光产生的干涉信号，其中，光学探头包括导管膨胀部，当光学探头插入到乳腺导管中时
用于诊断乳腺癌光学相干断层扫描设备及其控制方法

[发明专利]大间距镜头镜片距离测量装置及其测量方法-CN201710245176.7在审
发明人：何友武;李志芳;李晖 -专利权人：福建师范大学
申请日： 2017-04-14 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明涉及大间距镜头镜片距离测量装置及其测量方法，将宽带光源出射的光通过干涉结构产生干涉信号，对干涉信号进行处理使得发光二级管发光显示。在样品臂中使用细平行光束作为扫描光束，通过光程扫描装置进行光程匹配，当样品臂光程与镜头中光学表面相等时产生干涉信号时二极管发光，记录标尺读数得到光学表面的位置，通过滑动光程扫描装置可以得到镜头中不同深度各个光学表面的位置，根据光学表面的位置和成像起始位置的移动距离得到两光学表面中心的距离，实现大间距镜头镜片距离的测量。本发明具有非接触无损测量、测量精度高、数据处理简单，成本低廉的优点，应用于光学加工、光学检测等表面间距测量领域。
间距镜头镜片距离测量装置及其测量方法

[发明专利]一种光学系统像面离焦量的检测方法-CN201810084090.5有效
发明人：马宏财;苏东奇;胡春晖;张冬旭 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种光学系统像面离焦量的检测方法。本发明实施例中所提供的光学系统像面离焦量的检测方法，在干涉仪与光学系统齐焦光路的基础上，通过调整干涉仪使得其出射波前焦点不仅能准确落在光学系统像面的位置上，同时干涉仪出射波前会聚光和返回会聚光的主光线方向重合，从而拓展激光干涉仪的现有功能，能够准确的实现对光学系统像面离焦量的检测。进一步地，通过检测获得的离焦量可以评价光学系统的成像像质，从而提高光学系统装调效率和改善成像质量。
光学系统像面离焦干涉仪检测会聚光出射成像像质激光干涉离焦量前焦点主光线重合光路装调成像返回拓展

[实用新型]大间距镜头镜片距离测量装置-CN201720392546.5有效
发明人：何友武;李志芳;李晖 -专利权人：福建师范大学
申请日： 2017-04-14 - 公布日： 2017-12-22 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本实用新型涉及大间距镜头镜片距离测量装置，将宽带光源出射的光通过干涉结构产生干涉信号，对干涉信号进行处理使得发光二级管发光显示。在样品臂中使用细平行光束作为扫描光束，通过光程扫描装置进行光程匹配，当样品臂光程与镜头中光学表面相等时产生干涉信号时二极管发光，记录标尺读数得到光学表面的位置，通过滑动光程扫描装置可以得到镜头中不同深度各个光学表面的位置，根据光学表面的位置和成像起始位置的移动距离得到两光学表面中心的距离，实现大间距镜头镜片距离的测量。本实用新型具有非接触无损测量、测量精度高、数据处理简单，成本低廉的优点，应用于光学加工、光学检测等表面间距测量领域。
间距镜头镜片距离测量装置